RM新时代网站-首页

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

LiF/Li2CO3鈍化層助力高穩(wěn)定性硅負(fù)極

清新電源 ? 來(lái)源:廈門大學(xué)彭?xiàng)澚簣F(tuán)隊(duì) ? 作者:廈門大學(xué)彭?xiàng)澚簣F(tuán) ? 2023-01-11 17:11 ? 次閱讀

【研究背景】

具有密封性、電子絕緣、在沒有電場(chǎng)的情況下不允許離子滲透的薄膜,可以有效防止活性金屬的腐蝕。在不銹鋼中,鐵腐蝕的抑制是通過(guò)與金屬(Cr, Ni, Mo等)合金化而鈍化,進(jìn)而形成無(wú)晶界、電子絕緣和離子輸運(yùn)阻擋層。在鋰離子電池中,硅負(fù)極的理論容量高,是高比能電池的必然選擇之一,但是其充放電過(guò)程中巨大的體積變化是其本征劣勢(shì)。

迄今為止,許多人致力于通過(guò)納米工程來(lái)鉗制、減緩、或釋放硅負(fù)極的巨大體積膨脹,但復(fù)雜的合成和引入的異質(zhì)化合物(如碳材料)阻礙了其實(shí)際應(yīng)用。當(dāng)膨脹/收縮的硅碎片保持電子導(dǎo)通、相互連接時(shí),其鋰化過(guò)程仍然可以是可逆的,用彈性粘結(jié)劑制成的硅負(fù)極具備很好的循環(huán)穩(wěn)定性就很好地證明了這一點(diǎn)。

此外,在碳酸鹽電解質(zhì)中硅負(fù)極界面的固有不穩(wěn)定導(dǎo)致SEI的持續(xù)增長(zhǎng),加速了活性物質(zhì)的損失。以上幾點(diǎn)極大地限制了硅負(fù)極的實(shí)際應(yīng)用,一種簡(jiǎn)便有效的方法亟待開發(fā)。

【成果簡(jiǎn)介】

近日,廈門大學(xué)彭?xiàng)澚簣F(tuán)隊(duì)Angewandte Chemie International Edition上發(fā)表題為“Stainless Steel-Like Passivation Inspires Persistent Silicon Anodes for Lithium-Ion Batteries”的研究論文。作者巧妙借鑒了不銹鋼鈍化層的作用機(jī)理和思想,將LiF和Li2CO3引入硅負(fù)極材料中,通過(guò)一系列原位/非原位的測(cè)試表征手段,闡明了鈍化誘導(dǎo)生成富F元素界面層、抑制硅負(fù)極體系性能衰減的機(jī)理,如何通過(guò)有效的鈍化來(lái)構(gòu)建高性能、耐用的硅負(fù)極提供了新見解和思路。

【研究亮點(diǎn)】

(1) 通過(guò)引入LiF和Li2CO3誘導(dǎo)生成富F的SEI界面結(jié)構(gòu),分析結(jié)果表明,其可有效抑制硅循環(huán)鋰化過(guò)程中的體積變化,提升循環(huán)穩(wěn)定性。

(2) 鈍化后的三維硅負(fù)極具備極佳電化學(xué)性能,在1500次循環(huán)后,可保持3701 mAh g-1的高容量。同時(shí),在經(jīng)過(guò)50 C的高倍率循環(huán)后,依然能恢復(fù)到0.1 C的容量。

【圖文導(dǎo)讀】

f37d00bc-8571-11ed-bfe3-dac502259ad0.jpg

圖1 (a-b)硅鋰合金失效,以及鈍化保護(hù)層抑制硅負(fù)極體系失效的示意圖。(c-e) 在2D Cu箔和(f-h) 3D Cu泡沫上濺射和鍍膜制備Si負(fù)極的工藝。

