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知用CYBERTEK近場探頭EM5030E的特征及其應(yīng)用

PRBTEK ? 來源:PRBTEK ? 作者:PRBTEK ? 2024-02-29 11:02 ? 次閱讀

EM5030/EM5030LF 系列探頭組包含了 7 個專門用來測試磁場(H)探頭,它有效地屏蔽了電場干擾(E),主要用于電磁兼容整改時(shí)定位干擾源的近場探頭。EM5030 的頻率范圍是 30MHz-3GHz,共4 種探頭形狀;EM5030LF 的頻率范圍是 9kHz-50MHz,共 3 種探頭形狀。

探頭通過 50? 的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當(dāng)產(chǎn)品的輻射或傳導(dǎo)干擾超過標(biāo)準(zhǔn)時(shí),可用近場探頭來尋找產(chǎn)品中哪個元件或電路產(chǎn)生了該頻率的干擾,能夠檢測模塊之間的耦合通道以及評估系統(tǒng)內(nèi)信號切換速率、RF 電壓等。當(dāng)干擾信號比較弱時(shí),可以配合EM5020A(20dB 增益)或者EM5020B(30dB增益)前置射頻射頻放大器可以提高系統(tǒng)測試靈敏度。

應(yīng)用:

EMI 輻射干擾源定位

電磁場強(qiáng)度檢測

使用示意圖:

wKgZomXf87eAcVgPAABeOVqrYtY57.jpeg

審核編輯 黃宇

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