超外差頻譜分析儀,也稱為掃描或掃描頻譜分析儀,是第一種使用的頻譜分析儀形式。
從本質(zhì)上講,超外差頻譜分析儀或掃描/掃描頻譜分析儀是一種無線電接收器,在輸出端有一個顯示屏,指示輸出電平。在所需范圍內(nèi)對接收機(jī)進(jìn)行調(diào)諧或掃描,并選擇濾波器以接受所需的信號帶寬。
頻譜分析儀使用許多無線電接收機(jī)中使用的超外差原理作為其操作所依賴的基本原理。超外差原理使用混頻器,此外還使用本地生成或本地振蕩器來轉(zhuǎn)換頻率。
掃描/掃描頻譜分析儀的優(yōu)缺點(diǎn)
與其他類型的頻譜分析儀相比,掃描或掃描頻譜分析儀具有許多優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)。在選擇合適的類型時,有必要了解它們之間的差異及其相對優(yōu)點(diǎn)。
另一種主要類型的頻譜分析儀使用數(shù)字技術(shù)并依賴于快速傅里葉變換,因此通常被稱為 FFT 分析儀。
超外差光譜分析儀技術(shù)的優(yōu)勢
寬帶:由于采用超外差原理,這種類型的頻譜分析儀能夠具有非常寬的掃描范圍。掃描的跨度可以擴(kuò)展到幾 GHz。
能夠在較寬的頻率范圍內(nèi)工作:使用超外差原理,這種類型的頻譜分析儀能夠在非常高的頻率下工作 - 許多頻譜分析儀將其覆蓋范圍擴(kuò)展到許多GHz,因?yàn)榭梢詮姆浅8叩念l率轉(zhuǎn)換到處理頻段。
超外差頻譜分析儀技術(shù)的缺點(diǎn)
無法測量相位:超外差或掃描頻譜分析儀是一種標(biāo)量儀器,無法測量相位 - 它只能測量給定頻率上的信號幅度。
無法測量瞬態(tài)事件:FFT分析儀技術(shù)能夠在短時間內(nèi)進(jìn)行采樣,然后對其進(jìn)行處理以提供所需的顯示。通過這種方式,它能夠捕獲瞬態(tài)事件。由于超外差分析儀掃描所需的帶寬,這需要更長的時間,因此無法有效地捕獲瞬態(tài)事件。
過去,F(xiàn)FT頻譜分析儀比更傳統(tǒng)的掃頻或超外差頻譜分析儀更昂貴。然而,技術(shù)已經(jīng)向前發(fā)展,現(xiàn)在在許多情況下幾乎沒有成本差異。通常,大多數(shù)現(xiàn)代頻譜分析儀將使用數(shù)字處理,盡管它們可能仍使用超外差原理來提供所需的頻率范圍。
掃描頻譜分析儀基礎(chǔ)知識
掃頻譜分析儀使用與許多無線電接收機(jī)相同的超外差原理,作為其工作所依賴的基本原理。超外差原理使用混頻器和本地生成的本地振蕩器信號來轉(zhuǎn)換頻率。
分析儀中使用的混頻原理與超外差無線電的工作方式完全相同。
進(jìn)入前端的信號被轉(zhuǎn)換為另一個頻率,通常頻率較低。在設(shè)備的中頻部分使用固定頻率濾波器,可以使用高性能濾波器,并且可以通過改變進(jìn)入混頻器的本振信號的頻率來改變分析儀或接收器的輸入頻率。
盡管頻譜分析儀的基本概念與超外差無線電完全相同,但使其能夠執(zhí)行功能的特定實(shí)現(xiàn)略有不同。
超外差或掃頻頻譜分析儀框圖
本振的頻率決定了通過中頻濾波器的信號頻率。這在頻率上是掃描的(頻率線性增加),以便覆蓋所需的頻段。用于控制本振頻率的掃描電壓也控制顯示屏上掃描的掃描。這樣,掃描點(diǎn)在屏幕上的位置與本地振蕩器的位置或頻率有關(guān),因此與輸入信號的頻率有關(guān)。此外,由于接收到的輸入電平范圍很大,通過濾波器的任何信號都會被進(jìn)一步放大、檢測并通常轉(zhuǎn)換為對數(shù)刻度,然后被傳遞到顯示器 Y 軸。
掃描頻譜分析儀的元件
雖然掃描頻譜分析儀的基本概念相當(dāng)簡單,但一些電路模塊可能需要進(jìn)一步解釋。
射頻衰減器:信號進(jìn)入測試儀器時到達(dá)的第一個元件是射頻衰減器。早期型號使用手動切換的衰減器,但現(xiàn)代分析儀通常由測試儀器中的處理器控制。其目的是將進(jìn)入混頻器的信號電平調(diào)整到最佳電平。如果信號電平過高,不僅讀數(shù)可能落在顯示屏之外,而且混頻器性能也可能不是最佳的?;旌掀骺赡軙谥付ǖ牟僮鲄^(qū)域之外運(yùn)行,并且可能會看到其他混合產(chǎn)品,并且可能會在顯示屏上看到錯誤信號。
事實(shí)上,當(dāng)懷疑有錯誤信號時,可以調(diào)整輸入衰減器以提供額外的衰減,例如+10 dB。如果顯示電平上的信號下降超過此量,則很可能是不需要的混頻產(chǎn)物,并且輸入信號電平的射頻衰減不足。
輸入RF衰減器還用于為非常大的信號提供一些保護(hù)。非常大的信號很可能會損壞混頻器。由于這些混合器是性能非常高的部件,更換起來并不便宜,而且相對容易損壞。還增加了一個保護(hù)元素。通常,輸入RF衰減器包括一個電容,這樣可以保護(hù)混頻器免受被測線路上可能存在的任何直流電的影響。
