我們周圍的世界越來越數(shù)字化,這并不奇怪。一個原因可能是數(shù)字形式的數(shù)據(jù)的操作、存儲和使用比模擬形式更方便、更容易。這使得將模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字形式以供進(jìn)一步處理和使用的電路更加重要。
在任何電路中使用模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 時(shí),用戶首先詢問的是位數(shù) (NOB),然后是采樣率。但有效位數(shù) (ENOB) 將告訴您有關(guān)轉(zhuǎn)換器本身的大量信息。與 ENOB 一起,采樣頻率、無雜散動態(tài)范圍 (SFDR)、積分非線性 (INL) 和微分非線性 (DNL) 是可以指導(dǎo)您選擇預(yù)期 ADC 的參數(shù)。
在本文中,我將討論各種參數(shù)對動態(tài)行為的影響,包括對信噪比 (SNR) 影響最大的參數(shù),以及 ADC 的一些靜態(tài)行為。我將首先檢查幾個關(guān)鍵參數(shù)對 SNR 的影響,例如抖動、量化噪聲、輸入信號和 DNL。
抖動
采樣時(shí)鐘的不確定性導(dǎo)致采樣電壓的誤差,如圖1所示,描述了時(shí)鐘抖動引起的采樣電壓誤差。
圖 1:采樣時(shí)鐘抖動。
考慮V in = V p sin (2p f in )形式的輸入信號。輸入信號對時(shí)間的導(dǎo)數(shù)是它的變化率。最大變化發(fā)生在 cos(2p f in ) 等于 1 時(shí),導(dǎo)致公式 1:
為確保具有滿量程電壓 (VFS) 的給定 N 位 ADC 可容忍來自抖動的電壓誤差 (t j ),它必須小于 V LSB /2 (等式 2),其中V LSB 為由 VFS/2 N定義:
對于公式 1 中的給定正弦波,您可以使用公式 3 求解抖動 (tj):
我使用 V p-p = V FS 和V p = 2 N–1 V LSB 來重寫方程。
對于輸入頻率為 80 MHz 的 12 位 ADC,抖動必須小于 485 ps 才不會導(dǎo)致采樣錯誤。
現(xiàn)在讓我們看看抖動對 ADC SNR 的理論影響。如果 V e-RMS是輸入正弦波的 t j的最壞情況均方根 (RMS) 電壓誤差,則公式 4 為:
公式 5 將抖動誤差對 SNR 的貢獻(xiàn)表示為:
量化噪聲
由于 ADC 代表給定代碼的不同模擬輸入范圍,因此每個數(shù)字代碼必然會出現(xiàn)錯誤。簡而言之,盡管為給定代碼分配了一系列模擬輸入,但對于給定代碼,只有一個模擬輸入被準(zhǔn)確表示。因此,與給定模擬輸入的分配代碼相關(guān)聯(lián)的錯誤。該誤差的范圍可以從 –LSB/2 到 +LSB/2。
例如,在圖 2中,2.5 到 3.5 范圍內(nèi)的所有模擬輸入都用相同的數(shù)字代碼表示:0 … 011。
圖 2:ADC 的理想傳遞函數(shù)。
此范圍內(nèi)的每個輸入在范圍邊界處都有較大的誤差(具有不同的極性);當(dāng)您靠近范圍的中心時(shí),誤差會變小。繪制量化誤差與模擬輸入范圍的關(guān)系圖會得到眾所周知的鋸齒圖,如圖3 所示。
圖 3:固有量化誤差。
等式 6 計(jì)算一個步長上誤差的平均噪聲功率(均方),其中q 等于 1 LSB:
因此,公式 7 給出了 SNR 功率比:
如果將量化噪聲和整體噪聲(復(fù)合 RMS DNL)與輸入噪聲一起包含在公式 5 中描述的抖動效應(yīng)中,您將得到公式 8:
括號內(nèi)的第一項(xiàng)是前面討論過的抖動的影響。第二項(xiàng)是量化噪聲和線性誤差的影響,第三項(xiàng)是輸入噪聲的影響。
