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DS31256的內(nèi)部測(cè)試寄存器

星星科技指導(dǎo)員 ? 來(lái)源:ADI ? 作者:ADI ? 2023-01-11 09:30 ? 次閱讀

本應(yīng)用筆記列出了DS31256 HDLC控制器的內(nèi)部測(cè)試寄存器,并解釋了用戶應(yīng)避免使用這些寄存器的原因。

概述

DS31256 HDLC控制器有一些寄存器僅供內(nèi)部測(cè)試使用(見(jiàn)表1)。用戶應(yīng)避免使用它們。

地址 (h) 值 (h)
0050(測(cè)試寄存器) 0000
04F0 至 04FF 0000
07FD 至 07FF 0000
08FD 至 08FF 0000
09F8 至 09FF 0000

DS31256中的所有測(cè)試寄存器均為16位,在硬件或軟件復(fù)位時(shí)設(shè)置為0。數(shù)據(jù)手冊(cè)中僅顯示地址為0050的測(cè)試寄存器的說(shuō)明。所有其他測(cè)試寄存器均為隱藏寄存器,僅用于內(nèi)部測(cè)試(數(shù)據(jù)手冊(cè)中未顯示)。

偏移量/地址 縮寫 注冊(cè)名稱 數(shù)據(jù)表部分
0050 測(cè)試 測(cè)試寄存器 5.4

工廠測(cè)試(FT)模式使用測(cè)試寄存器位0將DS31256置于測(cè)試模式。對(duì)于正常的設(shè)備操作,每當(dāng)寫入此寄存器時(shí),此位應(yīng)設(shè)置為 0。設(shè)置此位會(huì)將 RAM 置于低功耗待機(jī)模式。

位 1 至 15 僅供內(nèi)部(達(dá)拉斯半導(dǎo)體)測(cè)試使用,不供用戶測(cè)試模式控制使用。這些位的值應(yīng)始終為 0。如果這些位中的任何一個(gè)設(shè)置為 1,則設(shè)備無(wú)法正常工作。

結(jié)論

本應(yīng)用筆記列出了DS31256的內(nèi)部測(cè)試寄存器,并解釋了用戶應(yīng)避免使用這些寄存器的原因。

審核編輯:郭婷

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