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廣東艾思荔儀器

艾思荔成立于2006年,主要產(chǎn)品有恒溫恒濕箱,冷熱沖擊箱,高低溫箱,三綜合試驗(yàn)箱,高壓加速老化箱,振動(dòng)臺(tái)等,為用戶提供環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。

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平板電腦高低溫濕熱試驗(yàn)箱

型號(hào): HL-150C
品牌: ASLI(艾思荔)

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 材質(zhì) 不銹鋼
  • 內(nèi)箱尺寸 500*600*500MM
  • 溫度范圍 -20~+150度
  • 濕度范圍 20~98%R.H
  • 電源 220V

--- 產(chǎn)品詳情 ---

平板電腦高低溫濕熱試驗(yàn)箱 箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型,造型美觀大方,并采用無反作用把手,操作簡(jiǎn)便。外箱采用SUS304#霧面線條處理不銹鋼板,內(nèi)箱采用進(jìn)口不銹鋼SUS#304鏡面鋼板。外形設(shè)計(jì)美觀,各零部件安裝位置合理,靜電噴涂顏色能滿足客戶實(shí)驗(yàn)室整體配套要求。

平板電腦高低溫濕熱試驗(yàn)箱規(guī)格:

型 號(hào)     工作室尺寸(mm)  外箱尺寸(mm)

HL-80     400*500*400     950*1650*950

HL-150    500*600*500    1050*1750*1050

HL-225    600*750*500    1200*1900*1150

HL-408    600*800*850    1200*1950*1350

HL-800    1000*1000*800  1600*2000*1450

HL-1000   1000*1000*1000  1600*2100*1450

溫度范圍:A型:25℃~150℃;B型:0℃~150℃;C型:-20℃~150℃;D型:-40℃~150℃;E型:-60℃~150℃;F型:-70℃~150℃

濕度范圍:20%~98%RH 

降溫速率:20℃~-70℃/85min(空載下) 

升溫速率:20℃~+150℃/45min(空載下) 

發(fā)熱負(fù)載:250W.(40℃,90%RH) 

溫度穩(wěn)定度:±0.2℃ 

濕度穩(wěn)定度:±2% 

平板電腦高低溫濕熱試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn):

1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法;

2、GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)方法;

3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N;

7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);

8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);

9、GJB367.2-87405溫度沖擊試驗(yàn)。

10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式 

11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式 

12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化 

10、GB/T2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則 

11、GB/T2423.22-2002溫度變化

12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則

13、EIA364-32熱沖擊(溫度循環(huán))

平板電腦高低溫濕熱試驗(yàn)箱應(yīng)用范圍:  

    平板電腦高低溫濕熱試驗(yàn)箱又名高低溫濕熱試驗(yàn)室、大型高低溫濕熱試驗(yàn)箱、兩箱移動(dòng)平板電腦高低溫濕熱試驗(yàn)箱,用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從IC到重機(jī)械的組件,無一不需要它的理想測(cè)試工具. 

    為了仿真不同電子構(gòu)件,在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴(yán)格測(cè)試環(huán)境,縮短測(cè)試時(shí)間,降低測(cè)試費(fèi)用,但是須要注意可能對(duì)材料測(cè)試造成額外的影響,產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為:TemperatureCycling或TemperatureCyclingTest也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。 

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