1.1 傳統(tǒng)(已知)直通校準(zhǔn)方法的誤差模型
傳統(tǒng)的同軸系統(tǒng)校準(zhǔn)方法通常叫TOSM----Through Open Short Match(又稱SOLT----Short Open Load Through),是基于早期的網(wǎng)絡(luò)分析儀的3接收節(jié)架構(gòu)的一種校準(zhǔn)方法(以2端口網(wǎng)絡(luò)分析儀為例,可以統(tǒng)稱為N+1結(jié)構(gòu),即端口數(shù)為N,接收機(jī)數(shù)目為N+1)。該架構(gòu)中,參考接收機(jī)是兩個(gè)端口之間共享的,通過(guò)開關(guān)分別在兩個(gè)端口之間切換。因此誤差模型是12項(xiàng)誤差模型,這也是經(jīng)典的網(wǎng)絡(luò)分析儀誤差模型,如圖1和2所示,一般分為正向和反向兩個(gè)子模型,通常可以省略串?dāng)_項(xiàng)ex和ex’,即簡(jiǎn)化為10項(xiàng)誤差模型。該模型里面的各個(gè)誤差項(xiàng)eij的含義如表1。實(shí)際網(wǎng)絡(luò)分析儀中,e10、e32、e23、e01或e'01、e'23、e'32、e'10值不會(huì)等于0,因此可以將這8個(gè)項(xiàng)中的某2項(xiàng)指定為非零的任意值,這會(huì)改變波量(wave quantity)的絕對(duì)值,但是不會(huì)影響波量之間的比值(S參數(shù)的定義是波量之間的比值)因此這里假設(shè)e10=1和e'23=1,這樣就得到10個(gè)獨(dú)立的誤差項(xiàng),即10個(gè)獨(dú)立的未知數(shù)。
圖1 3接收機(jī)架構(gòu)中前向測(cè)量的誤差模型
圖2 3接收機(jī)架構(gòu)中反向測(cè)量的誤差模型
表1 10項(xiàng)誤差模型中誤差項(xiàng)的物理意義
所謂校準(zhǔn),就是測(cè)量一組已知器件(即校準(zhǔn)件或稱標(biāo)準(zhǔn)件),根據(jù)儀器接收機(jī)實(shí)際測(cè)試的結(jié)果和已知校準(zhǔn)件的特性比較,聯(lián)列方程組,解出上述的誤差項(xiàng)eij,從而為后續(xù)的測(cè)量提供修正。
這里需要對(duì)校準(zhǔn)件做進(jìn)一步說(shuō)明,在同軸系統(tǒng)中,校準(zhǔn)件通常是開路、短路、匹配和直通,但是由于現(xiàn)實(shí)中無(wú)法實(shí)現(xiàn)理想的開路、短路、匹配和直通,因此需要正確的標(biāo)定校準(zhǔn)件的“特征數(shù)據(jù)(characteristic data)”,例如開路應(yīng)該表征為一個(gè)寄生電容和一段傳輸線;短路表征為寄生電感和一段傳輸線,匹配一般表征為一個(gè)理想50歐姆,現(xiàn)代網(wǎng)絡(luò)分析儀也可以對(duì)匹配的不理想性進(jìn)行表征。如圖3所示。
因此下面的公式推導(dǎo)中,我們使用ΓopenΓshortΓmatch 分別表示開路、短路、匹配校準(zhǔn)件的實(shí)際反射系數(shù),由于匹配通常定義為理想50歐姆,所以一般Γmatch =0,且上述3個(gè)參數(shù)為已知量,一般在校準(zhǔn)件的附帶的存儲(chǔ)設(shè)備里面,都以文件形式定義,對(duì)于低頻的同軸校準(zhǔn)件,其差異性不是很大,所以大部分商用網(wǎng)絡(luò)分析儀都內(nèi)置了常見型號(hào)的校準(zhǔn)件“特征數(shù)據(jù)”的典型值(typical)。
對(duì)于直通校準(zhǔn)件,必須精確的表征(或者說(shuō)“告訴”網(wǎng)絡(luò)分析儀)其插損和電長(zhǎng)度,嚴(yán)格來(lái)講還需要知道其S11和S22,但是目前網(wǎng)絡(luò)分析的模型都是把直通當(dāng)一個(gè)理想50歐姆的有損傳輸線來(lái)處理的。
