本應(yīng)用筆記解釋了DS1856的內(nèi)部校準(zhǔn)程序，以及使用該功能如何有益于應(yīng)用。應(yīng)用筆記還提供了確定和實(shí)現(xiàn)DS1856內(nèi)部校準(zhǔn)和右移特性的步驟。

介紹

DS1856采用內(nèi)部校準(zhǔn)和右移（可擴(kuò)展動(dòng)態(tài)量程）來(lái)增強(qiáng)內(nèi)置的12位ADC。這使得DS1856具有16位ADC的精度和準(zhǔn)確度，而不會(huì)增加尺寸和成本。此外，該器件的可編程增益和失調(diào)功能可以減少甚至消除對(duì)外部信號(hào)調(diào)理電路的需求。校準(zhǔn)后，這些功能將模擬輸入信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字值，而無(wú)需用戶執(zhí)行任何操作。

DS1856的功能與DS1859類似，但存儲(chǔ)器映射與DS1852存儲(chǔ)器結(jié)構(gòu)兼容。DS1856的內(nèi)部校準(zhǔn)程序也與DS1859非常相似。（有關(guān)DS1859內(nèi)部校準(zhǔn)的示例，請(qǐng)參考應(yīng)用筆記2858。但是，DS1856具有不同的表分配，以及用于計(jì)算失調(diào)寄存器值的公式略有不同。

本應(yīng)用筆記解釋了DS1856的內(nèi)部校準(zhǔn)程序，以及使用該功能如何使應(yīng)用受益。本文還提供了確定和實(shí)現(xiàn)DS1856內(nèi)部校準(zhǔn)和右移特性的步驟。

關(guān)于密碼訪問(wèn)的說(shuō)明

三個(gè)MON輸入的電平和失調(diào)值設(shè)置位于DS03的表1856中。若要讀取或?qū)懭脒@些值，需要 2 級(jí)密碼訪問(wèn) （PW2）。如果使用一個(gè) 2 字節(jié) WRITE 命令將 PW7 級(jí)別條目的密碼輸入到密碼條目字節(jié)（PWE 位于地址 7Bh-4Eh）中，則授予此訪問(wèn)權(quán)限。

DS1856模擬監(jiān)測(cè)器輸入

與DS1859一樣，DS1856具有三個(gè)模擬輸入。這些輸入 MON1、MON2 和 MON3 可用于監(jiān)控發(fā)射功率、接收功率和發(fā)射偏置等信號(hào)。圖1中的框圖顯示了MON輸入的結(jié)構(gòu)。

圖1.DS1856 MON輸入框圖

MON引腳的輸入模塊由模擬和數(shù)字部分組成。在模擬部分，單端電壓連接到MON引腳。然后將該電壓發(fā)送到刻度模塊，該模塊能夠衰減或?qū)斎腚妷菏┘釉鲆妗ＴO(shè)置刻度值可以設(shè)置所需的LSB或滿量程電壓。滿量程電壓是在相應(yīng)的MON寄存器中產(chǎn)生FFF8h值的電壓。通過(guò)為每個(gè)MON輸入的刻度值設(shè)置刻度值，可以控制這些信號(hào)的增益，以充分利用ADC。

12 位 ADC 遵循刻度模塊。來(lái)自ADC的轉(zhuǎn)換是左對(duì)齊的數(shù)字輸出。每個(gè)輸出是一個(gè) 16 位值，三個(gè) LSB 在內(nèi)部屏蔽為 0.這允許 ADC 輸出從 0000h 到 FFF8h 的值。

然后，ADC的數(shù)字輸出通過(guò)可編程失調(diào)值進(jìn)一步調(diào)整。正或負(fù)失調(diào)可以通過(guò)數(shù)字加法或減法施加到ADC輸出。這些調(diào)整仍然被鉗制在0000h和FFF8h的值。