受不銹鋼鈍化的啟發(fā),作者發(fā)現(xiàn)Si負(fù)極也可以被分散分布的LiF/Li2CO3保護(hù)(圖1a-b),形成的持久性鈍化層,有效地延緩其容量衰減。硅負(fù)極的制備工藝如圖1c-h所示。通過(guò)在Cu箔上濺射Si和LiF/Li2CO3靶制備二維負(fù)極,分別形成“二維Si負(fù)極”和“二維復(fù)合型Si負(fù)極(含有LiF/Li2CO3)”(圖1c-d)。

為了進(jìn)一步釋放Si的體積膨脹,并穩(wěn)定SEI的形成,通過(guò)在泡沫Cu上濺射等量的純Si和LiF/Li2CO3復(fù)合材料制成“3D”負(fù)極,分別記作“3D Si”和“3D復(fù)合Si(含有LiF/Li2CO3)”(圖1f-g)。為了保護(hù)Si負(fù)極的表面,在兩個(gè)復(fù)合型負(fù)極的部分表面繼續(xù)濺射鍍上等量的LiF/Li2CO3,記作“2D層狀Si”和“3D復(fù)合層狀Si”(圖1e, 1h)。

f39c56a6-8571-11ed-bfe3-dac502259ad0.jpg

圖2 (a)0.2C的循環(huán)性能。(b)0.2C的庫(kù)侖效率。(c)1C的循環(huán)性能。(d)三維復(fù)合層狀硅負(fù)極的倍率性能。(e)本工作和其他已報(bào)道工作性能的對(duì)比。(f)厚度變化測(cè)量?jī)x器圖示。(g)使用厚硅薄膜負(fù)極的全電池厚度變化,其中(h-k)為“二維復(fù)合Si”;(l-o)為“二維Si”展開后的有限元模擬結(jié)果。(h, l)位移等高線圖和(i, m)對(duì)應(yīng)的位移-距離路徑分析。(j, n)應(yīng)力等高線圖和(k, o)相應(yīng)的應(yīng)力-距離路徑分析。

在0.2 C時(shí),所有Si負(fù)極的循環(huán)性能差異很大,如圖2a-b所示。LiF/Li2CO3涂層可以抑制SEI的形成和電解質(zhì)消耗,因此“2D層狀Si”的庫(kù)侖效率(CE)高于“2D Si”。Si負(fù)極在1.0 C (4200 mA g-1)時(shí)的循環(huán)穩(wěn)定(圖2c),和0.2C循環(huán)時(shí)類似。當(dāng)電流密度達(dá)到5C時(shí),負(fù)極保持3028 mAh g-1的容量(圖2d),在50 C的高倍率下,循環(huán)后容量完全恢復(fù)。

與之前報(bào)道的硅負(fù)極(圖2e)相比,“3D復(fù)合和層狀硅”的性能十分優(yōu)異。 此外,作者利用厚度測(cè)量?jī)x比較了厚Si膜電極(~1 μm)的體積變化(圖2f)?!?D復(fù)合Si”充放電時(shí)的體積膨脹/收縮都小于“2D Si”(圖2g中綠色標(biāo)記),這表明大塊LiF/Li2CO3化合物緩解了Si負(fù)極的體積變化。

為了比較“2D復(fù)合Si”和“2D Si”在膨脹/收縮時(shí)的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性,應(yīng)用有限元模擬并進(jìn)行分析(圖2h-o)。“2D復(fù)合Si”(圖2h-k)模型由Si、LiF和Li2CO3圓柱體組成,而“2D Si”(圖2l-o)模型僅由一個(gè)完整的Si圓柱體組成。“2D復(fù)合Si”在充分膨脹后(如圖紅圈所示),圍繞LiF和Li2CO3圓柱體的表面位移減小到~1.2 μm (圖2h-i),而對(duì)應(yīng)位置的“2D Si”的表面位移大到~3.3 μm(圖2l-m)。

