如何進(jìn)行高效DC測試和電流電壓檢定

考察了當(dāng)前執(zhí)行的最常見的 DC 電流與電壓 (I-V) 測試、每項測試本身的復(fù)雜性以及新技術(shù)可以怎樣幫助您克服這些挑戰(zhàn),同時增強(qiáng)效率和生產(chǎn)力。在研發(fā)中,會在各種雙端子電子器件上定期執(zhí)行 I-V 檢定,包括電阻器、二極管、LED、太陽能電池和傳感器。在檢定兩端子器件的I-V 時,需要一步步通過流經(jīng)器件的電壓電平或流經(jīng)器件的電流電平,在稱為掃描的操作中測量得到的電流或電壓。

通過文檔,可了解以下內(nèi)容:

  • 如何檢定三端子器件的 I-V 參數(shù)
  • 測量電阻配置儀器,能顯示正確的結(jié)果
  • 怎樣進(jìn)行器件功率和效率測量
  • 對低功率器件 DC 功耗完整分析
  • 檢定負(fù)載電流波形和瞬態(tài)特點
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