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高速ADC/DAC的測試方法分享

冬至子 ? 來源:模擬混合信號設(shè)計驗證 ? 作者:任彥楠 ? 2023-11-07 14:56 ? 次閱讀

ADC主要的測試指標分為靜態(tài)指標和動態(tài)指標兩類:靜態(tài)指標,包括INL、DNL;動態(tài)指標,主要是基于SFDR,在此基礎(chǔ)之上計算的ENOB(有效位數(shù))。盡量言簡意賅吧。

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ADC的測試方法,其實簡單來說,就是輸入和輸出,輸入怎么給?輸出怎么測?怎么計算?以及換算到spec。輸入主要是兩部分:數(shù)據(jù)和clk。大家知道ADC的數(shù)據(jù)和clk都用什么給信號嗎?

聽眾答:ADC的數(shù)據(jù)是指輸入的模擬信號嗎?

任老師:哈哈,是的,信號發(fā)生器;然而對于ADC,尤其是高精度的ADC,最關(guān)鍵的是信號源的選擇,這里需要的是高精度的信號源,也就是說信號源的動態(tài)范圍要高于被測ADC兩個精度位以上,這是關(guān)鍵之一。第二,就是信號源和clk的同步。

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接著,我們來看輸出,ADC輸出的是digital信號,也就是說輸出采樣到的是數(shù)字信號。但是ADC的動態(tài)參數(shù)表示都是基于頻譜分析的方法。也就是說要將輸出、采樣到的數(shù)字信號用FFT變換到頻域,這就是大家看到ADC的測試程序為什么主函數(shù)是FFT 函數(shù)的原因。我記得我們當時實驗室測得,10bit以上ADC,都至少是1024點。

聽眾問:或者轉(zhuǎn)到頻域,頻率精度到什么精度才合適?

任老師:實測的時候,你有時會發(fā)現(xiàn),F(xiàn)FT點數(shù)選的少,測試結(jié)果會好,不知大家有沒有碰到過這種情況?嗯,但其實這是一種假象。你想10bit ADC輸出的全位分辨率就是1024,如果沒有采到1024個點,說明丟失了部分數(shù)據(jù),不能真實反映ADC的性能。所以大家測試的時候,不能追求偶爾測到一個好的spec, 而應(yīng)該重點關(guān)注自己的測試方法和計算方法,是否真實反映了芯片的性能。

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剛剛講了動態(tài)指標,靜態(tài)指標就相對容易,用高階的數(shù)字萬用表,不是手持的那種哦,是專業(yè)的可編程的6位半的萬用表,把輸出全部采下來,使用簡單公式就可以計算出INL和DNL,這個就不會用錯。動態(tài)指標SFDR和ENOB會由于FFT取樣點數(shù)的變化而變化;但INL和DNL算出來什么就是什么,沒有數(shù)字轉(zhuǎn)換的問題。數(shù)據(jù)頻率是ADC可以接受的最大輸入信號的頻率,比方說100M;而時鐘頻率是采樣率,比方說1GS/s。我們在學校的時候,可能覺得測到一個好的spec發(fā)個paper就好了;但是工作之后就不一樣了。芯片到底怎么樣,你心里能沒點底數(shù)么?我用一張圖總結(jié)一下最基礎(chǔ)的ADC,尤其特指并口ADC的測試基礎(chǔ)方法;后面我們再談串口ADC。

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聽眾問:6位半萬用表測ADC?應(yīng)該是DAC吧?

