發(fā)光效率概述
發(fā)光效率是一個(gè)光源的參數(shù),它是光通量與功率的比值。根據(jù)情況不同,此功率可以指光源輸出的輻射通量,或者是提供光源的能(可以是電能,化學(xué)能等)。發(fā)光效率中的功率通常要根據(jù)情境而定,但在很多情況下都指代不明。
發(fā)光效率的換算
λ0、λi各為發(fā)射及激發(fā)光的波長(zhǎng)。由于斯托克斯位移,常有ηq≥ηp的關(guān)系。
發(fā)光效率還可分為外部效率及內(nèi)部效率;外部效率只考慮輸出的光能與投向發(fā)光體的光能或電能之比,而且是吸收的能量轉(zhuǎn)化為光能的純轉(zhuǎn)化效率。輸入光由于反射和再吸收受到損失,因此,外部效率總是小于(或接近于)內(nèi)部效率,后者才是反映能量轉(zhuǎn)換過(guò)程的真實(shí)參數(shù)。
日光燈的發(fā)光效率
發(fā)光效率的大小反映發(fā)光體內(nèi)部能量激發(fā)、能量傳遞、復(fù)合發(fā)光以及無(wú)輻射復(fù)合過(guò)程的總效果,它與發(fā)光體的成分、發(fā)光中心的種類(lèi)及濃度、共激活劑的選擇、有害雜質(zhì)(猝滅中心)的控制以及發(fā)光晶體的完整性,甚至與具體的工藝過(guò)程有關(guān)。
下表列出幾類(lèi)實(shí)用發(fā)光體光度效率的參考值:
什么是LED發(fā)光效率
LED發(fā)光效率:一般稱(chēng)為組件的外部量子效率,其為組件的內(nèi)部量子效率與組件的取出效率的乘積。所謂組件的內(nèi)部量子效率,其實(shí)就是組件本身的電光轉(zhuǎn)換效率,主要與組件本身的特性(如組件材料的能帶、缺陷、雜質(zhì))、組件的壘晶組成及結(jié)構(gòu)等相關(guān)。而組件的取出效率則指的是組件內(nèi)部產(chǎn)生的光子,在經(jīng)過(guò)組件本身的吸收、折射、反射后,實(shí)際在組件外部可測(cè)量到的光子數(shù)目。因此,關(guān)于取出效率的因素包括了組件材料本身的吸收、組件的幾何結(jié)構(gòu)、組件及封裝材料的折射率差及組件結(jié)構(gòu)的散射特性等。而組件的內(nèi)部量子效率與組件的取出效率的乘積,就是整個(gè)組件的發(fā)光效果,也就是組件的外部量子效率。早期組件發(fā)展集中在提高其內(nèi)部量子效率,主要方法是通過(guò)提高壘晶的質(zhì)量及改變壘晶的結(jié)構(gòu),使電能不易轉(zhuǎn)換成熱能,進(jìn)而間接提高LED的發(fā)光效率,從而可獲得70%左右的理論內(nèi)部量子效率,但是這樣的內(nèi)部量子效率幾乎已經(jīng)接近理論上的極限。在這樣的狀況下,光靠提高組件的內(nèi)部量子效率是不可能提高組件的總光量的,因此提高組件的取出效率便成為重要的研究課題。目前的方法主要是:晶粒外型的改變--TIP結(jié)構(gòu),表面粗化技術(shù)。
led發(fā)光效率一般多少
LED的光效=LED的光通量(即流明值)除以(正常電流驅(qū)動(dòng)下的電壓值和電流的乘積)
比如:3528貼片規(guī)格 20mA 驅(qū)動(dòng)時(shí)的電壓為3.1V,光通量 8.5lm 那么它的光效就是:8.5/(3.1*0.02)=137 lm/W
led發(fā)光效率的影響因素有哪些
目前,市場(chǎng)上功率型LED高流明效率一般產(chǎn)品規(guī)格大約處在50lm/W左右,還達(dá)不到家庭日常照明的要求。因此,要使功率型白光LED真正進(jìn)入照明領(lǐng)域,實(shí)現(xiàn)家庭日常照明,需要解決的問(wèn)題很多,其中重要的就是發(fā)光效率。盡管能夠影響白光LED發(fā)光效率的因素有很多種,不過(guò)以下幾種因素值得大家注意:
1、螢光粉激發(fā)光譜的寬窄也會(huì)影響出光的光效。
2、顆粒度比較大的螢光粉會(huì)直接降低發(fā)光強(qiáng)度,也成為了不少螢光粉廠的致命傷。
3、能直接影響白光LED的壽命是螢光粉的抗衰老性,其次是環(huán)氧樹(shù)脂的抗衰老性。
4、LED的基板載片區(qū)或反射杯引線(xiàn)框架(支架)的反射效率的好壞,也是影響發(fā)光強(qiáng)度的關(guān)鍵因素。
提高LED的發(fā)光效率的六種技術(shù)
1、透明襯底技術(shù)InGaAlP
LED通常是在GaAs襯底上外延生長(zhǎng)InGaAlP發(fā)光區(qū)GaP窗口區(qū)制備而成。與InGaAlP相比,GaAs材料具有小得多的禁帶寬度,因此,當(dāng)短波長(zhǎng)的光從發(fā)光區(qū)與窗口表面射入GaAs襯底時(shí),將被悉數(shù)吸收,成為器件出光效率不高的主要原因。在襯底與限制層之間生長(zhǎng)一個(gè)布喇格反射區(qū),能將垂直射向襯底的光反射回發(fā)光區(qū)或窗口,部分改善了器件的出光特性。一個(gè)更為有效的方法是先去除GaAs襯底,代之于全透明的GaP晶體。由于芯片內(nèi)除去了襯底吸收區(qū),使量子效率從4%提升到了25-30%。為進(jìn)一步減小電極區(qū)的吸收,有人將這種透明襯底型的InGaAlP器件制作成截角倒錐體的外形,使量子效率有了更大的提高。
