掃描近場光學顯微鏡SNOM

掃描近場光學顯微鏡(scanning near-field optical microscopy, SNOM)，能在納米尺度上探測樣品的光學信息，打破了長久以來經(jīng)典(或遠場)光學顯微鏡理論分辨率的阿貝衍射極限，將光學分辨率提高了幾十甚至上百倍。且縱向分辨率優(yōu)于橫向分辨率，能夠得到清晰的三維圖像，以及局域熒光、偏振、折射率、光吸收率、光譜等信息。

掃描近場光學顯微鏡的特點

與普通光學顯微鏡(OM)相比，SNOM明顯的不同之處在于：

◆ 照明光源的尺度和照明方法不同。

普通OM用擴展光源在遠場照明樣品，SNOM用納米局域光源在納米尺度的近場距離內(nèi)照明樣品(SNOM的樣品照明和樣品信號收集兩者必須至少有一個在近場區(qū)域，而普通OM的兩者都工作在遠場)。

◆ 工作方式不同。

普通OM采用“整體”照明“整體”成像的工作方式，而SNOM采用“逐點”掃描照明“整體”成像的工作方式。

◆ 成像方法不同。

普通OM用肉眼(或照相機、攝像機等)直接觀察(或接收)放大了的物體圖像，而在SNOM中，由顯微物鏡放大并經(jīng)光電倍增管接收的來自樣品的局域光信號不能直接形成圖像，必須用掃描技術使局域光源逐點掃描照明樣品，由光電接收器接收光信號，再借助計算機把來自樣品各點的局域光信號轉換成樣品圖像。

SNOM結構的3大部分

◆ 照明系統(tǒng) (光信號輸入系統(tǒng)): 光源、光探針

◆ 光信號采集和再分配系統(tǒng): 樣品臺、反饋控制系統(tǒng)

◆ 光信號監(jiān)測系統(tǒng)：光譜等

SNOW的應用

◆ 與SEM、TEM、STM不同，SNOM用光子成像，由于光子沒有質(zhì)量和電荷，很容易聚焦和改變偏振，可以在氣體和液體介質(zhì)中傳播，對樣品一般不產(chǎn)生損壞。

◆ SNOM的出現(xiàn)使人們將光學性質(zhì)的研究拓展到納米尺度，許多研究組已報道高達20nm的分辨率，盡管還未達到SEM或STM的精度，但由于光子具有電子所未有的上述優(yōu)點，可以提供其他方法所不能實現(xiàn)的技術，如近場光譜等。

◆ 近年來，在單個分子成像、光致熒光及其瞬態(tài)光學性質(zhì)，超高密度磁光存儲材料的磁疇結構研究，載流子擴散，生物材料的原位納米尺度光學成像，量子器件的發(fā)光特性以及表面等離子增強的近場現(xiàn)象等研究取得了很大進展。

應用實例

◆ 近場光誘發(fā)的質(zhì)量轉移

◆ 高分辨光學成像

◆ 高密度存儲

◆ 生命科學 (細胞，DNA……)

◆ 材料科學

審核編輯 黃宇