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活動簡介

ACTIVITIES

西門子 EDA
電子領域的創(chuàng)新步伐正在不斷加快。為了讓我們的客戶能夠加快推出改變生活的創(chuàng)新產(chǎn)品,并成為市場的領導者,我們致力于提供世界上最全面的電子設計自動化 (EDA) 軟件、硬件和服務組合。

本次活動中,Siemens EDA分享了極具學習意義的干貨視頻以及技術資料,工程師朋友們可以觀看或下載感興趣的任意3個不重復的視頻或文檔即可獲得1次抽獎機會,最多可獲得2次抽獎機會,絕佳機會不容錯過喲!

技術專區(qū)

TECHNOLOGY

  • 基線漂移:系統(tǒng)化的快速仿真和測量方法

    高速串行數(shù)據(jù)傳輸可能會遭受裕量損失,以及交流耦合之類機制引起的基線漂移所導致的數(shù)據(jù)錯誤。我們將展示一種可快速跨越所需較大頻率范圍的基線漂移快速分析方法,并考慮其在逐位分析和統(tǒng)計分析中的實現(xiàn)。我們將在 PAM4 信令的極端信號情況下演示這種方法,并展示測量和仿真的相關性。

    高速串行數(shù)據(jù)傳輸可能會遭受裕量損失,以及交流耦合之類機制引起的基線漂移所導致的數(shù)據(jù)錯誤。我們將展示一種可快速跨越所需較大頻率范圍的基線漂移快速分析方法,并考慮其在逐位分析和統(tǒng)計分析中的實現(xiàn)。我們將在 PAM4 信令的極端信號情況下演示這種方法,并展示測量和仿真的相關性。
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  • 根據(jù) S 參數(shù)計算時域阻抗曲線:挑戰(zhàn)與方法

    在根據(jù)測量的 S 參數(shù)計算時域阻抗曲線時,我們會面臨兩種類型的問題。第一個問題是由于采樣的 S 參數(shù)質(zhì)量較差所致,例如分辨率不足、頻帶限制、噪聲等。第二個問題為以下事實:即使使用理想數(shù)據(jù),計算出的阻抗曲線也無法顯示連接器各部分的正確特性阻抗,因為多次反射掩蓋了遠端部分特性阻抗的“真實”值,在本文中,我們將解決這兩個問題。

    在根據(jù)測量的 S 參數(shù)計算時域阻抗曲線時,我們會面臨兩種類型的問題。第一個問題是由于采樣的 S 參數(shù)質(zhì)量較差所致,例如分辨率不足、頻帶限制、噪聲等。第二個問題為以下事實:即使使用理想數(shù)據(jù),計算出的阻抗曲線也無法顯示連接器各部分的正確特性阻抗,因為多次反射掩蓋了遠端部分特性阻抗的“真實”值,在本文中,我們將解決這兩個問題。
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  • 單端信號過孔間串擾的時域和頻域分析

    在當今的快速開關數(shù)據(jù)速率下,通過 PCB 空腔的過孔間串擾可能比走線間耦合更為復雜。本文通過仿真和測量測試板,對造成過孔間耦合的根本原因的物理基礎進行了分析,以說明相關原理。基于根本原因,探討并演示了減少噪聲的方法。

    在當今的快速開關數(shù)據(jù)速率下,通過 PCB 空腔的過孔間串擾可能比走線間耦合更為復雜。本文通過仿真和測量測試板,對造成過孔間耦合的根本原因的物理基礎進行了分析,以說明相關原理?;诟驹?,探討并演示了減少噪聲的方法。
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  • 通過使用基于 PDN 共振峰的最壞情況數(shù)據(jù)模式來分析電源完整性對 FPGA DDR4 存儲器接口中的信號完整性的影響

    在基于供電網(wǎng)絡 (PDN) 的共振峰創(chuàng)建的布局前、布局后和系統(tǒng)驗證數(shù)據(jù)模式中分析電源完整性對 FPGA DDR4存儲器接口中的信號完整性的影響。使用 FPGA 配置的矢量網(wǎng)絡分析儀 (VNA) 測量 PDN 阻抗曲線。創(chuàng)建多個測試數(shù)據(jù)模式,以便將電源的電流頻譜分量與 PDN 共振峰疊加在一起,并演練傳輸線多次反射累積效應。然后將這些數(shù)據(jù)模式用于識別導致信號完整性衰減的主導因素。

