沒有標(biāo)識的貼片電容要怎么估算它的容量，怎么進(jìn)行檢測以及怎樣應(yīng)用代換呢?

一、如何對無標(biāo)識貼片電容的容量估算

1)用于開關(guān)電源電路的供電輸出端及IC電路的供電輸入端的貼片電容。如下圖：

在供電輸出端，與(濾波)電解電容并聯(lián)在一起。因電解電容系導(dǎo)電極板和絕緣介質(zhì)卷繞在一起，具有“電感效應(yīng)”，高頻濾波效果差。并聯(lián)小容量電容，濾除整流后的高頻紋波成分。電路中IC的供電端，也都加有高頻濾波電容，以吸收(可能存在由引線形成的寄生電感或由某種干擾帶來的)電源擾動。此類電容的電容量一般為0.01~0.1μF左右。該類電容對容量要求并不嚴(yán)格，故障率也比較低。如檢查發(fā)現(xiàn)有損壞，換用0.01~0.1μF范圍內(nèi)的電容都是可以的。

2)信號通路中的低通濾波器用到的貼片電容。低通濾波器電路，用于對信號中的某一頻段內(nèi)的高頻成分進(jìn)行衰減和吸收，只要求其中的信號中的低頻成分(甚至直流成分)通過。變頻器的信號傳輸通路中，多用于將脈動直流信號經(jīng)RC電路轉(zhuǎn)化成直流信號，因而該電路中的電容量大致在0.01~0.47μF左右，因?yàn)?a target="_blank">電阻R的作用，雖然電容量較小，但RC總的時(shí)間常數(shù)并不小，也能達(dá)到較好的濾波效果。如不好確認(rèn)容量大小，可以用0.01~0.47μF以內(nèi)容量的電容試驗(yàn)，以經(jīng)RC濾波后無明顯脈沖動成分為宜。

3)具有特定容量的貼片電容。如MCU晶振引腳的補(bǔ)償電容，其容量與MCU類型和晶振頻率相關(guān)，可由MCU的相關(guān)資料，和晶振元件的標(biāo)注頻率值，確定該電容的容量，一般為33PF或22PF、15PF。

二、貼片電容的損壞現(xiàn)象和檢測方法：

a、同一類型的電容，個(gè)頭越大或顏色越深，容量也越大。電容的容量可以用專用的電容測試儀來測定，目前一些數(shù)字萬用表，也附加此項(xiàng)功能。測電容量時(shí)，須將貼片電容至少脫開一端，排除外電路的影響后，再行檢測。

b、用萬用表檢測。如果在線檢測，萬用表測量得出電容兩引腳之間的的電阻值，其實(shí)是與電容相連接的外電路“綜合電阻值”，若電容處于短路或近于短路情況(電阻值極低)下，才能有所反映。將電容器脫開塬電路，測量其電阻值應(yīng)為無窮大。用指針表的×10k擋測量時(shí)，0.1μF左右的電容指針有跳動(充電)現(xiàn)象，靜止后歸于無窮大。若測得固定電阻值，說明電容損壞。

c、上電檢測，由電路判斷該點(diǎn)電壓低落，可能是電容漏電引起，見下圖電路示例。這也是一個(gè)比較好的方法。

如下圖6所示電路中，測量a點(diǎn)電壓正常值應(yīng)為R221、R22對3V供電的分壓值1.5V，若測量電壓值高于1.5V，可能系電容C112漏電損壞所致;測b點(diǎn)電壓正常值應(yīng)為3V，若低于3V，可能系電容C56漏電損壞所致。

電壓漏電引起A點(diǎn)電壓降低進(jìn)一步可將C112或C56焊脫電路，對其引腳電阻值進(jìn)行測量驗(yàn)證。當(dāng)貼片電容損壞時(shí)，也同確定貼片電阻的阻值一樣，可參考同類電路，測出好的電容元件的電容量，來確定故障電容的參數(shù)。如晶振引腳電容壞掉一只，測另一腳電容元件的電容量即可，兩只電容的容量是一樣的。

三、故障電容的代換

貼片電容的故障率較低，各種規(guī)格的貼片電容都要備件，顯然不是現(xiàn)實(shí)的。偶爾發(fā)現(xiàn)損壞元件時(shí)，用普通的同容量瓷片或絳綸電容來代換，是完全可以的，注意引線盡量要短，焊接質(zhì)量要好。

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審核編輯 黃宇