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關(guān)于電容器老化的問題解答

電子設(shè)計(jì) ? 來源:郭婷 ? 作者:電子設(shè)計(jì) ? 2019-02-28 08:00 ? 次閱讀

有關(guān)老化及其對電容影響的常見問題。

問題1:什么是“老化”?

老化通常被稱為電容隨時間的減少EIA II類電容器。在用作介電材料的所有鐵電配方中都會發(fā)生這種自然且不可避免的現(xiàn)象。老化是可逆的,并且由于電介質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)隨溫度和時間的變化而發(fā)生。老化通常報告為每十年時間的電容損失百分比。由于老化本質(zhì)上是對數(shù)的,因此在前10個小時內(nèi)電容的損失最大。

關(guān)于電容器老化的問題解答

圖1:電容老化特性。

注意:耗散因數(shù)也會老化,比電容快幾倍。此外,EIA III類和IV類也具有老化特性。行業(yè)“官方”老化定義可以在EIA-521和IEC-384-9中找到。

問題2:I類電容和II類電容有什么區(qū)別?

I類電容器 1 (C0G,C0H,C0K等)由對溫度變化不敏感的陶瓷材料制成,因此在低溫下測量電容器的電容值(例如-25°C)與在較高溫度(例如75°C)下測量的相同電容器相比不會有顯著差異。 EIA將這些稱為“溫度補(bǔ)償”,并以ppm/°C為單位進(jìn)行測量。這些電容器通常具有低電容值,因?yàn)橛糜谥圃焖鼈兊奶沾刹牧?,但無論其溫度如何,它們都表現(xiàn)出幾乎完美的電容穩(wěn)定性,使其成為需要頻率控制的應(yīng)用的最佳選擇,例如無線電或電視調(diào)諧器。下面是一個例子:

在-55°C至+ 85°C的溫度范圍內(nèi),C0G =±30 PPM

II類電容器 2 (X5R,X6S,X7R)由陶瓷材料制成,這些陶瓷材料來自對溫度敏感的鈦酸鋇基。因此,各種溫度分類表明在給定溫度范圍內(nèi)靈敏度的程度。這些電容器可在小型表面貼裝封裝中實(shí)現(xiàn)更大的電容值。

II類溫度特征 3 的例子如下:

X5R =±15%以上溫度范圍為-55°C至+ 85°C

X6S =±22%,溫度范圍為-55°C至+ 105°C

X7R =±15在-55°C至+ 125°C的溫度范圍內(nèi)的%

另外,由鈦酸鋇堿(II,III和IV類)制成的電容器是鐵電的,因此容易受到“ “老化”,其中如果電容器保持電容的能力將在未加熱和/或不帶電狀態(tài)下隨時間降低。 I類電容器不是鐵電體,因此不會老化。

問題3:鈦酸鋇電容器為何以及如何老化?

隨著時間的推移,內(nèi)部分子結(jié)構(gòu)發(fā)生變化方法,以創(chuàng)建電偶極子的對齊方式。這種對齊產(chǎn)生的分子結(jié)構(gòu)可以比分子處于完全隨機(jī)狀態(tài)時保持更少的電荷,例如在印刷電路板上加熱或安裝(焊接)時。 4

關(guān)于電容器老化的問題解答

圖2:電偶極子的排列。

問題4:什么是去衰老?

去老化是一種用于重置老化現(xiàn)象的熱處理。簡單地說,它重新開始老化過程,但它并沒有阻止它。將電容器加熱到其居里溫度以上會導(dǎo)致晶體結(jié)構(gòu)恢復(fù)到其最佳未對準(zhǔn)配置,從而產(chǎn)生最大電容。 TDK建議150°C/1小時進(jìn)行去老化。注意:記錄未來電容測量的最后加熱時間(TOLH)或去老化時間非常重要。

問題5:“老化”只是TDK現(xiàn)象嗎?

沒有。所觀察到的“老化”對于所有II類,III類和IV類陶瓷電容器制造商來說都很常見。由于老化取決于配方,老化率因制造商而異。

問題6:電容器制造商如何補(bǔ)償老化?

由于BaTiO3基電容器的電容隨著時間的推移,老化對元件制造商來說是一個獨(dú)特的問題 - 也就是說,'這個電容的電容是多少?'

像電壓和頻率測試條件一樣,業(yè)界早已認(rèn)識到老化問題,并且確定了應(yīng)測量所有電容器的標(biāo)準(zhǔn):IEC-384-9。簡單地說,電容必須在1000小時(或TOLH)的指定容差范圍內(nèi)。 5

電容器制造商使用材料的已知老化率并在數(shù)學(xué)上確定電容容差限值在去除衰老后的任何時間點(diǎn)(見下圖3和4)。這些組件在老化速率和TOLH方面100%電氣分選。例如,如果介電材料的老化率為3%,則+/- 10%容差部分可以被分類為+ 13/-7%。利用這種技術(shù),制造商可以保證所有電容器在1000小時內(nèi)達(dá)到容差范圍,基于TOLH。

關(guān)于電容器老化的問題解答

圖3:I類分類限值示例材料,K Tolerance。

關(guān)于電容器老化的問題解答

圖4:II類材料的排序限制,K公差。

注意:因?yàn)槔匣S著時間的推移導(dǎo)致電容減小,電容可能在TOLH小于1000小時的時間內(nèi)高于容許上限,并且在TOLH小于1000小時的時間內(nèi)小于容差下限。

問題7:電容器用戶應(yīng)該如何補(bǔ)償老化?

電容器用戶應(yīng)該期望II級,III級和IV級電容器在TOLH的6周(1000小時)內(nèi)容差范圍內(nèi),從制造商到用戶的大多數(shù)組件的大致提前期。在焊料,膠水固化或任何其他高溫過程(電容器因此會老化)之后,電容器用戶不應(yīng)期望II級,III級或IV級元件立即在帽容差范圍內(nèi)。

在預(yù)測老化/去老化行為時,可能需要加寬電路測試系統(tǒng)以允許電容器老化。

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