對(duì)于應(yīng)力分布,在“2D復(fù)合Si”中,最大/最小應(yīng)力值都降低了(圖2j-k)。特別是在紅圈所示的表面,LiF和Li2CO3圓柱體周圍的應(yīng)力集中大幅度下降到~53 GPa,而相應(yīng)位置的“2D Si”的應(yīng)力集中則高達(dá)~560 GPa(圖2n-o)。上述結(jié)果表明,體塊LiF/Li2CO3的引入可以有效緩解Si負(fù)極在循環(huán)過(guò)程中的體積變化和應(yīng)力集中。

f3d2504e-8571-11ed-bfe3-dac502259ad0.jpg

圖3 (a-c) Si負(fù)極第1~3循環(huán)的微分容量圖。第4到150個(gè)循環(huán)的微分容量與電位的等高線圖,(d-f)為充電,(g-i)為放電。

圖3a-c比較了“2D Si”、“2D復(fù)合Si”和“2D層狀Si”負(fù)極的初始3個(gè)循環(huán)的微分容量曲線,第4-150次循環(huán)的微分容量等高線圖(圖3d-i)展示了循環(huán)過(guò)程中的氧化還原過(guò)程?!?D Si”(圖3a)的還原峰高于其他兩個(gè)樣品(圖3b-c),這表明副反應(yīng)與部分SEI的形成有關(guān)。

同時(shí),在“2D層狀Si”中,重疊度(反應(yīng)可逆性)最低(圖3c)。在接下來(lái)的充電過(guò)程中(圖3d-f),“2D復(fù)合Si”的氧化峰強(qiáng)度最大,并沿循環(huán)過(guò)程持續(xù)存在,表明“2D復(fù)合Si”具有較高的可逆性。在放電曲線(圖3g-i)中,“2D復(fù)合Si”的陰極峰以Li3.75Si和Li3.5Si合金的雙重組分為主,而“2D Si”的還原峰主要與Li3.75Si合金的鋰化有關(guān)。

f3fea1a8-8571-11ed-bfe3-dac502259ad0.jpg

圖4 (a)原始、(b)放電和(C)充電態(tài)Si負(fù)極的Li 1s、O 1s、Si 2p、C 1s和F 1s峰的原位XPS。(d-f)“2D Si”、(g-i)“2D復(fù)合Si”和(j-l)“2D層狀Si”的組成演變化示意圖?;疑匦伪硎久總€(gè)負(fù)極的XPS測(cè)試探測(cè)深度。

作者還進(jìn)行了XPS測(cè)試,結(jié)果表明原始Si薄膜由體相的Si和表面Si-O層組成,但在“2D復(fù)合Si”和“2D層狀Si”中發(fā)現(xiàn)了富F中間相(圖4a)。完全放電后,SEI膜由有機(jī)層(-ROLi, C-O)、無(wú)機(jī)層(Li2CO3, LiCl)和鋰化層(Li2O, Li-Si)組成。在“2D層狀Si”和“2D復(fù)合Si”中, Li2O含量較低,這表明氧化物較少,即SEI受到了調(diào)控(圖4b)。充電后“2D復(fù)合Si”較高的Si信號(hào)證實(shí)了鋰硅合金的鋰化可逆性增強(qiáng)(圖4c)。

具體而言,LiF信號(hào)在“2D層狀Si”和“2D復(fù)合Si”中保持穩(wěn)定,O-F信號(hào)在“2D復(fù)合Si”中持續(xù)存在,這有利于LiF/Li2CO3體鈍化劑增強(qiáng)穩(wěn)定性。結(jié)合上述結(jié)果,Si負(fù)極在循環(huán)過(guò)程中的演化過(guò)程如圖4d-l所示。結(jié)果表明,體相Li2CO3和在“三維復(fù)合層狀硅”負(fù)極中加入的LiF涂層,二者可以進(jìn)一步穩(wěn)定硅負(fù)極的循環(huán)。

f446465c-8571-11ed-bfe3-dac502259ad0.jpg

圖5 (a-e)原始、(f-j)放電和(k-o充電態(tài)“2D復(fù)合Si”的原位TEM圖像和EDS元素分布。(a)的插圖為標(biāo)記區(qū)域的HRTEM圖。(f)的插圖為放大粒子的HRTEM圖像。(k)的插入為標(biāo)記區(qū)域的FFT圖像。