圖3 常用校準(zhǔn)件的電路模型,特征數(shù)據(jù)描述了校準(zhǔn)件的不理想性
1.2 校準(zhǔn)的步驟
分別測(cè)試開路、短路、匹配(1和2端口分別測(cè)試,共6次)這三種單端口校準(zhǔn)件,可以列出6個(gè)方程,再測(cè)試一次直通件,可以列出4個(gè)方程。
由于參考接收機(jī)是共用的,前向和反向測(cè)試的時(shí)候需要用2個(gè)獨(dú)立的子模型,其中前向誤差模型如圖1,其中真正到達(dá)參考面的信號(hào)波量(wave quantity)為aG1和bG1;網(wǎng)分內(nèi)部接收機(jī)實(shí)測(cè)信號(hào)波量為aG2和bG2,兩者的關(guān)系如下面公式:
當(dāng)測(cè)量單端口校準(zhǔn)件時(shí),可以得到
分別在兩個(gè)端口連接Open、Short、Match校準(zhǔn)件可以得到6個(gè)方程,其中bG2/aG2和bH2/aH2是接收機(jī)真正接收的數(shù)據(jù),是實(shí)測(cè)數(shù)據(jù),在方程組中當(dāng)作已知數(shù)處理。Γstd 分別為Γopen 、Γshort 和Γmatch,可以用圖3中的模型描述。
對(duì)于直通件Through的測(cè)量
當(dāng)正向測(cè)試直通校準(zhǔn)件Through的時(shí)候,會(huì)得到兩個(gè)結(jié)果,即兩個(gè)方程,分別是Through校準(zhǔn)件的插損S21-T,Through校準(zhǔn)件串聯(lián)負(fù)載匹配e22之后,整體的反射系數(shù)ΓTHR FWD
類似的反向誤差子模型如圖2:
測(cè)試直通校準(zhǔn)件Through的時(shí)候,方程如下,其中ΓTHR REV代表反向負(fù)載匹配e'11和Through串聯(lián)之后總體反射系數(shù)
公式(7)(8)(9)(10)中的aG2、bG2、aH2、bH2是接收機(jī)真正接收的數(shù)據(jù),是實(shí)測(cè)數(shù)據(jù),在方程組中當(dāng)作已知數(shù)處理,又可以列出4組方程,和上面的6組方程一共構(gòu)成10組方程,而誤差項(xiàng)剛好也是10個(gè),正好可以解出每個(gè)誤差項(xiàng),即可完成校準(zhǔn)過(guò)程。
1.3 未知直通校準(zhǔn)方法和模型
現(xiàn)代網(wǎng)絡(luò)分析儀普遍采用了2N接收機(jī)架構(gòu),例如2端口網(wǎng)絡(luò)分析儀的接收機(jī)數(shù)目為4,即每個(gè)端口都有自己的參考接收機(jī)和測(cè)量接收機(jī),因此儀器端口的反射系數(shù)e11和e22無(wú)論在前向測(cè)試還是反向測(cè)試中,始終保持不變,即反向測(cè)試的負(fù)載匹配和前向測(cè)試的源匹配相同,反之亦然。因此其誤差模型如圖4所示,對(duì)應(yīng)的誤差項(xiàng)如表2,其中源和負(fù)載匹配部分用灰色底色表示。和1.1節(jié)類似,實(shí)際網(wǎng)絡(luò)分析儀中,e10、e32、e23和e01的值不會(huì)等于0,因此可以將這4個(gè)項(xiàng)中的某一項(xiàng)指定為非零的任意值,這會(huì)改變波量的絕對(duì)值,但是不會(huì)影響波量之間的比值(S參數(shù)的定義是波量之間的比值)因此這里假設(shè)e32=1,因此共有7個(gè)獨(dú)立的誤差項(xiàng)(即7個(gè)未知數(shù))【3】。
圖4 現(xiàn)代網(wǎng)絡(luò)分析儀4接收機(jī)架構(gòu)的誤差模型
表2 7項(xiàng)誤差模型中誤差項(xiàng)的物理意義
由此可以得出真正到達(dá)參考面的信號(hào)aG1和bG1和網(wǎng)分內(nèi)部接收機(jī)實(shí)測(cè)信號(hào)aG2和bG2的關(guān)系:
