現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 灌溉測(cè)試儀套件
2024-03-14 22:12:01
測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針
2023-03-30 17:34:49
測(cè)試元件 脈沖發(fā)生器測(cè)試儀
2024-03-14 20:50:37
從架構(gòu)到RTOS,詳解DSP和MCU的區(qū)別和聯(lián)系
2021-02-05 06:57:28
STM32的ISP下載原理引言正文ISP的概念I(lǐng)SP、IAP、ICP的區(qū)別與聯(lián)系什么是DFUISP下載原理引言上一篇提到了ISP,這篇文章給大家介紹一下ISP的原理,以及與IAP的區(qū)別及聯(lián)系正文
2021-07-13 09:22:27
的區(qū)別和聯(lián)系區(qū)別:JTAG可以調(diào)試程序,而ISP只能下載程序。聯(lián)系:同作為AVR程序下載工具,都能把程序從電腦下載到單片機(jī)中。都能對(duì)芯片的熔絲位和鎖定位進(jìn)行編程。JTAG調(diào)試與普通軟件仿真的區(qū)別和聯(lián)系聯(lián)系
2011-03-16 17:10:27
和PCBA測(cè)試究竟有著怎樣的區(qū)別呢?PCBA檢測(cè)是指對(duì)PCBA電路板進(jìn)行加工質(zhì)量的檢測(cè),需要用到各種PCBA檢測(cè)設(shè)備,如:SPI、AOI、XRAY等,不同的工序需要用到不同的檢測(cè)設(shè)備,,如在錫膏印刷后需要
2022-11-21 20:28:12
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
從模擬音頻到數(shù)字音頻端口,各種類型的接口層出不窮。每種類型的接口在設(shè)計(jì)和測(cè)試中都面臨自身的挑戰(zhàn)。在組裝和生產(chǎn)過(guò)程中,這些接口的測(cè)試涵蓋了整個(gè)路徑,從模擬或數(shù)字前端到處理單元的數(shù)字音頻輸入端口。本文
2021-12-24 07:51:18
嵌入式系統(tǒng)接口測(cè)試策略嵌入式系統(tǒng)接口測(cè)試策略摘要:在日益廣泛應(yīng)用的嵌入式系統(tǒng)中,軟件測(cè)試因?yàn)橄到y(tǒng)平臺(tái)局限性需要重復(fù)下裝,耗費(fèi)較大的測(cè)試資源與時(shí)間成本。文章根據(jù)嵌入式系統(tǒng)軟件的特性,結(jié)合實(shí)際案例智能
2021-10-27 08:41:34
動(dòng)態(tài)測(cè)試儀的硬件由哪些構(gòu)成?動(dòng)態(tài)測(cè)試儀的任務(wù)主要是什么?怎樣去設(shè)計(jì)一款基于USB接口的通用測(cè)試儀?
2021-04-13 06:32:45
以更低的物料清單(BOM)成本和創(chuàng)記錄的交付時(shí)間來(lái)提供產(chǎn)品,才能滿足市場(chǎng)對(duì)于產(chǎn)品不斷推陳出新的期望。如此嚴(yán)格的要求促使設(shè)計(jì)人員改變了對(duì)RF前端的評(píng)估測(cè)試方式。本文講討論上述需求對(duì)于設(shè)計(jì)的影響,以及如何利用新方法來(lái)增強(qiáng)多功能手機(jī)的用戶體驗(yàn)。
2019-08-19 07:02:44
近年來(lái)智能手機(jī)的發(fā)展,使射頻前端設(shè)備的需求量大幅增加,而要兼容所有這些設(shè)備非常困難。目前MIPI聯(lián)盟制定了一套R(shí)FFE標(biāo)準(zhǔn),將所有射頻前端設(shè)備用相同總線接口連接。那么MIPI-RFFE協(xié)議如何調(diào)試
2019-06-10 08:09:50
溫升測(cè)試與環(huán)境溫度測(cè)試的區(qū)別是什么?環(huán)境溫度變化對(duì)電機(jī)溫升的影響是什么?