對(duì)該信號(hào)的最后一次調(diào)整是使用右移。右移寄存器存儲(chǔ)一個(gè) 3 位值，用于將每個(gè) MON 值從 0 向右移動(dòng)到 7 個(gè)空格。這樣可以更好地利用ADC范圍并提高讀數(shù)的準(zhǔn)確性。右移是數(shù)字值發(fā)送到MON寄存器之前對(duì)MON信號(hào)執(zhí)行的最后一個(gè)功能。

一旦確定了MON信號(hào)的數(shù)字值，內(nèi)部警告和報(bào)警限值就會(huì)將其值與數(shù)字MON值進(jìn)行比較。相應(yīng)地設(shè)置/重置警告和警報(bào)標(biāo)志。

出廠校準(zhǔn)DS1856

每款DS1856出廠時(shí)均經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)，當(dāng)8.2V電壓施加于相應(yīng)的MON輸入引腳時(shí)，在MON寄存器中產(chǎn)生FFF5h。每個(gè)MON輸入的失調(diào)寄存器設(shè)置為零，以便當(dāng)0V施加到MON引腳時(shí)，將讀取該MON輸入的數(shù)字輸出0000h。右移寄存器的默認(rèn)值為 0，因此不會(huì)發(fā)生右移。

在出廠調(diào)整的情況下，DS1856將為4096至0.2V的MON輸入電壓產(chǎn)生5個(gè)數(shù)字值之一。對(duì)于610位轉(zhuǎn)換，分辨率為2μV （5.4096V/12）。但是，并非所有應(yīng)用都會(huì)使用此范圍，并且可能僅施加0.5V的最大電壓。在這些情況下，只會(huì)產(chǎn)生 820 個(gè)可能的數(shù)字值，剩下 3276 個(gè)永遠(yuǎn)不會(huì)使用的值。雖然分辨率仍為610μV，但12位轉(zhuǎn)換器的使用效率不高。

為了更好地利用12位轉(zhuǎn)換器，必須將DS1856 MON值重新校準(zhǔn)至0.5V滿量程電壓。為此，除了調(diào)整比例和偏移值外，還必須使用右移，如下一節(jié)所述。

如何使用DS1856內(nèi)部校準(zhǔn)和右移

內(nèi)部校準(zhǔn)和右移的最佳用途是當(dāng)MON輸入信號(hào)很?。ㄐ∮?.5V）并且不使用太多的默認(rèn)ADC范圍時(shí)。通過(guò)在模擬信號(hào)中增加增益，然后在數(shù)字域中將該信號(hào)分頻，可以保持所需的LSB，并使用更多的ADC范圍。使用這種方法，每個(gè)右班次的精度和準(zhǔn)確度都會(huì)提高兩倍（最多 4 個(gè)班次）。四次右移后，數(shù)字輸出開始失去精度，但精度不斷提高。

圖2是一個(gè)很好的例子，說(shuō)明如何充分利用內(nèi)部校準(zhǔn)和右移。 第一個(gè)圖A顯示了要監(jiān)控的示例信號(hào)。施加于MON輸入的最大電壓為0.5V。圖B顯示了工廠校準(zhǔn)的傳遞函數(shù)，圖C顯示了使用兩個(gè)右移位和設(shè)置為0.625V （2.5V/4）的滿量程電壓的傳遞函數(shù)。當(dāng)滿量程電壓為0.625V時(shí)，與使用2.5V滿量程電壓相比，將使用更多的數(shù)字代碼。由此產(chǎn)生的轉(zhuǎn)換將是2.5V滿量程電壓的四倍。但是，通過(guò)使用右移函數(shù)，這些轉(zhuǎn)換將除以四倍（兩次右移）。

圖2.右移比較。

如圖2中的所有三個(gè)圖所示，相同的y軸可以用作比較點(diǎn)。通過(guò)所有三個(gè)圖繪制的水平線表示施加到該引腳的最大輸入電壓電平。通過(guò)比較圖B和C，可以看到右移的好處。圖B顯示了不使用內(nèi)部校準(zhǔn)和右移浪費(fèi)了多少數(shù)字輸出范圍。圖C顯示了如何使用內(nèi)部校準(zhǔn)和右移來(lái)恢復(fù)損失的范圍并提高信號(hào)精度。