原位TEM測(cè)試揭示了不同和電臺(tái)二維樣品的組成變化。在“2D復(fù)合Si”(圖5a)中,0.201和0.208 nm的兩個(gè)交叉晶格條紋分別為(200)LiF和(220)Li2CO3。LiF和Li2CO3聚集可以在O和F元素的EDS中觀測(cè)到(圖5b-e)。放電后,聚集物進(jìn)一步析出,形成不同大小的納米顆粒(圖5f),0.208 nm的晶面間距和集中的元素分布(圖5g-j)證實(shí)了LiF和Li2CO3的存在,這意味著復(fù)合材料在Si負(fù)極的鋰化作用下是穩(wěn)定的。充電后,析出的LiF和Li2CO3納米顆粒重新溶解在收縮的Si中(圖5k)。但從強(qiáng)烈的F和O信號(hào)(圖5l-o)可以看出,在Si負(fù)極脫鋰后,LiF/Li2CO3的化合物也是穩(wěn)定的。

f46d54f4-8571-11ed-bfe3-dac502259ad0.jpg

圖6 (a-c)原始、(d-f)放電和(g-i)充電態(tài)Si負(fù)極的高倍率SEM圖像。(j-l)原始、(m-o)放電和(p-r)充電態(tài)Si負(fù)極的低倍率SEM圖像。(c)和(i)插圖為放大的表面涂層的SEM圖像。

循環(huán)前(圖6a-c),“2D Si”和“2D復(fù)合Si”的形貌相似,放電后(圖6d-f),“2D Si”的大塊顆粒中出現(xiàn)了明顯的孔隙和裂紋,但“2D復(fù)合Si”和“2D層狀Si”保持了形態(tài)完整。 充電后(圖6g-i),“2D Si”中形成了更多的薄片和裂隙,而“2D復(fù)合Si”和“2D層狀Si”則保持了致密結(jié)構(gòu)。

放大倍率下,原始Si薄膜(圖6j-l)表面形貌相似。但放電后(圖6m-o),“2D Si”坍縮成更小的顆粒,而“2D復(fù)合Si”最致密。結(jié)果表明,LiF/Li2CO3鈍化劑能有效緩解Si負(fù)極的巨大體積變化。

【總結(jié)和展望】

受不銹鋼類似的鈍化機(jī)制的啟發(fā),作者采用磁控共濺射技術(shù)制備了涂層和復(fù)合Si薄膜。復(fù)合Si負(fù)極比純Si或涂層Si負(fù)極具有更高的容量和更好的循環(huán)穩(wěn)定性。在應(yīng)變松弛的泡沫銅上,同時(shí)涂覆和復(fù)合的Si。在1.0 C倍率下,1500次循環(huán)后實(shí)現(xiàn)了3701 mAh g-1的高容量。其保護(hù)機(jī)制歸因于Li2Si和Li3.75Si的增強(qiáng)去鋰化、富F元素的SEI的穩(wěn)健鈍化層、復(fù)合納米晶體的高穩(wěn)定性以及Si負(fù)極的體積膨脹緩釋。該鈍化策略可用于穩(wěn)定類似的合金負(fù)極(P、Ge、Sn、Pb等)或其他儲(chǔ)能電極。


審核編輯:劉清

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 晶體
    +關(guān)注

    關(guān)注

    2

    文章

    1351

    瀏覽量

    35418
  • 電解質(zhì)
    +關(guān)注

    關(guān)注

    6

    文章

    810

    瀏覽量

    20048
  • XPS
    XPS
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    97

    瀏覽量

    11980
  • TEM
    TEM
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    86

    瀏覽量

    10404
  • sei膜
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    23

    瀏覽量

    3540

原文標(biāo)題:彭?xiàng)澚篈ngew:50 C高倍率!LiF/Li2CO3鈍化層助力高穩(wěn)定性硅負(fù)極

文章出處:【微信號(hào):清新電源,微信公眾號(hào):清新電源】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    簡(jiǎn)化穩(wěn)定性檢查

