失效模式：各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。失效機理：是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。1、電阻器的主要
2017-10-11 06:11:00
12633 失效模式：各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。 失效機理：是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。 1、電阻器的主要失效模式與失效機理為 1) 開路：主要失效機理為電阻膜燒毀或大面積脫落，基體斷裂，引線
2018-01-16 08:47:1129569 
半導(dǎo)體元器件在整機應(yīng)用端的失效主要為各種過應(yīng)力導(dǎo)致的失效，器件的過應(yīng)力主要包括工作環(huán)境的緩變或者突變引起的過應(yīng)力，當(dāng)半導(dǎo)體元器件的工作環(huán)境發(fā)生變化并產(chǎn)生超出器件最大可承受的應(yīng)力時，元器件發(fā)生失效。應(yīng)力的種類繁多，如表1，其中過電應(yīng)力導(dǎo)致的失效相對其它應(yīng)力更為常見。
2023-01-06 13:36:251931 失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。
2023-09-06 10:28:051332 
完整性、品種、規(guī)格等方面)來劃分材料失效的類型。對機械產(chǎn)品可按照其相應(yīng)規(guī)定功能來分類。 2.2 按材料損傷機理分類 根據(jù)機械失效過程中材料發(fā)生變化的物理、化學(xué)的本質(zhì)機理不同和過程特征差異
2011-11-29 16:46:42
分析委托方發(fā)現(xiàn)失效元器件，會對失效樣品進行初步電測判斷，再次會使用良品替換確認(rèn)故障。如有可能要與發(fā)現(xiàn)失效的人員進行交流，詳細(xì)了解原始數(shù)據(jù)，這是開展失效分析工作關(guān)鍵一步。確認(rèn)其失效機理，失效機理是指失效
2020-08-07 15:34:07
，電暈放電。2、失效模式占失效總比例表3、失效機理分析電阻器失效機理是多方面的，工作條件或環(huán)境條件下所發(fā)生的各種理化過程是引起電阻器老化的原因。 (1)、導(dǎo)電材料的結(jié)構(gòu)變化 薄膜電阻器的導(dǎo)電膜層一般用
2019-02-12 16:48:18
”——電阻失效了！失效的電阻阻值發(fā)生變化，甚至出現(xiàn)了開路現(xiàn)象，為什么會這樣呢？下面對3種常見的電阻失效機理進行分析探討。1、開路失效分析A、電阻斷裂開路電阻斷裂開路多發(fā)生在片式厚膜電阻器上，究其原因
2011-07-25 14:48:18
過程。v失效原因：導(dǎo)致發(fā)生失效的直接原因，它包括設(shè)計，制造，使用和管理等方面的問題。v失效分析的目的：失效分析是對失效器件的事后檢查，通過失效分析可以驗證器件是否失效，識別失效模式，確定失效機理和失效
2011-11-29 17:13:46
丟失、數(shù)據(jù)寫入出錯、亂碼、全“0”全“F”等諸多失效問題，嚴(yán)重影響了IC卡的廣泛應(yīng)用。因此，有必要結(jié)合IC卡的制作工藝及使用環(huán)境對失效的IC卡進行分析，深入研究其失效模式及失效機理，探索引起失效
2018-11-05 15:57:30
IGBT傳統(tǒng)防失效機理是什么IGBT失效防護電路
2021-03-29 07:17:06
IGBT的失效機理 半導(dǎo)體功率器件失效的原因多種多樣。換效后進行換效分析也是十分困難和復(fù)雜的。其中失效的主要原因之一是超出安全工作區(qū)（Safe Operating Area簡稱SOA
2017-03-16 21:43:31
MOSFET的失效機理至此，我們已經(jīng)介紹了MOSFET的SOA失效、MOSFET的雪崩失效和MOSFET的dV/dt失效。要想安全使用MOSFET，首先不能超過MOSFET規(guī)格書中的絕對最大
2022-07-26 18:06:41
