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開放實驗室:測量LCR及阻抗特性

世強SEKORM ? 來源:未知 ? 作者:工程師郭婷 ? 2018-07-20 10:54 ? 次閱讀

為什么免費開放實驗室

解決企業(yè)測試場地,資金,技術支持的問題,有效縮短研發(fā)時間

為解決企業(yè)的測試煩惱,快速有效的實現(xiàn)項目測試,開放實驗室給出了解決辦法。

開放實驗室免費供外界使用,所有企業(yè),只要事先申請、登記,均可在開放實驗室進行檢測

開放實驗室可提供IoT物聯(lián)網射頻性能測試方案、EMI預兼容(輻射)近場測量方案、低功耗測量方案、無線充電傳輸效率測量方案、材料+LCR參數(shù)測量方案。

LCR測試,我們有什么

開放實驗室針對LCR及阻抗特性測量提供E5061B網絡分析儀和4263B LCR測試儀。

可應用于元器件規(guī)格的確認、元器件阻抗特性的表征,未知器件的屬性判斷和無線充電收、發(fā)線圈的電路參數(shù)調整等。

E5061B網絡分析儀

重要特性和功能:

寬頻率范圍:5Hz至3GHz

S參數(shù)測試端口(5Hz至3GHz,50Ω)

增益相位測試端口,具有內置的 1 MΩ輸入(5 Hz 至 30 MHz)

在低頻頻段也有很高的寬動態(tài)范圍

內置直流偏置信號源 (高達±40 Vdc, 100 mAdc 最大值)

可實現(xiàn):

基本的低頻網絡測量

大衰減和毫歐姆量級器件的測量

測量器件的阻抗

阻抗參數(shù):|Z|、 θz 、|Y|、θy、 Cp、 Cs、 Lp、 Ls、 Rp、 Rs、 D、 Q、 R、 X、 G、 B

4263B LCR測試儀

重要特性和功能:

100 Hz、120 Hz、1 kHz、10 kHz、100 kHz測試頻率

測試信號電平監(jiān)測功能

高速測量:25 ms

高速接觸檢查

可實現(xiàn):

測量參數(shù):|Z|、|Y|、u、R、X、G、B、L、C、Q、D、ESR

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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原文標題:「世強&Keysight」開放實驗室介紹第五彈:LCR參數(shù)測量方案

文章出處:【微信號:sekorm_info,微信公眾號:世強SEKORM】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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