2021-05-06 07:49:11
用ARM做個(gè)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀有償,具體要求請(qǐng)聯(lián)系QQ:810938738
2013-07-20 14:30:40
系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試、黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試的區(qū)別黑盒測(cè)試:已知產(chǎn)品的功能設(shè)計(jì)規(guī)格,可以進(jìn)行測(cè)試證明每個(gè)實(shí)現(xiàn)了的功能是否符合要求。 白盒測(cè)試:已知產(chǎn)品的內(nèi)部工作過(guò)程,可以通過(guò)測(cè)試證明
2008-10-22 12:42:44
現(xiàn)在要測(cè)控制盒的接口,怎么才能有效的使測(cè)試探針塊進(jìn)入到接口呀,客戶要求有自適應(yīng)
2009-09-14 11:14:55
集成電路測(cè)試和驗(yàn)證的區(qū)別是什么?
2021-09-27 06:19:12
一、無(wú)線數(shù)字設(shè)備發(fā)射機(jī)特性測(cè)試技術(shù) 移動(dòng)終端和個(gè)人電腦的無(wú)線數(shù)據(jù)功能已發(fā)展為多頻帶、多系統(tǒng)結(jié)構(gòu),導(dǎo)致對(duì)前端器件需求的迅速增加。目前,簡(jiǎn)單易用、輕便及低成本終端已成為市場(chǎng)趨勢(shì),由此引起市場(chǎng)對(duì)小巧
2019-06-05 08:12:26
測(cè)試 測(cè)試測(cè)試測(cè)試
2021-11-22 09:26:58
本文提供了平板顯示屏連接接口信號(hào)LVDS的測(cè)試方案及FPD-Link 接口的多種格式數(shù)據(jù)的支持。主要討論了滿足TIA/EIA標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試,信號(hào)質(zhì)量測(cè)試方法中的眼圖測(cè)試和位錯(cuò)誤率測(cè)試法及多種
2009-06-10 11:08:402 接口電氣性能測(cè)試 MSC與固定網(wǎng)間接口(V接口): 其電氣性能均滿足ITU-T G.703建議要求,相應(yīng)測(cè)試項(xiàng)目見(jiàn)傳輸網(wǎng)測(cè)試電接口測(cè)試部分。 MSC與BSC間接口(A接口):A接口電
2009-06-18 14:25:4417 數(shù)字交換機(jī)模擬接口測(cè)試方法及模擬接口(二線或四線)間傳輸特性的測(cè)試方法:
2009-08-20 11:57:4920 基于對(duì)IC 測(cè)試接口原理和系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的闡釋,具體針對(duì)型號(hào)為SL431L 的電源芯片,提出改進(jìn)測(cè)試電路的方法,電壓測(cè)試值的波動(dòng)范圍小于3mV。關(guān)鍵詞:測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu),測(cè)試接口,芯片
2009-12-19 15:10:3333 高速接口芯片測(cè)試技術(shù)愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試北京分公司 李科童 愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試上海分公司 劉旸在電子、微電子及通信領(lǐng)域,近年來(lái)一個(gè)突出的特點(diǎn)就是數(shù)據(jù)傳輸量的與日俱增,這也給
2009-12-23 15:47:4336 摘要:本文簡(jiǎn)述了TMS320C5409與MAX125之間的硬件接口設(shè)計(jì)和軟件編程方法及其在聲強(qiáng)測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用。關(guān)鍵詞:DSP;ADC;聲強(qiáng)測(cè)試
2010-05-15 09:20:035
電感和磁珠的什么聯(lián)系與區(qū)別
電感是儲(chǔ)能元件,而磁珠是能量轉(zhuǎn)換(消耗)器件
電感多用于電源濾波回路,磁珠多用于信號(hào)回路
2006-10-07 09:20:171043 黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試區(qū)別
黑盒測(cè)試 黑盒測(cè)試也稱功能測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試,它是在已知產(chǎn)品所應(yīng)具有的功能,通
2008-10-22 12:40:028981 黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試的區(qū)別黑盒測(cè)試:已知產(chǎn)品的功能設(shè)計(jì)規(guī)格,可以進(jìn)行測(cè)試證明每個(gè)實(shí)現(xiàn)了的功能是否符
2008-10-22 12:43:172363 電感和磁珠有什么聯(lián)系與區(qū)別?
