關(guān)鍵要點(diǎn)
使用正弦直方圖測試方法可以確定模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)的參數(shù),并優(yōu)于線性斜坡直方圖測試方法。
正弦直方圖測試方法可以通過濾波器濾出正弦信號的諧波,提高線性度并增加測量精度。
正弦直方圖測試方法能夠更好地預(yù)測ADC在快速變化信號處理中的性能,并測量AC相關(guān)的錯誤。
摘要
本文介紹了如何使用正弦直方圖測試方法來確定模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)的參數(shù)。相比線性斜坡直方圖測試方法,正弦直方圖測試方法具有更多的優(yōu)勢,包括能夠?yàn)V除諧波和噪音,提高測量精度,以及能夠更好地預(yù)測ADC在快速變化信號處理中的性能。文章詳細(xì)介紹了正弦波的幅度分布、輸出直方圖的推導(dǎo)方法,以及如何使用正弦直方圖方法來確定ADC的非線性和DNL誤差。此外,文章還提供了有關(guān)非理想情況和閱讀推薦的內(nèi)容,以幫助讀者更好地理解和應(yīng)用正弦直方圖測試方法來評估ADC的性能。
本系列的上一篇文章探討了線性斜坡直方圖測試在確定模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 傳遞函數(shù)方面的有用性。這次,我們將重點(diǎn)關(guān)注正弦直方圖測試。我們將首先討論這種形式的直方圖測試相對于線性斜坡方法的優(yōu)勢,然后通過方程式并使用正弦直方圖方法來確定假設(shè)的 4 位 ADC 的非線性。
為什么要進(jìn)行正弦直方圖測試?
產(chǎn)生完美的線性斜坡輸入是線性斜坡直方圖測試的基本要求。輸入信號中的任何非線性都會直接增加測量誤差。這是一個問題,因?yàn)榈湫托盘柊l(fā)生器產(chǎn)生的斜坡信號的線性度僅限于 8 至 10 位。
相比之下,我們可以濾除正弦信號的諧波,以獲得比信號發(fā)生器提供的更高的線性度。該濾波器還可以抑制信號上的大部分噪聲,以提高測量精度。對于斜坡輸入,濾波器不能用于降噪,因?yàn)樗鼤淖儾ㄐ蔚男螤睢?/p>
在許多應(yīng)用中,ADC 處理快速變化的信號。動態(tài)測試可以更好地預(yù)測此類應(yīng)用中的 ADC 性能。高頻正弦輸入使我們能夠測量 ADC 轉(zhuǎn)換點(diǎn),然后我們可以使用該轉(zhuǎn)換點(diǎn)來評估 ADC 的交流相關(guān)誤差(或動態(tài)性能)。雖然原則上我們可以使用高頻斜坡輸入來測量與交流相關(guān)的誤差,但在較高頻率下保持斜坡線性度變得更具挑戰(zhàn)性。
正弦波的幅度分布
在線性斜坡直方圖測試中,輸入分布是均勻的。由于理想的 ADC 具有生成任何代碼的相同概率,因此此功能使得分析斜坡直方圖方法的測試結(jié)果變得非常簡單。正弦波具有更復(fù)雜的分布,這反過來又使測試方程變得復(fù)雜。
讓我們推導(dǎo)出正弦波產(chǎn)生的樣本的概率密度函數(shù) (PDF),如下所示(圖 1)。
圖 1.示例 ADC 的正弦交流輸入。
波形對應(yīng)于以下等式:
在哪里:
A是信號的幅度
B是信號的偏移誤差
f是正弦波的頻率 (f
=1t)。
考慮?T
4到 -T4范圍內(nèi)信號的半周期。這段時間內(nèi)VIN落在V1和V2之間的概率是多少?通過將這兩個值代入等式 1,我們可以創(chuàng)建以下等式,我們將使用該等式來查找相應(yīng)的持續(xù)時間 (t2–t1):
等式2。
如果我們將該值除以總持續(xù)時間 (T
2),我們就得到VIN落在V1和V2之間的概率:
等式 3。
利用上面的表達(dá)式,我們可以推導(dǎo)出PDF函數(shù)。假設(shè)未知 PDF 函數(shù)為f(VIN),其積分為F(VIN)。VIN位于V1和V2之間的概率如下:
等式 4。
