芯片的功耗主要分為靜態(tài)功耗和動(dòng)態(tài)功耗
一、靜態(tài)功耗
靜態(tài)功耗(漏電功耗)是指芯片待機(jī)狀態(tài)下所產(chǎn)生的的功率消耗,來源于MOS管內(nèi)部的泄漏電流;泄漏電流有多個(gè)組成部分:
? (1)亞閾值泄漏電流,IDS
? (2)柵氧化層隧穿電流,Igate
? (3)反偏二極管電流,Ireverse
? (4)漏極泄漏電流,IGIDL
因此總的漏電流:
Ileakage = IDS + Igate +Ireverse + IGIDL
Pleakage = Ileakage * VDD
二、動(dòng)態(tài)功耗
動(dòng)態(tài)功耗指的是由于MOS管狀態(tài)跳變所產(chǎn)生的的功耗;動(dòng)態(tài)功耗又分為開關(guān)功耗和短路功耗;
1.開關(guān)功耗
開關(guān)功耗是由于邏輯門翻轉(zhuǎn)時(shí)對(duì)電容充放電所產(chǎn)生的的功耗;
以一個(gè)反相器為例,當(dāng)輸入信號(hào)從高電平變?yōu)榈碗娖剑?a target="_blank">電源VDD通過PMOS對(duì)輸出電容(C L )充電;
輸出電容包括三個(gè)部分:門自身的輸出節(jié)點(diǎn)電容C drain 、總的互聯(lián)線電容C interconnect 、被驅(qū)動(dòng)門的輸入電容C input ;
? (1)這個(gè)過程從電源抽取的能量計(jì)算如下:iVDD和Vout是隨時(shí)間變化的,在dt的時(shí)間范圍內(nèi),
由于Vout達(dá)不到VDD,因此將CL充電至VDD需要無窮大的時(shí)間,充電過程的消耗的總能量為:
? (2)對(duì)于電容CL來說,在dt的時(shí)間范圍內(nèi),其消耗的能量為:
在這個(gè)過程中,電容CL消耗的總能量為:
由(1)(2)可以看出,電源在一個(gè)充放電周期(放電過程中不消耗電源能量)中提供的總能量為C L *VDD ^2^ ;其中一半以熱的形式在充電過程中被消耗在PMOS上,另一半儲(chǔ)存在電容CL中;儲(chǔ)存在電容CL中另一半在放電過程中被NMOS消耗掉;
如果反相器每秒開關(guān)favg次,則功耗為:Pavg,sw = EVDD / T = C L *VDD ^2^ *favg
其中T為周期,favg為開關(guān)頻率;
1> 引入節(jié)點(diǎn)轉(zhuǎn)換因子α T ,代表單位時(shí)鐘周期內(nèi)邏輯門的翻轉(zhuǎn)概率,因此實(shí)際的開關(guān)頻率favg低于時(shí)鐘頻率f CLK ,favg = α T *fCLK
考慮到電源網(wǎng)絡(luò)的IR drop,邏輯門的電源Vi實(shí)際上要小于電源VDD 因此,功耗的公式改寫為:
Pavg,sw = (α T *C L *V i )VDDfCLK
每次充電或放電一次,動(dòng)態(tài)功耗P dynamic,sw :
Pdynamic,sw = 0.5 Pavg,sw = 0.5 (α T *CLV i )VDDfCLK ~= 0.5α T *f CLK *C L *VDD^2^
2.短路功耗
上面的討論中,輸入信號(hào)上升和下降時(shí)間為0,當(dāng)輸入信號(hào)存在slew時(shí),存在短時(shí)間內(nèi)PMOS和NMOS同時(shí)導(dǎo)通的過渡區(qū),從VDD到VSS形成直流通路,從而產(chǎn)生的能量損耗P sc ;
如下圖所示,NMOS在Vin > VTnmos后開始導(dǎo)通;而PMOS在電壓達(dá)到VDD – VTpmos之前一直導(dǎo)通,在這段時(shí)間內(nèi)PMOS和NMOS同時(shí)導(dǎo)通;
常用三角形脈沖模擬電流隨時(shí)間的變化,每經(jīng)過一個(gè)開關(guān)周期0 -1 -0所消耗的能量為:
Esc = Escr + E scf ,其中Esc和Escf分別為輸入信號(hào)上升和下降期間的由短路電流所消耗的能量;消耗的能量就等于i(t)曲線下的面積和VDD的乘積;
因此, Escr = Escf = 0.5*VDD *I peak *tsc
總能量 Escr = VDD* I peak * tsc
一個(gè)周期內(nèi)的平均功耗為Psc = E sc /T =E sc *f = VDD * I peak *t sc *f = C sc *VDD ^2^ *f
其中,Csc為過渡區(qū)等效電容;f為輸入信號(hào)Vin的電平跳變頻率;
3.internal power與總功耗
由上述討論可知,
Ptoal = Pleakage + Pdynamic = Pleakage + (Pdynamic,sw + P sc )
在實(shí)際應(yīng)用中將開關(guān)功耗分為器件功耗和網(wǎng)線負(fù)載功耗兩部分:
Ptoal = Pdevice + Pnet
(1) Pnet為在網(wǎng)線上消耗的功率;對(duì)于電容的充放電,實(shí)際上只有半個(gè)周期會(huì)消耗功率,取節(jié)點(diǎn)轉(zhuǎn)換因子αT為0.5,因此:
Pnet = 0.5* CL *VDD ^2^ *Tnet
