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異構(gòu)集成仍面臨這一挑戰(zhàn)!

芯長征科技 ? 來源:半導體行業(yè)觀察 ? 2023-04-10 09:39 ? 次閱讀

將多個芯片或小芯片集成到一個封裝中的公司將需要解決結(jié)構(gòu)和其他機械工程問題,但設(shè)計工具、新材料和互連技術(shù)方面的差距以及專業(yè)知識的缺乏使得這些問題難以解決。

半導體的大部分歷史中,代工廠之外的人很少擔心結(jié)構(gòu)性問題。硅基板可以輕松支撐沉積在頂部或蝕刻掉的任何薄膜。但隨著 SoC 被分解成更小的芯片,并且隨著硬化的 IP 塊以小芯片的形式組合在一起,不同的用例增加了可能影響可靠性的意想不到的壓力。其中原因:

出于成本和尺寸原因,有機中介層被引入——它們可以定制為任何尺寸——但它們比硅中介層靈活得多,如果處理或包裝不當,這會增加翹曲的可能性。

芯片或小芯片越來越多地堆疊在一起,這增加了機械應力。這些應力通常會因熱量而加劇,這會導致小芯片、互連以及各種類型的填充和鍵合材料之間的熱失配。雖然其中一些可以預先考慮,但它也可能因用例而有很大差異。

在先進的節(jié)點,襯底變薄以縮短信號必須傳輸?shù)木嚯x并降低電阻電容。與此同時,在這些基板上鉆了數(shù)以千計的孔,用于硅通孔和背面功率傳輸,這可能會導致在制造過程中無法檢測到的微裂紋。由于這些設(shè)備以其他方式受到壓力,裂紋會擴散。

MIT Technology Review Insights 剛剛發(fā)布了一份受 Synopsys 委托的報告,該報告對十多個行業(yè)的 302 名高管進行了調(diào)查。調(diào)查發(fā)現(xiàn),38% 的人至少意識到并探索多芯片芯片設(shè)計,以此來產(chǎn)生足夠的馬力來滿足未來的計算需求。報告還指出了一些需要解決的挑戰(zhàn)。

“當你必須在芯片之間進行連接時,你就是在處理物理問題,”AMD 公司研究員 Gerry Talbot 在報告中說?!敖M件的物理尺寸、互連、層轉(zhuǎn)換、封裝的尺寸——所有這些都會限制你擴展小芯片之間接口的帶寬。”

對于大多數(shù)其他公司而言,情況要嚴重得多。AMD 使用內(nèi)部開發(fā)的小芯片。但是對于來自多個代工廠和供應商的小芯片,更多的交互是可能的。“你如何分解你的架構(gòu),并通過熱、壓力、可靠性一直進行這種假設(shè)架構(gòu)分析?今天沒有人提供?!斑@仍然是一項非常手動的工作。架構(gòu)師需要決定,‘我的處理器在哪里,我的加速器在哪里,我的內(nèi)存在哪里?我怎么上車?一旦你這樣做并分解了你的芯片,就可以對芯片之間的熱、可靠性、時序、功率等進行分析。但第一階段仍然是手動的?!?/p>

有機中介層增加了另一個挑戰(zhàn)?!奥N曲是我們主要關(guān)注的問題之一,”日月光集團高級副總裁 Ingu Yin Chang 說?!爱斘覀兘M裝多個芯片時——有時在單個有機基板上組裝 7 到 12 個芯片——這是我們今天面臨的主要機械挑戰(zhàn)之一。這跨越了我們通常在匯編世界中不看的非常大的格式,但現(xiàn)在我們必須看它。這可能是 150 x 150 的基板,這對我們來說是一個更大的挑戰(zhàn)?!?/p>

即使在組裝和包裝過程中有效解決了翹曲問題,設(shè)備(或其某些部分)在現(xiàn)場大量使用下仍可能會翹曲。對于異構(gòu)設(shè)計尤其如此,其中使用不同的材料或工藝開發(fā)小芯片,并且邏輯集中在封裝的一個或多個區(qū)域中。隨著這些區(qū)域的膨脹和收縮,或者封裝的各個部分比其他部分升溫更多,不同組件與基板或中介層之間的互連和鍵合上的應力會增加。

