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如何確保IGBT的產(chǎn)品可靠性

安森美 ? 來源:安森美 ? 作者:安森美 ? 2024-01-25 10:21 ? 次閱讀

在當(dāng)今的半導(dǎo)體市場,公司成功的兩個重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關(guān)聯(lián)的,可靠性體現(xiàn)為在產(chǎn)品預(yù)期壽命內(nèi)的長期質(zhì)量表現(xiàn)。任何制造商要想維續(xù)經(jīng)營,必須確保產(chǎn)品達(dá)到或超過基本的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)和可靠性標(biāo)準(zhǔn)。安森美(onsemi)作為一家半導(dǎo)體供應(yīng)商,為高要求的應(yīng)用提供能在惡劣環(huán)境下運(yùn)行的產(chǎn)品,且這些產(chǎn)品達(dá)到了高品質(zhì)和高可靠性。之前我們分享了如何對IGBT進(jìn)行可靠性測試,今天我們來介紹如何通過可靠性審核程序確保IGBT的產(chǎn)品可靠性。

安森美通過嚴(yán)格執(zhí)行可靠性審核程序來確??煽啃浴K?IGBT 產(chǎn)品都根據(jù)工藝技術(shù)和封裝類型分為不同的系列。每季度,會在最終測試時從這些系列的存貨中抽樣,然后提交進(jìn)行審核測試。通過對每個產(chǎn)品進(jìn)行實(shí)時極端壓力測試,可能會發(fā)現(xiàn)一些可以通過過程控制檢測到的工藝異常。典型的可靠性審核測試包括高溫反向偏置高溫柵極偏置、間歇性工作壽命溫度循環(huán)高壓鍋測試。為了發(fā)現(xiàn)任何隱藏的故障模式,可靠性測試被設(shè)計成超出常規(guī)質(zhì)量和可靠性測試的測試條件。

檢測到的故障會被發(fā)送到產(chǎn)品分析實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行實(shí)時評估。這個高度專業(yè)化的實(shí)驗(yàn)室配備了多種分析能力,包括電氣特性、濕化學(xué)和等離子體技術(shù)、冶金橫截面、掃描電子顯微鏡、色散 X 射線、俄歇光譜和微觀/宏觀拍攝??傊@些能力允許對故障機(jī)制進(jìn)行迅速和準(zhǔn)確的分析,確保評估的結(jié)果可以轉(zhuǎn)化為糾正措施并引導(dǎo)到適當(dāng)?shù)呢?zé)任領(lǐng)域。

安森美可靠性審核程序提供了一種強(qiáng)大的方法,可以發(fā)現(xiàn) IGBT 產(chǎn)品線中潛在的工藝異常跡象。正是這種對可靠性審核的嚴(yán)格和持續(xù)關(guān)注,為實(shí)現(xiàn)客戶滿意度提供了良好保證。

IGBT 可靠性審核程序

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可靠性要點(diǎn)

半導(dǎo)體用戶最關(guān)心的是器件性能與時間的關(guān)系。確定特定器件的適用性后,該器件的有效性取決于它可以提供無故障服務(wù)的時間長度。器件的可靠性體現(xiàn)了它將為客戶提供多好的服務(wù)??煽啃钥梢灾匦露x為在給定制造商的規(guī)格下,在給定時間段內(nèi)無故障性能的概率。一般情況下,半導(dǎo)體的故障率在長時間內(nèi)會顯示出所謂的“浴盆曲線”。

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圖3.半導(dǎo)體故障率

可靠性力學(xué)分析

由于可靠性評估通常僅涉及總體器件中的部分樣本,因此中心極限定理的概念適用,并且可以通過以下公式使用 λ2 分布來計算故障率:

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(公式5)

其中

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(公式6)

置信限度是計算中所需的保守程度。中心極限定理指出,大規(guī)模總體中的任何單位樣本的值都將產(chǎn)生正態(tài)分布。50%的置信限度稱為最佳估計值,是此分布的平均值。90% 的置信限度是一個非常保守的值,它會導(dǎo)致更高的 λ,表示 90% 的分布區(qū)域位于該值左側(cè)的點(diǎn)。

(2r + 2) 稱為自由度,以適合于 λ2 表格的形式來表示不合格品的數(shù)量。不合格品的數(shù)量是一個關(guān)鍵因素,因?yàn)椴缓细衿返亩x通常因制造商而異。由于隨著樣本量和測試時間的減少,測試不能代表整個總體的可能性越來越大,因此即使真正的長期故障率可能非常低,λ2 計算也會在短時間測試期間產(chǎn)生出奇高的 λ 值。為此,必須收集相對大量的數(shù)據(jù)來證明真實(shí)的長期故障率。由于這需要對數(shù)以千計的器件進(jìn)行多年測試,因此開發(fā)了加速測試方法。

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圖 4.置信限度和樣本故障率的分布

多年的半導(dǎo)體器件測試表明,溫度會加速故障的出現(xiàn),并且這種行為符合 Arrhenius 公式的形式:

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(公式7)

其中:

R(t) = 反應(yīng)速率隨時間和溫度的變化

Ro = 常數(shù)

t = 時間

T = 絕對溫度,開爾文 (°C + 273°)= 活化能,電子伏特 (ev)

K = 波爾茲曼常數(shù) = 8.62 × 10?5 ev/°K

這個公式也可以寫成以下形式:

AF = 加速因子

T2 = 用戶溫度

T1 = 實(shí)際測試溫度

Arrhenius 公式指出反應(yīng)速率隨溫度呈指數(shù)增加。當(dāng)在對數(shù)線性紙上繪制時,這會產(chǎn)生一條直線,其斜率在物理上被解釋為特定反應(yīng)或故障機(jī)制的能量閾值。

可靠性認(rèn)證/評估大綱

安森美可靠性和質(zhì)量保證工程的部分職能是評估新產(chǎn)品的引入、工藝變化(無論是小變化還是大變化)和產(chǎn)品線更新,以驗(yàn)證完整性、可靠性和一致性,從而確保在實(shí)際應(yīng)用中能發(fā)揮出令人滿意的性能??煽啃栽u估可能需要進(jìn)行一系列廣泛的可靠性測試,例如“已執(zhí)行的測試”部分中概述的測試,或根據(jù)認(rèn)證要求進(jìn)行的特殊測試。

審核編輯:湯梓紅

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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原文標(biāo)題:確保IGBT產(chǎn)品可靠性,需要經(jīng)過哪些測試?

文章出處:【微信號:onsemi-china,微信公眾號:安森美】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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