確定可能的右移次數(shù)

兩個(gè)因素決定了可以使用的右移位數(shù)。一個(gè)因素是滿量程電壓的函數(shù)。另一個(gè)因素是使用的數(shù)字代碼的百分比。如果已知MON信號(hào)的最大電壓和滿量程電壓，則可以計(jì)算數(shù)字輸出值。否則，需要一種試錯(cuò)法來(lái)確定理想的正確班次數(shù)。以下步驟詳細(xì)介紹了試錯(cuò)法。

將右移位設(shè)置為 0。

在內(nèi)部校準(zhǔn)器件以產(chǎn)生所需的LSB，這將決定初始滿量程電壓。

應(yīng)用最小和最大輸入信號(hào)，然后讀取相應(yīng)的數(shù)字輸出以確定使用的數(shù)字代碼范圍。

確定使用的ADC范圍的百分比。如果數(shù)字讀數(shù)在FFF8h和7FF8h之間，則不應(yīng)使用右移位，右移次數(shù)應(yīng)設(shè)置為0。如果數(shù)字讀數(shù)在 7FF8h 和 3FF8h 之間，則可以使用一個(gè)右移位。如果數(shù)字讀數(shù)在 3FF8h 和 1FF8h 之間，則可以使用兩個(gè)右移位，依此類推。其余范圍請(qǐng)參考DS9數(shù)據(jù)資料中的表1856。

如果使用右移來(lái)更有效地利用ADC范圍，則必須校準(zhǔn)增益，以保持所需的LSB（滿量程電壓）。調(diào)整后的增益（標(biāo)度值）使用以下公式計(jì)算：新的滿量程電壓=初始滿量程電壓/2#右移。例如，如果上述步驟2的內(nèi)部校準(zhǔn)產(chǎn)生2.0V的滿量程電壓（以獲得所需的LSB），并且數(shù)字讀數(shù)大于1FF8h但從未超過(guò)3FF8h，則將使用兩個(gè)右移位。本例的新滿量程電壓為2.0V/22 = 0.5V。

將右移位值設(shè)置為 0 時(shí)，將 MON 通道校準(zhǔn)到新的滿量程電壓。

將正確的移位設(shè)置為其新值。

一旦評(píng)估確定了特定應(yīng)用的理想右移位數(shù)和滿量程電壓，只需步驟1、6和7即可進(jìn)行生產(chǎn)校準(zhǔn)。

DS1856內(nèi)部校準(zhǔn)和右移寄存器

DS1856寄存器保存校準(zhǔn)設(shè)置（刻度、偏移和右移）以及每個(gè)模擬輸入的數(shù)字讀數(shù)，總結(jié)于表1。顯示每個(gè) MON 通道以及 VCC 的地址。（為完整起見(jiàn)，VCC包含在表中，但本應(yīng)用筆記中不討論。包括數(shù)字轉(zhuǎn)換的位置以顯示其相對(duì)位置。請(qǐng)注意，刻度、偏移和右移寄存器位于DS03的存儲(chǔ)器表1856h中。通過(guò)將 03h 寫入表選擇字節(jié) 03Fh 來(lái)選擇表 7h。由于數(shù)字轉(zhuǎn)換位于內(nèi)存的下部（0 到 7Fh），因此它們與表選擇字節(jié)值無(wú)關(guān)。

