EVAL-AD7175SDZ評估板的信號鏈測試中,在60 kHz附近捕獲到一簇雜散信號,如圖5所示。圖5.EVAL-AD7175-2SDZ評估板上觀察到的雜散問題。經(jīng)過評估發(fā)現(xiàn),AD7175-2 ADC的電源和模擬
2019-02-14 14:18:45
我司某款產(chǎn)品做摸底測試時,發(fā)現(xiàn)RE超標(biāo),主要表現(xiàn)為單頻點: 根據(jù)RE實驗報告來看,根據(jù)干擾頻點及現(xiàn)象可以懷疑是有時鐘等諧振頻率造成的,經(jīng)過查看原理圖,網(wǎng)絡(luò)交換芯片采用25MHz的晶振,因此懷疑是晶振
2019-05-21 10:41:44
系統(tǒng)主要就是2個網(wǎng)口,RGMII接口,跑100M,所以時鐘和信號都是25M,但是FPGA內(nèi)部時鐘是125M。 做
RE測試的時候,發(fā)現(xiàn)125M的3/5/7次諧波
超標(biāo)。。。 已經(jīng)改過網(wǎng)口的時鐘幅度,能小一點點,但還是超。 調(diào)整RGMII phy tx方向的串聯(lián)電阻,無效或更糟。 請高手賜招?。?/div>
2019-04-16 10:29:33
本帖最后由 anflower 于 2016-12-6 17:56 編輯
1、控制電機PWM信號為10KHz現(xiàn)在RE測試還有超標(biāo),請各位大神指教!此圖為示波器測量圖1、紫色為電機兩端波形2、黃色為輸入電源兩端波形3、橙色和藍(lán)色為FFT波形
2016-12-06 17:51:25
雜散測試線損問題? 有的時候是一個范圍,怎么確定線損呢?
2020-05-08 05:55:31
雜散測試線損問題? 有的時候測得是一個范圍,怎么確定線損呢?
2016-09-11 23:41:06
位雜散的來源,適當(dāng)?shù)母牟蓸訒r鐘的頻率并做同樣的記錄可以更好的定位問題來源。 [size=18.6667px]Q:數(shù)字地是怎樣影響模擬地的?A:有觀點認(rèn)為是高頻電流引起的地彈影響了模擬地平面, 如果兩種
2019-01-16 12:27:07
寄存器的值,改變輸出頻率,看雜譜如何變化!雜散隨主頻變化以定位雜散的來源,適當(dāng)?shù)母牟蓸訒r鐘的頻率并做同樣的記錄可以更好的定位問題來源。Q:數(shù)字地是怎樣影響模擬地的?A:有觀點認(rèn)為是高頻電流引起的地彈
2017-04-27 15:58:16
出現(xiàn)一個與基帶信號相關(guān)的雜散點幅度-50dBm左右,影響了射頻輸出的Sfdr。具體現(xiàn)象:
輸出2.2ghz點頻時,雜散點在2.6GHz
輸出2.3ghz點頻時,雜散在2.5ghz
輸出2.4ghz點頻
2023-12-04 07:39:16
).TX通道基帶不發(fā)數(shù)據(jù)時,雜散和[size=13.3333px]噪底大概哪個量級?是否在FDD模式下可以關(guān)掉發(fā)射通道?[size=13.3333px]2).看到發(fā)射通道IQ調(diào)制器后,模擬部分有個衰減器
2018-12-27 09:24:47
各位大牛,請教一下。我現(xiàn)在用AD9467-250,采樣時鐘用AD9517-3出的200MHz,采集70M、0dBm單音信號。頻譜上出現(xiàn)較多的雜散。ADC前端電路按照AD9467手冊推薦的設(shè)計。ADC
2019-01-25 08:21:14
各位大牛,請教一下。我現(xiàn)在用AD9467-250,采樣時鐘用AD9517-3出的200MHz,采集70M、0dBm單音信號。頻譜上出現(xiàn)較多的雜散。ADC前端電路按照AD9467手冊推薦的設(shè)計。ADC
2023-12-08 06:52:03
近日通過多次測試,發(fā)現(xiàn)AD9912的DAC輸出端雜散比較大。望幫忙分析分析 環(huán)境條件如下:1、3.3v,1.8v均為LDO電源供電;原理圖參考的是官方提供的文件。2、外部1G時鐘輸入,旁路內(nèi)部PLL
2019-03-08 15:14:23