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《簡(jiǎn)化穩(wěn)定性檢查.pdf》資料免費(fèi)下載
    發(fā)表于 10-11 11:23 ?0次下載
    簡(jiǎn)化<b class='flag-5'>穩(wěn)定性</b>檢查

    鳳凰動(dòng)力舵輪驅(qū)動(dòng)輪的穩(wěn)定性如何影響AGV的運(yùn)行效率和穩(wěn)定性

    舵輪的穩(wěn)定性對(duì)AGV(自動(dòng)導(dǎo)引車)的運(yùn)行效率和整體穩(wěn)定性具有顯著的影響。以下是關(guān)于舵輪穩(wěn)定性與AGV運(yùn)行效率和穩(wěn)定性之間關(guān)系的詳細(xì)分析: 首先,舵輪的
    的頭像 發(fā)表于 08-27 13:20 ?317次閱讀
    鳳凰動(dòng)力舵輪驅(qū)動(dòng)輪的<b class='flag-5'>穩(wěn)定性</b>如何影響AGV的運(yùn)行效率和<b class='flag-5'>穩(wěn)定性</b>

    VCO的頻率穩(wěn)定性是什么

    VCO(Voltage-Controlled Oscillator,壓控振蕩器)的頻率穩(wěn)定性是一個(gè)關(guān)鍵的性能指標(biāo),它描述了VCO輸出頻率對(duì)輸入電壓變化的敏感程度及在長(zhǎng)時(shí)間或不同環(huán)境條件下保持頻率穩(wěn)定
    的頭像 發(fā)表于 08-20 16:08 ?891次閱讀

    自動(dòng)控制原理怎么判斷系統(tǒng)的穩(wěn)定性

    狀態(tài)能否在有限時(shí)間內(nèi)恢復(fù)到平衡狀態(tài)或穩(wěn)定在某個(gè)范圍內(nèi)。穩(wěn)定性分為以下幾種類型: BIBO(有界輸入有界輸出)穩(wěn)定性 :對(duì)于任何有界輸入,系統(tǒng)的輸出也是有界的。 L2
    的頭像 發(fā)表于 07-29 10:28 ?1755次閱讀

    鈣鈦礦/晶太陽(yáng)能電池穩(wěn)定性測(cè)試

    近幾年來(lái),鈣鈦礦/晶太陽(yáng)能電池憑借其寬光譜吸收、易突破Shockley-Queisser效率極限的優(yōu)勢(shì)而成為研究熱點(diǎn)。但鈣鈦礦材料的長(zhǎng)期穩(wěn)定性仍然是一個(gè)重大挑戰(zhàn)。鈣鈦礦材料對(duì)環(huán)境條件(如濕度
    的頭像 發(fā)表于 07-25 08:33 ?1238次閱讀
    鈣鈦礦/晶<b class='flag-5'>硅</b>疊<b class='flag-5'>層</b>太陽(yáng)能電池<b class='flag-5'>穩(wěn)定性</b>測(cè)試

    環(huán)路增益的穩(wěn)定性

    由基本反饋電路的電路組成結(jié)構(gòu),得出閉環(huán)傳遞函數(shù)為,電路的開環(huán)增益是各個(gè)晶體管參數(shù)和電容參數(shù)的函數(shù),所以也是頻率的函數(shù),于是閉環(huán)增益就可以寫作,反饋電路的穩(wěn)定性和1環(huán)路增益A(w)有關(guān),當(dāng)環(huán)路增益的幅
    發(fā)表于 06-18 15:00

    智能測(cè)徑儀:穩(wěn)定性成就精測(cè)量之選!