，必須對所發(fā)生的失效案例進行失效分析?！ ?b class="flag-6" style="color: red">失效分析的基本程序 要獲得PCB失效或不良的準(zhǔn)確原因或者機理，必須遵守基本的原則及分析流程，否則可能會漏掉寶貴的失效信息，造成分析不能繼續(xù)或可能得到錯誤
2018-09-20 10:55:57
`請問SMT焊點的主要失效機理有哪些？`
2019-12-24 14:51:21
用的數(shù)量很大，并且是一種消耗功率的元件，由電阻器失效導(dǎo)致電子設(shè)備故障的比率比較高，據(jù)統(tǒng)計約占15%。電阻器的失效模式和原因與產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、工藝特點、使用條件等有密切關(guān)系。電阻器失效可分為兩大類，即致命
2018-01-03 13:25:47
，RXT系列的碳膜電阻在溫度升高到100℃時，允許的耗散概率僅為標(biāo)稱值的20％。但我們也可以利用電阻的這一特性，比如，有經(jīng)過特殊設(shè)計的一類電阻：PTC（正溫度系數(shù)熱敏電阻）和NTC（負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻
2018-09-12 11:24:58
失效經(jīng)濟損失之間關(guān)系的排列圖或帕雷托圖，以找出必須首先解決的主要失效機制、方位和部位。任一產(chǎn)品或系統(tǒng)的構(gòu)成都是有層次的，失效原因也具有層次性，如系統(tǒng)－單機－部件（組件）－零件（元件）－材料。上一層
2011-11-29 16:39:42
電阻值隨溫度的升高而減小。2.2溫度變化對電容的影響溫度變化將引起電容的到介質(zhì)損耗變化，從而影響其使用壽命。溫度每升高10℃時，電容器的壽命就降低50％，同時還引起阻容時間常數(shù)變化，甚至發(fā)生因介質(zhì)損耗
2020-09-19 07:59:36
封裝。鏡驗。通電并進行失效定位。對失效部位進行物理、化學(xué)分析，確定失效機理。綜合分析，確定失效原因，提出糾正措施。1.收集現(xiàn)場數(shù)據(jù)2、電測并確定失效模式電測失效可分為連接性失效、電參數(shù)失效和功能失效
2016-10-26 16:26:27
、電測并確定失效模式3、非破壞檢查4、打開封裝5、鏡驗6、通電并進行失效定位7、對失效部位進行物理、化學(xué)分析，確定失效機理。8、綜合分析，確定失效原因，提出糾正措施。1、收集現(xiàn)場數(shù)據(jù)應(yīng)力類型試驗
2016-12-09 16:07:04
電子器件是一個非常復(fù)雜的系統(tǒng)，其封裝過程的缺陷和失效也是非常復(fù)雜的。因此，研究封裝缺陷和失效需要對封裝過程有一個系統(tǒng)性的了解，這樣才能從多個角度去分析缺陷產(chǎn)生的原因。封裝缺陷與失效的研究方法論封裝
2021-11-19 06:30:00
模式，第二種是短路模式。開路模式主要發(fā)生在MOV流過遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出自身承受的浪涌電流時，通常表現(xiàn)為氧化鋅壓敏電阻本體炸裂，但這種模式不會引起燃燒現(xiàn)象。短路模式大體上可分為老化失效和暫態(tài)過電壓破壞兩種
2016-01-13 11:29:04
` 壓敏電阻的失效模式通常是短路，為了防止壓敏電阻的失效造成電源短路而起火，可以在每個壓敏電阻上串聯(lián)一個溫度保險管或熱脫離機構(gòu)。溫度保險管應(yīng)與壓敏電阻有良好的熱耦合，當(dāng)壓敏電阻失效（高阻抗短路
2017-06-09 14:59:00
接觸電阻增加；雜質(zhì)和有害離子的影響。由于實際應(yīng)用中的電容器是在工作應(yīng)力和環(huán)境應(yīng)力的綜合作用下工作的，因而會產(chǎn)生一種或幾種失效模式和失效機理，有時候某單一種失效模式更會導(dǎo)致其他失效模式或失效機理串聯(lián)發(fā)生
2019-09-07 07:30:00
