光伏組件是將太陽能轉(zhuǎn)化為電能的重要設(shè)備，但在長期運(yùn)行中可能會遭受PID效應(yīng)的影響。為了確保光伏組件的性能和可靠性，國際電工委員會（IEC）制定了一系列標(biāo)準(zhǔn)，其中包括對PID的測試要求。來自美能光伏的PID測試儀，助力評估光伏組件暴露在的次電壓和溫度條件下的性能衰減情況。

為什么要進(jìn)行PID測試

PID測試是評估光伏組件在高溫高濕條件下的性能衰減程度的過程。這種衰減主要是由于光伏組件中的電位差引起的。在光伏組件中，電池片與玻璃、背板之間形成了一個電容，當(dāng)濕度和溫度升高時，電容中的電荷會發(fā)生遷移，導(dǎo)致電位差產(chǎn)生。這個電位差會使得電池片的工作狀態(tài)發(fā)生變化，進(jìn)而導(dǎo)致性能衰減。

PID的發(fā)生主要與以下幾個因素有關(guān)：

• 環(huán)境條件：高溫、高濕、高鹽堿等環(huán)境會加速PID的發(fā)生，尤其是沿海地區(qū)。

• 外部電壓：光伏組件在電站中與逆變器、邊框、接地等部件連接，形成一定的電壓偏差，導(dǎo)致電池片受到正偏壓或負(fù)偏壓。

組件結(jié)構(gòu)：不同類型的電池片（如P型或N型）、封裝材料、玻璃等，對PID的敏感性和抵抗性不同。

PID測試的國際標(biāo)準(zhǔn)

為了評估光伏組件的PID效應(yīng)，IEC制定了一系列國際標(biāo)準(zhǔn)，其中最常用的是IEC 62804標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了PID測試的方法和要求，包括測試溫度、濕度、電壓等參數(shù)。根據(jù)該標(biāo)準(zhǔn)，PID測試應(yīng)在85℃的溫度下進(jìn)行，濕度為85%，持續(xù)時間為96小時。測試過程中，通過施加一定的電壓，評估光伏組件的性能衰減程度。根據(jù)IEC 62804標(biāo)準(zhǔn)，要求組件的功率衰減不超過5%，沒有外觀不合格現(xiàn)象，濕漏電流符合IEC 61215標(biāo)準(zhǔn)，組件功能完整。

I-V曲線（PID效應(yīng)測試前（左），測試后（右））

美能PID測試儀

介紹：

長期泄漏電流會造成電池片載流子及耗盡層狀態(tài)發(fā)生變化、電路中的接觸電阻受到腐蝕、封裝材料受到電化學(xué)腐蝕等問題，從而導(dǎo)致電池片功率衰減、串聯(lián)電阻增大、透光率降低、脫層等影響組件長期發(fā)電量及壽命的現(xiàn)象。本設(shè)備為根據(jù)IEC62804 標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)的光伏組件 PID 測試系統(tǒng)。測試目的：1.評估光伏組件承受系統(tǒng)偏壓的能力；2.測試光伏組件承受系統(tǒng)電壓、溫度、濕度等各種應(yīng)力的能力；

3.減少和預(yù)防PID現(xiàn)象。

滿足標(biāo)準(zhǔn):

滿足IEC61215標(biāo)準(zhǔn)中MQT21條款及IEC62804標(biāo)準(zhǔn)

功能特點(diǎn)：

?組件邊框端接地，既模擬實(shí)際情況，又防止由于邊框高壓引起的潛在危險；

?各通道相互獨(dú)立，多路電壓大小、極性、時間單獨(dú)設(shè)置；

?多路電壓、泄露電流、絕緣電阻同時顯示；

?實(shí)時監(jiān)控電壓、泄露電流、絕緣電阻曲線；光伏組件PID測試是確保光伏組件性能和可靠性的重要步驟。通過遵循IEC標(biāo)準(zhǔn)，可以評估光伏組件在高溫高濕條件下的性能衰減情況，有助于客戶制造高質(zhì)量的光伏組件，并采取措施來減輕PID效應(yīng)的影響。來自美能光伏的電位誘導(dǎo)退化（PID）測試機(jī)符合相關(guān)國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的要求，對于推廣太陽能發(fā)電技術(shù)和產(chǎn)業(yè)發(fā)展有著重要的意義。