任何產(chǎn)品只要使用公共電網(wǎng)或帶有電子電路,都必須滿(mǎn)足 EMC ( 電磁兼容性 ) 要求。而在EMC中, EMI的問(wèn)題始終是工程師關(guān)心的話(huà)題。因?yàn)镋MI的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試只能知道產(chǎn)品符不符合EMI的認(rèn)證要求。一旦不符合要求,它無(wú)法提供超標(biāo)的輻射源的位置和傳播途徑,這樣工程師就無(wú)從下手做整改。
EMI輻射近場(chǎng)測(cè)試是一種相對(duì)量測(cè)試,它可以把被測(cè)件的測(cè)試結(jié)果與基準(zhǔn)件的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比較,以預(yù)測(cè)被測(cè)件通過(guò)一致性測(cè)試的可能性,并且通過(guò)探頭的檢測(cè)能快速精準(zhǔn)的告訴工程師,嚴(yán)重的輻射問(wèn)題到底是來(lái)自于 USB、LAN 之類(lèi)的通信接口,還是來(lái)自殼體的縫隙,或來(lái)自連接的電纜乃至電源線(xiàn),幫助工程師查找和定位輻射源位置和傳播路徑,及評(píng)估整改后的效果。
因此,「世強(qiáng)&Keysight」開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室也針對(duì)EMI預(yù)兼容(輻射)近場(chǎng)測(cè)量提供了N9000B+N6141C+近場(chǎng)探頭,幫助工程師對(duì)你設(shè)計(jì)執(zhí)行預(yù)兼容測(cè)量和診斷評(píng)測(cè)。具體包括:
輕松識(shí)別超出標(biāo)準(zhǔn)極限值的器件發(fā)射
頻率掃描
使用掃描表設(shè)置頻率范圍
使用△至極限值的傳導(dǎo)發(fā)射與掃描表
調(diào)諧和偵聽(tīng)頻率掃描表中的信號(hào)
使用儀表進(jìn)行的輻射掃描
使用條形圖查看隨時(shí)間變化的信號(hào)
條形圖
生成測(cè)試結(jié)果的報(bào)告
報(bào)告生成
時(shí)域掃描加速測(cè)試
分辨率帶寬與FFT采集帶寬的對(duì)比
自動(dòng)單擊測(cè)量
簡(jiǎn)化和自動(dòng)執(zhí)行數(shù)據(jù)收集、分析和報(bào)告生成,更高效地完成單擊測(cè)量
利用最小的檢測(cè)頻譜找到最大的發(fā)射
檢測(cè)頻譜發(fā)現(xiàn)峰值發(fā)射的頻率
準(zhǔn)備執(zhí)行APD測(cè)量
利用APD功能為未來(lái)應(yīng)用做好準(zhǔn)備
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原文標(biāo)題:「世強(qiáng)&Keysight」開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室介紹第三彈:EMI預(yù)兼容(輻射)近場(chǎng)測(cè)量方案
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