電子設(shè)備中使用的數(shù)量很大，并且是一種消耗功率的元件，由電阻器失效導(dǎo)致電子設(shè)備故障的比率比較高，據(jù)統(tǒng)計約占15% 。電阻器的失效模式和原因與產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、工藝特點、使用條件等有密切關(guān)系。電阻器失效可分為
2018-01-05 14:46:57
電子設(shè)備中使用的數(shù)量很大，并且是一種消耗功率的元件，由電阻器失效導(dǎo)致電子設(shè)備故障的比率比較高，據(jù)統(tǒng)計約占15% 。電阻器的失效模式和原因與產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、工藝特點、使用條件等有密切關(guān)系。電阻器失效可分為兩大類
2018-01-02 14:40:37
接觸電阻增加；雜質(zhì)和有害離子的影響。由于實際應(yīng)用中的電容器是在工作應(yīng)力和環(huán)境應(yīng)力的綜合作用下工作的，因而會產(chǎn)生一種或幾種失效模式和失效機理，有時候某單一種失效模式更會導(dǎo)致其他失效模式或失效機理串聯(lián)發(fā)生
2019-10-08 08:00:00
壓敏電阻的失效模式? 熱擊穿由于劣化,內(nèi)部均勻化差及吸收的脈沖能量過大等原因,會造成它的發(fā)熱大于散熱,引起熱崩潰(或局部熱崩潰),最終造成薄弱點穿孔而擊穿? 開裂由于元件本身存在結(jié)構(gòu)應(yīng)力,在元件吸收
2020-10-16 17:13:51
有沒有智能電表方面的高手??？我想請教下，智能電表中的電子元器件一般會出現(xiàn)一些什么樣的失效現(xiàn)象？失效原因一般是什么？非常感謝。
2013-03-08 10:11:21
提高電力電子器件的應(yīng)用可靠性顯得尤為重要。一、失效分析簡介失效分析的過程一般是指根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的過程。器件失效是指其功能完全或
2019-10-11 09:50:49
(1)電機驅(qū)動系統(tǒng)失效模式分類根據(jù)失效原因、性質(zhì)、機理、程度、產(chǎn)生的速度、發(fā)生的時間以及失效產(chǎn)生的后果，可將失效進行不同的分類。電動觀光車常見的失效模式可以分為：損壞型、退化型、松脫型、失調(diào)型、阻漏
2016-04-05 16:04:05
﹐通過分析確定失效機理﹐找出失效原因﹐反饋給元器件的設(shè)計﹑制造和使用者﹐共同研究實施糾正措施﹐提高電子元器件的可靠性。[size=17.1429px]電子元器件失效的目的是借助各種測試分析技朮和分析程序
2019-07-16 02:03:44
；部分功能失效――引線腐蝕或斷裂；致命失效――絕緣子破裂；致命失效――絕緣子表面飛弧；部分功能失效引起電容器失效的原因是多種多樣的。各類電容器的材料、結(jié)構(gòu)、制造工藝、性能和使用環(huán)境各不相同，失效機理也
2011-11-18 13:16:54
模式有：漏液、爆炸、開路、擊穿、電參數(shù)惡化等，有關(guān)失效機理分析如下。A、漏液鋁電解電容器的工作電解液泄漏是一個嚴(yán)重問題。工作電解液略呈現(xiàn)酸性，漏出的工作電解液嚴(yán)重污染和腐蝕電容器周圍的其他元器件
2011-11-18 13:19:48
`電容器的常見失效模式和失效機理【中】3.2電容器失效機理分析3.2.1潮濕對電參數(shù)惡化的影響空氣中濕度過高時，水膜凝聚在電容器外殼表面，可使電容器的表面絕緣電阻下降。此處，對于半密封結(jié)構(gòu)電容器來說
2011-11-18 13:18:38
引起電容器電參數(shù)惡化的主要失效機理3.1.4 引起電容器漏液的主要原因3.1.5 引起電容器引線腐蝕或斷裂的主要原因3.1.6 引起電容器絕緣子破裂的主要原因3.1.7 引起絕緣子表面飛弧的主要原因
2011-12-03 21:29:22
(1)電機驅(qū)動系統(tǒng)失效模式分類根據(jù)失效原因、性質(zhì)、機理、程度、產(chǎn)生的速度、發(fā)生的時間以及失效產(chǎn)生的后果，可將失效進行不同的分類。電動觀光車常見的失效模式可以分為：損壞型、退化型、松脫型、失調(diào)型、阻漏
2018-10-31 10:59:20