刻度校準(zhǔn)寄存器

刻度校準(zhǔn)寄存器是一個(gè)雙字節(jié)值，用于確定相應(yīng) MON 輸入的增益或衰減。這使用戶能夠?qū)M量程電壓校準(zhǔn)到~500mV至6.5535V之間的任何所需值。必須校準(zhǔn)刻度校準(zhǔn)寄存器，以便對(duì) MON 引腳上的信號(hào)施加所需的增益或衰減。該校準(zhǔn)程序在DS1856數(shù)據(jù)資料的“內(nèi)部校準(zhǔn)”部分提供。本應(yīng)用筆記后面的“如何內(nèi)部校準(zhǔn)”部分將提供更多信息。

校準(zhǔn)DS1856時(shí)需要注意的是，必須知道失調(diào)和右移寄存器的值。否則，如果這些值是某個(gè)非零值，并且存儲(chǔ)在刻度校準(zhǔn)寄存器中的值不考慮這些偏移和右移值，則器件將無(wú)法正確校準(zhǔn)。

偏移校準(zhǔn)寄存器

DS1856的失調(diào)是對(duì)ADC產(chǎn)生的轉(zhuǎn)換值的數(shù)字加法或減法。雙字節(jié)失調(diào)校準(zhǔn)值在校準(zhǔn)DS1856的刻度（增益）后進(jìn)行編程。此過(guò)程使用偏移校準(zhǔn)值來(lái)“清零”任何偏移，或?yàn)槊總€(gè)監(jiān)控輸入提供數(shù)字輸出范圍偏移。

DS1856數(shù)據(jù)資料“內(nèi)部校準(zhǔn)”部分的內(nèi)部失調(diào)校準(zhǔn)偽代碼顯示了如何確定失調(diào)校準(zhǔn)以消除失調(diào)。以下部分提供了其他信息，以及正偏移和負(fù)偏移的示例。

首先，失調(diào)校準(zhǔn)的計(jì)算方法是確定ADC產(chǎn)生的數(shù)字轉(zhuǎn)換應(yīng)增加或減去多少計(jì)數(shù)。這通常是通過(guò)應(yīng)用零輸入（例如激光關(guān)閉）來(lái)完成的，然后在偏移校準(zhǔn)寄存器設(shè)置為0000h的情況下讀取轉(zhuǎn)換。從MON寄存器讀取的數(shù)字值是從所有轉(zhuǎn)換中減去的值，此處稱為“計(jì)數(shù)”。

然后，將所需計(jì)數(shù)插入DS1856數(shù)據(jù)資料中給出的公式中，確定需要寫入失調(diào)校準(zhǔn)寄存器的值，并在下面重復(fù)：

偏移校準(zhǔn)寄存器 = [計(jì)數(shù)/4]

以下示例顯示了失調(diào)校準(zhǔn)應(yīng)用于ADC數(shù)字結(jié)果的不同方式。

示例1：如果對(duì)MON輸入施加0V并看到計(jì)數(shù)為200（C8h），則可以使用失調(diào)寄存器從A/D轉(zhuǎn)換中減去200（C8h）以將其歸零。然后，使用上面給出的公式確定要寫入偏移校準(zhǔn)寄存器的值：

偏移校準(zhǔn)寄存器 = [00C8h/4] = 0032h

因此，值 0032h 是要寫入偏移校準(zhǔn)寄存器的值。在這種情況下，正在執(zhí)行減法，因此滿量程計(jì)數(shù) （FFF8h） 也將減少 C8h，從而得到新的滿量程計(jì)數(shù) FF30h。

示例 2：在此示例中，我們將整個(gè)范圍向上移動(dòng) 200 個(gè)計(jì)數(shù)。結(jié)果是以下等式：

偏移校準(zhǔn)寄存器 = [-00C8h/4] = FFCEh

值 FFCEh 將寫入偏移校準(zhǔn)寄存器。要計(jì)算新的滿量程計(jì)數(shù)，您需要嘗試將 C8h 添加到 FFF8h。然而，F(xiàn)FF8h是最大可能的讀數(shù)，因此滿量程計(jì)數(shù)將保持FFF8h。

