RM新时代网站-首页

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

沒有失效或失效很少的可靠性分析-Weibayes分析

MinitabUG ? 來源:MinitabUG ? 作者:MinitabUG ? 2022-12-20 15:10 ? 次閱讀

當沒有失效或失效很少時,可以使用假設的形狀或尺度參數(shù)進行分布分析,使用的方法稱為 Bayes 分析。在使用 Weibull 模型的情況下,這種方法更多稱為 Weibayes。Bayes 分析使您可以使用先前關于過程的知識對當前的觀測值進行推斷。如果收集失效數(shù)據(jù)而其中不包含失效,則當以下四個標準為真時,Minitab 可以執(zhí)行 Bayes 可靠性分析:

● 數(shù)據(jù)來自于 Weibull 或指數(shù)分布;

● 數(shù)據(jù)為右刪失數(shù)據(jù);

● 使用極大似然法來估計參數(shù);

● 您為形狀參數(shù)(Weibull 分布)提供了一個歷史值。如果您的數(shù)據(jù)來自指數(shù)分布,Minitab 會自動將形狀參數(shù)指定為 1。

Weibayes 分析的示例

假設您擁有沒有失效的可靠性數(shù)據(jù)集,其中 30 個經(jīng)過 1,000 個小時的測試后未出現(xiàn)失效。您想要預測 2,000 個小時下的失效概率。


最小二乘估計法不能用于沒有失效的分析;對于對本例而言,形狀參數(shù) 1.5 是合適的

結果解釋:在 2,000 個小時處,保守失效概率概率為 24.6058%(累積失效概率的 95% 置信區(qū)間上限為 24.6058%)。

審核編輯 黃昊宇

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 測試
    +關注

    關注

    8

    文章

    5269

    瀏覽量

    126598
  • 可靠性分析
    +關注

    關注

    0

    文章

    31

    瀏覽量

    9190
  • Minitab
    +關注

    關注

    0

    文章

    173

    瀏覽量

    11681
收藏 人收藏

    評論

    相關推薦

    微電子器件可靠性失效分析程序

    微電子器件可靠性失效分析程序
    的頭像 發(fā)表于 11-01 11:08 ?1296次閱讀
    微電子器件<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>程序

    “電子產(chǎn)品失效分析可靠性案例”免費技術研討會

      “電子產(chǎn)品失效分析可靠性案例”技術研討會邀請函 在IPFA2009(集成電路物理與失效分析國際會議,簡稱IPFA)
    發(fā)表于 10-31 10:48

    “電子產(chǎn)品失效分析可靠性案例”免費技術研討會

      “電子產(chǎn)品失效分析可靠性案例”技術研討會 在IPFA2009(集成電路物理與失效分析國際會議,簡稱IPFA)即將在
    發(fā)表于 11-05 11:31

    “電子產(chǎn)品失效分析可靠性案例”免費技術研討會

      “電子產(chǎn)品失效分析可靠性案例”技術研討會 在IPFA2009(集成電路物理與失效分析國際會議,簡稱IPFA)即將在
    發(fā)表于 11-05 11:41

    電子產(chǎn)品失效分析可靠性案例”免費技術研討會

      “電子產(chǎn)品失效分析可靠性案例”技術研討會 在IPFA2009(集成電路物理與失效分析國際會議,簡稱IPFA)即將在
    發(fā)表于 11-05 11:43

    什么是失效分析?失效分析原理是什么?

    的工藝環(huán)節(jié)等分類。從質量管理和可靠性工程角度可按產(chǎn)品使用過程分類。   失效率曲線通常稱浴盆曲線,它描述了失效率與使用時間的關系。早期失效率高的原因是產(chǎn)品中存在不合格的部件;晚期
    發(fā)表于 11-29 16:39

    芯片失效分析

    目前,隨著現(xiàn)代生活中的人們對產(chǎn)品質量和可靠性要求不斷提高,芯片的失效分析、可靠性分析也越來越得到關注和重視,失效
    發(fā)表于 06-24 17:04

    可靠性失效分析

    蘇州納米所可靠性失效分析中心秉承加工平臺公共服務方面的特性,在對外提供支撐和服務過程中多方發(fā)現(xiàn)用戶的共性需求,以檢測能力與市場需求完美契合為目標不斷完善。目前本中心在電子材料、元器件、封裝、SMT
    發(fā)表于 06-04 16:13

    陶瓷電容的失效可靠性分析

    在因素而失效。電容在各種應力作用下其材料發(fā)生物理和化學變化,導致電參數(shù)變劣而最后失效,可分為電應力(電流、電壓)和環(huán)境應力(濕度、溫度、氣壓、振動和沖擊等)兩種,下面就電容的失效可靠性
    發(fā)表于 05-05 10:40

    芯片IC可靠性測試、靜電測試、失效分析

    芯片IC可靠性測試、靜電測試、失效分析芯片可靠性驗證 ( RA)芯片級預處理(PC) & MSL試驗 、J-STD-020 & JESD22-A113 ;高溫存儲試驗(HTSL
    發(fā)表于 04-26 17:03

    PCB線路板可靠性分析失效分析

    鍍層開路、鍍層裂紋、鍍層空洞、柱狀結晶、孔壁分離等失效分析;冷熱沖擊、回流焊、鍍層結晶、鍍層覆蓋可靠性分析。01.冷熱沖擊金鑒實驗室針對PCB板冷熱沖擊測試,并檢測電阻變化,對鍍層
    發(fā)表于 08-05 11:52

    電子產(chǎn)品可靠性分析應用

    電子產(chǎn)品可靠性分析、評價的重點在于確定其高風險環(huán)節(jié)?;诔浞挚剂?b class='flag-5'>失效機理的分析目的,采用了元器件-失效模式-失效機理-影響因素相關聯(lián)的
    發(fā)表于 04-20 11:16 ?180次下載
    電子產(chǎn)品<b class='flag-5'>可靠性分析</b>應用

    光纖陀螺光源無失效數(shù)據(jù)可靠性分析

    可靠性分析問題,在分析失效模式的基礎上,選擇威布爾分布作為其壽命分布模型,利用貝葉斯理論估計無失效數(shù)據(jù)下各檢測時刻的失效率,進而對模型參數(shù)
    發(fā)表于 11-13 10:55 ?11次下載
    光纖陀螺光源無<b class='flag-5'>失效</b>數(shù)據(jù)<b class='flag-5'>可靠性分析</b>

    LED可靠性失效分析

    、濕度相關的可靠性試驗,對失效的產(chǎn)品進行部件或者材料更換,直到通過測試則選用。雖然此模式可以簡單的完成產(chǎn)品的設計,然而未對失效的產(chǎn)品的失效根本原因進行
    發(fā)表于 11-01 11:02 ?1483次閱讀
    LED<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>

    PCB可靠性問題失效分析思路

    環(huán)節(jié)稍有疏忽,都有可能造成“冤假錯案”。 可靠性問題的一般分析思路 背景信息收集 背景信息是可靠性問題失效分析的基礎,直接影響后續(xù)所
    發(fā)表于 02-11 15:19 ?28次下載
    PCB<b class='flag-5'>可靠性</b>問題<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>思路
    RM新时代网站-首页