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電子發(fā)燒友網(wǎng)>汽車電子>1860后視鏡可靠性試驗(yàn),6大類25項(xiàng)測(cè)試

1860后視鏡可靠性試驗(yàn),6大類25項(xiàng)測(cè)試

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可靠性測(cè)試

各位大爺覺得可靠性測(cè)試有沒有必要做?
2016-07-07 17:25:55

可靠性測(cè)試中的HALT試驗(yàn)與HASS試驗(yàn)---加速壽命老化試驗(yàn)

HALT & HASS是由美國(guó)軍方所延伸出的設(shè)計(jì)質(zhì)量驗(yàn)證與制造質(zhì)量驗(yàn)證的試驗(yàn)方法,現(xiàn)已成為美國(guó)電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗(yàn)證方法。它將原需花費(fèi)6個(gè)月甚至1年的新產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)縮短至一周,且在這
2015-08-04 17:38:43

可靠性測(cè)試方法

[size=***4pt]課程介紹:實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)的過程中有兩大難題,其中之一就是如何在實(shí)驗(yàn)室樣機(jī)階段就能把潛在的隱患激發(fā)出來,不要讓用戶成為我們的測(cè)試工程師。為了解決此問題,我公司組織多位資深
2011-03-28 22:33:18

可靠性試驗(yàn)分類方法及試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

可靠性試驗(yàn)室若按試驗(yàn)目的來劃分,則可分為篩選試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn);4.可靠性試驗(yàn)若按試驗(yàn)性質(zhì)來劃分,也可分為破壞試驗(yàn)和非破壞試驗(yàn)大類。5.但通常慣用的分類法,可靠性試驗(yàn)是把它歸納為五大類:A.
2017-01-20 09:59:00

可靠性與失效分析

和電子輔料等可靠性應(yīng)用場(chǎng)景方面具有專業(yè)的檢測(cè)、分析和試驗(yàn)能力,可為各研究院所、高校、企業(yè)提供產(chǎn)品的可靠性檢測(cè)、失效分析、老化測(cè)試等一體化服務(wù)。本中心目前擁有各類可靠性檢測(cè)分析儀器,其中包括
2018-06-04 16:13:50

可靠性工程技術(shù)簡(jiǎn)介

、ESD和雷擊試驗(yàn)等〕等?!“?b class="flag-6" style="color: red">試驗(yàn)的性質(zhì)劃分:可分為工程試驗(yàn)和統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)大類。工程試驗(yàn)包括環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)。統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)包括可靠性鑒定〔驗(yàn)證〕試驗(yàn)可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)。元器件失效分析  失效
2011-11-24 16:28:03

可靠性是什么?

設(shè)計(jì)(使用冗余技術(shù)),使用故障診斷技術(shù)等。可靠性主要包括電路可靠性及元器件的選型有必要時(shí)用一定儀器檢測(cè)。可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施
2015-08-04 11:04:27

可靠性檢技術(shù)及可靠性檢驗(yàn)職業(yè)資格取證

和技術(shù)管理輔導(dǎo)、培訓(xùn)和咨詢。2.馮敬東  中國(guó)電子電器可靠性工程協(xié)會(huì)高級(jí)講師,從事可靠性研究工作25年,對(duì)可靠性環(huán)境試驗(yàn)方法和可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備有較深入的了解,其“硅壓力傳感器綜合評(píng)價(jià)
2010-08-27 08:25:03

可靠性管理概要

,應(yīng)制定具體的管理要求的措施。(1)信息收集工作:應(yīng)分別對(duì)產(chǎn)品研制、生產(chǎn)檢驗(yàn)、試驗(yàn)、失效分析的各種記錄中所包含的有關(guān)可靠性信息,分門別地收集,并制定定期歸檔的管理制度。(2)信息加工工作:信息加工工作在
2009-05-24 16:49:57

可靠性設(shè)計(jì)分析系統(tǒng)