同理可得在端口2,到達(dá)參考面的信號(hào)aH1和bH1和網(wǎng)分內(nèi)部接收機(jī)實(shí)測(cè)信號(hào)aH2和bH2的關(guān)系
對(duì)于單端口校準(zhǔn),可以使用公式(3)和(4)列出6個(gè)方程。對(duì)于直通校準(zhǔn)件分別僅測(cè)試其插損S21和S21
注意,(17)和(18)中,4個(gè)接收機(jī)實(shí)測(cè)信號(hào)都是參與的,因此要正向的測(cè)試一次直通校準(zhǔn)件,把4個(gè)接收機(jī)的結(jié)果帶入(17),再反向測(cè)試一次,把4個(gè)接收機(jī)的結(jié)果帶入(18)。只要保證直通校準(zhǔn)件是互易的,即S21=S12,即可以使(17)和(18)相等,得出一個(gè)方程。和上面單端口校準(zhǔn)的6個(gè)方程聯(lián)列,一共有7個(gè)方程,和7個(gè)未知數(shù),就可以解出各個(gè)誤差項(xiàng)eij【3】。
2.1 采用校準(zhǔn)件進(jìn)行驗(yàn)證的結(jié)果和常見誤區(qū)
在介紹驗(yàn)證之前,先簡(jiǎn)單介紹一下有效系統(tǒng)數(shù)據(jù)(effective system data)這個(gè)概念:通過(guò)系統(tǒng)誤差校準(zhǔn),對(duì)誤差網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行數(shù)學(xué)補(bǔ)償后,剩余的系統(tǒng)測(cè)量誤差稱為“有效系統(tǒng)數(shù)據(jù)”。
對(duì)于網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試精度(包括校準(zhǔn))的驗(yàn)證方法有很多,例如T-check,失配負(fù)載、50?-25?-50?階躍空氣線等,并且還帶有可溯源的參數(shù)文件。驗(yàn)證的方法也比較復(fù)雜,主要是面向計(jì)量單位的。普通用戶通常會(huì)直接使用校準(zhǔn)件做一些簡(jiǎn)單的驗(yàn)證。
首先這里要強(qiáng)調(diào),用校準(zhǔn)件去驗(yàn)證,實(shí)際測(cè)試的結(jié)果不是“理想”參數(shù),而是校準(zhǔn)件“特征數(shù)據(jù)”。
因此直接測(cè)試Open,并不是在史密斯圓圖最右端開路位置的一圈點(diǎn),而是一個(gè)沿等駐波比圓,向源(generator)方向的一條曲線。這是因?yàn)槿鐖D3中的開路校準(zhǔn)件實(shí)際上是一個(gè)寄生電容串聯(lián)一段有損傳輸線,對(duì)于不同頻率傳輸線引起的相移(包括損耗)是不一樣的,因此聚在一起的數(shù)百個(gè)掃頻點(diǎn),每個(gè)點(diǎn)的頻率是不一樣的,相移各不相同,就顯示成一個(gè)曲線了,如果看S11的相位,也不是0度,原因同上。
同理如果測(cè)試Short校準(zhǔn)件的S11,看到的也是在史密斯圓圖左端短路點(diǎn)附近,沿等駐波比圓,向源(generator)方向的一條線,曲線的長(zhǎng)度和掃頻范圍有關(guān)。
至于Match,由于目前的網(wǎng)絡(luò)分析儀一般把它當(dāng)作理想50歐姆匹配來(lái)處理的。所以校準(zhǔn)完再次接上Match校準(zhǔn)件,其反射系數(shù)非常低,一般能達(dá)到-60dB左右,這個(gè)值可以理解為“有效系統(tǒng)數(shù)據(jù)”即補(bǔ)償后的剩余誤差。值得注意的是,對(duì)于Match會(huì)有一個(gè)特殊的所謂“記憶(re-recognition)”現(xiàn)象,也就是說(shuō)用某套校準(zhǔn)件校準(zhǔn),如果還是測(cè)剛剛校準(zhǔn)用的那個(gè)Match,反射系數(shù)可以到-60dB左右,如果換任何其他一套校準(zhǔn)件中的Match,都不可能達(dá)到-60dB,一般只能達(dá)到-30dB左右。