參考輸入為245.76MHz/0dBm,輸出61.44MHz附近給鎖相環(huán)做參考,可是輸出一直有雜散。我改用信號源直接給鎖相環(huán)提供參考就沒有雜散了,所以推斷出是AD9912引入的雜散。我同事他也用
2018-12-25 11:41:21
的雜散抑制,請問,雜散抑制只能做到這個程度還是我哪個地方?jīng)]有做好?雜散的位置隨著頻率的不同而不同,比如在18.185MHz處的雜散主要是250HZ,500Hz;而在18.818MHz處的雜散有30Hz
2019-02-22 08:27:59
我使用ADF4351,其輸出在中心頻率偏移184k附近有雜散輸出,通過減小環(huán)路帶寬,減小充電電流等,雜散有一定的降低, 此時帶來靠近中心頻率出的噪聲升高,通過對比不同的板卡,都存在類似的現(xiàn)象,環(huán)路
2018-10-12 09:24:23
最近在用adf4355,輸出頻率3915MHz,參考頻率100MHz,PDF頻率50MHz,其余配置為adi軟件導(dǎo)出的默認(rèn)配置,結(jié)果近端出現(xiàn)如圖所示雜散,頻率大約在28kHz和66kHz兩處比較明顯。已經(jīng)排除電源影響,且修改環(huán)路濾波器和降低cp電流均沒有什么變化。請教各位大神還有什么原因是沒有考慮到的
2022-01-21 16:49:31
求教各位高手,我們給DC/DC電源模塊做外圍濾波電路,現(xiàn)在把電源安裝在客戶的負(fù)載上進(jìn)行整機測試,RE超標(biāo),請各位高手幫忙看看問題在哪。
2019-10-29 09:11:00
,需要完全依托工程師的直覺和經(jīng)驗來進(jìn)行判斷。第二:比較測試,根據(jù)測試儀器所提供的數(shù)據(jù)來進(jìn)行分析問題。02 PART EMC整改流程1、RE超標(biāo)整改流程:2、電線電纜超標(biāo)整改流程:3、信號電纜整改流程
2023-02-13 09:30:53
本帖最后由 EMChenry 于 2015-8-6 10:17 編輯
EMC案例之輻射雜散測試
2015-08-06 10:15:32
產(chǎn)品內(nèi)部包含一個工作頻率為13.56Mhz的RFID模塊,在RE測試時,其倍頻點135.6M超標(biāo),不想問整改,我想問的是135.6M是怎么產(chǎn)生的?有哪些因素會導(dǎo)致頻率發(fā)生倍頻?
2019-09-18 21:39:39
用HMC700設(shè)計PLL環(huán)路在低溫下有頻率輸出,但是主峰兩邊有雜散,且鎖定指示沒有輸出,是怎么回事兒呢?
2019-02-14 14:06:48
~2MHz 現(xiàn)象:輸出10025MHz和10075MHz時在主頻兩邊相隔512KHz處有雜散,大小約50dBc,(測試排除電源引入的可能)當(dāng)輸出偏50Hz(10025MHz+-50Hz,10075MHz+-50Hz)時雜散消失 輸出為10050MHz時沒有雜散 請問可能是什么原因?
2019-02-21 14:05:56
小弟最近做試驗(RE)發(fā)現(xiàn),發(fā)現(xiàn)低頻發(fā)射超標(biāo),經(jīng)常排查是LIN通信芯片,在20KHZ時,超標(biāo)5dB。請問各位有沒有思路如何進(jìn)行整改?
2019-01-04 08:55:23
3GPP TS 36.104以Band40為例,基于傳統(tǒng)的共址雜散測試方案,探討了一種新型的共址雜散測試方案,采用了雙工器和低噪放相結(jié)合的方法。在此方案中,雙工器的主要作用是將載波信號和雜散發(fā)
2020-12-03 15:58:08
人體監(jiān)測儀EMC測試,EMC整改,電磁兼容空間輻射測試不通過超標(biāo)了怎么辦?
什么是EMC測試?
EMC(電磁兼容性)的全稱是Electro Magnetic Compatibility, 其定義為
2023-06-13 09:45:16
每隔3KHz存在雜散,無法通過降低信號功率,改變時鐘數(shù)據(jù)相位來改善
更改參考時鐘為60MHz,雜散間隔變?yōu)?5K
更改參考時鐘為20MHz是,雜散消失
請問各位大神這個問題應(yīng)該怎么考慮,謝謝
另外當(dāng)去掉DAC輸出輔助之后用示波器測試波形如下,這種現(xiàn)象是信號發(fā)生反射了嗎?