Ansys 產(chǎn)品營銷總監(jiān) Marc Swinnen 表示:“通過這些顛簸的電流會產(chǎn)生一定的阻力?!薄暗牵绻@些連接中的一個發(fā)生故障,連接橋很窄,那么你就會通過那個小橋施加大量的能量。它變熱,導致它融化。我們已經(jīng)看到來自客戶的模擬,如果它熔化,其他凸點會獲得更多電流,并且那些會熔化,因此您會發(fā)生級聯(lián)熱故障。你無法預測哪個碰撞或有多少碰撞會失敗,所以你必須考慮,'如果兩個或三個碰撞失敗,它們將以什么模式造成最大的損害?你需要有足夠的備用傳導資源來為所有這些凸點輸送能量,這就是你的熱分析和電流分析?!?/p>

這些問題在混合鍵合中變得更加明顯?!邦嶔ぞ拖翊笮蜏p震器,”proteanTecs 業(yè)務發(fā)展高級總監(jiān) Nir Sever 說?!拔⑼蛊鹁拖裥⌒蜏p震器。但是混合債券沒有任何減震器。沒有多余的材料可以彌補這一點。即使您認為已經(jīng)對所有這些問題進行了測試并且芯片已部署并正在運行數(shù)據(jù),問題還是會出現(xiàn)。它正在加熱、冷卻并開始變形,即使是在零時間未檢測到的最輕微的缺陷最終也可能導致單條線發(fā)生故障并產(chǎn)生錯誤。這是靜默數(shù)據(jù)損壞的原因之一。最重要的是,該領(lǐng)域可能會出現(xiàn)其他問題,例如退化和加速老化。因此,在芯片的整個生命周期中持續(xù)對其進行監(jiān)控至關(guān)重要?!?/p>

與其他方法相比,小芯片需要更多的連接?!霸诜庋b中,我們習慣于處理幾千個信號連接,比電源和接地連接要多得多,因此可能只有不到 50,000 個連接,”IC 封裝和產(chǎn)品管理組總監(jiān) John Park 說。Cadence 的跨平臺解決方案?!暗F(xiàn)在有了小芯片,你可能會面臨 100,000 多個連接,這意味著需要一個自動路由器來處理這種容量?!?/p>

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隨時間變化的異構(gòu)集成選項

不同的熱膨脹系數(shù)增加了另一個潛在的機械應力來源,如果小芯片尺寸不同,尤其是當它們垂直堆疊時,這個問題會變得更糟。

Arm 硅運營工程研究員兼高級總監(jiān)哈維爾·德拉克魯茲 (Javier DeLaCruz) 表示:“如果您鍵合尺寸不同且經(jīng)過預先測試的裸片,則需要用某些東西填充因裸片尺寸不匹配而造成的空間?!薄暗珟缀跛心阋砑舆M去的東西都會有很差的導熱性。所以你會在這些區(qū)域有更大的熱梯度,任何時候你有一個熱梯度,你就會有額外的壓力。如果導體金屬發(fā)生變化,那么電遷移就會發(fā)揮作用。填充材料是新元素。傳統(tǒng)上,我們總是不得不擔心硅和帶有中介層的封裝基板之間的不匹配。但是在 3D 中,你需要擔心引入填充材料時的硅對硅應力,所有這些都需要在設(shè)計過程的早期就加以考慮。或者,當關(guān)鍵組件達到特定溫度時需要降低性能,以免設(shè)備燒毀。

“這取決于所涉及的功率大小以及熱量的處理方式,”Amkor 高級工程師 Nathan Whitchurch 說?!叭绻鷽]有散熱器,并且將所有熱量向下推到電路板上,那很重要。如果您通過散熱器或某些冷板設(shè)計將所有熱量從頂部排出,那么您基本上沒有改變熱路徑中的任何組件,無論您使用的是 2.5D 還是 40 層或 2 -層基板。

小芯片與軟IP


當今半導體中使用的大多數(shù) IP 都是軟 IP。它通常是進程獨立的,或者至少是進程彈性的。將該 IP 強化為小芯片會改變這種關(guān)系。

“強化 IP 需要經(jīng)驗并且可能是一個挑戰(zhàn),”Arm 的 DeLaCruz 說?!疤幚砉柽€需要一整套其他能力——當它集成到系統(tǒng)中時,產(chǎn)量、存儲、材料處理、產(chǎn)量問題的所有權(quán)。如果沒有很好地計劃,這些都可能是亂七八糟的東西?!?/p>

