據(jù)麥姆斯咨詢報(bào)道，光電傳感器表征專家光焱科技（Enlitech）日前推出全球第一套商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化的最新型單光子探測(cè)器 （SPD， Single Photon Detector） 特性測(cè)試分析設(shè)備SPD2200。光焱科技整合了所有先進(jìn)光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng)，提供完整與便利的軟件控制接口與分析功能，助力客戶加速直接飛行時(shí)間（dToF）單光子雪崩二極管（SPAD）產(chǎn)品的開發(fā)周期，提升競(jìng)爭(zhēng)力。

測(cè)試分析

SPD2200具備的全光譜性能測(cè)試包含：

- 全光譜光譜響應(yīng) （SR， Spectral Responsivity）

- 全光譜量子效率 （EQE， External Quantum Efficiency）

- 全光譜光子探測(cè)率 （PDP， Photon Detection Probability）

- 暗計(jì)數(shù)DCR （Dark Count Rate）

- 崩潰電壓BDV （Break-Down Voltage）

在不同電壓下，SPAD光子探測(cè)效率的PDE光譜

SPAD的暗計(jì)數(shù)與偏壓關(guān)系圖

SPAD暗計(jì)數(shù)與崩潰電壓

SPD2200亦能夠測(cè)試SPD的單光子辨析特性分析，包含：

- Jitter

- Afterpulsing probability

- Diffusion tail

- SNR

SPAD的Jitter測(cè)量

適用范圍

SPD2200適用各種傳感器測(cè)試分析，包含：

- SPAD

- SPD （Single Photon Detector）

- SiPM （Si PhotoMultiplier）

- MPPCs （Multi-Pixel Photon Counter）

- dToF Light Sensor

- LiDAR Sensor

- Wafer Level SPAD

審核編輯 ：李倩