過程.................................873.1 集成電路的特性測(cè)試
2008-09-24 10:06:01
集成電路（Integrated Circuit，簡(jiǎn)稱IC）芯片的三大測(cè)試環(huán)節(jié)包括前端測(cè)試、中間測(cè)試和后端測(cè)試。
2023-06-26 14:30:05
443 集成電路芯片的測(cè)試（ICtest）分類包括：分為晶圓測(cè)試（wafertest）、芯片測(cè)試（chiptest）和封裝測(cè)試（packagetest）。
2023-06-14 15:33:36347 數(shù)字集成電路的測(cè)試主要包括直流參數(shù)測(cè)試 (DC Test)、交流參數(shù)測(cè)試(AC Test)、功能測(cè)試（Function Test)、可測(cè)性設(shè)計(jì)（DFT）測(cè)試等。典型的數(shù)字集成電路測(cè)試順序如圖所示。
2023-05-26 10:08:331186 
集成電路封裝測(cè)試是指對(duì)集成電路封裝進(jìn)行的各項(xiàng)測(cè)試，以確保封裝的質(zhì)量和性能符合要求。封裝測(cè)試通常包括以下內(nèi)容。
2023-05-25 17:32:52705 , WLP)、硅通孔(Through Silicon Via, TSV)、三維集成等先進(jìn)封裝工藝，帶來了新的測(cè)試工序和復(fù)雜光機(jī)電集成失效特性：這些技術(shù)的演進(jìn)也導(dǎo)致集成電路測(cè)試變得日益復(fù)雜?；ヂ?lián)網(wǎng)、物聯(lián)網(wǎng)、云計(jì)算、大數(shù)據(jù)等新應(yīng)用、新業(yè)態(tài)的出現(xiàn)，不斷推動(dòng)集成電路測(cè)試技術(shù)的發(fā)展和信息化進(jìn)程。
2023-05-25 09:48:39673 
集成電路測(cè)試可以按照測(cè)試目的、測(cè)試內(nèi)容、按照器件開發(fā)和制造階段分類。參照需要達(dá)到的測(cè)試目的對(duì)集成電路測(cè)試進(jìn)行分類，可以分為:驗(yàn)證測(cè)試、制造測(cè)試、老化測(cè)試、入廠測(cè)試等。按照測(cè)試所涉及內(nèi)容，集成電路測(cè)試
2023-04-25 15:58:33253 半導(dǎo)體集成電路測(cè)試技術(shù)伴隨著集成電路的飛速發(fā)展而發(fā)展，對(duì)促進(jìn)集成電路的進(jìn)步和廣泛應(yīng)用作出了巨大的貢獻(xiàn)。在集成電路研制、生產(chǎn)、應(yīng)用等各個(gè)階段都要進(jìn)行反復(fù)多次的檢驗(yàn)、測(cè)試來確保產(chǎn)品質(zhì)量和研制開發(fā)出符合
2023-04-13 09:17:34344 
了解CMOS集成電路的技術(shù)參數(shù)及特性，有助于更好地幫助我們提高集成電路的設(shè)計(jì)效率，也能進(jìn)一步鞏固我們的自身基礎(chǔ)知識(shí)，所以今天我們將詳談CMOS集成電路
2023-03-03 15:17:071028 半導(dǎo)體集成電路引線牢固性測(cè)試是檢查器件的引線、引線鍍涂、引線焊接和密封承受施加于引線和密封上的彎曲應(yīng)力的能力。這些應(yīng)力在器件的實(shí)際使用和組裝過程中，或在環(huán)境試驗(yàn)前用中等彎曲應(yīng)力對(duì)引線進(jìn)行預(yù)處理
2023-01-04 17:08:13609 基于基于Qt的集成電路測(cè)試軟件設(shè)計(jì)方案
2021-06-19 12:02:35
30 基于ATE的集成電路測(cè)試原理和方法綜述
2021-06-17 09:34:44108 集成電路封裝測(cè)試與可靠性分析。
2021-04-09 14:21:51106 越來越多的人認(rèn)識(shí)到了集成電路IC對(duì)電子工業(yè)的重要性，對(duì)集成電路的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的投入也越來越大。集成電路的電磁兼容也同樣重要，電磁兼容EMC的測(cè)試，可以分成組部件級(jí)，設(shè)備級(jí)和系統(tǒng)級(jí)，每個(gè)級(jí)別都有相應(yīng)的EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
2021-01-04 16:53:305138 
按集成度高低分類集成電路按集成度高低的不同可分為小規(guī)模集成電路、中規(guī)模集成電路、大規(guī)模集成電路、超大規(guī)模集成電路、特大規(guī)模集成電路和巨大規(guī)模集成電路。??