任老師:是ADC哦,ADC輸出的digital, 用萬用表可以測到;DAC輸出的是analog,是連續(xù)的模擬信號,直接用頻譜儀就可以看了??催@張圖,其實動態(tài)指標全部都是用邏輯分析儀采集。剛才說INL和DNL大家如果覺得邏輯分析儀復雜的話,用萬用表也可以完成。但是動態(tài)指標就必須得用邏輯分析儀采集了。哦,漏了一點,信號源和ADC的輸入之間,要接帶通濾波器,把頻點選出來。

Times問:用邏輯分析儀抓出來的數(shù)據(jù),放到MATLAB里分析,以前adi有MATLAB例程。

任老師:Times 對!專業(yè)!所以大家測試ADC的時候,有一個必須的投入,就是得多買幾個質(zhì)量好的滾降系數(shù)高的帶通濾波器。帶通濾波器推薦大家用那個 mini circuits, 上次分享的李瑋韜,是我的閨蜜,她在我們實驗室的時候,我們老師給她出錢買了好多好用的帶通濾波器,嘿嘿。因為整個信號通路上,如果信號源質(zhì)量特別好,特別純凈;ADC的能力也很好,但是帶通濾波器濾不凈,引入雜波,就得不償失了。

大家好,剛才我發(fā)的那個最后一張圖片大概就是最上面的一個總結(jié)。這個是典型的一個并口,就是并口的ADC,因為如果少的話慢的話,我們傳統(tǒng)都是采用并口輸出碼,那接下來呢,我會講一點串口。因為群里如果有AD的大神,就知道現(xiàn)在公司里面做的。高速的ADC用的都是串口,并口已經(jīng)是一種,就是比較早一點的技術(shù)。

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串口就是這樣子的哈。JESD204B是SerDes的接口規(guī)范。

聽眾問:以12位ad為例,即便輸入穩(wěn)定電平,噪聲本身可能就會引起低2位的跳動,如何能夠用萬用表測到準確的INL DNL呢?

任老師:大家現(xiàn)在看到ADI做出來的新的2GS/s以上的ADC/DAC都是這種接口的了,很高級~~我換算一下啊,6位半的萬用表就是可以測到小數(shù)點之后6位半。如果10bit ADC, 輸入1V,最小格是1/1024,那4位半的萬用表就夠了。

聽眾問:lsb,并不是絕對值。

任老師:哦~~ 那你說的噪聲是來源于哪里呢?電源?AD本身,還是輸入源?哈哈,那等一下我們再討論這個哈。

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SerDes的信號,大家看到和并口主要的區(qū)別是在發(fā)送端和接收端上的并串/串并轉(zhuǎn)換、8b/10b編碼,差分驅(qū)動幾個模塊.雖然大家設(shè)計的時候在這幾個部分都要花很大的精力,可是在測試的時侯,就變成了一個黑盒子,主要考慮的還是如何把輸入信號給進去、時鐘怎么同步、怎么把輸出信號采集出來三大問題了。

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我長話短說,

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關(guān)于Serdes測試的時候,和并口測試的不同,大家看這張ppt ~好在Serdes的測試方法現(xiàn)在也都是十分成熟的了,主要的ADC設(shè)計公司用的方法大致相同。

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聽眾問:感覺其中時鐘PLL是個關(guān)鍵環(huán)節(jié)。你們keysight出一個支持204B的接口的邏輯分析儀選件就好了。對測試工程師來說看到的就是被測數(shù)據(jù)。

任老師:你說的對。Serdes和剛才的并口測試相比,輸入信號沒變,還是用高純度的信號源,高純度、單頻點源,就是ADC輸入的唯一需求,一旦擁有,別無所求,差別在于輸出部分,其實就是支持204B的接口的邏輯分析儀 .被大家猜中了結(jié)局。

聽眾問:204b接口的adc測試時可不可以用帶高速口的FPGA

任老師:可以的只要接口匹配,精度足夠,就可以采樣率夠,和時鐘可以同步。你們自己設(shè)計的FPGA板嗎?測多少bit的ADC?

聽眾問:ADC數(shù)字輸出的?

任老師:萬用表是測DAC,給輸入。沒有測ADC的。FPGA 和邏輯分析儀的道理一樣的,都是數(shù)據(jù)采集板。

聽眾問:DNL vs Noise,INL vs SFDR

任老師:就是我記得我們實驗室以前用FPGA 的時候,一直沒搞定時鐘同步。

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