可靠性是我們?cè)陂_展電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)過程中常常繞不開的問題。例如,客戶需要我們提供相關(guān)的可靠性預(yù)計(jì)報(bào)告,客戶需要我們的產(chǎn)品提供相應(yīng)的可靠性試驗(yàn)報(bào)告,或者企業(yè)內(nèi)部需要控制產(chǎn)品質(zhì)量,制定了一系列的可靠性工作
2017-12-08 10:47:19

可靠性驗(yàn)證

當(dāng)組件上板后進(jìn)行一系列的可靠性驗(yàn)證,可靠性驗(yàn)證過程中產(chǎn)品失效時(shí),透過板階整合失效分析能快速將失效接口找出,宜特協(xié)助客戶厘清真因后能快速改版重新驗(yàn)證來達(dá)到產(chǎn)品通過驗(yàn)證并如期上市。 透過板階整合失效分析
2018-08-28 16:32:38

EMC租場(chǎng)測(cè)試 可靠性測(cè)試 技術(shù)支持

)   Surge(浪涌,雷擊)   PMS(工頻磁場(chǎng)搞擾度)EMC測(cè)試-指南  一、EMI(電磁騷擾)分射頻和工頻兩測(cè)試  l 射頻測(cè)試項(xiàng)目:   1.1 射頻分傳導(dǎo)和輻射兩項(xiàng)測(cè)試  射頻傳導(dǎo)(屏蔽室測(cè)試
2012-02-02 17:13:40

GaN可靠性測(cè)試

都應(yīng)通過這樣的測(cè)試。依我看,JEDEC制定的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)該涵蓋這類測(cè)試。您說呢?” 客戶的質(zhì)疑是對(duì)的。為使GaN被廣泛使用,其可靠性需要在預(yù)期應(yīng)用中得到證明,而不是僅僅通過硅材料配方合格認(rèn)證(silicon
2018-09-10 14:48:19

IC產(chǎn)品的可靠性測(cè)試,你了解多少?

的問題,可靠性解決的是一段時(shí)間以后的問題。Quality的問題解決方法往往比較直接,設(shè)計(jì)和制造單位在產(chǎn)品生產(chǎn)出來后,通過簡(jiǎn)單的測(cè)試就可以知道產(chǎn)品性能是否達(dá)到SPEC的要求,這種測(cè)試在IC的設(shè)計(jì)和制造單位就可以
2019-11-23 09:59:07

LED加速壽命和可靠性試驗(yàn)

、15min關(guān)的循環(huán)測(cè)試到壽命終了,對(duì)LED產(chǎn)品的測(cè)量顯然不現(xiàn)實(shí)。因此有必要對(duì)LED產(chǎn)品采用加速老化壽命試驗(yàn)[1],同時(shí),也應(yīng)當(dāng)測(cè)試LED的熱學(xué)特性、環(huán)境耐候、電磁兼容抗擾度等與壽命和可靠性密切相關(guān)
2015-08-04 17:42:14

LabVIEW開發(fā)的測(cè)試環(huán)境要如何驗(yàn)證自身的可靠性

LabVIEW開發(fā)的測(cè)試環(huán)境要如何驗(yàn)證自身的可靠性呢?這個(gè)環(huán)境是用來測(cè)試汽車儀表用的,可是不能保證環(huán)境自身的可靠性,那么測(cè)試的結(jié)果也就沒有意義了。請(qǐng)高人指點(diǎn)下~?。?/div>
2017-09-26 08:07:49

PCBA的可靠性測(cè)試有哪幾種?

  PCBA測(cè)試是PCBA制程中控制產(chǎn)品品質(zhì)的一個(gè)重要環(huán)節(jié),是為了檢測(cè)PCBA板是否有足夠的可靠性來完成以后的工作,它是確保生產(chǎn)交貨質(zhì)量的關(guān)鍵步驟。一般來說,PCBA可靠性測(cè)試分為ICT測(cè)試、FCT
2020-09-02 17:44:35

PCB線路板可靠性分析及失效分析

及環(huán)境試驗(yàn)分析利用冷熱沖擊,氣體腐蝕,HAST試驗(yàn),PCT試驗(yàn),CAF試驗(yàn)、回流焊測(cè)試等老化測(cè)試設(shè)備,PCB線路板可靠性不過失效分析:主要利用機(jī)械研磨,氬離子拋光,F(xiàn)IB離子束等制樣手段,掃描電鏡
2021-08-05 11:52:41