在抖動、量化噪聲和輸入噪聲為零的理想情況下,您將得到以下眾所周知的 SNR 公式(公式 9):
在實(shí)踐中,通常使用公式 8 的前兩項(xiàng),而忽略第三項(xiàng)。您可以使用公式 8 從特定條件下測量的 SNR 計(jì)算抖動和量化誤差。為了計(jì)算量化誤差,應(yīng)用了低 f in ,因此抖動的影響可以忽略不計(jì),可以忽略不計(jì)。您可以使用得到的低頻 SNR 的測量結(jié)果來計(jì)算公式 10 中的ε :
為了計(jì)算抖動,應(yīng)用高頻輸入并再次測量 SNR。在這種情況下,抖動是導(dǎo)致 SNR 下降的主要因素。在f的高頻處使用新的 SNR ,您可以 使用公式 11輕松計(jì)算t j :
輸入信號
如果輸入不是滿量程,它會相應(yīng)地降低 SNR,這種影響很容易量化。例如,如果輸入正弦波的幅度為 V in,是滿量程的一小部分,則理想 SNR 將降低 20 log (2V in /V FS )。如果將幅度為 2V 的正弦波應(yīng)用于 VFS 為 5V 的 12 位 ADC,則輸入將使 74dB 的理論 SNR 降低 1.938dB,從而產(chǎn)生 72.062dB 的 SNR。
ADC 的另一個動態(tài)性能參數(shù)是信噪比和失真比(SINAD 或 SNRD)。SINAD 與 ENOB 的關(guān)聯(lián)方式與 SNR 和 NOB 的關(guān)聯(lián)方式相同。根據(jù)定義,您可以通過包括噪聲和總諧波失真 (THD) 效應(yīng)來計(jì)算 SINAD(公式 12):
或者,您可以簡單地使用等式 10 并將 SNR 替換為 SINAD,將 N 替換為 ENOB,從而以 ENOB 表示 SINAD。
過采樣
到目前為止,我假設(shè)以奈奎斯特速率進(jìn)行采樣,這意味著采樣率是被采樣信號最大頻率的兩倍。現(xiàn)在,讓我們研究過采樣(超過奈奎斯特速率的采樣)對 SNR 的影響。為此,采樣頻率 (fos) 與奈奎斯特頻率之比 2 fo 就是過采樣率 (OSR = f os /2f 0 )。
但首先,讓我們看一下量化誤差 ε,它在前面的方程中用于計(jì)算 SNR。ε具有位于±(Δ/2)之間的相等概率,其中D是LSB或簡單地V FS /2 N。等式 13 將量化噪聲功率表示為:
公式 14 給出了落入信號帶寬(0 到 fo)的噪聲功率:
等式 14 說明了一個有趣的點(diǎn):過采樣降低了感興趣頻帶中的量化噪聲,從而提高了 SNR。事實(shí)上,您可以使用公式 15 量化 SNR 的改進(jìn):
從公式 15 可以看出,SNR 每倍頻程提高 3 dB。因此,如果 OSR = 2,則 SNR 提高 3 dB;如果 OSR = 4,則 SNR 提高 6 dB。
在圖4中,采樣頻率每倍頻程增加了3dB;因此,本底噪聲下降了 9 dB,這相當(dāng)于提高了相同數(shù)量的 SNR。
圖 4:由于過采樣而降低了本底噪聲。
DNL
DNL 錯誤會降低整體 SNR。在某個頻率以下,THD 僅取決于 ADC 的整體 INL;超出該頻率,轉(zhuǎn)換器的動態(tài)性能就會出現(xiàn)。
讓我們制定1 LSB DNL的限制,這是不丟失代碼的條件;這相當(dāng)于分辨率降低 1 位,因此 SNR 降低 6 dB。對于線性誤差為 1 LSB 的 n 位轉(zhuǎn)換器,公式 16 將線性誤差引起的 SNR 邊界表示為:
審核編輯:湯梓紅
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