電感是儲(chǔ)能元件,而磁珠是能量轉(zhuǎn)換(消耗)器件
電感多用于電源濾波回路,磁
2009-07-01 17:26:341203 高性能模塊化的I/O接口是構(gòu)建成功硬件在環(huán)測(cè)試系統(tǒng)所必須的。硬件在環(huán)(HIL)測(cè)試系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)教程討論了多種硬件在環(huán)測(cè)試系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)和用于實(shí)現(xiàn)的實(shí)時(shí)處理技術(shù)。本教程討
2010-06-18 09:56:191468 高性能模塊化的I/O接口是構(gòu)建成功硬件在環(huán)測(cè)試系統(tǒng)所必須的。硬件在環(huán)(HIL)測(cè)試系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)教程討論了多種硬件在環(huán)測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)和用于實(shí)現(xiàn)的實(shí)時(shí)處理技術(shù)。本教程討厭了多種
2011-04-05 17:25:32179 LTE的發(fā)展對(duì)容量測(cè)試提出許多新的挑戰(zhàn),需要采用不同于3G網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試方法和技術(shù)。LTE 的系統(tǒng)架構(gòu)比UMTS更加扁平,這意味著,容量測(cè)試傳統(tǒng)上使用的基帶網(wǎng)絡(luò)接口已不適用于LTE網(wǎng)絡(luò)。本
2011-07-17 11:09:081013 LTE的發(fā)展對(duì)容量測(cè)試提出許多新的挑戰(zhàn),需要采用不同于3G網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試方法和技術(shù)。LTE的系統(tǒng)架構(gòu)比UMTS更加扁平,這意味著容量測(cè)試傳統(tǒng)上使用的基帶網(wǎng)絡(luò)接口已不適用于LTE網(wǎng)絡(luò)。本文
2011-09-01 10:56:291435 基于ARM-Linux的1553B仿真測(cè)試前端系統(tǒng)
2016-01-04 15:31:5511 衡量電機(jī)發(fā)熱程度是用“溫升”而不是用“溫度”。電機(jī)測(cè)試中涉及到溫度的測(cè)試主要時(shí)溫升測(cè)試及環(huán)境溫度測(cè)試,兩者是既有區(qū)別又有聯(lián)系的關(guān)系。
2016-06-03 09:23:353768 CAN測(cè)試軟件與接口函數(shù)使用
2016-12-31 10:15:593 鉆取采樣裝置靜態(tài)接口測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)_陳德靖
2017-01-19 21:54:150 介紹V5接口測(cè)試的原理和V5測(cè)試儀對(duì)信號(hào)硬件接口的要求,詳細(xì)講述了bt8510通信集成芯片在V5接口測(cè)試儀中的應(yīng)用。
2017-09-02 10:53:476 現(xiàn)今,電子測(cè)試工程師面臨著大量多樣化的數(shù)字接口帶來(lái)的挑戰(zhàn)。軍事、航空、通信和汽車電子都同時(shí)使用工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和定制數(shù)字接口。專用特定接口的測(cè)試儀器和用于通用數(shù)字I/O接口的測(cè)試儀器可以支持以上大部分接口
2017-10-12 17:20:5310 應(yīng)對(duì)多樣化數(shù)字接口測(cè)試挑戰(zhàn)的解決方案——基于可編程FPGA的測(cè)試儀器
2017-10-16 13:57:093 多樣化數(shù)字接口測(cè)試挑戰(zhàn)的解決方案——基于可編程FPGA的測(cè)試儀器
2017-10-19 08:45:4111 svpwm與spwm已經(jīng)廣泛運(yùn)用到了電機(jī)設(shè)備,那么該如何選擇?它們兩者之間有什么區(qū)別聯(lián)系?請(qǐng)看下文。
