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基于Xilinx Kintex UltraScale 技術(shù)的全新PXI FlexRIO架構(gòu)介紹

Hx ? 作者:工程師陳翠 ? 2018-06-30 10:37 ? 次閱讀

全新的PXI FlexRIO示波器與PXI FlexRIO協(xié)處理器模塊相結(jié)合,無(wú)需通過(guò)自定義設(shè)計(jì), 即可提供自定義硬件解決方案。

NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司,National Instruments,簡(jiǎn)稱NI) 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供基于平臺(tái)的系統(tǒng)解決方案來(lái)應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商,近日宣布推出集成Mezzanine I/O模塊與Xilinx Kintex UltraScale FPGA的全新PXI FlexRIO架構(gòu)硬件平臺(tái)。 基于此全新架構(gòu)推出的第一批產(chǎn)品,包含兩款高分辨率PXI FlexRIO示波器、三款專用PXI FlexRIO協(xié)處理器模塊,以及一款可協(xié)助進(jìn)行自定義前端開(kāi)發(fā)的模塊開(kāi)發(fā)包。

FlexRIO產(chǎn)品線將可自定義的I/O與用戶可編程FPGA組合到可重配置的高性能儀器,用戶可使用LabVIEW FPGA模塊對(duì)其進(jìn)行編程。 采用Kintex UltraScale FPGA后,相較于先前基于Kintex-7 架構(gòu)的FlexRIO模塊,全新的FlexRIO架構(gòu)能提供更多可編程資源。 此外,全新的Mezzanine架構(gòu)可兼容單個(gè)3U集成式PXI模塊中的I/O模塊與FPGA后端。 這些全新的FlexRIO模塊采用PCI Express Gen 3 x8連接,具有高達(dá)7 GB/s的數(shù)據(jù)傳輸帶寬,因此能與機(jī)箱內(nèi)的其他模塊進(jìn)行高速通信。

“FPGA 與高性能數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器是不斷突破探索與創(chuàng)新過(guò)程中不可或缺的技術(shù);但要部署到自定義設(shè)計(jì)環(huán)境中,卻又困難重重?!癗I 模塊化儀器研發(fā)部門(mén)副總裁Steve Warntjes表示, “一直以來(lái),F(xiàn)lexRIO都幫助工程師與科學(xué)家運(yùn)用最新FPGA與轉(zhuǎn)換器技術(shù)等現(xiàn)成解決方案,更快速將各種想法變成現(xiàn)實(shí)。全新的FlexRIO架構(gòu),進(jìn)一步加速了這一愿景?!?/p>

全新的FlexRIO模塊運(yùn)用最高性能的FPGA與A/D轉(zhuǎn)換器技術(shù),非常適用于遠(yuǎn)程感應(yīng)、信號(hào)情報(bào)、通信與粒子物理等高級(jí)應(yīng)用。 全新模塊包括:

數(shù)字化儀模塊 – 全新的PXI FlexRIO數(shù)字化儀無(wú)需犧牲動(dòng)態(tài)范圍即可提供高速采樣率與高帶寬。 PXIe-5763與PXIe-5764分別提供500 MS/s與1 GS/s的采樣率。 兩款模塊皆可提供16位分辨率,而四個(gè)通道總共可提供400 MHz的帶寬。

協(xié)處理器模塊 – 提供專屬Kintex UltraScale PXI FlexRIO協(xié)處理器模塊,將實(shí)時(shí)信號(hào)處理功能納入系統(tǒng)。 內(nèi)含這類模塊的機(jī)箱,可為每個(gè)NI系統(tǒng)內(nèi)的每U機(jī)架空間提供最高密度的計(jì)算資源。

模塊開(kāi)發(fā)包 – 先從LabVIEW可編程的FlexRIO FPGA后端著手,再設(shè)計(jì)自定義I/O模塊,以滿足更獨(dú)特的應(yīng)用需求。

FlexRIO是NI平臺(tái)和生態(tài)系統(tǒng)的重要組成部分,可幫助工程師構(gòu)建更智能的測(cè)試和測(cè)試系統(tǒng)。 這些系統(tǒng)將受益于從直流到毫米波等不同工作頻率范圍的600多個(gè)PXI產(chǎn)品。它們采用PCI Express第三代總線接口,具有高吞吐量數(shù)據(jù)移動(dòng),同時(shí)具有亞納秒級(jí)同步以及集成的定時(shí)和觸發(fā)。 NI平臺(tái)受到一個(gè)由合作伙伴、附加IP和應(yīng)用工程師組成的活躍生態(tài)系統(tǒng)的支持,可幫助工程師大幅降低測(cè)試成本,縮短上市時(shí)間以及確保測(cè)試裝置能夠適應(yīng)未來(lái)需求,解決未來(lái)挑戰(zhàn)。

閱讀本技術(shù)白皮書(shū),了解全新的FlexRIO架構(gòu)如何幫助工程師建構(gòu)更智能的測(cè)試與測(cè)量系統(tǒng)。

關(guān)于NI

自1976年以來(lái),NI ( ) 一直致力于提供各種強(qiáng)大的基于平臺(tái)的系統(tǒng)來(lái)幫助工程師和科學(xué)家提高效率和加速創(chuàng)新,以解決全球面臨的重大工程挑戰(zhàn)。 從醫(yī)療、汽車(chē)、消費(fèi)電子產(chǎn)品到粒子物理等各行各業(yè)的客戶正在使用NI的集成軟硬件平臺(tái)來(lái)改善我們生活的環(huán)境。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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