DS27xx系列達拉斯半導體電量計器件設(shè)計用于高精度測量流入和流出電池的電流。但是，如果不仔細考慮元件布局，則使用外部檢測電阻時，精度水平可能會降低。本應(yīng)用筆記向讀者介紹了幾種電路板布局技術(shù)，在使用帶有外部檢測電阻的達拉斯半導體電量計器件設(shè)計電路板時應(yīng)考慮這些技術(shù)。它討論了可能的錯誤來源以及如何通過各種布局技術(shù)減少其影響。

介紹

達拉斯半導體電量計為測量和累積通過應(yīng)用的電流提供了一種極其精確的方法。測量技術(shù)的精度取決于正確測量外部檢測電阻兩端的壓降。如本應(yīng)用筆記所述，電阻放置和走線布線對于實現(xiàn)精度目標非常重要。

錯誤來源

圖1.DS27xx測量系統(tǒng)誤差源

圖1顯示了外部檢測電阻電量計的可能測量誤差來源。為簡單起見，省略了其他連接。電量計通過測量檢測線SNS和GND接觸應(yīng)用電流路徑的點之間的壓降來累積電流，I手機.理想情況下，這些觸點將直接位于檢測電阻處。觸點和檢測電阻之間的任何走線電阻，標記為 TRACE。S/R和跟蹤總/R在電路中，會影響測量的增益誤差如下：

盡管即使與檢測電阻相比，走線電阻通常也相對較小，但典型的過孔可能具有幾毫歐的電阻，這會產(chǎn)生很大的誤差。測量點外的任何跡線電阻，標記為 TRACE。包-和跟蹤.BAT-在電路中，對電流測量精度沒有影響。

第二個可能的測量誤差源是由與前面描述的接地檢測點和器件的實際GND引腳的電壓差引起的。該壓降是由器件的工作電流IDD產(chǎn)生的27XX，流過 GND 引腳和接地檢測點之間的任何走線電阻，標記為 TRACE。接地在電路中。由于該電流始終在同一方向上，因此將在電量計測量中產(chǎn)生偏移誤差，如下所示：

在確定電量計精度時，測量失調(diào)是最重要的誤差類型，因此限制電路中的接地電阻量至關(guān)重要。電阻的檢測走線，走線社交網(wǎng)絡(luò)，并不重要，因為沒有電流流過此檢測路徑。

電路布局

圖2.DS27xx電路布局注意事項

圖2所示為采用上述設(shè)計方法的DS27xx電量計的布局示例。圖 2 中標記的布局的關(guān)鍵點描述如下。

通過保持走線短并消除所有過孔，從 GND 引腳到檢測電阻的 BAT- 側(cè)的走線電阻已降至最低。

兩條檢測線直接在檢測電阻處接觸主電流路徑。與主電流路徑共享的電路板走線非常少，也沒有共享過孔。

SNS 引腳連接的電阻并不重要。走線可以很長，并且可以包含過孔，而不會影響測量精度。

主電流路徑中的過孔和任何其他電阻位于檢測點接觸檢測電阻的外部，因此不會影響測量精度。

總結(jié)

電路板布局對于保持外部檢測電阻電量計的數(shù)據(jù)手冊精度極為重要。必須注意盡量減少走線電阻，這些電阻可能會在器件測量中產(chǎn)生失調(diào)或增益誤差。這些布局方法僅適用于外部電阻器件。該電路在內(nèi)部電阻器件中是獨立的，因此不受此處描述的誤差源的影響。

審核編輯：郭婷