電阻器失效模式與機理壓力釋放裝置動作瞬時過電壓的產(chǎn)生電解液干涸是鋁電解電容器失效的最主要原因電解液干涸的時間就是鋁電解電容器的壽命影響鋁電解電容器壽命的參數(shù)與應(yīng)用條件半導(dǎo)體器件失效分析
2021-02-24 09:21:41
行星減速機與電機是工業(yè)生產(chǎn)中常見的機械和電器組合。但是，由于行星減速機和電機本身的結(jié)構(gòu)和工作方式的不同，當(dāng)這兩個部件的搭配不當(dāng)時，常常會出現(xiàn)電機電阻失效的情況，導(dǎo)致設(shè)備的故障甚至危險?！ ‰姍C
2023-03-07 15:22:56
請問一下元器件失效機理有哪幾種？
2021-06-18 07:25:31
存在的環(huán)境。c.小孔腐蝕如果腐蝕遷移位置發(fā)生于一個小孔，一個小小的電鍍表面的不連續(xù)的孔，這種腐蝕機理叫小孔腐蝕。小孔本身不影響接觸電阻，而只有小孔變成腐蝕源頭時，才會使接觸電阻下降。二、磨損由于磨損
2018-05-09 10:19:35
，反向電壓，過功耗導(dǎo)致，主要的失效模式是短路。另外，根據(jù)鉭電容的失效統(tǒng)計數(shù)據(jù)，鉭電容發(fā)生開路性失效的情況也極少。因此，鉭電容失效主要表現(xiàn)為短路性失效。鉭電容短路性失效模式的機理是：固體鉭電容的介質(zhì)
2020-12-25 16:11:20
溫度系數(shù)應(yīng)盡可能接近零值。二、陶瓷電容的失效模式及失效機理 1、電容常見的失效模式有：短路、開路、參數(shù)（包括電容量、損耗、漏電流等）飄移等。 2、電容常見的失效機理包括：來料本身的缺陷、外加電壓
2019-05-05 10:40:53
高壓陶瓷電容器常見失效分析所謂失效，就是在正常的工作時間內(nèi)無法正常工作。電容器的主要參數(shù)有容量，即C值；損耗值即DF值；耐電壓，即TV值；絕緣電阻即IR值；還有漏電流值。一顆完美的電容器，以上參數(shù)均
2016-11-10 10:22:02
鈦液泵軸封的失效原因及改進設(shè)計
論文摘要：在對鈦液泵原有軸封的失效原因進行分析和實驗研究的基礎(chǔ)上，篩選出適合的摩擦副材料，并提出了
2009-05-16 00:11:111121 
電容失效原因分析
電容失效在原因很多很多時候并不是電容的質(zhì)量不好而是有很多因素造成以下是一人之言請各位指正并探討：
1 失效主要
2010-01-14 10:34:036051 從安全工作區(qū)探討IGBT的失效機理
1、? 引言
半導(dǎo)體功率器件失效的原因多種多樣。換效后進行換效分析也是十分困難和復(fù)雜的。其中失效的主要原因之
2010-02-22 09:32:422665 
Vishay Intertechnology, Inc.推出通過ESCC-4001/023認(rèn)證、達(dá)到R級失效率的新系列薄膜包封式貼片電阻——PFRR。PFRR電阻是業(yè)界首款具有低至10ppm/℃的TCR、容差為0.05％的此類器件。
Vishay
2010-06-17 09:10:165431 
判斷失效的模式, 查找失效原因和機理, 提出預(yù)防再失效的對策的技術(shù)活動和管理活動稱為失效分析。
2012-03-15 14:21:36
121 本文共討論了MEMS加速計的三種高壓滅菌器失效機理。分別說明了每一種失效機理的FA方法（通過建模和測量）和設(shè)計改進。排除了封裝應(yīng)力作為高壓滅菌器失效的根源。
2013-01-24 10:39:191261 
高壓IGBT關(guān)斷狀態(tài)失效的機理研究，IGBT原理，PT,NPT,Planar IGBT, Trench IGBT
2016-05-16 18:04:330 電機驅(qū)動系統(tǒng)失效模式分類 根據(jù)失效原因、性質(zhì)、機理、程度、產(chǎn)生的速度、發(fā)生的時間以及失效產(chǎn)生的后果，可將失效進行不同的分類。電動觀光車常見的失效模式可以分為：損壞型、退化型、松脫型、失調(diào)
2017-03-09 01:43:231760 元器件長期儲存的失效模式和失效機理
2017-10-17 13:37:3420 元器件的長期儲存的失效模式和失效機理
2017-10-19 08:37:3432 對電子元器件的失效分析技術(shù)進行研究并加以總結(jié)。方法 通過對電信器類、電阻器類等電子元器件的失效原因、失效機理等故障現(xiàn)象進行分析。
