IEEE和OIF-CEI各自提供不同的技術(shù)來測量PAM4符號級別。雖然它們都測量電子PAM4信號的電壓電平并且具有很強(qiáng)的相關(guān)性，但它們并不相同。

我們應(yīng)該期待隨著技術(shù)的成熟，一些技術(shù)將不再受歡迎而其他技術(shù)將會進(jìn)入在這種情況下，其中一種技術(shù)讓我感到懷舊。使用明顯的技術(shù)并沒有什么問題，但我更喜歡與系統(tǒng)性能相關(guān)的測量，對于PAM4來說，它是SER（符號錯誤率）或BER（誤碼率）。

第一個來自IEEE的100 GbE 802.3bj的技術(shù)（以及那些已經(jīng)看到新興400 GbE規(guī)范的最新草案的人的傳言）使用了發(fā)射機(jī)線性度測試模式（圖1）。

圖1.發(fā)射機(jī)線性度測試模式，可用于測試400 GbE

測試模式由明確定義的符號組成：16個連續(xù)的A級（或0級）符號，后跟16個連續(xù)的B級（或1），依此類推，如圖所示。在信號穩(wěn)定后測量電平，無論是否采用去加重，轉(zhuǎn)換后的7 UI（單位間隔）。水平{V A ，V B ，V C ，V D }由平均值給出每個16個UI符號的中心2 UI上的電壓。

有效符號分隔由下式給出：

平均電壓由四個符號電壓測量的平均值給出，?（V A + V B + V C + V D ）。理想的符號分離是ES1 = ES2 = 1/3。

PAM4的一個復(fù)雜因素是幅度壓縮的可能性：相鄰符號之間電壓（或功率）擺動的變化。測量電壓壓縮的一種方法是將最小信號電平S MIN 定義為最接近的相鄰符號之間擺幅的一半：

S MIN =?min（V B - V A ，V C - V B ，V D - V C ）。

因此水平分離不匹配率為：

線性發(fā)射機(jī)應(yīng)具有R LM = 1.0; 100 GbE PAM4規(guī)范100GBASE-KP4要求R LM ≥0.92。

測量符號級別的另一種方法是從PAM4眼圖中提取它們（曾經(jīng)被比作變異山羊的虹膜）。首先，通過中間眼睛的中心定義?UI垂直遮罩。然后投影三個符號的直方圖。符號級別{V 0 ，V 1 ，V 2 ，V 3 }由均值給出相應(yīng)的直方圖（圖2）。

圖2.您可以使用水平測量PAM4符號級別眼罩。由Tektronix提供。

{V 0 ，V 1 ，V 2 ，V 3 }應(yīng)非常接近{V A ，V B ，V C ，V D }，但因?yàn)橹狈綀D，特別是頂部和底部，可能是不對稱的，所以期望兩組符號級別相同是不合理的。

通過將符號分隔定義為AVlow = V 1 - V 0 ，V MID = V 2 - V 1 ，以及V MID = V 3 - V 2 ，我們還可以將眼睛線性度定義為最大與最小相鄰符號電壓擺動的比率，

雖然第一種技術(shù)，即使用發(fā)射機(jī)線性度測試模式的技術(shù)，其簡潔性很吸引人，但我更喜歡第二種技術(shù)。通過使用真實(shí)眼圖測量符號級別和壓縮，可以更容易地將測量與SER（符號誤碼率）或BER（誤碼率）相關(guān)聯(lián)。

有第二個選擇的骨骼技術(shù)。我們可以測量最大SER水平的符號水平，并且沒有很好的論據(jù)要求每只眼睛具有相同的中心。標(biāo)準(zhǔn)具有單獨(dú)的時序線性要求，用于對齊它們。我們會看到出來的東西。他們跑的有點(diǎn)晚了; PAM4很難，所以我們不要怪他們。

原則上，我認(rèn)為最好的測量可以可以用SER或BER來解釋，可以在普通的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備上測量，如示波器，即使使用不變的獨(dú)特技術(shù)，它們也很簡單，可重復(fù)使用由不同的測試和測量公司雇用。第三種技術(shù)是常用的，但它沒有出現(xiàn)在任何標(biāo)準(zhǔn)中，我認(rèn)為這很愚蠢，因?yàn)樗豢赡艹蔀樽匪莸絊ER或BER。其中一天，如果我情緒低落，我會在這個空間里貶低它。