所有這些元素都會影響所選封裝的類型,以及何時需要在從設(shè)計到制造的流程中做出選擇。

“我們必須更早地參與設(shè)計階段。過去,您幾乎完成了布局,然后問:“我們?nèi)绾翁幚戆b?” ASE 的 Chang 說?!艾F(xiàn)在的設(shè)計更加全面,因為機械應力需要與設(shè)計的其余部分同時考慮。所以現(xiàn)在你不僅要設(shè)計你的晶體管或核心 IP,而且你必須看看你將在小芯片布局方面擁有什么樣的平面圖?!?/p>

實際上,過去被描述為“左移”的東西正在變成一堆并發(fā)流程,每一步所需的數(shù)據(jù)都需要更加全面。

Siemens Digital Industries Software 技術(shù)解決方案銷售高級總監(jiān) Michael Munsey 表示:“IP 公司將不得不發(fā)展,因為他們需要提供更高水平的分析和信息來推動前進?!薄叭绻闶且患乙?guī)模較小的 IP 公司,正在做 USB 或 PCI 等零件,那將進入更大的領(lǐng)域。但你會看到 IP 公司推出小芯片,而這些公司確實需要不僅可以輸入電氣分析,還可以輸入機械分析的信息,以產(chǎn)生集成流程?!?/p>

計算密度也只會增加,將所有這些不同的計算元素放入一個包中會使散熱變得更加困難。反過來,這可能會在異構(gòu)設(shè)備的其他地方引起機械應力,但并不總是在人們預期的地方發(fā)生。

“如果你有 AI 加速器,并且它的封裝功率為 1 千瓦,那么系統(tǒng)中會產(chǎn)生大量熱量,系統(tǒng)預熱會產(chǎn)生大量機械應力,你必須考慮到這一點,”負責人 Andy Heinig 說。Fraunhofer IIS 自適應系統(tǒng)工程部高效電子部門的負責人?!拔覀冃枰嗟臉藴?。也許我們還需要機械接口標準來實現(xiàn)小芯片生態(tài)系統(tǒng)。我們肯定看到了一些差距。但首先我們需要展示原型,將來自不同合作伙伴的小芯片匯集在一起,這樣我們才能看到缺少的東西。chiplet 生態(tài)系統(tǒng)與我們在 Intel 和 AMD 方面看到的完全不同,他們在內(nèi)部完成所有工作并控制一切。如果我們真的想建立一個開放的生態(tài)系統(tǒng),熱和機械并不完全獨立?!皦毫a(chǎn)生熱量,”西門子 EDA 的 Calibre nmDRC 產(chǎn)品管理總監(jiān) John Ferguson 說。” 因此,應用的堆疊越多,靜止溫度越高。同樣,當材料被加熱時它們會膨脹。給定由幾種不同材料組成的系統(tǒng),每種材料具有不同的熱系數(shù),暴露于周期性加熱和冷卻最終會導致可靠性問題,例如 EMIR 影響?!?/p>

考慮到所有這些因素也會增加設(shè)計成本,這可能會限制公司處理多芯片集成的方式。

“如果我們從多個地方獲得多個管芯,那么如果這些東西已經(jīng)構(gòu)建,您首先要看的是它們的引腳間距,”Cadence 的 Park 說?!袄纾诨?UCIe 的 die-to-die 小芯片中,有一個標準封裝的選項,類似于具有 125 或 130 微米引腳間距的倒裝芯片,而不是內(nèi)插器上的東西間距可降至 35 微米。如果引腳間距降至 40 或 50 微米,我必須使用硅中介層或某種互連橋來做到這一點,這會增加成本。這就是為什么有些人可能會選擇標準封裝版本的原因,因為如果你將所有東西都放在 125 微米的倒裝芯片間距上,你可以在傳統(tǒng)的層壓封裝上做到這一點,這比使用硅中介層或嵌入式橋的成本要低得多?!?/p>