2019-10-12 10:26:018583 電子技術(shù)的電控電路常采用CMOS邏輯控制系統(tǒng)，通過多年的維修實(shí)踐，我們自行設(shè)計(jì)和安裝了簡(jiǎn)易集成邏輯門電路測(cè)試儀。只要掌握了各種邏輯門電路輸入和輸出的邏輯關(guān)系，通過該測(cè)試儀即可很快判斷集成電路的好壞。
2019-02-06 19:19:007462 
本文開始介紹了什么是集成電路與集成電路擁有的特點(diǎn)，其次介紹了集成電路的分類和集成電路的原材料，最后詳細(xì)的介紹了集成電路的四個(gè)封裝形式及集成電路電路符號(hào)和應(yīng)用電路識(shí)圖方法。
2018-01-24 18:25:4926825 分為wafer test（晶圓檢測(cè)）、chip test（芯片檢測(cè)）和package test（封裝檢測(cè)）。關(guān)于集成電路測(cè)試
檢測(cè)之前要做的工作就是要充分了解集成電路的工作原理。要熟悉它的內(nèi)部電路，主要參數(shù)指標(biāo)，各個(gè)引出線的作用及其正常電壓。第一部工作做的好，后面的檢查就會(huì)順利很多。
2017-12-20 16:39:0222895 
本文主要介紹了什么是集成電路,集成電路的結(jié)構(gòu)與特點(diǎn)、集成電路對(duì)集成電路的種類和作用進(jìn)行了詳細(xì)的介紹，最后簡(jiǎn)單的闡述了集成電路的發(fā)展。
2017-12-20 11:49:0883911 本文以集成電路測(cè)試儀為中心、主要介紹了什么是集成電路測(cè)試儀、集成電路測(cè)試儀有哪些種類、電路測(cè)試儀的組成以及集成電路測(cè)試儀的選購技巧。
2017-12-20 11:33:5112668 電子專業(yè)單片機(jī)相關(guān)知識(shí)學(xué)習(xí)教材資料—集成電路測(cè)試技術(shù)簡(jiǎn)單介紹
2016-09-01 17:24:5345 通過對(duì)IMS 公司生產(chǎn)的集成電路測(cè)試系統(tǒng)ATS 的描述，討論了集成電路(IC)的測(cè)試技術(shù)及其在ATS 上的應(yīng)用方法，并以大規(guī)模集成電路芯片8255 為例，給出一種芯片在該集成電路測(cè)試系統(tǒng)上從功能分析到具體測(cè)試的使用過程。
2016-09-01 17:24:5369 電子專業(yè)單片機(jī)相關(guān)知識(shí)學(xué)習(xí)教材資料——很好的集成電路測(cè)試資料
2016-09-01 16:40:0761 基于集成電路應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證的失效機(jī)理中文版
2016-02-25 16:08:117 最新集成電路應(yīng)用最新集成電路應(yīng)用最新集成電路應(yīng)用
2015-11-05 16:58:288 集成電路的測(cè)試技術(shù)隨著集成電路開發(fā)應(yīng)用的飛速發(fā)展而發(fā)展。集成電路測(cè)試儀也從最初測(cè)試小規(guī)模集成電路發(fā)展到測(cè)試中規(guī)模、大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路。
2014-10-07 17:05:562030 
大容量存儲(chǔ)器集成電路的測(cè)試系統(tǒng)是科技型中小企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新基金項(xiàng)目,是根據(jù)大容量存儲(chǔ)器集成電路SDRAM、DDR SDRAM和：flash RAM的發(fā)展趨勢(shì)而研究開發(fā)的測(cè)試系統(tǒng)。方案的主要內(nèi)容為測(cè)試
2012-04-26 10:54:221686 集成電路測(cè)試是保證集成電路質(zhì)量、發(fā)展的關(guān)鍵手段。CMOS 器件進(jìn)入超深亞微米階段, 集成電路繼續(xù)向高集成度、高速度、低功耗發(fā)展, 使得IC 在測(cè)試和可測(cè)試性設(shè)計(jì)上都面臨新的挑戰(zhàn)。