    測(cè)量穩(wěn)定性。 具備高頻測(cè)量系統(tǒng),500Hz/2000Hz的高頻檢測(cè)系統(tǒng),可應(yīng)對(duì)各種高速產(chǎn)線。 更有防護(hù)外殼,測(cè)徑儀的防護(hù)等級(jí),可應(yīng)用于各種產(chǎn)線中。 測(cè)徑儀的穩(wěn)定性帶給產(chǎn)線很大的
    發(fā)表于 06-05 17:30

    影響放大器穩(wěn)定性的因素

    在電子電路設(shè)計(jì)中,放大器作為信號(hào)放大的關(guān)鍵元件,其穩(wěn)定性對(duì)于整個(gè)電路的性能至關(guān)重要。穩(wěn)定性良好的放大器能夠確保信號(hào)的準(zhǔn)確傳輸和放大,避免產(chǎn)生自激振蕩、頻率失真等不良影響。因此,深入了解放大器穩(wěn)定性
    的頭像 發(fā)表于 05-28 14:43 ?1673次閱讀

    晶振頻率穩(wěn)定性:關(guān)鍵指標(biāo)與影響因素

    ,從而影響晶振的頻率。一般來(lái)說(shuō),溫度升高,晶體振動(dòng)頻率會(huì)降低;溫度降低,振動(dòng)頻率會(huì)升高。因此,在實(shí)際應(yīng)用中,我們需要確保晶振在工作在合適的溫度范圍內(nèi),以保證其頻率穩(wěn)定性。2. 負(fù)載變化:晶振輸出頻率會(huì)受
    發(fā)表于 05-17 15:34

    運(yùn)放穩(wěn)定性的判斷原理的補(bǔ)償原理?

    有反饋的運(yùn)放是從輸出端到輸入端的反饋支路,但是在電路上輸入和輸出也是通過(guò)反饋支路直接電氣連接的,為什么不考慮輸入經(jīng)反饋支路到輸出端的電路作用? 由反饋之路的數(shù)學(xué)關(guān)系可得知反饋運(yùn)放的穩(wěn)定性數(shù)學(xué)關(guān)系,1
    發(fā)表于 05-06 22:09

    什么是熱電偶穩(wěn)定性?影響熱電偶穩(wěn)定性的主要因素

    什么是熱電偶穩(wěn)定性?影響熱電偶穩(wěn)定性的主要因素 熱電偶熱穩(wěn)定性怎樣檢測(cè)? 熱電偶穩(wěn)定性是指熱電偶在一定時(shí)間范圍內(nèi)的溫度測(cè)量值的穩(wěn)定程度。在實(shí)
    的頭像 發(fā)表于 03-08 15:32 ?1605次閱讀

    穩(wěn)定性TCXO的特點(diǎn)

    描述穩(wěn)定性TCXO可提供CMOS或截?cái)嗾逸敵?頻率從10到54 MHz -指定到+105oC的5G基站和邊緣計(jì)算需要室外安裝,小型化和無(wú)風(fēng)扇操作-與其他TCXO相比,它提供了各種改進(jìn),如低溫斜率
    發(fā)表于 02-27 10:32 ?0次下載

    什么是晶振的頻率穩(wěn)定性?如何確保晶振的穩(wěn)定性呢?

    什么是晶振的頻率穩(wěn)定性?如何確保晶振的穩(wěn)定性呢? 晶振的頻率穩(wěn)定性是指晶振在工作過(guò)程中頻率的變化程度。對(duì)于許多電子設(shè)備和系統(tǒng)而言,晶振頻率的穩(wěn)定性是非常重要的,因?yàn)樗苯佑绊懙皆O(shè)備的精
    的頭像 發(fā)表于 01-24 16:11 ?1308次閱讀

    Tg-5510ca:穩(wěn)定性

    愛普生推出的TG-5510CA一款穩(wěn)定性溫補(bǔ)晶振,可提供CMOS或限幅正弦輸出,額定頻率10 MHz至54MHz,外形尺寸: 7.0 × 5.0 × 1.5 mm小體積輕薄型,電源電壓3.3V
    發(fā)表于 12-26 14:01 ?0次下載

    TG5032CMN穩(wěn)定性105℃高溫

    TG5032CMN是一款頻率范圍10MHz ~ 54MHz高精度穩(wěn)定性溫補(bǔ)晶振,外部尺寸5.0 × 3.2 × 1.45mm,超小型,該系列晶振的額定工作范圍-40℃~﹢105°C內(nèi)可穩(wěn)定
    發(fā)表于 12-25 11:41 ?0次下載
    RM新时代网站-首页