如果設(shè)備過早失效,成本可能會顯著增加?!叭绻闶且患医M裝來自多個供應商的小芯片的公司,并且你已經(jīng)完成了互連,你仍然必須集成并負責該系統(tǒng)的測試,”proteanTecs 的 Sever 說?!袄?,如果您有四個合作伙伴,您將從他們每個人那里獲得單獨的測試程序,并使用他們自己的測試方法。作為 chiplet 集成商,您負責測試最終產(chǎn)品,當出現(xiàn)問題時,您需要知道原因。當單片芯片出現(xiàn)故障時,這是您自己的芯片,您擁有調(diào)試所需的必要信息。但是,如果您有四家不同的供應商,您怎么知道哪一家負責呢?檢測到錯誤的芯片不一定是問題的根本原因。

定制

定制在壓力方面增加了另一層復雜性。雖然從理論上講,定制設(shè)計可以提供最大的能效和性能,但它也以獨特的方式將許多部件組合在一起。在各種會議上已經(jīng)討論了第一個商業(yè)小芯片是否將是子系統(tǒng)而不是具有非常特定功能的單個芯片。

“與其他人做同樣事情的標準接口不會使您的產(chǎn)品與眾不同,”Synopsys IP 產(chǎn)品線高級組總監(jiān) Michael Posner 說?!叭绻阆霐D出更多的性能,或者降低你的功耗,或者在界面上脫穎而出,這就是我們定制 IP 的原因。但是有了這些封裝技術(shù),要做到這一點變得越來越難。UCIe 被定義為標準或基于有機中介層或硅橋。因此,您必須立即犧牲凹凸坡度。即使使用標準的 UCIe 定義的 100nm 凸點間距,這還沒有經(jīng)過汽車級測試,但有機物上的 130nm 是汽車級的。所以你有一個標準和技術(shù)之間不匹配的過渡區(qū)域。然后你有機械問題,那里還沒有足夠的數(shù)據(jù)來真正進行大量模擬——甚至那些都是基于一些理論的。我們需要更多的數(shù)據(jù)?!?/p>

與所有新方法一樣,許多想法正在浮出水面。哪些堅持還有待觀察。

“展望未來,熱分析信息可以作為元數(shù)據(jù)存儲在芯片本身上,然后傳遞到機械/熱分析工具中以進行該級別的分析,”西門子的 Munsey 說?!爱斈M行電氣/機械/系統(tǒng)級分析時,您將收集大量真正有用的數(shù)據(jù),這些數(shù)據(jù)可以反饋到流程中。因此,我們聽到了關(guān)于左移和試圖左移的事情,這些事情實際上是從機械信息開始的,目的是在流程的早期和下一代產(chǎn)品中推動決策制定?!?/p>

這適用于小芯片以及非小芯片設(shè)計。Ferguson 說:“想想今天傳統(tǒng)布局布線中的功率是如何優(yōu)化的。”“對于每個區(qū)塊,都有特定級別的預期功率要求。這有助于推動布局以滿足芯片級的整體功率利用限制。3D-IC 環(huán)境中的小芯片也需要做同樣的事情。這意味著對最小封裝中的每個小芯片執(zhí)行電熱機械分析,以捕獲給定熱機械窗口內(nèi)電氣行為的公差,以及如何存儲和傳輸此類信息的相應標準。從那里開始,隨著每個小芯片被放入更大的 3D-IC 封裝中,需要進行后續(xù)的熱機械分析,以確定配置是否滿足組件中每個小芯片放置的最低規(guī)格。當然,鑒于當前最先進的解決方案對熱機械模擬的性能和容量要求,自動化仍將是一個挑戰(zhàn)?!?/p>

結(jié)論

還不完全清楚小芯片將如何推出,或者它們將如何打包。但是在高級封裝中有一個明確的異構(gòu)集成方向,并且至少已經(jīng)確定了很多問題,即使目前還沒有解決方案。

“超越摩爾定律是推動電子技術(shù)發(fā)展的唯一途徑??赡軙?2nm 或 1nm 設(shè)計,但由于成本原因,這些技術(shù)節(jié)點的設(shè)計數(shù)量將非常有限,”Fraunhofer 的 Heinig 說。“但現(xiàn)在沒有人想成為第一個使用來自不同供應商的小芯片構(gòu)建系統(tǒng)的人。他們不想花費數(shù)百萬美元來承擔風險,了解整個供應鏈,了解什么是必要的,并開發(fā)第一個原型來向大家展示它是如何工作的,以及可能的障礙點是什么。他們寧愿成為第二。”

審核編輯 :李倩

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