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電阻失效分析報告

方齊煒 ? 來源:jf_48691434 ? 作者:jf_48691434 ? 2024-11-03 10:42 ? 次閱讀

一、概述

客戶反饋一款規(guī)格為1206 精度1% 阻值100kΩ的厚膜電阻,在電路板上使用一個月后出現阻值減小,導致采樣偏差。為查明原因,需要我司代為對該電阻進行了詳細的失效分析。

二、樣品信息

電阻規(guī)格:1206,1%,100kΩ

樣品數量:2件(從同一串聯線路拆卸)

三、異常品分析

外觀檢查

對客戶提供的樣品進行目視檢查,發(fā)現產品結構完整,外觀無明顯異常。

阻值測量

使用LCR電橋在1V電壓下測量阻值,結果顯示2件樣品的阻值均符合規(guī)格標準。

高壓測試

鑒于客戶在負載條件下發(fā)現阻值偏低,使用高壓絕緣測試儀對產品進行高壓測量:

在85V電壓下,樣品1的阻值明顯下降。

當電壓升至150V時,樣品1的阻值下降更為顯著。

樣品2在不同電壓下的阻值變化不大。

表面處理后測量

對樣品進行清洗,并剝離表面保護層后再次測量阻值。結果與未處理前相比無明顯差異:低壓測量阻值正常,高壓測量阻值仍偏低。

修阻線檢查

檢查修阻線內部,未發(fā)現異常的電阻膏殘留。如果存在殘留,可能在高壓下引起漏電現象。

阻抗層成分分析

對阻抗層進行成分分析,未發(fā)現成分異常,排除了阻值層表面存在異常物質導致高壓下并聯現象的可能性。

未使用品測試

從客戶提供的未使用品中抽取100件,分別在低壓(1V)和高壓(85V/150V)條件下進行阻值測試,結果均保持穩(wěn)定。

四、失效原因分析

綜合以上分析,推斷導致產品失效的主要原因是電阻體的劣化。厚膜電阻的阻值層由導體(氧化釕)和絕緣體(玻璃釉)混合形成,其導電面積對電阻性能至關重要。若導電面積過小,會導致:

電阻體提前劣化:內部絕緣部分的絕緣性下降。

高壓下漏電:在低壓環(huán)境下不明顯,但在高壓條件下會導致絕緣體漏電,造成阻值下降。

為驗證上述推斷,對產品電阻體進行了深入分析:

設計與修阻因素:導電面積過小可能源于設計問題或修阻過程。但從樣品的阻抗層觀察,長度和寬度均符合行業(yè)標準,未見明顯異常。

厚度比較:對產品進行側面切片,與同行其他品牌比較,發(fā)現該電阻體的厚度確實偏薄。

五、異常復現試驗

對客戶提供的未使用品和其他品牌的電阻進行高壓老化測試:

測試條件:高壓老化100小時。

測試結果:

客戶未使用品在老化后出現明顯的阻值漂移。

在低壓下阻值正常,高壓下阻值偏低。

其他品牌產品未出現類似現象。

六、結論

通過上述分析,確定電阻失效的原因是電阻體導電面積過小,導致產品提前劣化,耐高壓能力不足。

審核編輯 黃宇

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