--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 產(chǎn)地 美國(guó)
- 類(lèi)型 射頻離子源
- 品牌 KRi
--- 產(chǎn)品詳情 ---
因產(chǎn)品配置不同, 價(jià)格貨期需要電議, 圖片僅供參考, 一切以實(shí)際成交合同為準(zhǔn)
KRi 射頻離子源 RFICP 系列
上海伯東美國(guó) KRi 射頻離子源 RFICP 系列, 無(wú)需燈絲提供高能量, 低濃度的離子束, 通過(guò)柵極控制離子束的能量和方向, 單次工藝時(shí)間更長(zhǎng)! 射頻源 RFICP 系列提供完整的系列, 包含離子源本體, 電子供應(yīng)器, 中和器, 自動(dòng)控制器等. 射頻離子源適合多層膜的制備, 離子濺鍍鍍膜和離子蝕刻, 改善靶材的致密性, 光透射, 均勻性, 附著力等.
射頻離子源 RFICP 系列技術(shù)參數(shù):
射頻離子源 RFICP 系列應(yīng)用:
離子輔助鍍膜 IBAD ( Ion beam assisted deposition in thermal & e-beam evaporation )
離子清洗 PC (In-situ preclean in sputtering & evaporation )
表面改性, 激活 SM (Surface modification and activation )
離子蝕刻 IBE (Ion beam etching of surface features in any material)
離子濺鍍 IBSD (Ion beam sputter deposition of single and multilayer structures)
上海伯東美國(guó)考夫曼 KRi 大口徑射頻離子源 RFICP 220, RFICP 380 成功應(yīng)用于 12英寸和 8英寸離子束刻蝕機(jī), 作為蝕刻機(jī)的核心部件, KRI 射頻離子源提供大尺寸, 高能量, 低濃度的離子束, 接受客戶定制, 單次工藝時(shí)間更長(zhǎng), 滿足各種材料刻蝕需求!
1978 年 Dr. Kaufman 博士在美國(guó)創(chuàng)立 Kaufman & Robinson, Inc 公司, 研發(fā)生產(chǎn)考夫曼離子源, 霍爾離子源和射頻離子源. 美國(guó)考夫曼離子源歷經(jīng) 40 年改良及發(fā)展已取得多項(xiàng)專(zhuān)利. 離子源廣泛用于離子清洗 PC, 離子蝕刻 IBE, 輔助鍍膜 IBAD, 離子濺射鍍膜 IBSD 領(lǐng)域, 上海伯東是美國(guó)考夫曼離子源中國(guó)總代理.
若您需要進(jìn)一步的了解 KRi 射頻離子源, 請(qǐng)聯(lián)絡(luò)上海伯東葉女士,分機(jī)107
上海伯東版權(quán)所有, 翻拷必究!
為你推薦
-
inTEST 芯片高低溫沖擊熱流儀2024-10-18 13:59
產(chǎn)品型號(hào):ATS-535 產(chǎn)地:美國(guó) 溫度范圍:-60 至+ 225°C 特點(diǎn):集成空壓機(jī) -
inTEST BT28 桌面型高低溫沖擊熱流儀2024-09-12 13:56
產(chǎn)品型號(hào):inTEST BT28 溫度范圍:-28° 至 +225°C 溫度顯示和分辨率:+/- 0.1°C -
離子束刻蝕機(jī) 20 IBE-J2024-09-12 13:51
產(chǎn)品型號(hào):20 IBE-J 特點(diǎn):干法物理納米級(jí)刻蝕 射頻角度:可以任意調(diào)整 -
inTEST Sigma M256 高低溫試驗(yàn)箱2023-12-01 10:58
產(chǎn)品型號(hào):Sigma M256 產(chǎn)地:美國(guó) 腔室體積:255 L -
inTEST Sigma M170 高低溫試驗(yàn)箱2023-12-01 10:55
產(chǎn)品型號(hào):Sigma M170 產(chǎn)地:美國(guó) 溫度范圍:-185°C 至 400°C 腔室體積:165 L -
inTEST Sigma M58 高低溫試驗(yàn)箱2023-12-01 10:19
產(chǎn)品型號(hào):Sigma M58 產(chǎn)地:美國(guó) 寬溫度范圍:-185 °C 至 500°C 腔室體積:59 L -
inTEST Sigma M10 高低溫試驗(yàn)箱2023-12-01 10:06
產(chǎn)品型號(hào):Sigma M10 產(chǎn)地:美國(guó) 寬溫度范圍:-185°C 至 500°C 腔室體積:10 L -
inTEST Sigma 高低溫試驗(yàn)箱, 溫度環(huán)境試驗(yàn)箱2023-12-01 09:39
產(chǎn)品型號(hào):Sigma 品牌:inTEST 產(chǎn)地:美國(guó) 溫度范圍:-185°至 +500°C -
普發(fā)分流式分子泵 SplitFlow2023-07-11 10:13
產(chǎn)品型號(hào):SplitFlow 產(chǎn)地:德國(guó) -
普發(fā)分子泵 HiPace 80 Neo2023-07-11 10:09
產(chǎn)品型號(hào):HiPace 80 Neo 產(chǎn)地:德國(guó)
-
Gel-Pak VRP 可變黏度防靜電真空釋放盒2024-10-18 14:19
-
氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340W 鋰電池蓋帽(蓋板)檢漏系統(tǒng)2024-09-13 10:53
上海伯東氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340W 適用于動(dòng)力電池行業(yè)和汽車(chē)行業(yè)的檢漏系統(tǒng), 提供鋰電池蓋帽(蓋板)檢漏, 汽車(chē)壓縮機(jī)真空檢漏解決方案.325瀏覽量 -
KRi 霍爾離子源 EH 2000 望遠(yuǎn)鏡鏡片光學(xué)鍍膜應(yīng)用2024-09-13 10:38
-
美國(guó) inTEST 高低溫沖擊熱流儀助力半導(dǎo)體芯片研發(fā)2024-09-13 10:19
上海伯東代理美國(guó) inTEST 高低溫沖擊熱流儀兼容各品牌半導(dǎo)體測(cè)試機(jī), 可正確評(píng)估與參數(shù)標(biāo)定芯片開(kāi)發(fā), 器件或模塊研發(fā), 品質(zhì)檢查, 第三方認(rèn)證, 失效分析, FAE 等幾乎所有流程, 高低溫沖擊測(cè)試作為一種常見(jiàn)的測(cè)試手段, 適用于 IGBT, MOSFET, 三極管, 二極管等各類(lèi)半導(dǎo)體特性測(cè)試.460瀏覽量 -
離子束刻蝕機(jī)物理量傳感器 MEMS 刻蝕應(yīng)用2024-09-12 13:31
-
氦質(zhì)譜檢漏儀應(yīng)用于半導(dǎo)體新材料和設(shè)備管道檢漏2023-11-09 15:31
-
氦質(zhì)譜檢漏儀應(yīng)用于真空鍍膜生產(chǎn)線2023-08-07 14:35
-
Gel-Pak VR真空釋放盒應(yīng)用于50V GaN HEMT 芯片2023-08-07 14:28
-
inTEST熱流儀邏輯芯片 FPGA高低溫沖擊測(cè)試2023-08-07 14:21
FPGA 芯片需要按照 JED22-A104 標(biāo)準(zhǔn)做溫度循環(huán) TC 測(cè)試, 讓其經(jīng)受極端高溫和低溫之間的快速轉(zhuǎn)換. 一般在?-55℃~150℃ 進(jìn)行測(cè)試, 傳統(tǒng)的環(huán)境箱因?yàn)樯禍厮俣仁芟? 無(wú)法滿足研發(fā)的快速循環(huán)測(cè)試需求. 上海伯東美國(guó) inTEST 熱流儀 ATS-710E 變溫速率約 10 s, 實(shí)現(xiàn) FPGA 芯片極端高溫和低溫之間的快速轉(zhuǎn)換測(cè)939瀏覽量 -
上海伯東分子泵應(yīng)用于 LED 芯片退火合金爐2023-08-07 14:14
-
Aston Impact 高靈敏度質(zhì)譜分析儀 CVD 清洗終點(diǎn)優(yōu)化2024-10-18 13:42
-
Aston 質(zhì)譜儀等離子體刻蝕過(guò)程及終點(diǎn)監(jiān)測(cè)2024-10-18 13:33
刻蝕是半導(dǎo)體制造中最常用的工藝之一, 上海伯東日本 Atonarp Aston 質(zhì)譜儀適用于等離子體刻蝕過(guò)程及終點(diǎn)監(jiān)測(cè) (干法刻蝕終點(diǎn)檢測(cè)), 通過(guò)持續(xù)監(jiān)控腔室工藝化學(xué)氣體, 確保半導(dǎo)體晶圓生產(chǎn)的高產(chǎn)量和最大吞吐量.92瀏覽量 -
Aston 質(zhì)譜分析儀搭配 Scrubber 半導(dǎo)體尾氣處理設(shè)備進(jìn)行氣體檢測(cè)2024-10-18 13:24
-
鈮酸鋰 LiNbO3 薄膜 IBE 離子束刻蝕2024-09-13 10:59
-
美國(guó) Gel-Pak 應(yīng)用于 VCSEL 芯片生產(chǎn)2024-09-13 10:28
-
美國(guó)進(jìn)口 KRi 考夫曼離子源 KDC 160 硅片刻蝕清潔案例2024-09-13 10:10
-
inTEST 熱流儀車(chē)載顯示器高低溫光學(xué)測(cè)量應(yīng)用2024-09-12 14:17
通過(guò)美國(guó) inTEST ATS-545 熱流儀給車(chē)載顯示器升溫或降溫, 測(cè)量其在不同溫度下任意點(diǎn)的光學(xué)特性, 實(shí)現(xiàn)高低溫環(huán)境 -40 至 100℃ 下產(chǎn)品的亮度, 色度, 響應(yīng)時(shí)間和可視角度測(cè)試.151瀏覽量 -
HiCube 80 Eco 分子泵組搭配低溫阻抗測(cè)試儀應(yīng)用2023-12-08 14:29
-
SF6 密度繼電器氦質(zhì)譜檢漏法2023-12-08 14:21
-
新能源汽車(chē) IGBT 功率器件高低溫沖擊測(cè)試2023-12-01 15:48
車(chē)用 IGBT 模塊對(duì)產(chǎn)品性能和質(zhì)量的要求要明顯高于消費(fèi)和工控領(lǐng)域, 需要通過(guò)嚴(yán)格的車(chē)規(guī)認(rèn)證, 汽車(chē) IGBT 模塊測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)主要參照 AEC-Q101 和 AQG-324, 其中溫度沖擊, 功率循環(huán), 溫度循環(huán), 結(jié)溫等是其中重要的測(cè)試要求, 功率循環(huán)和溫度循環(huán)作為代表的耐久測(cè)試, 測(cè)試循環(huán)次數(shù)可能從幾萬(wàn)次到十萬(wàn)次不等.503瀏覽量