本篇來(lái)詳細(xì)分析下UVC的處理單元相關(guān)的內(nèi)容，同樣的我們理論結(jié)合實(shí)踐來(lái)進(jìn)行。

在電力等行業(yè),分析電壓極值,是一項(xiàng)重要的參數(shù)分析，可以分析電壓的波動(dòng);示波器中也有自動(dòng)測(cè)量極值的功能....

從原理圖看到有6路模擬輸入,分別對(duì)應(yīng)P10.0~P10.5, VREF為模擬參考電壓。

后面會(huì)基于本開發(fā)板實(shí)現(xiàn)語(yǔ)音識(shí)別，需要使用到FFT等關(guān)鍵算法，所以先移植CMSIS-DSP庫(kù)，并進(jìn)行F....

本文轉(zhuǎn)自公眾號(hào)，歡迎關(guān)注 基于DWC2的USB驅(qū)動(dòng)開發(fā)-高速設(shè)備枚舉為全速設(shè)備問題案例分析 (qq.....

前面我們分析了USB連接和復(fù)位的過程, 也知道低速和全速/高速的USB設(shè)備分別是上拉DM和DP,主機(jī)....

本文轉(zhuǎn)自公眾號(hào)歡迎關(guān)注 基于DWC2的USB驅(qū)動(dòng)開發(fā)-USB復(fù)位詳解 (qq.com) 一.前言 ?....

本文轉(zhuǎn)自公眾號(hào)，歡迎關(guān)注 基于DWC2的USB驅(qū)動(dòng)開發(fā)-USB連接詳解 (qq.com) 一.前言 ....

一.前言 本文對(duì)TrustZone 進(jìn)行簡(jiǎn)單的介紹，不涉及具體的技術(shù)細(xì)節(jié)，旨在有一個(gè)概念性的感性的理....

打開網(wǎng)絡(luò)與共享中心->更改適配器配置

這一篇來(lái)燒錄系統(tǒng)。燒錄系統(tǒng)非常簡(jiǎn)單,鏡像寫入TF卡即可。Git上下載鏡像時(shí)候比較慢，如果能放網(wǎng)盤或者....

前面我們燒錄了系統(tǒng)這一篇我們來(lái)使用,體驗(yàn)下系統(tǒng)。

Milk-V Duo是一款基于算能 CV1800B芯片的MPU，能夠運(yùn)行基于LINUX和RTOS的操....

本文轉(zhuǎn)自公眾號(hào),歡迎關(guān)注 基于DWC2的USB驅(qū)動(dòng)開發(fā)-IAD描述符詳解 (qq.com) 一.? ....

前面我們了解了板子的原理圖和資源，進(jìn)行了基本的狀態(tài)確認(rèn)，現(xiàn)在我們來(lái)搭建開發(fā)環(huán)境創(chuàng)建HelloWorl....

Xilinx提供了一整套開發(fā)環(huán)境用于其FPGA和SOC的開發(fā)，主要包括硬件部分和軟件部分的開發(fā)工具，....

本文轉(zhuǎn)自公眾號(hào),歡迎關(guān)注 《基于“礦板”低成本學(xué)習(xí)Zynq系列》之一-淘板記 (qq.com) 一.....

本文轉(zhuǎn)自公眾號(hào),歡迎關(guān)注 《基于“礦板”低成本學(xué)習(xí)Zynq系列》之二-什么樣的礦板,一探究竟 (qq....

做過嵌入式開發(fā)的一般會(huì)看到一條編程規(guī)范:”不要使用位域”，一般都是知其然不其所以然，了解的多一點(diǎn)的可....

本文轉(zhuǎn)自公眾號(hào),歡迎關(guān)注 開放NAND閃存接口ONFI介紹 (qq.com) 一.前言 ? ONFI....

既然是追求性能,所以我們后面就都基于X4模式進(jìn)行了。

基于EPM240T100C5的CPLD開發(fā)保姆級(jí)環(huán)境搭建教程

很多時(shí)候需要對(duì)照C和匯編進(jìn)行分析和調(diào)試,所以需要查閱匯編代碼,以下分享幾種方式。

RISC-V PMP調(diào)試

PSRAM的時(shí)序比較簡(jiǎn)單,主要根據(jù)各個(gè)時(shí)序圖理解每個(gè)時(shí)序階段,及其參數(shù)。重點(diǎn)要理解DQS/DM是誰(shuí)驅(qū)....

以上分享了PSRAM接口一些關(guān)鍵的知識(shí)點(diǎn)，大部分是容易理解錯(cuò)誤，且導(dǎo)致問題的點(diǎn)，基本上理解這些點(diǎn)就能....

本文以具體型號(hào)為GD5F1GM7xExxG的GD的NAND為例,對(duì)SPI NAND Flash進(jìn)行介....

使用邏輯分析儀Acute TravelLogic Analyzer進(jìn)行SPI NAND驅(qū)動(dòng)開發(fā)調(diào)試

本文以一個(gè)實(shí)例分享RISC-V的Store AMO access fault異常的調(diào)試過程。Stor....

我們之前進(jìn)行了TFT刷屏測(cè)試確認(rèn)了基本功能。刷屏速度是決定GUI顯示幀率最根本的一環(huán)，只有優(yōu)化到極致....