2018-01-30 11:33:4110912 電容器的常見
失效模式有：――擊穿短路；致命
失效――開路；致命
失效――電參數(shù)變化（包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等；部分功能
失效――漏液；部分功能
失效――引線腐蝕或斷裂；致命
失效――絕緣子破裂；致命
失效――絕緣子表面飛?。?/div>
2018-03-15 11:00:1026174 
針對電阻制動系統(tǒng)在多種失效模式下的建模問題，對電阻制動系統(tǒng)的建模方法和可靠性模型參數(shù)估計方法進行了研究，對電阻制動系統(tǒng)易損件及相應(yīng)的失效模式進行了統(tǒng)計，提出一種基于故障樹的多失效模式可靠性建模方法
2018-03-26 16:03:020 貼片電感失效原因主要表現(xiàn)在五個方面，分別是耐焊性、可焊性、焊接不良、上機開路、磁路破損等導(dǎo)致的失效，下面金籟科技小編將就這五點做出解釋。 在此之前，我們先了解一下電感失效模式，以及貼片電感失效的機理
2018-04-10 17:12:318445 
本文通過大量的歷史資料調(diào)研和失效信息收集等方法，針對不同環(huán)境應(yīng)力條件下的MEMS慣性器件典型失效模式及失效機理進行了深入探討和分析。
2018-05-21 16:23:456951 
常見的電阻有壓敏電阻，防雷一般都會使用到的。壓敏電阻的失效模式主要為短路，如果短路時間過長，會發(fā)生爆炸、起火，損壞周邊的部件；也有可能出現(xiàn)開路。壓敏電阻的失效保護方式有哪幾種呢，一起跟小編來看
2018-06-01 14:06:55830 或者全失效會在硬件電路調(diào)試上花費大把的時間，有時甚至炸機。今天主要說的是電容器，電阻器和電感。 電容器失效模式與機理 電容器的常見失效模式有：擊穿短路；致命失效開路；致命失效電參數(shù)變化（包括電容量超差、損耗
2018-06-07 15:18:137239 1：雪崩失效(電壓失效)，也就是我們常說的漏源間的BVdss電壓超越MOSFET的額定電壓，并且超越到達(dá)了一定的才能從而招致MOSFET失效。 2：SOA失效(電流失效)，既超出MOSFET平安工作
2023-03-20 16:15:37231 本文首先分析了壓敏電阻爆裂的原因，其次介紹了壓敏電阻的失效模式，最后介紹了壓敏電阻壞后給電路造成的影響。
2019-06-12 16:52:0416153 壓敏電阻擊穿原因：因為氧化鋅壓敏電阻器不能耐受過電壓或長時間的工頻電壓，一定會發(fā)生短路和擊穿失效，發(fā)生熱擊穿的破壞性（大電流）。
2019-06-25 14:17:2711366 
外觀檢查就是目測或利用一些簡單儀器，如立體顯微鏡、金相顯微鏡甚至放大鏡等工具檢查PCB的外觀，尋找失效的部位和相關(guān)的物證，主要的作用就是失效定位和初步判斷PCB的失效模式。
2020-03-06 14:30:351913 在壓敏電阻器的應(yīng)用過程中，當(dāng)其出現(xiàn)性能劣化時，常見的劣化模式有兩種，第一種是開路模式，第二種是短路模式。開路模式主要發(fā)生在MOV流過遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出自身承受的浪涌電流時，通常表現(xiàn)為壓敏電阻本體炸裂，但這種
2020-03-23 16:19:057347 或者全失效會在硬件電路調(diào)試上花費大把的時間，有時甚至炸機。 所以掌握各類電子元器件的實效機理與特性是硬件工程師比不可少的知識。下面分類細(xì)敘一下各類電子元器件的失效模式與機理。 電阻器失效 失效模式：各種失效的
2020-06-29 11:15:216642 失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動，在提高產(chǎn)品質(zhì)量、技術(shù)開發(fā)、改進
2021-08-26 17:15:592327 DPA分析，下面會選擇性提供一些圖片分享。 電極開路失效機理解析： 一般由于內(nèi)電極沒有鍍上鎳，在過爐的時候，由于內(nèi)電極沒有鍍上鎳不耐焊被“吃掉”，形成開路導(dǎo)通，導(dǎo)致電阻器開路失效。 ? 為什么沒有鍍上鎳，原因有很多種，