    在基于供電網(wǎng)絡 (PDN) 的共振峰創(chuàng)建的布局前、布局后和系統(tǒng)驗證數(shù)據(jù)模式中分析電源完整性對 FPGA DDR4存儲器接口中的信號完整性的影響。使用 FPGA 配置的矢量網(wǎng)絡分析儀 (VNA) 測量 PDN 阻抗曲線。創(chuàng)建多個測試數(shù)據(jù)模式,以便將電源的電流頻譜分量與 PDN 共振峰疊加在一起,并演練傳輸線多次反射累積效應。然后將這些數(shù)據(jù)模式用于識別導致信號完整性衰減的主導因素。
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  • 隔離電源完整性對信號完整性的影響類型的案例研究,以及緩解方法

    電源和信號完整性之間的交互往往錯綜復雜且令人混淆。隨著單端 DDR 總線逐漸達到與許多常用差分 SerDes通道相同的數(shù)據(jù)速率,更好地了解這一交互變得越發(fā)的緊迫。在本文中,我們將討論電源和信號完整性彼此交互的一些主要方式,介紹若干案例來展示存在此類交互的情形,并提供可能的緩解方法。

    電源和信號完整性之間的交互往往錯綜復雜且令人混淆。隨著單端 DDR 總線逐漸達到與許多常用差分 SerDes通道相同的數(shù)據(jù)速率,更好地了解這一交互變得越發(fā)的緊迫。在本文中,我們將討論電源和信號完整性彼此交互的一些主要方式,介紹若干案例來展示存在此類交互的情形,并提供可能的緩解方法。
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  • 誤碼率和通道操作裕量方法的通道合規(guī)性評估: 差異源自哪里?

    分析了針對通道操作裕量 (Channel Operation Margin (COM)) 規(guī)定的計算程序,并將其與傳統(tǒng)的統(tǒng)計眼圖/誤碼率分析進行比較。結(jié)果表明,通道操作裕量可能會高估串擾的影響;另外根據(jù)一系列因素,還可能會高估或低估發(fā)送抖動的影響。我們提出了一種方案,即通過修改通道操作裕量程序來消除這些問題,并且不會額外增加大量的工作。

    分析了針對通道操作裕量 (Channel Operation Margin (COM)) 規(guī)定的計算程序,并將其與傳統(tǒng)的統(tǒng)計眼圖/誤碼率分析進行比較。結(jié)果表明,通道操作裕量可能會高估串擾的影響;另外根據(jù)一系列因素,還可能會高估或低估發(fā)送抖動的影響。我們提出了一種方案,即通過修改通道操作裕量程序來消除這些問題,并且不會額外增加大量的工作。
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千兆位鏈路的自動化驗證方案

千兆位串行鏈路呈現(xiàn)了當今設計者面臨的一些最嚴格的信號完整性挑戰(zhàn)?,F(xiàn)代設計中大量的信道使得分析模擬和布線后驗證變得困難——每個信道都必須單獨建模和分析,這需要一個自動化、高效的過程才能成功。本次網(wǎng)絡研討會將討論各種建模及仿真方式的應用場景,以及有效的串行信道驗證要求,并展示如何實現(xiàn)這些要求進行高效的 Serdes 仿真。

PCB設計高效驗證方法

當今的PCB設計中布線密度越來越高,快速跳變沿的I/O驅(qū)動器也使得設計復雜度日益增加,對徹底驗證設計的電氣性能也提出了更高的挑戰(zhàn)。本次研討會將為大家介紹利用Hyperlynx DRC, 進行快而精準的驗證驗證方法,以保證電氣性能可靠性。

幸運抽獎

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    快來試試吧

溫馨提示:

活動結(jié)束后由工作人員統(tǒng)一郵件核對快遞地址,獎品將在15個工作日內(nèi)寄出。如因注冊報名信息不全,導致在活動結(jié)束前無法與您取得聯(lián)系,將視為自動放棄領獎機會。
(獎品以實物為主,電子發(fā)燒友對本活動有最終解釋權(quán))

活動說明:

1、活動時間:即日起-2021年8月13日;

2、活動規(guī)則:選擇您感興趣的任意3個不重復的視頻或文檔觀看或下載,即可獲得1次抽獎機會,最多可獲得2次抽獎機會!

3、此活動每人僅限參加一次,不支持小號,一經(jīng)發(fā)現(xiàn)取消參與活動資格;

4、最終解釋權(quán)歸電子發(fā)燒友網(wǎng)所有,如有問題可添加微信好友:elecfans886咨詢。

elecfans886 0755-83677759 huangxiang@elecfans.com

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