2011-05-20 16:48:2082 集成電路代換方法與技巧
1、 集成電路型號(hào)的識(shí)別
要全面了解一塊集成電路的用途、功能、電特性，
2010-09-19 11:34:281719 一．實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、通過對(duì)集成電路外特性的測(cè)試，了解集成電路的電氣性能和特點(diǎn)；2、進(jìn)一步掌握示波器和信號(hào)源的使用方法。二．實(shí)驗(yàn)器材實(shí)驗(yàn)儀器：PC機(jī)、軟件EWB5.0。
2010-08-06 11:50:4445 混合集成電路,混合集成電路是什么意思
由半導(dǎo)體集成工藝與?。ê瘢┠すに嚱Y(jié)合而制成的集成電路?；旌?b style="color: red">集成電路是在基片上用成膜方法制作厚
2010-03-20 16:19:023991 集成電路代換方法與技巧
1、 集成電路型號(hào)的識(shí)別
要全面了解一塊集成電路的用途、功能、電特性，那必須知道該塊集成電
2010-01-26 10:41:351536 《VXI 數(shù)模混合集成電路測(cè)試系統(tǒng)》的開發(fā)，對(duì)于集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證、集成電路測(cè)試都有著極其重要的意義。VXI 總線測(cè)試系統(tǒng)由于其開放性、可擴(kuò)展性及模塊化結(jié)構(gòu)使其應(yīng)用廣泛
2009-12-19 15:23:1623 集成電路替換技巧
集成電路型號(hào)的識(shí)別
要全面了解一塊集成電路的用途、功能、電特性，那必須知道
2009-11-24 08:33:27783 集成電路測(cè)試儀電源電路的仿真設(shè)計(jì)研究與應(yīng)用
0 引 言
集成電路測(cè)試儀可用來測(cè)量集成電路的好壞，在電子實(shí)驗(yàn)室中應(yīng)用廣泛。在實(shí)際使
2009-11-23 08:55:27618 集成電路測(cè)試儀電源電路的仿真設(shè)計(jì)研究與應(yīng)用
0 引 言
集成電路測(cè)試儀可用來測(cè)量集成電路的好壞，在電子實(shí)驗(yàn)室中應(yīng)用廣泛。在實(shí)際使用中，發(fā)現(xiàn)部分廠家
2009-11-21 09:33:14461 
本文介紹了集成電路電磁兼容測(cè)試的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試方法。對(duì)其中的1Ω/150Ω直接耦合法和工作臺(tái)法拉第籠法進(jìn)行了詳細(xì)介紹和分析，并提出集成電路電磁兼容測(cè)試平臺(tái)解決方案以滿
2009-10-07 23:03:0748 集成電路電磁騷擾測(cè)試方法:摘要：本文分析了高頻數(shù)字集成電路產(chǎn)生電磁發(fā)射的原因及其電磁發(fā)射的測(cè)量原理，簡(jiǎn)要說明了集成電路電磁騷擾的幾種測(cè)試方法及其理論依據(jù)，介紹
2009-10-07 23:01:4833 單片集成電路電容測(cè)試儀
這個(gè)電路可用于匹配
2009-09-23 16:42:41398 
中規(guī)模集成電路功能測(cè)試儀的設(shè)計(jì)
設(shè)計(jì)了一款針對(duì)學(xué)校實(shí)驗(yàn)室常用的中規(guī)模集成電路芯片的功能測(cè)試儀。測(cè)試儀的核心AT89C55單片機(jī)管理和控制整個(gè)
2009-09-19 09:15:47976 
半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理:GB/T 6798-1996
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路電壓比較器電特性測(cè)試方法的基本原理本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路電壓比較器
2009-08-04 11:02:2455
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