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創(chuàng)紀(jì)錄的SOT-MRAM有望成為替代SRAM的候選者

致真精密儀器 ? 來源:半導(dǎo)體行業(yè)觀察 ? 2024-01-05 11:47 ? 次閱讀

最近,Imec 公布的超大規(guī)模自旋軌道轉(zhuǎn)移 MRAM (SOT-MRAM) 器件已實(shí)現(xiàn)創(chuàng)紀(jì)錄的性能,每比特開關(guān)能量低于 100 飛焦耳,耐用性超過 10 的 15 次方。

這些結(jié)果使得 SOT-MRAM 成為替代 SRAM 作為高性能計(jì)算 (HPC) 應(yīng)用中最后一級(jí)緩存的有希望的候選者。就像 SRAM 一樣,它提供高開關(guān)速度(在亞納秒范圍內(nèi))和無限的耐用性。

此外,由于是非易失性,SOT-MRAM 位單元在高單元密度下可實(shí)現(xiàn)比 SRAM 更低的待機(jī)功耗。此外,SOT-MRAM 位單元可以做得比 SRAM 單元小得多,從而轉(zhuǎn)化為更高的位封裝密度。

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Imec 通過實(shí)驗(yàn)探索了在 300mm 晶圓上加工的單垂直 SOT-MRAM 器件的擴(kuò)展?jié)摿途窒扌?,這是有史以來第一個(gè)關(guān)于 SOT-MRAM 器件擴(kuò)展性的研究報(bào)告。在 IEDM 2023 上,他們表明,縮小 SOT 軌道不僅減少了 SOT-MRAM 單元的占地面積,而且還大大提高了單元的性能和可靠性。

SOT 軌道是由鎢 (W) 或鉑 (Pt) 等金屬制成的層,位于磁性隧道結(jié) (MTJ)(SOT-MRAM 器件的實(shí)際開關(guān)元件)下方。SOT 軌道用作面內(nèi)電流注入層,引入它是為了解耦讀取和寫入路徑。

“在傳統(tǒng)的 SOT-MRAM 設(shè)計(jì)中,SOT 軌道占用的面積大于實(shí)際 MTJ 柱的占地面積,為覆蓋過程控制提供足夠的余量,”imec 磁學(xué)項(xiàng)目總監(jiān) Sebastien Couet 解釋道?!暗@會(huì)導(dǎo)致能量浪費(fèi),因?yàn)椴糠蛛娏鲿?huì)流到 MTJ 區(qū)域之外。我們將 SOT-MRAM 器件擴(kuò)展至極限,SOT 軌道和 MTJ 柱具有相當(dāng)?shù)某叽纾ㄅR界尺寸約 50 納米)。對(duì)于這些器件,我們觀察到每比特的開關(guān)能量低于 100 飛焦耳 (fJ),即與傳統(tǒng)設(shè)計(jì)相比減少了 63%。這有助于解決 SOT-MRAM 的剩余挑戰(zhàn),傳統(tǒng)上 SOT-MRAM 需要高電流進(jìn)行寫入操作?!?/p>

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縮放 SOT 軌道可以提高存儲(chǔ)器的耐用性,因?yàn)樗梢詼p少 SOT 層內(nèi)的焦耳熱。

“憑借超過 1015 個(gè)編程/擦除周期的耐用性,我們通過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了我們的假設(shè),即 SOT-MRAM 單元可以具有無限的耐用性——這是緩存存儲(chǔ)器的重要要求,”Couet 說。

“我們的數(shù)據(jù)為電路設(shè)計(jì)人員提供了寶貴的輸入,以便在先進(jìn)節(jié)點(diǎn)上執(zhí)行 SOT-MRAM 技術(shù)的設(shè)計(jì)技術(shù)協(xié)同優(yōu)化 (DTCO)——性能改進(jìn)和設(shè)計(jì)裕度之間的權(quán)衡。未來的工作重點(diǎn)是材料工程,以進(jìn)一步降低每位的開關(guān)能量,并優(yōu)化位單元配置,以進(jìn)一步縮小與 SRAM 相比的單元面積。從長(zhǎng)遠(yuǎn)來看,這些經(jīng)驗(yàn)也將轉(zhuǎn)移到電壓門控 (VG) SOT-MRAM 多柱器件的開發(fā)中——imec 針對(duì)高密度嵌入式存儲(chǔ)器應(yīng)用的終極解決方案?!盨ebastien Couet 補(bǔ)充道。

我們將見證SRAM的死亡?

今年,第 68 屆年度 IEEE 國(guó)際電子器件會(huì)議 (IEDM) 全面恢復(fù),來自世界各地的近 1,500 名工程師(親臨現(xiàn)場(chǎng))每年都會(huì)返回舊金山市中心,討論半導(dǎo)體行業(yè)的最新發(fā)展。雖然學(xué)術(shù)界和工業(yè)界都有大量有趣的論文,但臺(tái)積電的那篇論文帶來了可怕的壞消息——雖然邏輯仍在或多或少地沿著歷史趨勢(shì)線擴(kuò)展,但 SRAM 擴(kuò)展似乎已經(jīng)完全崩潰。

在會(huì)議上,臺(tái)積電談到了原始基礎(chǔ) N3 (N3B) 節(jié)點(diǎn)以及增強(qiáng)型 (N3E),后者是N3B 稍微寬松一些的變體。臺(tái)積電展示原型測(cè)試芯片配備了一個(gè)由超過 35 億個(gè)晶體管和一個(gè)可完全運(yùn)行的 256Mbit SRAM 宏組成的邏輯電路(圖 1)。SRAM 存儲(chǔ)單元面積為 0.0199μm 2,是有史以來最小的。我們確認(rèn) SRAM 宏即使在 0.5V 的電壓下也能完美工作(圖 2)。