這主要是因?yàn)椋皖l段的網(wǎng)絡(luò)分析儀都把Match當(dāng)作理想50歐姆,校準(zhǔn)算法僅僅根據(jù)當(dāng)前測(cè)試的這個(gè)Match的結(jié)果來(lái)補(bǔ)償,而實(shí)際上每個(gè)Match的物理特性都是略有差別的,因此換上另外的Match就不可能達(dá)到-60dB左右的反射系數(shù)。當(dāng)然理想的50歐姆也是不可能實(shí)現(xiàn)的,這也是影響測(cè)量不確定度的一個(gè)因素,目前商用網(wǎng)絡(luò)分析儀在測(cè)試反射系數(shù),特別是反射系數(shù)特別小的器件的時(shí)候(-25dB到-35dB),不確定度一般都能達(dá)到2-3dB。
因此有必要再次強(qiáng)調(diào),任何匹配校準(zhǔn)件真實(shí)的S11(反射系數(shù))達(dá)不到-60dB,一般只有-30到-40dB左右。在校準(zhǔn)時(shí),系統(tǒng)將它當(dāng)作理想的匹配,就得到了-60dB這樣低的結(jié)果。
現(xiàn)代網(wǎng)絡(luò)分析儀也支持用S參數(shù)包來(lái)定義校準(zhǔn)件,如果采用S參數(shù)包文件定義,校準(zhǔn)后再測(cè)量Open,Short和Match,測(cè)量的結(jié)果就和S參數(shù)定義包里面的數(shù)據(jù)完全一樣。值得注意的是,目前的商用校準(zhǔn)件通常只是對(duì)Open、Short、Match使用S參數(shù)包,對(duì)Through還是使用有損傳輸線的模型。這主要是由于傳輸線模型已經(jīng)能比較精確的描述其特性了,由于Through是2端口器件,必須是有S2P文件,而如果用了S2P文件,文件的參數(shù)必須和校準(zhǔn)件的連接的方向有關(guān),而實(shí)際中也不方便規(guī)定校準(zhǔn)的時(shí)候Through的連接方向。
2.2 直通校準(zhǔn)件的驗(yàn)證
無(wú)論是TOSM還是UOSM校準(zhǔn)方法,最后一個(gè)接的校準(zhǔn)件就是Through。因此校準(zhǔn)完之后直接看Through的結(jié)果也是最方便和最常用的簡(jiǎn)單驗(yàn)證方法。下面對(duì)在TOSM和UOSM兩種方法下Through測(cè)量的結(jié)果進(jìn)行詳細(xì)分析。
和上面類似,使用TOSM校準(zhǔn)之后,直接測(cè)量Through的結(jié)果就是校準(zhǔn)件模型中對(duì)應(yīng)的“特征數(shù)據(jù)”,有一定的插損和相位。這一點(diǎn)是需要注意的,很多使用者一直有一個(gè)認(rèn)識(shí)的誤區(qū),認(rèn)為這時(shí)候的插損應(yīng)該是0,相位也是0,這是不正確的。
對(duì)于UOSM校準(zhǔn),校準(zhǔn)后直接測(cè)量Through校準(zhǔn)件,這時(shí)網(wǎng)絡(luò)分析儀就把Through直接當(dāng)成一個(gè)被測(cè)件來(lái)處理,測(cè)到的插損和相位就是這個(gè)校準(zhǔn)件實(shí)際的特性。值得一提的是,UOSM校準(zhǔn)非常適合兩端為不同接頭類型的器件的測(cè)試。例如一個(gè)被測(cè)件的輸入是N型接頭,輸出是SMA接頭。在測(cè)試這種器件時(shí),可以在網(wǎng)分的一端使用N型電纜,另一端使用SMA型電纜,校準(zhǔn)的時(shí)候,可以在N型接頭這邊使用N型的Open、Short、Match校準(zhǔn)件校準(zhǔn),在SMA型接頭這邊使用SMA的Open、Short、Match校準(zhǔn)件。在校準(zhǔn)Through的時(shí)候,使用任意一個(gè)質(zhì)量較好的N-SMA轉(zhuǎn)接頭即可,校準(zhǔn)完之后,參考面就是電纜的N型接頭和SMA型接頭的末端。因此UOSM校準(zhǔn)方法也可以用于測(cè)試一些接頭適配器和射頻電纜。