2、金屬膜反射技術(shù)
透明襯底制程首先起源于美國(guó)的HP、Lumileds等公司,金屬膜反射法主要有日本、***廠商進(jìn)行了大量的研究與發(fā)展。這種制程不但回避了透明襯底專(zhuān)利,而且,更利于規(guī)模生產(chǎn)。其效果可以說(shuō)與透明襯底法具有異曲同工之妙。該制程通常謂之MB制程,首先去除GaAs襯底,然后在其表面與Si基底表面同時(shí)蒸鍍Al質(zhì)金屬膜,然后在一定的溫度與壓力下熔接在一起。如此,從發(fā)光層照射到基板的光線(xiàn)被Al質(zhì)金屬膜層反射至芯片表面,從而使器件的發(fā)光效率提高2.5倍以上。
3、表面微結(jié)構(gòu)技術(shù)
表面微結(jié)構(gòu)制程是提高器件出光效率的又一個(gè)有效技術(shù),該技術(shù)的基本要點(diǎn)是在芯片表面刻蝕大量尺寸為光波長(zhǎng)量級(jí)的小結(jié)構(gòu),每個(gè)結(jié)構(gòu)呈截角四面體狀,如此不但擴(kuò)展了出光面積,而且改變了光在芯片表面處的折射方向,從而使透光效率明顯提高。測(cè)量指出,對(duì)于窗口層厚度為20μm的器件,出光效率可增長(zhǎng)30%。當(dāng)窗口層厚度減至10μm時(shí),出光效率將有60%的改進(jìn)。對(duì)于585-625nm波長(zhǎng)的LED器件,制作紋理結(jié)構(gòu)后,發(fā)光效率可達(dá)30lm/w,其值已接近透明襯底器件的水平。
4、倒裝芯片技術(shù)
通過(guò)MOCVD技術(shù)在蘭寶石襯底上生長(zhǎng)GaN基LED結(jié)構(gòu)層,由P/N結(jié)發(fā)光區(qū)發(fā)出的光透過(guò)上面的P型區(qū)射出。由于P型GaN傳導(dǎo)性能不佳,為獲得良好的電流擴(kuò)展,需要通過(guò)蒸鍍技術(shù)在P區(qū)表面形成一層Ni-Au組成的金屬電極層。P區(qū)引線(xiàn)通過(guò)該層金屬薄膜引出。為獲得好的電流擴(kuò)展,Ni-Au金屬電極層就不能太薄。為此,器件的發(fā)光效率就會(huì)受到很大影響,通常要同時(shí)兼顧電流擴(kuò)展與出光效率二個(gè)因素。但無(wú)論在什么情況下,金屬薄膜的存在,總會(huì)使透光性能變差。此外,引線(xiàn)焊點(diǎn)的存在也使器件的出光效率受到影響。采用GaNLED倒裝芯片的結(jié)構(gòu)可以從根本上消除上面的問(wèn)題。
5、芯片鍵合技術(shù)
光電子器件對(duì)所需要的材料在性能上有一定的要求,通常都需要有大的帶寬差和在材料的折射指數(shù)上要有很大的變化。不幸的是,一般沒(méi)有天然的這種材料。用同質(zhì)外延生長(zhǎng)技術(shù)一般都不能形成所需要的帶寬差和折射指數(shù)差,而用通常的異質(zhì)外延技術(shù),如在硅片上外延GaAs和InP等,不僅成本較高,而且結(jié)合接口的位錯(cuò)密度也非常高,很難形成高質(zhì)量的光電子集成器件。由于低溫鍵合技術(shù)可以大大減少不同材料之間的熱失配問(wèn)題,減少應(yīng)力和位錯(cuò),因此能形成高質(zhì)量的器件。隨著對(duì)鍵合機(jī)理的逐漸認(rèn)識(shí)和鍵合制程技術(shù)的逐漸成熟,多種不同材料的芯片之間已經(jīng)能夠?qū)崿F(xiàn)互相鍵合,從而可能形成一些特殊用途的材料和器件。如在硅片上形成硅化物層再進(jìn)行鍵合就可以形成一種新的結(jié)構(gòu)。由于硅化物的電導(dǎo)率很高,因此可以代替雙極型器件中的隱埋層,從而減小RC常數(shù)。
6、激光剝離技術(shù)(LLO)
激光剝離技術(shù)(LLO)是利用激光能量分解GaN/藍(lán)寶石接口處的GaN緩沖層,從而實(shí)現(xiàn)LED外延片從藍(lán)寶石襯底分離。技術(shù)優(yōu)點(diǎn)是外延片轉(zhuǎn)移到高熱導(dǎo)率的熱沉上,能夠改善大尺寸芯片中電流擴(kuò)展。n面為出光面:發(fā)光面積增大,電極擋光小,便于制備微結(jié)構(gòu),并且減少刻蝕、磨片、劃片。更重要的是藍(lán)寶石襯底可以重復(fù)運(yùn)用。
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led
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發(fā)光效率
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