2023-12-07 07:09:55
、驗證中尋找出合適的、較優(yōu)的、低成本的方案從而縮短開發(fā)周期,進(jìn)而搶先獲得消費市場認(rèn)可。本案例向我們揭示了一種通過使用頻譜儀和近場探頭測試解決方案來完成無線智能通訊設(shè)備的輻射雜散調(diào)試的方法。一個快速精準(zhǔn)
2018-03-27 14:30:31
輸入,設(shè)備里面還有電源DC/DC模塊。在做RE102的實驗的時候,在頻率是550MHZ-750MHZ的時候,分別在600MHZ、640MHZ、680MHZ、720MHZ上有很高的脈沖,超過了標(biāo)準(zhǔn)值。這
2012-12-12 20:37:25
的二次諧波大于3GHz,是為了防止干擾到其他比如LTE的頻段嗎?或者考慮的更深遠(yuǎn)?3.輻射雜散騷擾的測試需要帶適配器嗎?按理說,這是EUT的典型工作狀態(tài),但是CCC測試,中檢試驗室的布置圖中無適配器的,只是在報告里說明樣機是充滿電的狀況。邀請大神或入行時間長的同事,進(jìn)行解答討論,謝謝!
2015-11-20 20:26:50
摘要: 針對某型號發(fā)動機電控系統(tǒng)在電磁兼容測試試驗中CE102和RE102 兩項指標(biāo)在部分頻段出現(xiàn)的超標(biāo)現(xiàn)象, 對電控系統(tǒng)組成和電磁兼容環(huán)境進(jìn)行了分析、研究。作了多種方案的改進(jìn)設(shè)計并逐一進(jìn)行了試驗
2015-08-06 10:27:32
在一個發(fā)射系統(tǒng)中,有很多射頻接口,那么究竟哪個接口是測試者所關(guān)心的呢?讓我們通過下圖來討論各測試點對系統(tǒng)雜散測試的意義。由多工器的無源互調(diào)所產(chǎn)生的雜散端口1和端口2具有同等地位,從端口1(或2)可以
2017-11-15 10:35:09
整數(shù)邊界雜散不受歡迎的原因有哪些?如何改變PFD頻率?怎樣將ADIsimFrequencyPlanner應(yīng)用到寬帶VCO里?
2021-04-12 06:28:29
DDS的工作原理是什么?如何抑制DDS輸出信號中雜散問題?
2021-05-26 07:15:37
具有一定的現(xiàn)實意義。本文將以摩爾實驗室多年的EMC經(jīng)驗, 以信息技術(shù)產(chǎn)品為例簡單介紹輻射騷擾的測試方法以及如何查找失敗原因和我們常用的整改對策等。一、RE測試場地布局如下三、輻射騷擾整改的一般步驟1
2020-10-22 07:39:25
直接數(shù)據(jù)頻率合成器(DDS)因能產(chǎn)生頻率捷變且殘留相位噪聲性能卓越而著稱。另外,多數(shù)用戶都很清楚DDS輸出頻譜中存在的雜散噪聲,比如相位截斷雜散以及與相位-幅度轉(zhuǎn)換過程相關(guān)的雜散等。此類雜散是實際
2023-12-15 07:38:37
:圖4 整改前超標(biāo)數(shù)據(jù)使用寬頻濾波電感,濾波元器件大量減少,濾波電路體積有了很大的減小,能夠輕松放下濾波電路,不存在“U”字形排列,如下圖5所示:圖5 優(yōu)化后的濾波電路濾波電路由3級濾波優(yōu)化到1級濾波,成本和空間都有了大大的降低,優(yōu)化后的測試結(jié)果如下圖6所示:圖6優(yōu)化濾波電路后測試數(shù)據(jù)
2019-10-09 15:20:36
`相關(guān)推薦:http://t.elecfans.com/topic/45.html?elecfans_trackid=bbs_toptxt開關(guān)電源傳導(dǎo)和輻射超標(biāo)整改方案(史上最全)簡潔明了的列出測試超標(biāo)問題,以及整改辦法篇幅短,價值高![hide][/hide]`
2015-08-25 09:23:49
雜散測試的一些資料,期刊論文,有需要的朋友自行下載吧
2018-09-26 10:15:21
各位大神: 我有個機箱在按GJB151A做RE102測試時,結(jié)果超標(biāo)(如下圖所示),請問下該如何分析解決此問題?