2017-12-11 11:35:4239565 針對(duì)傳統(tǒng)商業(yè)分布式仿真測(cè)試平臺(tái)物理接口較少、功能單一的實(shí)際問(wèn)題,提出一種分布式半實(shí)物仿真測(cè)試前端系統(tǒng)的解決方案。,在簡(jiǎn)單分析了分布式和半實(shí)物仿真的原理后,以SPI與LVDS總線測(cè)試前端
2018-01-10 15:04:190 本文開(kāi)始介紹了什么是耐壓測(cè)試和介紹進(jìn)行耐壓測(cè)試的原因以及直流與交流耐壓測(cè)試的比較,其次介紹了絕緣測(cè)試的特性,最后介紹了絕緣和耐壓的區(qū)別以及區(qū)分了耐壓測(cè)試與絕緣測(cè)試的區(qū)別。
2018-04-03 09:30:10103243 本文開(kāi)始介紹了堆和棧的要點(diǎn)以及對(duì)堆和棧的對(duì)比進(jìn)行了分析,其次闡述了堆和棧的聯(lián)系,最后介紹了堆與棧的主要區(qū)別。
2018-04-11 09:50:5238217 本文首先介紹了端口的概念、分類及作用,其次介紹了接口的概念與顯示器接口的類型,最后介紹了端口和接口區(qū)別聯(lián)系。
2018-04-23 16:54:2257391 介紹了一種用CPLD(復(fù)雜可編程邏輯器件)作為核心控制電路的測(cè)試系統(tǒng)接口,通過(guò)時(shí)cPLD和竹L電路的比較及cPLD在系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)的強(qiáng)大功能,論述了CPLD在測(cè)試系統(tǒng)接口中應(yīng)用的可行性和優(yōu)越性,簡(jiǎn)單介紹
2019-01-01 16:18:001472 接口其實(shí)app和前端交互用的,所以好多人問(wèn),為啥做功能測(cè)試還要測(cè)接口,目標(biāo)是啥不是多此一舉嗎?首先我告訴大家,這種想法是錯(cuò)誤的
2019-01-04 15:45:0510013 接口測(cè)試是測(cè)試系統(tǒng)組件間接口的一種測(cè)試。接口測(cè)試主要用于檢測(cè)外部系統(tǒng)與系統(tǒng)之間以及內(nèi)部各個(gè)子系統(tǒng)之間的交互點(diǎn)。測(cè)試的重點(diǎn)是要檢查數(shù)據(jù)的交換,傳遞和控制管理過(guò)程,以及系統(tǒng)間的相互邏輯依賴關(guān)系等。接口測(cè)試大體分為兩類:模塊接口測(cè)試和web接口測(cè)試。
2019-01-04 16:04:232374 耐壓測(cè)試( Withstanding Voltage Test )又稱作高壓測(cè)試( Hipot Test )或介電強(qiáng)度測(cè)試( Dielectric Test ),可能是大家熟悉和在產(chǎn)品流程安全測(cè)試中用的最多的。
2019-05-31 15:58:4314683 上周有消息稱,鴻蒙OS正基于華為Mate 30做小規(guī)模內(nèi)測(cè)。有測(cè)試者主動(dòng)聯(lián)系媒體,爆料了測(cè)試系統(tǒng)的一些細(xì)節(jié),據(jù)稱UI和基于Android的EMUI能一眼看出區(qū)別:
2019-07-09 11:30:475485 α測(cè)試和β測(cè)試的區(qū)別
2020-06-29 11:22:4925177 詳談數(shù)組和指針的區(qū)別與聯(lián)系
2020-06-29 15:18:0221814 今天來(lái)聊聊一篇關(guān)于dvi接口:HDMI、DVI、VGA接口有什么聯(lián)系的文章,現(xiàn)在就為大家來(lái)簡(jiǎn)單介紹下dvi接口:HDMI、DVI、VGA接口有什么聯(lián)系,希望對(duì)各位小伙伴們有所幫助。
2020-07-17 10:55:134447 靜態(tài)測(cè)試,動(dòng)態(tài)測(cè)試的區(qū)別:程序是否運(yùn)行。
2020-08-19 17:13:588475 總線、接口和協(xié)議,這三個(gè)詞常常被聯(lián)系在一起,但是我們心里要明白他們的區(qū)別。
2020-09-01 13:49:0026277 0歐姆電阻、磁珠和電感的作用、區(qū)別及聯(lián)系
2020-09-01 16:09:014912 本文主要闡述了單片機(jī)與微機(jī)的區(qū)別與聯(lián)系。
2020-09-03 15:16:5314514 NG接口是5G無(wú)線網(wǎng)與核心網(wǎng)之間的邏輯接口。盡管NG接口已經(jīng)進(jìn)行了標(biāo)準(zhǔn)化,但無(wú)線網(wǎng)廠商和核心網(wǎng)廠商對(duì)于協(xié)議的理解存在差異,導(dǎo)致異廠家部署困難。本次測(cè)試是業(yè)內(nèi)首次進(jìn)行的社會(huì)化微站與核心網(wǎng)對(duì)接測(cè)試
