電路板測試之探針間距
探針間距是指在電路板測試過程中，探針之間的中心到中心距離。在理想情況下，電路板應使用行業(yè)標準的100mil彈簧探針進行測試。這種探針設(shè)計低成本且可靠，適用于探測中心到中心距離為100mil或更大的電路點。
然而，有時候電路板上的器件間距可能不符合100mil的標準。在這種情況下，可以使用標準的探針設(shè)計來適配較小的間距。例如，可以使用75mil間距的探針設(shè)計，或者甚至更小的50mil間距或更近的間距，以滿足實際需求。
需要注意的是，隨著探針尺寸的減小，成本會增加，并且獲得高可靠性也變得更加困難。較小的探針尺寸可能需要更高的制造精度和材料要求，以確保其可靠性和穩(wěn)定性。因此，在選擇探針尺寸時，需要權(quán)衡成本和可靠性之間的關(guān)系，并根據(jù)實際情況做出合理的選擇。
審核編輯：黃飛
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原文標題：探針間距
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