示例 3：計(jì)算零偏移的偏移校準(zhǔn)值。

偏移校準(zhǔn)寄存器 = [0000h/4] = 0000h

這也是偏移校準(zhǔn)寄存器的出廠默認(rèn)設(shè)置。

右移寄存器

右移寄存器（表 03h，字節(jié) 8Eh-8Fh）比刻度和偏移寄存器更容易理解。由于 MON1 至 MON3 能夠執(zhí)行多達(dá) 1 個(gè)右移位，因此每個(gè) MON 輸入需要 2 位。MON03 和 MON8 的設(shè)置位于表 3h，字節(jié) 03Eh 中。MON8 的設(shè)置位于表 1856h， 00Fh 中。有關(guān)右移位的位置，請(qǐng)參考DS1856數(shù)據(jù)資料中的存儲(chǔ)器圖。這些EEPROM寄存器的出廠默認(rèn)值為<>h，這意味著DS<>器件出廠時(shí)沒(méi)有使能右移。

為了進(jìn)一步說(shuō)明右移的結(jié)果，圖3顯示了右移如何影響MON值的幾個(gè)示例。

圖3.周一注冊(cè)右移示例。

如何進(jìn)行內(nèi)部校準(zhǔn)

雖然有幾種方法可以進(jìn)行內(nèi)部校準(zhǔn)，但本應(yīng)用筆記重點(diǎn)介紹DS1856數(shù)據(jù)資料中描述的二進(jìn)制搜索方法。偽代碼算法的輸出是標(biāo)度（增益）和失調(diào)寄存器值，產(chǎn)生所需的傳遞函數(shù)（所需的LSB）。

要使用偽碼算法，必須將激光設(shè)置為兩種不同的強(qiáng)度。一個(gè)設(shè)置是最小強(qiáng)度設(shè)置，另一個(gè)是最大強(qiáng)度的 90%。必須在兩個(gè)設(shè)置之間來(lái)回切換的功能可用。對(duì)于非光學(xué)應(yīng)用，必須對(duì)MON輸入施加兩種不同的電壓。數(shù)據(jù)手冊(cè)中提供的算法使用最大可能輸入電壓的90%，因此上限箝位的可能性較小。但是，當(dāng)使用所需滿量程的百分比作為最大值時(shí)，計(jì)算數(shù)字值的相應(yīng)百分比也很重要。

該算法首先將偏移和右移寄存器設(shè)置為 0000h。接下來(lái)，通過(guò)將刻度校準(zhǔn)寄存器設(shè)置為半刻度 8000h 來(lái)啟動(dòng)對(duì)刻度（增益）值的二叉搜索。然后，通過(guò)將90%最大輸入施加到要校準(zhǔn)的MON通道，然后讀取相應(yīng)的數(shù)字轉(zhuǎn)換來(lái)測(cè)試增益。此值稱為 Meas2。檢查 Meas2 是否在 FFF8h 處被鉗位。如果讀數(shù)被箝位，則無(wú)法斷定轉(zhuǎn)換是否實(shí)際上是FFF8h，或者是否大于FFF8h，而只是箝位到FFF90h。由于結(jié)果太高，二叉搜索的下一步是將增益值減半;再次施加<>%最大輸入以檢查箝位。該過(guò)程重復(fù)，直到找到非鉗位增益值。

一旦找到非鉗位Meas2，算法就會(huì)通過(guò)強(qiáng)制零輸入并讀取其數(shù)字轉(zhuǎn)換值來(lái)繼續(xù)。此值變?yōu)?Meas1。值CNT1（零點(diǎn)/LSB）和CNT2（滿量程值/LSB的90%）是計(jì)算出的期望轉(zhuǎn)換輸出值。使用算法開始時(shí)計(jì)算的常數(shù)計(jì)算 Meas2 和 Meas1 之間的增量并將其與所需的增量 （CNT2 - CNT1） 進(jìn)行比較。如果 Meas2 - Meas1 小于 CNT2 - CNT1，則增益再次減半。但是，如果Meas2 - Meas1大于CNT2 - CNT1，則通過(guò)將增益減少一半并將其添加到當(dāng)前增益值中來(lái)增加增益。該過(guò)程將重復(fù)，直到總共執(zhí)行 16 次迭代。得到的結(jié)果是一個(gè)16位值，產(chǎn)生所需的增益（和所需的LSB）。