其中CL為三部分組成的電容;Tnet為net的翻轉(zhuǎn)率;
在net上消耗的只有動(dòng)態(tài)開關(guān)功耗;
(2)其中 Pdevice = Pleakage + Pinternal
其中,Pinternal 包括動(dòng)態(tài)開關(guān)功耗Pdynamic,sw的一部分和全部的P sc ;
器件的動(dòng)態(tài)功耗包括短路功耗和動(dòng)態(tài)開關(guān)功耗兩部分;
因此,Ptoal = Pleakage + Pinternal + Pswitch
(這里用Pswitch替代P net ,switch power是更通用的說法)
Pinternal 包括動(dòng)態(tài)開關(guān)功耗Pdynamic,sw的一部分和全部的Psc
上面的解釋來自《數(shù)字集成電路物理設(shè)計(jì)》,個(gè)人理解這句話是沒有問題的,但是此時(shí)Pnet中的CL就不是三部分組成的電容了;
見下圖(liberty ug): 如果lib中output pin上沒有capacitance,那么由output pin capacitance帶來的影響已經(jīng)被考慮到internal power中了;
因此,可以將internal power理解為發(fā)生在cell內(nèi)部的功耗;
4.lib中的功耗
1.漏電功耗
下圖為庫中的漏電功耗,漏電功耗與單元的狀態(tài)有關(guān),即stage dependent(SD);
基于輸入電源的leakage信息:
? leakage_power_unit:工具根據(jù)Leakage_power_unit屬性確定單位;
? leakge_power:定義狀態(tài)相關(guān)(when)的漏電功耗,如上圖中的!A&!B表示當(dāng)A=B=0時(shí),leakage power的值;
? cell_leakge_power:如果某個(gè)狀態(tài)在leakge_power中未定義,則使用cell_leakge_power的值;
總的漏電功耗,由每個(gè)狀態(tài)下的漏電功耗乘以該狀態(tài)下的總仿真時(shí)間的百分比,并求和得到每個(gè)單元的總漏電功耗;
由于leakage_power是狀態(tài)相關(guān),堆疊效應(yīng)(stack effect)可以降低leakage_power。
例如將一個(gè)MOS管強(qiáng)制拆分成2個(gè)堆疊的MOS管,2個(gè)堆疊的MOS管有相同的輸入;
2.internal power
internal power與狀態(tài)有關(guān),與路徑有關(guān),即即stage dependent path dependent(SDPD)
? (1)單輸入的cell,internal power為input transiton和output load的二維表;
這里的internal power是定義在輸出端的,包括兩部分,rise_power和fall_power;
例如下圖中定義了從A pin到Z pin的internal power;
-(2)對(duì)于多輸入的組合邏輯門如nand,xor等;
這類cell在特定條件下某一個(gè)或者幾個(gè)pin的輸入值對(duì)輸出不造成影響,在lib中定義在input pin,input pin的internal power只與該pin的input transition相關(guān)(也叫hidden power);
例如當(dāng)nand的B輸入為0時(shí),不管A的輸出是什么,最終輸出都是0。此時(shí)盡管A對(duì)輸出沒有貢獻(xiàn),但是它仍然會(huì)消耗一部分功耗;
當(dāng)B為1的時(shí)候,從A pin到Z pin的internal power同樣也是二維查找表;
-(3)對(duì)于時(shí)序邏輯單元 -CK pin即使在鎖存的數(shù)值沒有變化的時(shí)候仍然會(huì)消耗能量;
3.internal power的建模方式
? 在PTPX ug中有如下描述,PTPX默認(rèn)lib中的internal power計(jì)算公式為formula 1和formula 2;
? 由于switch消耗的總能量switch_energy為C L *V^2^
在這種方式中,0.5 * switch_energy算在了上升沿,0.5 * switch_energy算在了下降沿;而實(shí)際上switch_energy只發(fā)生在對(duì)上升沿電容充電過程中,此時(shí)得到的值并不代表真實(shí)的internal power值;
-另外一種計(jì)算方式如下formula 3和formula 4
?關(guān)于如何判斷:如果lib中internal power的fall power多為負(fù)值,那么為第一種方式;
4.internal power的單位
lib中internal power不是功率,而是消耗的能量,因此單位是焦耳而不是瓦特;
由3.中的式子可以看出,internal power的單位與CV^2^相同;
在lib中,電容C單位為Pf,電壓?jiǎn)挝粸閂,因此internal power的單位為Pf*V = PJ
-
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