2016-01-11 17:16:32
傳導(dǎo)和輻射雜散的FCC限值是什么情況,沒看懂,求指點。另外,2G和3G的雜散測試,除了測試頻率范圍不同外,還有哪些不同,提前謝謝大神?。。。。。?!
2013-03-10 21:38:03
小弟正在調(diào)試一款X波段(9.6-10.8GHz)的鎖相環(huán),采用的是內(nèi)部集成VCO的HMC778LP6CE芯片。在調(diào)試中,我發(fā)現(xiàn)在距中心頻率50Hz整數(shù)倍的頻率處有很多雜散,請問各位大神這些雜散
2014-07-21 15:47:54
液晶顯示器輻射發(fā)射超標(biāo)整改案例1電源線套磁環(huán)飛利浦液晶顯示器輻射發(fā)射測試結(jié)果如圖1所示,曲線在200MHz-300MHz有較高的包絡(luò)。據(jù)以往經(jīng)驗,這種包絡(luò)說明顯示器電源上存在很大噪聲,需對電源模塊做
2015-08-19 23:18:44
的其余部分。此類不希望有的輸出信號被稱為 “雜散脈沖”。假如這些雜散脈沖的功率足夠高,那就會在射頻設(shè)計中引發(fā)很多問題,例如:發(fā)送器中相鄰?fù)ǖ赖奈廴?、接收?b class="flag-6" style="color: red">中的靈敏度損失、或期望信號自身的失真。視系統(tǒng)
2019-07-23 08:17:34
測試數(shù)據(jù)RE測試數(shù)據(jù)1. 198kHz這個點超標(biāo)198k為低頻,低頻一般是差模噪聲。常用手段為:增加差模濾波插損,增加電感感量或者增加電容。2. CE高頻段超標(biāo)CE高頻段通常為共模接地不良及近場耦合,無法
2020-08-30 08:09:09
測試數(shù)據(jù)RE測試數(shù)據(jù)1. 198kHz這個點超標(biāo)198k為低頻,低頻一般是差模噪聲。常用手段為:增加差模濾波插損,增加電感感量或者增加電容。2. CE高頻段超標(biāo)CE高頻段通常為共模接地不良及近場耦合,無法
2020-09-02 07:53:20
(1)外觀判斷法對埋地管道來說,如果受到直流雜散電流的腐蝕,其外觀是:孔蝕傾向大,創(chuàng)面光滑、邊緣比較整齊,有時有金屬光澤,腐蝕產(chǎn)物似炭黑色粉末,無分層現(xiàn)象,有水存在且腐蝕激烈時,可以明顯觀察到電解
2020-12-01 16:22:35
,CPU 增加高頻濾波電容的單板全配置測試。4、單板地連接,CPU 增加高頻濾波電容,網(wǎng)口變壓器中差分線對地加電容,電話口信號線串磁珠的單板全配置測試。四 最終整改方案1、 在主芯片的上面增加高頻濾波電容
2016-05-31 15:08:44
,如果系統(tǒng)板布局規(guī)劃不當(dāng),ADC的數(shù)字輸出端有可能耦合回輸入端。外部噪聲也可能耦合到ADC的基準(zhǔn)電壓源、電源或接地域上。如果噪聲足夠大且具有半周期性,則會在系統(tǒng)的頻域中表現(xiàn)為無用的SFDR限制雜散
2018-11-01 11:31:37
最近在使用HMC213設(shè)計射頻鏈路,器件手冊只給出了下變頻時中頻輸出口的雜散抑制度指標(biāo),我現(xiàn)在需要使用HMC213做上變頻,想請問一下有沒有該芯片上變頻時射頻口的雜散抑制度測試指標(biāo)。謝謝!