2021-12-11 10:11:592702 
或斷裂；致命失效 ――絕緣子破裂；致命失效 ――絕緣子表面飛??；部分功能失效 引起電容器失效的原因是多種多樣的。各類電容器的材料、結(jié)構(gòu)、制造工藝、性能和使用環(huán)境各不相同，失效機理也各不一樣。 各種常見失效模式的主要產(chǎn)
2021-12-11 10:13:532688 失效模式：各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。
失效機理：是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。
2022-02-10 09:49:0618 PCB在實際可靠性問題失效分析中，同一種失效模式，其失效機理可能是復(fù)雜多樣的，因此就如同查案一樣，需要正確的分析思路、縝密的邏輯思維和多樣化的分析手段，方能找到真正的失效原因。避免造成“冤假錯案”發(fā)生。
2022-07-19 09:27:482073 1.案例背景 某產(chǎn)品測試過程中發(fā)生功能不良，初步分析不良是因為電阻阻值變大導(dǎo)致。 注：電阻阻值標(biāo)稱值為1KΩ，實際達(dá)到幾十或幾百KΩ。 2.分析過程 2.1 針對原始失效電阻的分析 電阻#1 電阻
2022-07-25 13:46:297051 摘要：常用電路保護器件的主要失效模式為短路，瞬變電壓抑制器(TvS)亦不例外。TvS 一旦發(fā)生短路失效，釋放出的高能量常常會將保護的電子設(shè)備損壞．這是 TvS 生產(chǎn)廠家和使用方都想極力減少或避免
2022-10-11 10:05:014603 失效分析是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。失效分析是確定芯片失效機理的必要手段。失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析
2022-10-12 11:08:484175 PCB失效的機理，必須遵守基本的原則及分析流程。一般的基本流程是，首先必須基于失效現(xiàn)象，通過信息收集、功能測試、電性能測試以及簡單的外觀檢查，確定失效部位與失效模式，即失效定位或故障定位。
2022-11-09 14:35:48691 失去原有的效力。在各種工程中，部件失去原有設(shè)計所規(guī)定的功能稱為失效。失效簡單地說就是“壞了”，但是“壞了”也有很多種情況。
2022-11-30 10:47:53268 案例背景 某樣品貼片電阻在實際應(yīng)用環(huán)境中出現(xiàn)故障，經(jīng)排查為電阻值降低導(dǎo)致失效。 分析過程 外觀分析 說明: 對樣品電阻進行外觀檢測，電阻三防漆有氣泡狀態(tài)，整體電阻未見異物附著。 X-Ray分析 說明
2023-01-30 15:39:121193 MOSFET的失效機理本文的關(guān)鍵要點?dV/dt失效是MOSFET關(guān)斷時流經(jīng)寄生電容Cds的充電電流流過基極電阻RB，使寄生雙極晶體管導(dǎo)通而引起短路從而造成失效的現(xiàn)象。
2023-02-13 09:30:08829 
引 言 電阻失效發(fā)生的機理是多方面的，環(huán)境或工作條件若發(fā)生變化都有可能造成電阻的失效。其中，因外部水汽或其它腐蝕性氣體等造成電阻膜腐蝕，進而導(dǎo)致電阻開路或阻值變大的失效情景時有發(fā)生。本文依據(jù)此，進行
2023-02-20 15:37:48957 介紹了TVS瞬態(tài)抑制二極管的組成結(jié)構(gòu)，失效機理和質(zhì)量因素，希望對你們有所幫助。
2023-03-16 14:53:571 MOSFET等開關(guān)器件可能會受各種因素影響而失效。因此，不僅要準(zhǔn)確了解產(chǎn)品的額定值和工作條件，還要全面考慮電路工作中的各種導(dǎo)致失效的因素。本系列文章將介紹MOSFET常見的失效機理。
2023-03-20 09:31:07638 失效率是可靠性最重要的評價標(biāo)準(zhǔn)，所以研究IGBT的失效模式和機理對提高IGBT的可靠性有指導(dǎo)作用。
2023-04-20 10:27:041120 