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有趣的是,對(duì)于新的 N3E 節(jié)點(diǎn),高密度 SRAM 位單元尺寸達(dá)到 0.021 μm2,這與他們的 N5 節(jié)點(diǎn)的位單元大小完全相同,并沒有縮小。N3B 變體預(yù)計(jì)不會(huì)進(jìn)入太多產(chǎn)品,但確實(shí)具有縮放 SRAM 位單元;然而,在 0.0199μm2 時(shí),它僅縮小了 5%(或縮小了 0.95 倍)。

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就粗略的內(nèi)存密度而言(假設(shè) ISO 輔助電路開銷),N3E 大致為 31.8 Mib/mm2,并將增加到 33.55 Mib/mm2 或 1.75 Mib/mm2(230 KB)的改進(jìn)。

這是一些嚴(yán)重的壞消息!從這個(gè)角度來看,雖然據(jù)說 N3B 和 N3E 都提供了 1.6 倍和 1.7 倍的芯片級(jí)晶體管縮放,但 SRAM 的 1.0 倍和 1.05 倍縮放是災(zāi)難性的?,F(xiàn)在,我們?nèi)匀幌M_(tái)積電在某個(gè)時(shí)候?yàn)?N3 推出更密集的 SRAM 位單元變體,我們確實(shí)希望在未來看到 SRAM 的某種程度的微縮,但好的舊微縮 SRAM 微縮似乎已經(jīng)死了。

考慮一個(gè)假設(shè)的 100 億晶體管芯片,其中包含 40% 的 SRAM 和 60% 的邏輯,位于 TSMC N16 上。忽略實(shí)際限制和模擬/物理/等,這樣一個(gè)假設(shè)的芯片將約為 255 平方毫米,其中 45 平方毫米或 17.6% 用于 SRAM。將完全相同的芯片縮小到 N5 將產(chǎn)生一個(gè) 56 平方毫米的芯片,其中 12.58 平方毫米或占芯片的 22.5% 用于 SRAM。將芯片進(jìn)一步縮小到 N3(基于我們最初但未完全確認(rèn)的值)將產(chǎn)生一個(gè) 44 平方毫米的芯片,其 SRAM 密度相同為 12.58 平方毫米,現(xiàn)在占面積的近 30%。

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當(dāng)然,這種影響不會(huì)在所有方面都感受到同樣的影響。芯片上 SRAM 和緩存的百分比因目標(biāo)市場(chǎng)和整體能力而異。然而,對(duì)于一些 AI 硬件初創(chuàng)公司來說,架構(gòu)要求芯片的很大一部分被 SRAM 覆蓋,這些工程師將比其他人更快地遇到更多挑戰(zhàn)。

SRAM 微縮的崩潰并不僅限于臺(tái)積電。我們已經(jīng)指出 SRAM 縮放速度變慢的問題已經(jīng)有一段時(shí)間了。例如,雖然英特爾仍在縮減其 SRAM 位單元,但該公司最近宣布的Intel 4 進(jìn)程SRAM 縮放比例已從歷史上的 0.5-0.6 倍放緩至 0.7-0.8 倍。對(duì)于 Intel 4,我們的估計(jì)密度(ISO 輔助電路開銷與 TSMC 相比)為 27.8 Mib/mm2 或 4 Mib/mm2 或落后 13%。期望 Intel 的 Intel 3 工藝能夠匹敵或擊敗它們并非不切實(shí)際。

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那么,我們?cè)摵稳ズ螐??事?shí)上,目前唯一可行的 SRAM 替代品就是更多的 SRAM,因此我們預(yù)計(jì) SRAM 會(huì)直接占用更多的面積。這并不是說我們不期望更多的 SRAM 擴(kuò)展。雖然我們確實(shí)希望臺(tái)積電和其他代工廠生產(chǎn)更密集的 SRAM,但歷史上的擴(kuò)展似乎已經(jīng)正式結(jié)束。Imec 等一些研究機(jī)構(gòu)提出了更高密度的 SRAM 位單元。例如,在去年的 IEDM 2021 上,Imec 在一個(gè)假設(shè)的“超越 2 納米節(jié)點(diǎn)”上展示了大約 60 Mib/mm2 的 SRAM 密度,大約是今天密度的兩倍,該節(jié)點(diǎn)使用utilizing forksheet晶體管和先進(jìn)的雙面互連方案。

除了 SRAM,業(yè)界一直在研究許多其他替代內(nèi)存架構(gòu)。新興的內(nèi)存技術(shù)包括 MRAM、FeRAM、NRAM、RRAM、STT-RAM、PCM 等。與 SRAM 相比,這些新興的內(nèi)存位單元提供了獨(dú)特的權(quán)衡,例如在較低的讀/寫規(guī)范下具有更高的密度、非易失性能力、較低的讀寫周期能力,或者在可能較低的密度或速度下具有較低的功耗。雖然它們不是 SRAM 的直接替代品,但向前發(fā)展它們可能會(huì)扮演 4 級(jí)或 5 級(jí)緩存的角色,其中較低的性能權(quán)衡可以通過更高的密度來抵消。

目前,該行業(yè)似乎已經(jīng)到了一個(gè)有趣的拐點(diǎn)。

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審核編輯:劉清

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原文標(biāo)題:創(chuàng)紀(jì)錄的SOT-MRAM,有望替代芯片中的SRAM

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