當前，AI技術(shù)的大規(guī)模應(yīng)用加速推動了光模塊需求的釋放。相應(yīng)的，針對高密度、穩(wěn)定可靠的高速光互聯(lián)技術(shù)迎來重大機遇和挑戰(zhàn)。隨著光模塊速率越來越高，其內(nèi)部光電互聯(lián)結(jié)構(gòu)越來越復(fù)雜，需要測量的參數(shù)逐漸變多，常規(guī)測量方法已逐漸不能滿足全部測量需求。而高精度分布式的光頻域測量技術(shù)將填補常規(guī)設(shè)備不能測到的參量空白，補全高速光互聯(lián)、硅光芯片、光纖鏈路、耦合對接等各方面的測試標準和規(guī)范。

武漢昊衡科技有限公司2017年推出第一臺高分辨光學鏈路診斷系統(tǒng)OCI，經(jīng)過多年打磨完善，尤其針對硅光互聯(lián)，光纖、光波導(dǎo)等各種復(fù)雜的光鏈路均有很好測量效果，能夠滿足各種上下游客戶的各種場景案例測量。目前，該款產(chǎn)品還研制了不同版本，以針對不同客戶場景不同功能的選配，以便客戶調(diào)整測試功能與成本，實現(xiàn)最佳購買性價比。其事件點定位精度高達0.1mm，噪聲靈敏度可達-130dB，波長重復(fù)精度±1pm，延時測量精度1ps。除此之外，該產(chǎn)品還能測試鏈路的光譜、插回損、距離、偏振、色散、延遲等相關(guān)光學參量，可廣泛用于光器件、光纖、對接及耦合、硅光及波導(dǎo)等各種光通信測試場景。

OCI 高分辨光學鏈路診斷儀

OCI 檢測高速光模塊內(nèi)部現(xiàn)在越來越多的光模塊公司對基于OFDR技術(shù)測試硅光模塊感到興趣。隨著市場容量越來越大，光互聯(lián)技術(shù)的不斷發(fā)展，新的案例、樣品也將越來越復(fù)雜，測試標準也會逐步變高。相信使用OFDR技術(shù)對光通信產(chǎn)品做測試應(yīng)用會成為未來熱門的測試手段。