1. 點結構光的缺點

點結構光只能獲取單個點的深度信息，如要獲取整個被測對象表面結構信息，需要沿著水平和垂直兩個方向逐點掃描，效率比較低。點結構光技術只是對點狀光斑進行處理，算法簡單，計算復雜度小，但是需要引入掃描移動設備，以保證點光斑的遍歷掃描，使得系統(tǒng)效率低下，難以滿足實時性要求。

2. 線結構光的缺點 如果被測物體表面形貌復雜，曲率變化較大，就有可能造成相機視野范圍丟失了線結構光光條信息，導致最終三維測量數(shù)據(jù)不完整。

3. 多線式結構光的缺點 這種方法檢測價格貴，安裝體積大，多傳感器之間需要通訊，對上位機的硬件要求高，系統(tǒng)的實時性有所降低。

4. 相移法的缺點 相移法是屬于一種優(yōu)點和缺點都極為顯著的方法，優(yōu)點是，通過相移解相位的方法，犧牲了時間（多幅條紋投影），以粗的條紋獲得了細的分辨率，缺點是正弦條紋極易被干擾，這就導致了相位圖失真，CCD像素和投影面像素的一一對應性被破壞。

5. 雙目結構光 采用雙目結構光是考慮到傳統(tǒng)的單目結構光容易受光照的影響，在室外環(huán)境下，如果是晴天，激光器發(fā)出的編碼光斑容易太陽光淹沒掉，只有在陰天情況下勉強能用。而雙目結構光可以在室內環(huán)境下使用結構光測量深度信息，在室外光照導致結構光失效的情況下轉為純雙目的方式，其抗環(huán)境干擾能力、可靠性更強，深度圖質量有更大提升空間。 此外，結構光方案中的激光器壽命較短，難以滿足7*24小時的長時間工作要求，其長時間連續(xù)工作很容易損壞。因為單目鏡頭和激光器需要進行精確的標定，一旦損壞，替換激光器時重新進行兩者的標定是非常困難的，所以往往導致整個模塊都要一起被換掉；而使用雙目結構光的方式，其標定與激光器無關，替換起來就比較簡單。

6. 結構光，雙目和TOF對比

結構光(散斑)

優(yōu)點： 1） 方案成熟，相機基線可以做的比較小，方便小型化。 2） 資源消耗較低，單幀IR 圖就可計算出深度圖，功耗低。 3） 主動光源，夜晚也可使用。

4） 在一定范圍內精度高，分辨率高，分辨率可達1280x1024,幀率可達60FPS

缺點： 1） 容易受環(huán)境光干擾，室外體驗差。 2） 隨檢測距離增加，精度會變差。

雙目

優(yōu)點：

1）硬件要求低，成本也低。普通CMOS 相機即可。

2）室內外都適用。只要光線合適，不要太昏暗。

缺點：

1）對環(huán)境光照非常敏感。光線變化導致圖像偏差大，進而會導致匹配失敗或精度低。

2）不適用單調缺乏紋理的場景。雙目視覺根據(jù)視覺特征進行圖像匹配，沒有特征會導致匹配失敗。

3）計算復雜度高。該方法是純視覺的方法，對算法要求高，計算量較大。

4）基線限制了測量范圍。測量范圍和基線（兩個攝像頭間距）成正比，導致無法小型化。

TOF

優(yōu)點：

1）檢測距離遠。在激光能量夠的情況下可達幾十米。

2）受環(huán)境光干擾比較小。

缺點

1）對設備要求高，特別是時間測量模塊。

2）資源消耗大。該方案在檢測相位偏移時需要多次采樣積分，運算量大。

3）邊緣精度低。

4）限于資源消耗和濾波，幀率和分辨率都沒辦法做到較高。目前消費類最大也就VGA。

7. 激光測量法的缺點 該方法需要逐點掃描，對設備要求比較高且比較耗時，數(shù)據(jù)獲取效率低。測量過程需要一維掃描，增加了裝置復雜性，成本增加，另外，掃描過程使成像的時間大大增加，因此，該方法效率較低。 8. 飛行時間法的缺點（典型代表:激光雷達） 飛行時間法要想得到很高的測量精度，相應地會對信號處理系統(tǒng)的時間分辨率有極高的要求。系統(tǒng)復雜，成本較高。