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4644 DC-DC電源芯片測試項目大全

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2024-08-01 17:47 ? 次閱讀

國產(chǎn)化4644電源芯片在各大產(chǎn)業(yè)逐漸興起,為了確保dc-dc電源管理芯片的穩(wěn)定運行,需要對芯片進行全面檢測

電源管理芯片

電源芯片測試環(huán)境

測試環(huán)境是影響電源芯片測試精準度的因素之一,在測試過程中要盡量將環(huán)境干擾降到最低。通常情況下,電源芯片測試需要在以下環(huán)境下進行:

溫度:25±2℃

濕度:60%~70%

大氣壓強:86kPa~106kPa

電源管理芯片測試設備

測試電源管理芯片用到的儀器主要有:

直流電源

電子負載

數(shù)字萬用表

示波器

隨著對電源芯片的性能和質(zhì)量要求越來越高,自動化測試系統(tǒng)已成為電源管理芯片測試的重要組成部分。在電源芯片自動化測試過程中,除了上述測試設備外,還需要一套自動測試系統(tǒng),與測試儀器集成在一個測試柜中,完成電源芯片項目的自動化測試。

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電源管理芯片測試系統(tǒng)

納米軟件在ATECLOUD測試平臺基礎上開發(fā)了NSAT-2000電源管理芯片測試系統(tǒng),用于測試4644系列電源管理芯片以及其它電源芯片。該系統(tǒng)可兼容4644系列產(chǎn)品的測試,只需一套系統(tǒng)即可測試,節(jié)省了額外開發(fā)系統(tǒng)的成本。

為了提升測試工作效率,加快電源芯片測試速度,電源芯片測試系統(tǒng)的自動化測試柜支持兼容測試工裝,通常由測試公板和子板組成,只需替換測試子板來檢測不同規(guī)格、型號的電源芯片。

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電源芯片測試機柜

電源芯片微模塊測試項目

完整全面檢測電源芯片的性能,一般需要測試以下項目:

1. 輸入電壓范圍:在測試時改變產(chǎn)品的輸入電壓,測量產(chǎn)品在設定輸入范圍內(nèi)是否正常輸出。

2. 輸出電壓范圍:在測試時通過改變產(chǎn)品輸出端的分壓電阻,測量產(chǎn)品是否正常輸出。

3. 輸出紋波:測量直流電壓的交流成分和噪聲,通過測量其波形的峰峰值,判斷產(chǎn)品輸出的穩(wěn)定程度。其峰峰值越小,產(chǎn)品越穩(wěn)定。

4. 電壓調(diào)整率:檢測輸入電壓變化對輸出電壓的影響,電壓調(diào)整率越小說明影響越小,電源芯片性能就越穩(wěn)定。

5. 負載調(diào)整率:用來檢測負載變化對輸出電壓的影響,通常性能穩(wěn)定的電源芯片負載調(diào)整率較小。

6. 反饋端電壓:是測量每路對應的FB引腳電壓。

7. 欠壓關斷:在輸入電壓過低的時候,輸出就會停止工作即輸出為0,欠壓關斷就是測量輸出端停止工作時的輸入電壓,稱之為關斷點。

8. 欠壓恢復滯后:輸入電壓從關斷點升高至輸出恢復正常,此時恢復點和關斷點存在壓差即為欠壓恢復滯后。

除此之外,還需要測試輸入偏置電流、輸出電流、輸出電流限制、啟動過沖、啟動延時、負載躍變電壓、效率測試、效率曲線等等。

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4644電源芯片測試項目

電源芯片測試是保證電源管理芯片質(zhì)量和性能的關鍵環(huán)節(jié),在測試過程中要符合相關標準,確保測試的可靠性和準確性。電源管理芯片測試系統(tǒng)詳情具體可前往納米軟件官網(wǎng)了解。

審核編輯 黃宇

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