2020-09-30 09:06:112553 AD8451:用于電池測(cè)試/形成系統(tǒng)的低成本精密模擬前端和控制器
2021-03-20 09:31:521 AD8450:用于電池測(cè)試/化成系統(tǒng)的精密模擬前端和控制器
2021-03-21 04:12:4915 嵌入式系統(tǒng)接口測(cè)試策略嵌入式系統(tǒng)接口測(cè)試策略摘要:在日益廣泛應(yīng)用的嵌入式系統(tǒng)中,軟件測(cè)試因?yàn)橄到y(tǒng)平臺(tái)局限性需要重復(fù)下裝,耗費(fèi)較大的測(cè)試資源與時(shí)間成本。文章根據(jù)嵌入式系統(tǒng)軟件的特性,結(jié)合實(shí)際案例智能
2021-10-20 19:06:0813 測(cè)試的區(qū)別3.1 嵌入式軟件測(cè)試的各個(gè)階段測(cè)試的環(huán)境是不一樣的交叉開(kāi)發(fā):交叉開(kāi)發(fā)環(huán)境:交叉編譯:GUN工具鏈:3.1.1 單元測(cè)試階段3.1.2 集成測(cè)試階段3.1.3 系統(tǒng)測(cè)試和確認(rèn)測(cè)試3.2
2021-10-21 13:06:0829 芯片與模組的區(qū)別與聯(lián)系。模組與開(kāi)發(fā)板的區(qū)別與聯(lián)系。芯片到模組,模組到開(kāi)發(fā)板的演變?cè)蚺c過(guò)程。一文帶你了解芯片是什么、模組是什么、開(kāi)發(fā)板是什么。芯片和模組有什么區(qū)別或差異。
2021-11-26 09:21:1049 本文主要詳細(xì)介紹回路電阻測(cè)試儀與直流電阻測(cè)試儀的區(qū)別是什么?
2022-01-29 16:04:004107 使用近場(chǎng)探頭測(cè)試與遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試的區(qū)別近場(chǎng)電磁干擾(EMI)測(cè)試是電磁兼容性(EMC)輻射發(fā)射預(yù)兼容測(cè)試中的一個(gè)重要組成。EMI機(jī)構(gòu)使用EMI接收機(jī)和經(jīng)過(guò)準(zhǔn)確校準(zhǔn)的天線來(lái)測(cè)試3或10米距離上的被測(cè)設(shè)備
2022-03-16 14:38:295518 高速數(shù)字接口原理與測(cè)試指南 李凱 清華大學(xué).part1教材免費(fèi)下載。
2022-04-13 17:37:570 高壓測(cè)試(Hipot)測(cè)試是?個(gè)?常通?的測(cè)試,可?于許多應(yīng)?,從研發(fā)和形式檢測(cè),再到產(chǎn)品下線檢測(cè),甚?在維修后都會(huì)應(yīng)用。
2022-05-31 11:32:082697 保護(hù)接地與保護(hù)接零的區(qū)別與聯(lián)系
2022-11-11 15:47:551136 ,檢查軟件是否有缺陷。其目的是檢查其是否滿足規(guī)定的要求,或者找出預(yù)期結(jié)果與實(shí)際結(jié)果的區(qū)別。 ? 硬件測(cè)試和軟件測(cè)試的區(qū)別主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面: 一.測(cè)試對(duì)象的差異 硬件測(cè)試簡(jiǎn)單點(diǎn)講是對(duì)硬件的測(cè)試,包含硬件電子元
2022-11-20 11:25:261210 不知道大家的項(xiàng)目是否都有對(duì)接口API進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試,反正像我們這種小公司是沒(méi)有的。由于最近一直被吐槽項(xiàng)目質(zhì)量糟糕,只能研發(fā)自己看看有什么接口測(cè)試方案。那么在本文中,我將探索如何使用 `Rest
2023-04-07 15:29:13993 軟件驗(yàn)收測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試是軟件測(cè)試過(guò)程中的兩個(gè)階段。驗(yàn)收測(cè)試是部署軟件之前的最后一個(gè)測(cè)試操作。在軟件產(chǎn)品完成了單元測(cè)試、集成測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試之后,產(chǎn)品發(fā)布 之前所進(jìn)行的軟件測(cè)試活動(dòng)。它是技術(shù)測(cè)試的最后
