12款全新器件專為高溫和電磁工作環(huán)境設(shè)計，為業(yè)界唯一符合AEC-Q100標準，采樣速率達1Msps的16位逐次逼近寄存器（SAR）

Microchip Technology Inc.（美國微芯科技公司）今日宣布推出12款全新逐次逼近寄存器（SAR）模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）以及專為新型SAR ADC產(chǎn)品系列設(shè)計的配套差分放大器，以滿足應用市場對更高速度和更高分辨率模數(shù)轉(zhuǎn)換的需求。MCP331x1（D）-xx系列產(chǎn)品專為高溫和高電磁工作環(huán)境而設(shè)計，其中包括業(yè)界唯一一款符合AEC-Q100標準且采樣速率達每秒100萬次（Msps）的16位SAR，可為汽車和工業(yè)應用提供必不可少的可靠性。MCP6D11差分放大器提供低失真、高精度接口，可在系統(tǒng)內(nèi)實現(xiàn)ADC的全部性能。

MCP331x1(D)-xx系列產(chǎn)品分辨率范圍包括12、14和16位，速度選項范圍從每秒50萬次采樣（ksps）至1 Msps不等，可為開發(fā)人員提供適合其設(shè)計的ADC。該系列ADC能夠在1.8V固定低模擬電源電壓（AVDD）及低電流運行（1 Msps下的典型有效電流為1.6 mA，500 ksps下為1.4 mA），同時具有超低功耗及滿量程輸入范圍。

以上器件支持寬廣的數(shù)字I/O接口電壓（DVIO)范圍（1.7V- 5.5V），可直接與Microchip PIC32、AVR?和基于Arm?的單片機和微處理器等大多數(shù)主器件連接，無需使用外部電壓電平移位器。MCP331x1（D）-xx系列包含單端和差分輸入電壓測量選項，能夠為系統(tǒng)實現(xiàn)兩個任意波形之間的差異的轉(zhuǎn)換。AEC-Q100認證系列在惡劣環(huán)境下依然能夠提供可靠的性能，是高精度數(shù)據(jù)采集、電動汽車電池管理、電機控制和開關(guān)電源等應用的理想選擇。

在不引入額外噪音和失真的情況下，將小模擬信號正確連接到高速、高分辨率ADC是一項巨大的挑戰(zhàn)。 Microchip的MCP6D11差分放大器專為應對這一挑戰(zhàn)而設(shè)計，為正確驅(qū)動ADC提供低失真和高精度的接口。

Microchip混合及線性信號產(chǎn)品部副總裁Bryan J. Liddiard表示：ADC市場和應用的發(fā)展需要更高分辨率、更高速度和更高精度。此外，更低的功耗和更小的封裝也非常重要，我們新推出的這些產(chǎn)品可滿足以上全部需求。

開發(fā)工具

MCP331x1D-XX評估工具包可用于演示MCP331x1D-XX SAR ADC系列器件的性能。該評估工具包含有：

MCP331x1D評估板

用于數(shù)據(jù)采集的PIC32MZ EF MCU Curiosity開發(fā)板

SAR ADC 實用工具 PC圖形用戶界面（GUI）

供貨和定價

每個ADC均采用帶引腳10-MSOP 3 mm x 3 mm封裝，或采用不帶引腳10-TDFN 3 mm x3 mm封裝。9 mm2的尺寸是市面上16位、1 Msps差分ADC的最小封裝。