作者：Martin Rowe — 2012 年 2 月 6 日

在本系列第 1 部分《電路測試主要運(yùn)算放大器參數(shù)》一文中，我們介紹了一些基本運(yùn)算放大器測試，例如失調(diào)電壓 （VOS）、共模抑制比 （CMRR）、電源抑制比 （PSSR） 和放大器開環(huán)增益 （Aol）。本文我們將探討輸入偏置電流的兩種測試方法。選擇哪種方法要取決于偏置電流的量級。我們將介紹器件測試過程中需要考慮的各種誤差源。本系列的下篇文章將介紹一款可配置測試電路，其可幫助您完成本文所介紹的所有測量。

產(chǎn)品說明書通常為運(yùn)算放大器的非反相輸入與反相輸入（iB+ 和 iB-）分別提供了一個(gè)偏置電流列表。這兩個(gè)輸入的區(qū)別就是輸入失調(diào)電流 IOS。在工作臺(tái)上，您可能會(huì)忍不住使用圖 1a 中的電路來測試正輸入偏置電流，因?yàn)樵撆渲孟碌姆糯笃骱芊€(wěn)定，這種方式有效。

圖 1.使用圖 （a） 中的電路測量運(yùn)算放大器非反相輸入端的輸入偏置電流。在圖 （b） 中增加一個(gè)環(huán)路放大器，可在針對反相輸入端進(jìn)行測量時(shí)保持運(yùn)算放大器的穩(wěn)定性。圖 （c） 中的電路可測量任何輸入端的偏置電流。繼電器可決定電路配置。

可惜，在測量負(fù)輸入偏置電流時(shí)，沒有保持放大器穩(wěn)定性的簡單方法。然而，可增加一個(gè)環(huán)路放大器保持被測試器件的穩(wěn)定性，這樣可使用靜電計(jì)測量偏置電流，如圖 1b 中的電路所示。這個(gè)電路就是在第 1 部分中我們用來測試 VOS 的雙放大器測試環(huán)路，但有一個(gè)不同的連接。

我們將兩個(gè)放大器的輸入顛倒過來，以保持被測試器件的穩(wěn)定性。雖然這種方法對工作臺(tái)測試很管用，但靜電計(jì)的速度太慢，不適合用于高速生產(chǎn)測試。我們在生產(chǎn)測試中使用的方法是 VOS 測試的修改方案。為了測試輸入偏置電流 （IB），我們?yōu)殡娐诽砑恿死^電器和電阻器（或電容器）。請見圖 1c 中的電阻器 RB。

為了討論起見，我們使用雙運(yùn)算放大器測試環(huán)路來描述該測試。不過，本技術(shù)同樣也適合第 1 部分中介紹的兩種測試環(huán)路。我們?yōu)閳D 1c 中被測試器件的每個(gè)輸入都添加了一個(gè)繼電器和電阻器。

在繼電器 K2 和 K3 閉合時(shí)，我們可使用第 1 部分介紹的 VOS 測量技術(shù)測量和保存 VOUT 值。公式 1 根據(jù) RIN、RF 和 VOS 定義了 VOUT。

公式 1

對公式 1 進(jìn)行變換后，可得到用于計(jì)算 VOS 的公式 2。

公式 2

接下來，我們打開 K2，進(jìn)行另一項(xiàng)測量，得到 VOUT（IB-）。測得的電壓由被測試器件的失調(diào)電壓以及流過電阻器 RB 的輸入偏置電流引起，可表示為公式 3。

公式 3

我們現(xiàn)在可求解 iB-，等式兩邊同時(shí)除以 （RIN+RF）/RIN，得到公式 4。

公式 4

公式 5

然后，在公式 4 兩邊同時(shí)減去被測試器件的失調(diào)電壓，得到公式 5。

最后，在公式 5 兩邊同時(shí)除以 RB，計(jì)算 IB- 的值。

圖 2.在測量小于幾百微微安的偏置電流時(shí)，應(yīng)在電路中使用電容器，并使用萬用表測量一系列樣片。

可使用類似的方法測量 IB+。測量 IB- 時(shí)，關(guān)閉 K3，打開 K2。測量 IB+ 時(shí)，關(guān)閉 K2，打開 K3。由于我們已經(jīng)測量出運(yùn)算放大器的 VOS，因此接下來就只是數(shù)學(xué)計(jì)算了。結(jié)果很容易得出，而且只需一個(gè)良好的數(shù)字萬用表 （DMM） 即可。

注意，使用電阻器產(chǎn)生電壓差來測量 IB，只對低至幾百微微安的偏置電流有效。我們可針對更低的偏置電流使用另一項(xiàng)測量技術(shù)。

對于小于幾百微微安的 IB 值，我們使用電容器來替換 RB 電阻器。一旦短路繼電器被打開，偏置電流就會(huì)使環(huán)路以 IC = C（dV/dt） * 環(huán)路增益的速度結(jié)合。您可通過在已知時(shí)間間隔內(nèi)進(jìn)行測量來計(jì)算偏置電流。這種方法可測量小于 1pA 的偏置電流。

PCB 布局對于這些真正的低 IB 電流來說非常重要。要注意減少雜散電容，因?yàn)殡s散電容可能會(huì)消耗一些 IB 電流。PCB 上被測試器件輸入引腳的泄漏也會(huì)導(dǎo)致誤差，因此應(yīng)在輸入引腳周圍創(chuàng)建保護(hù)環(huán)，并將保護(hù)環(huán)連接至接地。這將減少來自高電壓節(jié)點(diǎn)的任何泄漏。從拓?fù)浣嵌葋砜?，?yīng)該采用溫度穩(wěn)定的低泄漏電容器替換圖 1c 中的 RB 電阻器。