2023-05-06 21:32:23460 晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng),在測(cè)試過(guò)程中,測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè),而是透過(guò)探針卡(Probe Card)中的探針(Probe)與晶圓上的焊墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸而構(gòu)成電性接觸。
2023-05-08 10:36:02885 ? HTTP服務(wù) RPC接口和HTTP接口的區(qū)別與聯(lián)系 參考文獻(xiàn) ? HTTP接口和RPC接口都是生產(chǎn)上常用的接口,顧名思義,HTTP接口使用基于HTTP協(xié)議的URL傳參調(diào)用,而RPC接口
2023-06-17 14:54:16992 本文介紹通過(guò)VectorCAST實(shí)現(xiàn)代碼黑盒測(cè)試的一種方法:庫(kù)接口測(cè)試Library Interface Testing,可以利用工具為API創(chuàng)建測(cè)試用例,來(lái)驗(yàn)證應(yīng)用程序庫(kù)函數(shù)的正確性,而無(wú)需訪問(wèn)源代碼。
2022-08-04 14:37:32566 集成電路(Integrated Circuit,簡(jiǎn)稱IC)芯片的三大測(cè)試環(huán)節(jié)包括前端測(cè)試、中間測(cè)試和后端測(cè)試。
2023-06-26 14:30:05895 可測(cè)試性設(shè)計(jì)(Design for Test,DFT)和可檢驗(yàn)性設(shè)計(jì)(Design for Inspection,DFI)是兩種用于增強(qiáng)產(chǎn)品的測(cè)試和檢驗(yàn)?zāi)芰Φ脑O(shè)計(jì)方法。下面是它們的區(qū)別與聯(lián)系,包括
2023-06-26 14:43:19466 接口自動(dòng)化測(cè)試是指通過(guò)編寫腳本或使用自動(dòng)化工具,對(duì)軟件系統(tǒng)的接口進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程。接口測(cè)試是軟件測(cè)試中的一種重要測(cè)試類型,主要用于驗(yàn)證系統(tǒng)組件之間的通信和數(shù)據(jù)交換是否正常。通過(guò)接口自動(dòng)化測(cè)試可以快速發(fā)現(xiàn)接口中的問(wèn)題,并及時(shí)進(jìn)行修復(fù),確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性,并最終提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。
2023-07-28 14:54:181047 測(cè)試 ARTPI 上和 pin 有關(guān)的這些接口
2023-08-02 17:07:05289 千帕(Kpa)氣密性測(cè)試和打壓試驗(yàn)各有側(cè)重,但目的都是為了提高產(chǎn)品的可靠性與安全性。正確進(jìn)行相關(guān)測(cè)試,是制造高質(zhì)量產(chǎn)品的重要一環(huán)。氣密性測(cè)試和打壓試驗(yàn)的區(qū)別簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)
2023-08-01 08:34:14820 FPGA和ASIC作為數(shù)字電路的常見(jiàn)實(shí)現(xiàn)方式,其聯(lián)系和區(qū)別備受關(guān)注。本文將從FPGA和ASIC的基本概念入手,深入研究它們的區(qū)別與聯(lián)系,以幫助讀者更好地理解兩者的應(yīng)用場(chǎng)景和選擇方法。
2023-08-14 16:38:511583 邏輯分析儀和網(wǎng)絡(luò)分析儀的區(qū)別和聯(lián)系? 邏輯分析儀與網(wǎng)絡(luò)分析儀都是非常重要的電子測(cè)試儀器,在電路測(cè)試、調(diào)試、故障排除等方面提供了重要的支持。雖然二者都是儀器,但它們?cè)谟猛竞蛯?shí)現(xiàn)原理上有很大的區(qū)別和聯(lián)系