如果我們比較公式 4 和公式 3,我們可以得出結(jié)論,PDF 函數(shù)的積分為:
等式 5。
最后,對該函數(shù)求導(dǎo),得到PDF函數(shù):
等式 6。
這些計算只考慮了信號的半個周期,但如果我們考慮一個完整的周期,我們?nèi)匀粫玫焦?6。信號持續(xù)時間和VIN在V1至V2范圍內(nèi)的持續(xù)時間都會加倍,因此我們最終會得到相同的結(jié)果。
在推導(dǎo)測試方程時,我們需要考慮到與斜坡輸入不同,正弦波不具有均勻分布。為了進(jìn)行直觀演示,讓我們看一下圖 2 中的一對圖。該圖的頂部是公式 6 的圖;下半部分是公式 6 的圖。底部顯示正弦波的旋轉(zhuǎn)圖。
圖 2.上圖:公式 6 的結(jié)果。下圖:旋轉(zhuǎn)的正弦波。
該圖表明,正弦波過零附近的點(diǎn)出現(xiàn)的頻率低于波峰和波谷附近的點(diǎn)。這是因?yàn)檎也ǖ淖兓试谶^零處達(dá)到最大值,在波峰和波谷處達(dá)到最小值。因此,零交叉附近的樣本不太可能出現(xiàn)。
導(dǎo)出輸出直方圖
現(xiàn)在我們已經(jīng)生成了必要的方程,我們可以開始運(yùn)行測試。我們將使用公式 3 為圖 3 中的理想 4 位 ADC 構(gòu)建輸出直方圖。請注意,公式 4 對于我們的目的同樣有效 — 我只是選擇使用公式 3 來進(jìn)行此特定練習(xí)。
圖 3.4 位理想 ADC 傳輸函數(shù)。
假設(shè)如下:
將振幅為A 的正弦波施加到 ADC。
正弦波沒有偏移誤差(B= 0)。
正弦波的幅度大于滿量程電壓。
因?yàn)檎也▋啥顺隽薃DC的輸入范圍,所以我們可以確定輸入執(zhí)行了ADC的所有代碼。
如果V LE表示上述傳遞函數(shù)左側(cè)的第一個轉(zhuǎn)變點(diǎn),我們可以使用以下等式來找到其他轉(zhuǎn)變點(diǎn):
等式 7。
對應(yīng)于代碼 0001 的直方圖 bin 的計數(shù)(用 H(1) 表示)與輸入落在由V LE和 (V LE+ 1 LSB )界定的區(qū)域中的概率成正比。應(yīng)用公式 3,我們得到:
方程 8.
其中M T是捕獲的樣本總數(shù)。如果我們將方程 8 擴(kuò)展到其他代碼,我們可以導(dǎo)出 bin n計數(shù)的方程:
方程 9.
為了驗(yàn)證這個方程,我們將使用圖 3 中滿量程電壓為 1V 的傳遞函數(shù)來數(shù)字化具有以下特性的正弦波:
幅度 (A) = 1.1V
偏移誤差 (B) = 0
頻率 = 390.3 赫茲
我們將使用 40 kHz 的采樣率。請注意,選擇上述輸入頻率是為了不成為采樣頻率的分諧波;否則它是任意的。
通過收集 80,000 個樣本,我們生成了圖 4 中的直方圖。紅色曲線繪制了從公式 9 獲得的值。
圖 4.理想 ADC 的數(shù)字代碼出現(xiàn)次數(shù)直方圖。紅色曲線顯示公式 9 預(yù)測的值。
仿真結(jié)果與數(shù)學(xué)分析得到的值一致。為了幫助您更輕松地驗(yàn)證這一點(diǎn),我在下表中提供了計算摘要。請注意,V LE= –0.9375。
表 1.計算和模擬結(jié)果總結(jié)。
n | T[n] | sin-1(T[n] /A) | 計算的H(n) | 模擬H(n) |
1 | -0.8125 | -0.8310 | 4819.7 | 4816 |
2 | -0.6875 | -0.6751 | 3970.3 | 3966 |
3 | -0.5625 | -0.5368 | 3523.3 | 3524 |
4 | -0.4375 | -0.4090 | 3252.7 | 3252 |
5 | -0.3125 | -0.2881 | 3080.7 | 3081 |
6 | -0.1875 | -0.1713 | 2973.5 | 2970 |
7 | -0.0625 | -0.0568 | 2914.2 | 2914 |