低通濾波器和預(yù)選器:該電路跟隨衰減器,用于消除帶外信號。頻譜分析儀中的該濾波器可防止無用信號與本振混雜,并在中頻產(chǎn)生無用響應(yīng)。這些將作為信號出現(xiàn)在顯示屏上,因此必須將其刪除。
微波頻譜分析儀通常用更全面的預(yù)選器取代低通濾波器。這允許通過一個頻帶,并且其響應(yīng)顯然是針對感興趣的頻帶量身定制的。
攪拌機(jī):混合器自然是分析儀成功的關(guān)鍵。因此,攪拌機(jī)是高性能產(chǎn)品,通常非常昂貴。它們必須能夠在非常寬的信號范圍內(nèi)工作,并提供非常低水平的雜散響應(yīng)。產(chǎn)生的任何雜散信號都可能引起雜散響應(yīng),這些雜散響應(yīng)將與實(shí)際信號一起顯示在顯示屏上。因此,混頻器的動態(tài)范圍性能對于整個分析儀至關(guān)重要。
使用掃描頻譜分析儀時必須格外小心,不要將過多的功率直接饋入混頻器,否則很容易發(fā)生損壞。在測試功率可能很高的無線電發(fā)射機(jī)時,可能會發(fā)生這種情況,并且意外地將衰減器調(diào)到低值設(shè)置,以便更高的功率電平到達(dá)混頻器。因此,通常最好使用能夠處理功率的外部固定衰減器?;祛l器損壞將導(dǎo)致頻譜分析儀無法使用,需要維修,這通常很昂貴。
IF放大器:離開混頻器的信號通常是低電平的,需要放大。級的增益是可調(diào)的,通常為10dB級。改變此處的增益會改變信號在分析儀垂直刻度上的位置。中頻增益必須與射頻增益控制結(jié)合使用,在現(xiàn)代分析儀中,兩者通常相互連接和調(diào)整,以提供最佳的整體性能。過高的IF增益水平會增加前端噪聲水平,這可能導(dǎo)致低電平信號被屏蔽。因此,RF增益控制通常應(yīng)保持在盡可能高的水平,而不會使混頻器過載。通過這種方式,整個測試儀器的噪聲性能得到了優(yōu)化。
IF濾波器:IF濾波器限制了所查看的帶寬,從而有效地提高了頻率分辨率。但是,這是以較慢的掃描速率為代價的。縮小IF帶寬可降低本底噪聲,并能夠查看較低電平的雜散信號。
本地振蕩器:頻譜分析儀內(nèi)的本地振蕩器自然是設(shè)備整個運(yùn)行的關(guān)鍵元件。它的性能決定了整個分析儀的許多整體性能參數(shù)。它必須能夠在非常寬的頻率范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)諧,以使分析儀能夠在所需的范圍內(nèi)進(jìn)行掃描。它還必須具有非常好的相位噪聲性能。如果振蕩器的相位噪聲性能較差,那么不僅會導(dǎo)致設(shè)備無法進(jìn)行窄帶測量,因?yàn)楸菊裆系慕辔辉肼晫⑥D(zhuǎn)化為被測信號的測量值,而且還會阻止它對相位噪聲本身進(jìn)行任何有意義的測量 - 如今越來越多地進(jìn)行這種測量。
斜坡發(fā)生器:斜坡發(fā)生器驅(qū)動本地振蕩器和顯示器的掃描。這樣,顯示器的水平軸就直接與頻率相連。換言之,斜坡發(fā)生器由頻譜分析儀上的掃描速率調(diào)整控制。
包絡(luò)或液位檢測器:包絡(luò)檢波器將來自IF濾波器的信號轉(zhuǎn)換為可傳遞到顯示器的信號電壓。由于電平檢測器必須適應(yīng)非常大的信號差異,因此線性度和寬動態(tài)范圍至關(guān)重要。
檢測器的類型也可能對所進(jìn)行的測量有影響。檢測器是平均電平檢測器還是提供RMS值。
RMS 檢波器根據(jù)分配給該像素的樣本計(jì)算顯示跡線中每個像素的功率,即該像素所代表的帶寬。將每個樣本的電壓平方相加,然后將結(jié)果除以樣本數(shù)。然后取平方根給出 RMS 值。
對于平均值,將樣本相加,然后將結(jié)果除以樣本數(shù)。
顯示:在許多方面,顯示器是測試儀器的核心,因?yàn)檫@是查看信號頻譜的地方。頻譜分析儀的整個顯示部分包含大量的處理功能,使信號能夠以易于理解的方式查看。最小信號、最大峰值、自動峰值、突出顯示和更多元素的標(biāo)記等項(xiàng)目由該區(qū)域的信號處理控制。這些功能以及更多功能是所提供處理量顯著增加的結(jié)果。
至于顯示屏本身,最初使用的是陰極射線管,但現(xiàn)在最常見的顯示形式是液晶顯示器的形式。液晶顯示器的使用確實(shí)有一些局限性,但總體而言,隨著該技術(shù)的發(fā)展水平,它們可以提供所需的靈活性。
超外差頻譜分析儀,或也稱為掃描頻譜分析儀,盡管已被使用數(shù)字FFT技術(shù)的頻譜分析儀所取代,但仍在使用。然而,它有助于說明頻譜分析儀的原理,并且通常在某些實(shí)驗(yàn)室中可能提供較舊的設(shè)備。
審核編輯:黃飛
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