什么是IGBT?

IGBT即絕緣柵雙極型晶體管，是一種復合全控型電壓驅動式功率半導體器件，是電力控制和電力轉換的核心器件，在高電壓和高電流的光伏逆變器、儲能裝置和新能源汽車等領域被廣泛應用。IGBT具有高輸入阻抗，低導通壓降，高速開關特性和低導通狀態(tài)損耗等特點。

IGBT測試項目

為了檢測IGBT的性能、穩(wěn)定性和可靠性，IGBT測試是設計和生產(chǎn)過程中的重要環(huán)節(jié)。通過測試可以發(fā)現(xiàn)早期潛在的問題，從而提升其性能，讓用戶在使用過程中有良好的體驗。IGBT測試的項目主要有：

柵極-發(fā)射極閾值電壓VGE(TO)測試

柵極-發(fā)射極漏電流IGES測試

集電極-發(fā)射極截止電流ICES測試

集電極-發(fā)射極飽和電壓VCE(sat)測試

開通時間ton測試：開通時間是開通延遲時間與集電極電流上升時間之和。

關斷時間toff測試：關斷時間是關斷延遲時間與電流下降時間之和。測試包含阻性負載和感性負載測試。

恢復時間測試：是針對IGBT上反向續(xù)流二極管的恢復時間進行測試。

IGBT極性判斷方法

用萬用表快速檢測IGBT之前，先要確定IGBT的極性。

柵極(G)：萬用表設置到R×1KQ位置，開始測量。如果一極和另外兩極的電阻值是無窮大，更換表筆后該極和另外兩極的電阻值依然是無窮大，則此極是柵極。

集電極(C)和發(fā)射極(E)：用萬用表測量剩下的兩極，如果被測電阻為無窮大，更換表筆后被測電阻變小，在第一次測量到小電阻值時，判斷紅色表筆接集電極，黑色表筆接發(fā)射極。

IGBT好壞檢測——萬用表

1. 設置萬用表為R×1KQ(R×10KΩ)，黑表筆接C極，紅表筆接E極，此時萬用表指針在零位。

2. 用手指同時觸及G極和C極，IGBT被觸發(fā)導通，好的IGBT會使萬用表的指針指向某個電阻。

3. 再用手觸及G極和E極，此時IGBT被阻斷，如果萬用表指針回零，則判斷IGBT是好的。

注意事項：

檢測時一定要將萬用表設置在R×10KΩ，因為R×1KΩ擋以下各檔萬用表內部電池電壓太低，在檢測過程中無法使IGBT導通，從而無法判斷IGBT的好壞。

檢測IGBT好壞的其它方法

1. 觀察外觀

首先檢查IGBT外觀是否有物理損壞、燒焦或裂紋等情況。如果表面有可見的損壞，IGBT可能已經(jīng)損壞。

2. 測試絕緣性

用萬用表電阻測量功能來測試IGBT的絕緣性。將萬用表的正極連接到IGBT的集電極上，將負極連接到發(fā)射極或柵極上(具體連接方式根據(jù)IGBT的引腳結構而定)，如果顯示為無限電阻，則表示IGBT的絕緣性良好。如果顯示為導通或者具有很低的電阻值，那么IGBT可能存在絕緣性問題。

3. 溫度測試

在正常操作條件下，通過紅外測溫儀或接觸式溫度計來測量IGBT的溫度。如果IGBT溫度異常升高，超過了正常工作溫度范圍，可能存在故障或問題。

4. 激活測試

正常工作條件下，施加電壓來激活IGBT，并進行相應的電流和功率測試。在正確的電壓和電流下，如果IGBT無法正常工作、電流過大或功率損失較大，則可能存在問題。

5. 頻率響應測試

使用相應的信號發(fā)生器和示波器來測試IGBT的頻率響應。通過施加不同頻率的信號，并觀察輸出波形是否正常，如有任何畸變或失真，IGBT可能存在問題。

納米軟件ATECLOUD-IC芯片自動化測試系統(tǒng)可以測試二極管、三極管、絕緣柵型場效應管、結型場效應管、單向和雙向可控硅、MCU、IGBT、各類分立器件等集成電路測試，采用ns級高精度測試，提高測試效率。

審核編輯 黃宇