8 | 0.0625 | 0.0568 | 2895.3 | 2897 |
9 | 0.1875 | 0.1713 | 2914.2 | 2915 |
10 | 0.3125 | 0.2881 | 2973.5 | 2978 |
11 | 0.4375 | 0.4090 | 3080.7 | 3081 |
12 | 0.5625 | 0.5368 | 3252.7 | 3256 |
13 | 0.6875 | 0.6751 | 3523.3 | 3523 |
14 | 0.8125 | 0.8310 | 3970.3 | 3973 |
數(shù)學(xué)分析預(yù)測的代碼計數(shù)與模擬預(yù)測的代碼計數(shù)接近,但不完全相同。這是因?yàn)橹狈綀D測試是一種統(tǒng)計方法。因此,更多的樣本應(yīng)該會提高測量的準(zhǔn)確性。
使用正弦直方圖方法查找 DNL 誤差
考慮圖 5(紅色曲線)所示的非理想 4 位 ADC。
圖 5.示例 ADC 的理想(藍(lán)色)和非理想(紅色)響應(yīng)。
下面的圖 6 中提供了該 ADC 的微分非線性 (DNL) 圖。
圖 6.非理想 4 位 ADC 的 DNL。
與上一節(jié)中的理想情況一樣,我們將使用滿量程電壓為 1 V 的非線性傳遞函數(shù)以 40 kHz 的采樣率對 390.3 Hz 正弦波進(jìn)行數(shù)字化。同樣如前所述,A= 1.1 V,B= 0。
請注意,圖 5 中的傳遞函數(shù)沒有失調(diào)誤差或增益誤差。因此,第一個和最后一個轉(zhuǎn)換發(fā)生在其理想值 (VLE= –0.9375)。收集 80,000 個樣本,我們得到以下直方圖(圖 7)。
圖 7.非理想示例 ADC 的數(shù)字代碼出現(xiàn)次數(shù)直方圖。
我們排除第一個和最后一個 bin,并將 bin 計數(shù)除以公式 9 給出的理想值。這給出了圖 8 中的歸一化直方圖。
圖 8.非理想示例 ADC 的數(shù)字代碼出現(xiàn)次數(shù)的歸一化直方圖。
在標(biāo)準(zhǔn)化直方圖中,理想的代碼的 bin 計數(shù)為 1。因此,從 bin 計數(shù)中減去 1 會產(chǎn)生 DNL 信息,該信息由圖 9 中的紅色條形圖繪制。藍(lán)色條形圖顯示實(shí)際的 DNL 誤差。
圖 9.紅色:示例 ADC 根據(jù)正弦直方圖測試的 DNL 響應(yīng)。藍(lán)色:同一示例 ADC 的實(shí)際 DNL 響應(yīng)。
同樣,直方圖方法的結(jié)果接近實(shí)際值,但并不完全相同。正確選擇不同的測試參數(shù)可以提高給定測試時間內(nèi)的準(zhǔn)確性。徹底分析不同測試參數(shù)對直方圖方法準(zhǔn)確性的影響是一個相對復(fù)雜的統(tǒng)計問題,涉及置信度、概率等因素。對于那些有興趣更深入了解這些影響的人,我將在下一節(jié)中推薦一些進(jìn)一步的閱讀材料。
非理想性和閱讀建議
在上面的示例中,我們使用了沒有增益誤差或偏移誤差的理論 ADC。我們還使用了具有已知幅度和零偏移的正弦波。實(shí)際上,ADC 可能同時存在偏移誤差和增益誤差,并且我們可能不知道輸入的確切幅度或偏移誤差。這些非理想性會使歸一化方程變得更加復(fù)雜。
審核編輯:劉清
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原文標(biāo)題:正弦直方圖方法測試模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)
文章出處:【微信號:moorexuetang,微信公眾號:摩爾學(xué)堂】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
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