載波泄露,大概的意思是,在信號(hào)上不應(yīng)該有本振信號(hào)的,但是你卻有了,是不小心泄露出來的。
當(dāng)然泄露的路徑多種多樣,可能是基帶信號(hào)的直流偏移(DC offset),也可能是調(diào)制器端口之間的隔離度有限,也有可能是空間的某條耦合路徑~
那么,載波泄露會(huì)對(duì)EVM產(chǎn)生什么影響呢?
為了說明這個(gè)問題,先看一下基帶信號(hào)的直流偏移為啥會(huì)產(chǎn)生載波泄露。
假設(shè)基帶信號(hào)為:
則經(jīng)過上圖所示的正交調(diào)制器以后,得到如下的信號(hào):
式子右邊的紅框框里,就是載波泄露,也稱為載波饋通(CFT,carrier feed through).
上面這個(gè)式子呢,第一步,顯而易見,按照上圖的正交調(diào)制器的框圖,劃拉一下,就是這個(gè)等式。
但是,第二步是怎么來的?
dang~
推算步驟見下面。
不想看推導(dǎo)的,略過也行。
現(xiàn)在回到開頭提到的那個(gè)問題,載波泄露會(huì)對(duì)EVM產(chǎn)生什么影響呢?
如果I路和Q路的基帶信號(hào)有直流偏移,則在星座圖上會(huì)發(fā)生星座圖平移,如下圖所示。
那這個(gè)帶有直流偏移的I路和Q路基帶信號(hào),經(jīng)過理想調(diào)制,給到理想的解調(diào)器,解調(diào)出的星座圖,沒有懸念的,肯定也是上面這幅圖。
而,帶有直流偏移的I路和Q路基帶信號(hào),經(jīng)過理想調(diào)制器后,會(huì)產(chǎn)生載波泄露。
所以,可以認(rèn)為,載波泄露會(huì)使得星座圖發(fā)生平移。
也許,會(huì)有這樣一個(gè)疑問哈!
那就是,你是直流偏移的I路和Q路基帶信號(hào),經(jīng)過調(diào)制后,產(chǎn)生的載波泄露,會(huì)產(chǎn)生星座圖平移。
那如果是別的途徑來的載波泄露,是不是也會(huì)?雖然我覺得也會(huì),因?yàn)榭梢詫?duì)公式倒推,這樣的話,從別的地方過來的載波泄露,也可以等價(jià)為基帶信號(hào)上的直流偏移。但是用ADS仿真看了一下,發(fā)現(xiàn)平移沒看到,反而旋轉(zhuǎn)了。大家再討論討論。
那么,怎么量化本振泄露對(duì)EVM的影響呢?
定義載波抑制Cs為載波泄露功率與信號(hào)傳輸功率的比值,如下圖所示。
其中,PCFT為載波泄露的功率,PTX為有用信號(hào)的功率。
而由于載波泄露導(dǎo)致的EVM惡化,可由下式進(jìn)行計(jì)算【1】:
本來想用仿真來驗(yàn)證一下理論的。但是沒成功,不知道是軟件問題,還是我的問題。
試了一下SystemVue,軟件并沒有給出想要的結(jié)果。星座圖沒有變化,EVM也沒有變化,但是從頻譜上看,確實(shí)是有一個(gè)很大的載波泄露,看基帶信號(hào),確實(shí)也有直流疊加上去了,而且幅度還不小,不能忍!
沒辦法,我又折回ADS,用以前仿接收機(jī)的那一套,試了一下,發(fā)現(xiàn)比SystemVue好一點(diǎn),能看到本振泄露,也能看到星座圖上確實(shí)是有了偏移,這到是和理論能對(duì)上。但是EVM反而變小了,不能忍!
不知道matlab是個(gè)什么表現(xiàn)。本來很想試一下,奈何還完全不會(huì)!
參考文獻(xiàn):
[1] RF System Design of Transceivers for Wireless Communication.pdf
發(fā)射機(jī)中的本振相噪,是影響發(fā)射信號(hào)EVM的一個(gè)因素。
先來看看理論分析。
首先來看看EVM的定義。
對(duì)于每一個(gè)符號(hào)而言,有一個(gè)理論上的位置,即上圖中的綠點(diǎn)(Reference),但是實(shí)際上,符號(hào)對(duì)應(yīng)的點(diǎn),在星座圖上會(huì)有偏移,如上圖中的桔黃色的點(diǎn)(Measured)。
而理想和現(xiàn)實(shí)之間的差距,即是誤差矢量,如上圖紅色箭頭所示。
由上圖可知,對(duì)于每一個(gè)符號(hào)ki, 誤差矢量可以由下式進(jìn)行表示:
在文獻(xiàn)[1]中,對(duì)EVM的定義是這樣的:
我的理解是這樣的,就是,雖然針對(duì)單個(gè)符號(hào)可以計(jì)算EVM,但是書中的定義,是基于多個(gè)符號(hào)對(duì)應(yīng)誤差矢量的平均值。
其數(shù)學(xué)表達(dá)式為:
然后再看看怎么把相位噪聲換算到EVM上。
既然,現(xiàn)在只是考慮相位噪聲對(duì)EVM的影響,所以可以不考慮幅度誤差。
并且,假設(shè)上述的矢量誤差,是由于本振的相噪引起的。
本振的相噪,可以看成是一個(gè)很小的隨機(jī)相位量,定義為:
所以,實(shí)測(cè)的信號(hào),可以用下式進(jìn)行表示:
因此,誤差矢量的幅度如下圖所示:
相噪的自相關(guān)函數(shù)與其對(duì)應(yīng)的功率譜密度有如下的關(guān)系(我隨機(jī)過程學(xué)的不好,所以下面的式子,并不是很理解,先copy過來)。
所以(在文獻(xiàn)[1]的基礎(chǔ)上,補(bǔ)了個(gè)dt,還有綠圈中為啥又不是Ts了呢?不過可以先看結(jié)論):
假設(shè)本振的環(huán)路帶寬相對(duì)較寬,則由于相噪累積出來的能量為:
其中,Nphse是平均相噪,單位為dBc/Hz,BWsynth_loop是環(huán)路濾波器的帶寬,單位為Hz。
所以,
如果使用了多個(gè)本振,則
然后再看看仿真驗(yàn)證。
用SystemVue進(jìn)行驗(yàn)證,發(fā)現(xiàn)當(dāng)LO不考慮相噪時(shí),EVM為0.79%。
當(dāng)相噪為:
-70dBc/Hz@100Hz,
-70dBc/Hz@1000Hz
-70dBc/Hz@100KHz
-174dBc/Hz@1MHz
時(shí),仿真得到的值為14.71%,而根據(jù)上述公式,計(jì)算得到的值為14.14%。兩種結(jié)果對(duì)比來看,理論公式的預(yù)估還是比較準(zhǔn)確的。
同時(shí),可以從星座圖中看到,測(cè)量點(diǎn)成為一個(gè)弧形,這也與開頭的假設(shè)相呼應(yīng),即沒有幅度誤差或者很小,只有相位誤差。
審核編輯:湯梓紅
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原文標(biāo)題:聽說,載波泄露和本振相噪也會(huì)影響信號(hào)的EVM?
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