2019-02-21 14:19:53
貴公司的專家們好,我最近在做的項目使用的AD9914芯片,芯片使用3.2GHz參考時鐘,DDS輸出950MHz信號時150MHz,200MHz,處有-65dBc左右的雜散,300MHz處有
2018-11-13 09:35:04
Current可優(yōu)化雜散至51dBc左右。ADIsimfrequencyPlanner也沒有這么近的雜散仿真值提供,該雜散從何而來,有何推薦的解決方法?(設(shè)置輸出為4100MHz則無此雜散)另外若采用
2018-08-22 10:40:08
您好,請問我在做ADF4356鎖相環(huán)時發(fā)現(xiàn)在PFD諧波處
有較強
雜散,高達(dá)-75dBc,可以看成就是整數(shù)邊界
雜散,但是
雜散距離中心頻率已經(jīng)
有了15M左右,環(huán)路帶寬40KHz,請問一下這是什么原因?qū)е?/div>
2019-02-15 13:26:51
如圖,這是數(shù)據(jù)手冊上說的HMC833參考為50MHz輸出為5900.8Mhz時的雜散情況。圖上頻偏頻偏為400KHz和800Khz的地方都有雜散。根據(jù)數(shù)據(jù)手冊上的理論,我能理解800Khz處的雜散是整數(shù)邊界雜散,但我沒弄懂400Khz處的雜散緣由?哪位明白的,可以解釋一下?謝謝
2018-10-09 17:57:58
HMC833低雜散(1)HMC833是否有低雜散模式。(2)改變seed in fraction是否有作用?
2019-01-15 08:42:05
各位好我在看模擬對話的時候,看到邊帶雜散和開關(guān)雜散不太明白,請問大家這其中的含義以及它將導(dǎo)致什么后果?謝謝大家了?。?!
2019-01-09 09:29:01
超聲波霧化器re整改措施總結(jié)日前成功整改了一款超聲波霧化器的EMI問題(B標(biāo)),現(xiàn)做簡單的歸納總結(jié)。先說re(輻射),未作任何措施時的檢測結(jié)果如下:可見是在低頻段超標(biāo)。30M-40M的噪聲可能
2016-03-02 10:54:18
了,最好能抑制再高些。 常用的抑制鑒相頻率雜散的方法是環(huán)路濾波器的多級設(shè)計,如3級。在鑒相頻率固定、3級環(huán)路濾波器固定且濾波器帶寬已經(jīng)10KHz不能再低的條件下,還有哪些方法可以改善上面提到的這些雜散呢
2018-11-07 09:03:01
逼近型寄存器(SAR) ADC。在EVAL-AD4003FMCZ評估板交流性能測試過程中,在277.5 kHz附近出現(xiàn)約–115 dBFS的雜散電平;該雜散及其第二諧波如圖2所示。圖
2018-10-19 10:38:17
測試數(shù)據(jù)中,1、2、3、5這幾個超標(biāo)點都是單支(窄帶干擾),其頻率間隔是125MHz,所以是板子上125MHz時鐘的倍頻引起的超標(biāo)。超標(biāo)的頻率范圍是500-900MHz,屬于高頻范圍,而低頻幾乎沒有噪聲(125MHz,250MHz,375MHz并不超標(biāo),甚至沒有噪聲),為什么呢?
2022-04-27 10:56:209348 因芯片NC引腳線路導(dǎo)致RE測試超標(biāo)問題案例
2023-04-28 16:39:52790 因測試布置不規(guī)范導(dǎo)致RE102測試FAIL案例
2023-06-10 16:46:41643 【電磁兼容知識要點分享】因芯片NC引腳線路導(dǎo)致RE測試超標(biāo)問題案例
2023-04-14 09:29:15560 某產(chǎn)品在入網(wǎng)測試電磁騷擾項目中,直流電源端口(DC端口)傳導(dǎo)發(fā)射測試超標(biāo)嚴(yán)重,在低頻150kHz~2MHz之間,某些頻點超標(biāo)10dBuV以上。經(jīng)過對電源單板現(xiàn)場整改,再次測試DC端口傳導(dǎo)發(fā)射順利通過,余量在5dBuV以上。
2023-06-25 16:50:591256 【電磁兼容技術(shù)案例分享】因測試布置不規(guī)范導(dǎo)致RE102測試FAIL案例
2023-07-31 16:58:131622 某風(fēng)機產(chǎn)品CE電流法測試超標(biāo)問題整改分析案例
2023-08-14 10:03:321067 輻射RE整改有哪些方法?|深圳比創(chuàng)達(dá)電子EMC
2023-10-31 10:57:58809 EMC測試超標(biāo)如何整改?|深圳比創(chuàng)達(dá)電子EMC
2023-12-13 10:32:21494 EMC輻射發(fā)射RE整改方法
2023-12-14 10:09:17434 【電磁兼容技術(shù)案例分享】某控制器RE超標(biāo)問題整改案例
2024-03-06 08:16:06392
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