2023-09-19 16:03:29412 芯片測(cè)試座,又稱為IC測(cè)試座、芯片測(cè)試夾具或DUT夾具,是一種用于測(cè)試集成電路(IC)或其他各種類型的半導(dǎo)體器件的設(shè)備。它為芯片提供了一個(gè)穩(wěn)定的物理和電氣接口,使得在不造成芯片或測(cè)試設(shè)備損傷的情況下
2023-10-07 09:29:44811 蓄電池內(nèi)阻測(cè)試儀接口說(shuō)明圖2.1儀表接口說(shuō)明測(cè)試線接口:打開(kāi)保護(hù)蓋,對(duì)準(zhǔn)旋轉(zhuǎn)插入。SD卡接口:插入SD卡處。充電接口:給儀表充電使用。鍵盤區(qū)說(shuō)明:▲▼tu移動(dòng)選擇。0-9數(shù)字區(qū)域Enter:確認(rèn)
2023-10-24 15:30:07817 并行接口的ADC、DAC的測(cè)試方法 ADC和DAC是兩種最常見(jiàn)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器,用于模數(shù)(ADC)和數(shù)模(DAC)轉(zhuǎn)換。在進(jìn)行并行接口的ADC和DAC測(cè)試之前,我們需要了解并行接口的工作原理以及測(cè)試
2023-11-07 10:21:45857 PCB的測(cè)試架跟PCBA測(cè)試架的原理都很簡(jiǎn)單,兩個(gè)都是通過(guò)金屬探針去連接PCB板上的焊盤和測(cè)試點(diǎn),在PCB板通電的情況下,獲取測(cè)試電路的電壓值和電流值等典型數(shù)值跟現(xiàn)象,通過(guò)得到的參數(shù)來(lái)檢驗(yàn)產(chǎn)品是否合格。
2023-11-24 10:02:14257 它們都可以用于嵌入式設(shè)備調(diào)試,但在設(shè)計(jì)、功能和性能方面存在一些區(qū)別。以下是關(guān)于 JTAG 和 SWD 接口的詳細(xì)比較。 1. 接口定義和適用性 JTAG 接口是一種標(biāo)準(zhǔn)化的串行接口,最初用于測(cè)試電路板
2023-12-07 15:29:412779 單相、三相、六相繼電保護(hù)測(cè)試儀幾者之間區(qū)別分析? 單相、三相和六相繼電保護(hù)測(cè)試儀是用于電力系統(tǒng)中的繼電保護(hù)設(shè)備測(cè)試和校準(zhǔn)的儀器。雖然它們?cè)?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試不同類型的保護(hù)設(shè)備方面有所不同,但都具有重要的作用。下面
2023-12-19 16:07:06314 耐壓測(cè)試是一種常用的電氣測(cè)試方法,用于檢測(cè)電氣設(shè)備在額定電壓下的絕緣性能。耐壓測(cè)試可以分為交流耐壓測(cè)試和直流耐壓測(cè)試兩種類型。本文將詳細(xì)介紹交流耐壓測(cè)試和直流耐壓測(cè)試的區(qū)別。 優(yōu)缺點(diǎn)區(qū)別 交流耐壓
2024-01-11 14:30:13632 電子產(chǎn)品高加速壽命測(cè)試HALT、高加速應(yīng)力篩選測(cè)試HASS,都是可靠性測(cè)試的方法,用于評(píng)估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么呢,跟隨本文來(lái)一起了解。
2024-01-30 10:25:44206 接口其實(shí)就是前端頁(yè)面或APP等調(diào)用與后端做交互用的,有朋友會(huì)問(wèn),我的功能測(cè)試都測(cè)好了,為什么還要測(cè)接口呢?
2024-03-14 14:15:2745 模擬前端和模擬后端在電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)中各自扮演著重要的角色,它們之間有著明顯的區(qū)別。
2024-03-15 15:59:0592 模擬前端芯片(AFE)和ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)在電子系統(tǒng)中各自扮演著關(guān)鍵角色,盡管它們?cè)诠δ苌嫌幸欢ǖ?b class="flag-6" style="color: red">聯(lián)系,但它們的職責(zé)和應(yīng)用存在明顯的區(qū)別。
2024-03-16 15:24:33279
評(píng)論
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