常用電路保護器件的主要失效模式為短路，瞬變電壓抑制器(TVS)亦不例外。TVS一旦發(fā)生短路失效，釋放出的高能量常常會將保護的電子設(shè)備損壞．這是TVS生產(chǎn)廠家和使用方都想極力減少或避免的情況
2023-05-12 17:25:483682 
集成電路封裝失效機理是指與集成電路封裝相關(guān)的，導(dǎo)致失效發(fā)生的電學(xué)、溫度、機械、氣候環(huán)境和輻射等各類應(yīng)力因素及其相互作用過程。
2023-06-26 14:11:26722 集成電路封裝失效機理是指與集成電路封裝相關(guān)的，導(dǎo)致失效發(fā)生的電學(xué)、溫度、機械、氣候環(huán)境和輻射等各類應(yīng)力因素及其相互作用過程。根據(jù)應(yīng)力條件的不同，可將失效機理劃分為電應(yīng)力失效機理、溫度-機械應(yīng)力失效
2023-06-26 14:15:31603 
芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而，在使用過程中，芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個問題的關(guān)鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112805 肖特基二極管失效機理? 肖特基二極管（Schottky Barrier Diode, SBD）作為一種快速開關(guān)元件，在電子設(shè)備中得到了廣泛的應(yīng)用。但是，隨著SBD所承受的工作壓力和工作溫度不斷升高
2023-08-29 16:35:08971 保護器件過電應(yīng)力失效機理和失效現(xiàn)象淺析
2023-12-14 17:06:45267 
壓接型IGBT器件與焊接式IGBT模塊封裝形式的差異最終導(dǎo)致兩種IGBT器件的失效形式和失效機理的不同，如表1所示。本文針對兩種不同封裝形式IGBT器件的主要失效形式和失效機理進行分析。1.焊接式IGBT模塊封裝材料的性能是決定模塊性能的基礎(chǔ)，尤其是封裝
2023-11-23 08:10:07724 
常見的齒輪失效有哪些形式？失效的原因是什么？可采用哪些措施來減緩失效的發(fā)生？ 齒輪是機械傳動中常用的一種傳動方式，它能夠?qū)恿囊粋€軸傳遞到另一個軸上。然而，在長時間使用過程中，齒輪也會出現(xiàn)各種失效
2023-12-20 11:37:151057 什么是制動電阻？什么原因導(dǎo)致制動電阻失效？帶有失效制動電阻的驅(qū)動器是否可以修復(fù)？ 制動電阻是一種用于驅(qū)動器系統(tǒng)的電子元件，用于控制電機的制動過程。它的作用是將電機產(chǎn)生的失速能量轉(zhuǎn)化為熱量，通過散熱
2023-12-29 10:45:24343 電阻器是一種常見的電子元件，用于限制電流的流動。在電路中，電阻器起著重要的作用，但在使用過程中可能會出現(xiàn)失效的情況。本文將介紹電阻器的失效模式和機理。 一、失效模式 開路失效：電阻器的阻值變?yōu)闊o窮大
2024-01-18 17:08:30441 
電解電容是一種常見的電子元件，用于存儲電荷和能量。在電路中，電解電容起著重要的作用，但在使用過程中可能會出現(xiàn)失效的情況。本文將介紹電解電容的失效原因和機理。 一、失效原因 過電壓：如果電解電容承受
2024-01-18 17:35:23427 
壓敏電阻的工作原理 壓敏電阻的失效保護機制解析? 壓敏電阻的工作原理是基于材料的壓電效應(yīng)和可變電阻效應(yīng)。當(dāng)外部施加力或壓力使得壓敏電阻上的壓電材料發(fā)生形變時，材料內(nèi)部的電荷分布也會發(fā)生變化，從而導(dǎo)致電阻
2024-02-03 14:08:46205 貼片電阻阻值降低失效分析? 貼片電阻是電子產(chǎn)品中常見的元件之一。在電路中起著調(diào)節(jié)電流、電壓以及降低噪聲等作用。然而，就像其他電子元件一樣，貼片電阻也可能發(fā)生故障或失效。其中最常見的故障之一是電阻阻值
2024-02-05 13:46:22179 已全部加載完成
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