TOSM校準(zhǔn)完之后,Through校準(zhǔn)件不拿掉,直接測(cè)試S11或S22,此時(shí)測(cè)得的是有效負(fù)載匹配(可以當(dāng)做接近理想50歐姆)串聯(lián)一段有損傳輸線的結(jié)果,如圖5所示,是在史密斯原圖中心匹配點(diǎn)附近的一個(gè)小圓圈,隨著頻率的變化呈現(xiàn)一定的復(fù)數(shù)阻抗特性,逐步偏離50歐姆原點(diǎn)。由于如圖3,Through校準(zhǔn)件是當(dāng)作理想50歐姆的有損傳輸線來(lái)處理的,沒(méi)有考慮Through本身的S11反射,這個(gè)值換算成反射系數(shù)用dB表示仍然很小,一般網(wǎng)絡(luò)分析儀在8GHz以下,仍然有-50dB左右。
如公式(8)和(10),TOSM校準(zhǔn)在測(cè)量直通時(shí),仍然要測(cè)試S11和S22,并對(duì)其補(bǔ)償,因此校準(zhǔn)之后,對(duì)當(dāng)前使用的這個(gè)Through校準(zhǔn)件也有所謂“記憶(re-recognition)”現(xiàn)象,此時(shí)換成另外任何一個(gè)Through之后,都不可能達(dá)到-50dB的回波損耗的,甚至僅僅把當(dāng)前這個(gè)Through換一個(gè)方向連接,也達(dá)不到-50dB這個(gè)量級(jí)。
圖5 TOSM校準(zhǔn)之后直接測(cè)試當(dāng)前校準(zhǔn)件的S11在史密斯圓圖上的結(jié)果
但是USOM對(duì)Through的S11和S22沒(méi)有做測(cè)量和補(bǔ)償,Through甚至是未知的,更沒(méi)有把它描述為一個(gè)理想有損傳輸線,因此就沒(méi)有所謂的“記憶(re-recognition)”現(xiàn)象。校準(zhǔn)完之后,直接測(cè)試Through,其S11和S22就是這個(gè)Through本身的端口反射系數(shù),一般在-30dB以下。但是這才是合理的,TOSM校準(zhǔn)后的結(jié)果實(shí)際上是“記憶(re-recognition)”效應(yīng)的結(jié)果,是過(guò)于理想化的儀器的剩余誤差,不能反映校準(zhǔn)件和系統(tǒng)的真實(shí)特性。
雖然UOSM校準(zhǔn)之后,直接測(cè)試校準(zhǔn)件的結(jié)果沒(méi)有TOSM那么理想,但是UOSM才是更精確的校準(zhǔn)方法,其結(jié)果更能真實(shí)的反映校準(zhǔn)件的特性。
3.小結(jié)
本文詳細(xì)介紹了傳統(tǒng)直通校準(zhǔn)方法TOSM和未知直通UOSM校準(zhǔn)方法的基本原理,誤差模型,校準(zhǔn)件不理想性的表征和所謂的“記憶(re-recognition)”現(xiàn)象,在這個(gè)基礎(chǔ)上,對(duì)比了不同校準(zhǔn)方法,校準(zhǔn)之后測(cè)量當(dāng)前校準(zhǔn)件的結(jié)果,指出了一些常見的誤區(qū),強(qiáng)調(diào)了UOSM校準(zhǔn)方法的優(yōu)點(diǎn)和方便性。為廣大網(wǎng)絡(luò)分析儀使用者的日常使用提供指導(dǎo)。
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電容
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模型
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架構(gòu)
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原文標(biāo)題:矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)和驗(yàn)證的常見誤區(qū)
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