還有另一種可視化增益校準(zhǔn)過(guò)程的方法。從 15 位刻度校準(zhǔn)寄存器的 MSB （b16） 開始，將該位設(shè)置為 1（所有其他位最初設(shè)置為 0）。當(dāng)MSB = 1時(shí)，執(zhí)行施加模擬輸入和讀取數(shù)字輸出的過(guò)程。如果數(shù)字輸出被箝位，則增益過(guò)高，MSB寫回0。否則，MSB 仍然是 1.MSB 現(xiàn)在已知。接下來(lái)，將 b15 設(shè)置為已確定的內(nèi)容，將 b14 設(shè)置為 1，并將 b13 到 b0 設(shè)置為 0。再次執(zhí)行該過(guò)程以確定增益是否仍然過(guò)高。如果是這樣，則 b14 變?yōu)?0。否則，它將變?yōu)?1。該過(guò)程一直持續(xù)到確定所有 16 位。結(jié)果再次是一個(gè)16位值，產(chǎn)生所需的增益。

一旦確定了所需的增益，就可以校準(zhǔn)新的偏移，或者將其保持在0000h（無(wú)偏移）。校準(zhǔn)方法取決于如何使用偏移特征。數(shù)據(jù)手冊(cè)中算法附帶的說(shuō)明假設(shè)用戶希望應(yīng)用負(fù)偏移來(lái)使數(shù)字讀數(shù)為零，因此MON引腳上的零輸入將在數(shù)字輸出上產(chǎn)生所有零。這是通過(guò)在校準(zhǔn)的MON輸入上應(yīng)用零輸入并讀取轉(zhuǎn)換來(lái)實(shí)現(xiàn)的。例如，如果零輸入產(chǎn)生20h的數(shù)字輸出，則可以對(duì)失調(diào)進(jìn)行編程，以便從每次轉(zhuǎn)換中以數(shù)字方式減去20h。在本例中，將20h代入失調(diào)公式，然后將結(jié)果編程到所需MON通道的失調(diào)校準(zhǔn)寄存器中。

內(nèi)部校準(zhǔn)和右移示例

這里提供的另一個(gè)示例演示了本應(yīng)用筆記中介紹的概念。在此示例中，MON3用于監(jiān)視RxPower。當(dāng)施加-40dBm的最小輸入時(shí)，DS10的MON3引腳得到1856mV的電壓。該輸入所需的數(shù)字輸出為0000h。當(dāng)施加0dBm信號(hào)時(shí)，MON300上存在3mV。在這種情況下，所需的數(shù)字輸出為2710h，選擇以滿足SFF-8472規(guī)定的LSB。（RxPower 的 LSB 為 0.1μW。

下一步是確定理想的右班次數(shù)。由于所需數(shù)字輸出的范圍為0000h至2710h，DS9數(shù)據(jù)資料的表1856可用于選擇理想的右移位數(shù)，在本例中為2。

為了在兩次右移后實(shí)現(xiàn)2710h的最終數(shù)字輸出，我們必須設(shè)置Scale Cal值，使300mV輸入在發(fā)生右移之前產(chǎn)生9C40h（2710h乘以22）的轉(zhuǎn)換。因此，內(nèi)部校準(zhǔn)將用于計(jì)算增益，以便ADC在9mV輸入時(shí)產(chǎn)生至40C300h的轉(zhuǎn)換。一旦失調(diào)的內(nèi)部校準(zhǔn)和編程完成，將啟用兩個(gè)右移。表 2 總結(jié)了我們的示例。