采用電容方法需要良好的時(shí)鐘。這是因?yàn)檩斎肫秒娏鳒y量不僅需要打開各種電容器（連接在被測試器件的輸入端）間的繼電器，而且還要測量已知間隔的電壓變化。我們可通過在精確確定的時(shí)間周期內(nèi)測得的環(huán)路輸出電壓變化來計(jì)算輸入偏置電流。

當(dāng)電容器的繼電器在 t0 位置打開，輸出便開始根據(jù)偏置電流的極性以正方向或負(fù)方向結(jié)合（圖 2）。編程的延遲可讓電路穩(wěn)定下來。然后，在 t1 位置，DMM 按已知的采樣率進(jìn)行采樣。接下來在 t2 位置，會(huì)有另一個(gè)延遲。最后，在 t3 位置，DMM 會(huì)提取更多樣片。

保持采樣測量時(shí)間不變，這樣就能知道 dt 的值。獲得第二組樣片測量的平均值，并減去第一組樣片測量平均值，便可得到 dV 值或者 dt 時(shí)間內(nèi)的電壓變化。我們可通過電容器來計(jì)算電流，如：

方程式 7

方程式 8

然后，通過以下方程式計(jì)算偏置電流：

典型的誤差源

如果不討論測量過程中會(huì)遇到的誤差源，那么對 VOS 測量的討論就不完整。明顯的誤差是那些由 DMM 分辨率以及所選組件（尤其是電阻器）值（噪聲和容差）引起的誤差。更細(xì)微的誤差可分為以下三個(gè)類型：

A. 熱生成電動(dòng)勢 （emf），由繼電器接觸引起

焊接點(diǎn)

板間引腳連接

自動(dòng)測試處理器的接觸點(diǎn)與插槽

B.下列因素產(chǎn)生的漏電流：

電源

繼電器控制和電源線跡

PCB 材料的屬性

C. 噪聲

環(huán)境

測試儀

組件

被測試器件本身

這里討論的所有被測試器件配置中的典型誤差源均為熱生成電動(dòng)勢和漏電流。漏電流主要影響偏置電流測量，而熱生成電動(dòng)勢則可影響所有低級失調(diào)電壓測量。最大程度減少這些影響是確保系統(tǒng)功能和測量準(zhǔn)確度的必要條件。

漏電流由表面污染以及經(jīng)過組件或在 PCB 材料中的電阻式路徑導(dǎo)致。表面污染通?？赏ㄟ^徹底清潔電路板來控制，但濕度可能會(huì)改變表面漏電流。其它電阻式路徑可由材料的隔離電阻設(shè)置。在電阻式路徑連接電源線或繼電器控制型電源線時(shí)，也可能會(huì)出現(xiàn)漏電流。使用保護(hù)環(huán)以及支持高電平有效驅(qū)動(dòng)器的閉鎖繼電器，可緩解一部分這類漏電路徑影響。

熱電動(dòng)勢可在繼電器接觸、焊點(diǎn)、板間引腳連接點(diǎn)以及其它所有測試處理器接觸點(diǎn)和插槽中產(chǎn)生。例如，考慮圖 1c 中的雙放大器 VOS 測量電路。漏電流不會(huì)明顯影響該測量。但該電路無法體現(xiàn)多種熱電動(dòng)勢來源。

圖 3 是熱電動(dòng)勢誤差源，標(biāo)記為 VT。在室溫下測量時(shí)，梯度漸變無異常。但在寒冷或炎熱的環(huán)境下進(jìn)行測試時(shí)，從被測試器件到電阻器和繼電器的熱梯度漸變會(huì)很明顯。

本系列的第 3 部分將討論測試板的設(shè)計(jì)注意事項(xiàng)。

其它文獻(xiàn)

Dostal， Jiri，《熱電電壓》，摘自運(yùn)算放大器第 2 版第 9.3.1 節(jié)。Butterworth-Heinermann，1993 年第 266 頁。

David R. Baum 是德州儀器 （TI） 的一名模擬 IC 設(shè)計(jì)工程師，負(fù)責(zé)開發(fā)用于 LCD 和 AMOLED 電視的產(chǎn)品設(shè)計(jì)。David 擁有超過 27 年的豐富模擬設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)和至少 7 項(xiàng)專利。他畢業(yè)于位于亞利桑那州圖森市的亞利桑那大學(xué)，以優(yōu)異的成績獲得電子工程學(xué)士學(xué)位、MBA 以及德國文學(xué)碩士學(xué)位。郵件地址：ti_davidbaum@list.ti.com。

Daryl Hiser 是 TI 高精度運(yùn)算放大器產(chǎn)品部的高級測試工程師，負(fù)責(zé)制定和執(zhí)行新產(chǎn)品的測試與特性描述方案，擁有兩項(xiàng)專利。他畢業(yè)于位于亞利桑那州 Flagstaff 市的北亞利桑那大學(xué)，獲動(dòng)物學(xué)理學(xué)學(xué)士學(xué)位。郵件地址：ti_darylhiser@list.ti.com。

原文鏈接：

http://www.edn.com/electronics-news/4389470/The-basics-of-testing-op-amps-part-2-br--Test-op-amps-for-input-bias-current

編輯：jq