一旦確定了輸入和輸出之間的關(guān)系（如表2所示），DS1856數(shù)據(jù)資料中提供的內(nèi)部校準(zhǔn)程序用于內(nèi)部校準(zhǔn)器件。例程首先執(zhí)行一些初步計(jì)算，如下所示。請(qǐng)注意，此處不使用數(shù)據(jù)手冊(cè)例程中顯示的90%，因?yàn)榈诙€(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)（300mV = 9C40h）已經(jīng)小于滿量程值的90%。因此，本例中使用的內(nèi)部校準(zhǔn)例程刪除了對(duì)90%的所有引用。

給定表 2，進(jìn)行以下計(jì)算：

LSB = （0.300V - 0.010V）/（9C40h - 0000h） = 0.290V/40，000 = 7.25μV 滿量程電壓 = FS = LSB x 65535 = 7.25μV x 65535 = 0.475128V

CNT1 = 0.010/LSB = 1379.3 => 1379 （十進(jìn)制程） CNT2 = 0.300/LSB = 41379.31 => 41379 （十進(jìn)制程）

CNT1 和 CNT2 是應(yīng)用兩個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)時(shí)的預(yù)期（所需）數(shù)字輸出。內(nèi)部校準(zhǔn)程序?qū)?dǎo)致斜率盡可能接近由這兩者確定的斜率 值。

例程的迭代部分以二叉搜索方式對(duì)斜率進(jìn)行編程的 16 個(gè)周期，然后進(jìn)行比較以查看它是否等效于所需的斜率。本例采用內(nèi)部校準(zhǔn)程序?qū)S1856進(jìn)行校準(zhǔn)，所有16次迭代的輸入和輸出如表3所示。

表 3 的第一列“迭代”等效于例程中的 n。列g(shù)ain_result是每次迭代編程到刻度校準(zhǔn)寄存器（設(shè)備表 03h，字節(jié) 98-99h）中的值。Meas2和Meas1列是從器件讀取的數(shù)字值，分別施加300mV和10mV輸入。最后，對(duì)于Meas2沒(méi)有鉗位的迭代，將Meas2 - Meas1與CNT2 -CNT1進(jìn)行比較。如果 Meas2 - Meas1 大于 CNT2 - CNT1，則gain_result太大。對(duì)應(yīng)于該迭代的 Scale Cal 位變?yōu)榱?，這反過(guò)來(lái)決定了連續(xù)迭代的gain_result。完成所有 16 次迭代后，即可知道 Scale Cal 值。此示例中使用的設(shè)備導(dǎo)致刻度校準(zhǔn)值為 5038h。

將器件編程為其新的刻度校準(zhǔn)值時(shí)，偏移校準(zhǔn)通過(guò)強(qiáng)制 10mV（我們想要讀取 0000h 的電壓）并讀取數(shù)字結(jié)果來(lái)確定。本例中使用的器件在施加0558mV時(shí)產(chǎn)生的值為10h。使用偏移公式，偏移校準(zhǔn)計(jì)算公式為：

MON3 偏移校準(zhǔn) = [0558h/4] = 0156h

值 0156h 將寫入 MON3 偏移校準(zhǔn)寄存器字節(jié)。

新的鉗位值可以計(jì)算如下：

新鉗位值（右移前）= FFF8h - 0558h = FAA0h

內(nèi)部校準(zhǔn)完成后，通過(guò)將20h寫入表03h，位置8Fh來(lái)啟用兩個(gè)右移。

結(jié)論

DS1856的內(nèi)部校準(zhǔn)和右移功能提供了最大的靈活性，使DS1856適合各種應(yīng)用。本應(yīng)用筆記提供了DS1856數(shù)據(jù)資料中沒(méi)有的其他信息，特別是為什么內(nèi)部校準(zhǔn)和右移是有益的，以及如何實(shí)現(xiàn)它們。還提供了一個(gè)例子來(lái)將這些概念聯(lián)系在一起。

審核編輯：郭婷