PoP的SMT工藝的可靠性

  可靠性是另一關(guān)注的重點(diǎn)。目前,環(huán)球儀器SMT工藝實(shí)驗(yàn)室正在進(jìn)行的另一個(gè)項(xiàng)目就是堆疊裝配可靠性研究。從目前采用跌落測(cè)試的研究結(jié)果來看,失效主要發(fā)生在兩層元件之間的連接。位置主要集中在元件角落處
2018-09-06 16:24:30

SiC-MOSFET的可靠性

半導(dǎo)體的測(cè)試方法,其可靠性試驗(yàn)結(jié)果如下。從結(jié)果可以看出,ROHM的SiC-MOSFET具有足夠的可靠性。關(guān)鍵要點(diǎn):?ROHM的SiC-MOSFET與已經(jīng)普及的Si-MOSFET具有相同的可靠性
2018-11-30 11:30:41

SiC-SBD關(guān)于可靠性試驗(yàn)

。在這里就SiC-SBD的可靠性試驗(yàn)進(jìn)行說明。這是ROHM的SiC-SBD可靠性試驗(yàn)數(shù)據(jù)。首先請(qǐng)看一下具體的項(xiàng)目和條件。對(duì)于進(jìn)行過半導(dǎo)體的可靠性探討和實(shí)際評(píng)估的人來說,這些標(biāo)準(zhǔn)和條件應(yīng)該都是司空見慣
2018-11-30 11:50:49

TCP協(xié)議如何保證可靠性

strcpy()函數(shù)標(biāo)準(zhǔn)該如何去實(shí)現(xiàn)呢?TCP協(xié)議如何保證可靠性呢?
2021-12-24 06:10:04

[原創(chuàng)]提供可靠性及安規(guī)檢測(cè)服務(wù)

/模塊,到整機(jī)系統(tǒng)的氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械力學(xué)試驗(yàn)、產(chǎn)品性能檢測(cè)等可靠性服務(wù);此外,PONY譜尼測(cè)試集團(tuán)作為具備專業(yè)資質(zhì)的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),可以按照CE、UL、VDE、PSE、FCC、SMARK、EK等各國(guó)
2010-03-23 15:16:41

[推薦]電子設(shè)備環(huán)境與可靠性試驗(yàn)

費(fèi)舍爾科技有限公司,專注與環(huán)境與可靠性試驗(yàn)設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)與銷售,產(chǎn)品有:鹽霧試驗(yàn)箱、高低溫(交變)濕熱試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、紫外光耐氣候試驗(yàn)箱、氙燈耐氣候試驗(yàn)箱、臭氧老化試驗(yàn)箱、熱老化試驗(yàn)
2008-09-22 16:46:32

可靠性分析第一步】構(gòu)造可靠性模型

知道這些基本元器件、部件的可靠性和由其構(gòu)成的系統(tǒng)的可靠性的關(guān)系。   描述基本元器件、部件的可靠性的基本數(shù)據(jù)可由生產(chǎn)廠家提供、或通過試驗(yàn)獲得、或通過實(shí)際觀察的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)或經(jīng)驗(yàn)得到。基本元器件、部件的可靠性
2016-09-03 15:47:58

【PCB】什么是高可靠性

、軍事、電子等軍工工業(yè),隨后逐漸擴(kuò)展到民用工業(yè)。60年代,隨著航空航天工業(yè)的迅速發(fā)展,可靠性設(shè)計(jì)和試驗(yàn)方法被接受和應(yīng)用于航空電子系統(tǒng)中,可靠性工程得到迅速發(fā)展!1965年,美國(guó)頒發(fā)了《系統(tǒng)與設(shè)備
2020-07-03 11:09:11

什么是高可靠性?

1952年3月便提出了具有深遠(yuǎn)影響的建議;研究成果首先應(yīng)用于航天、軍事、電子等軍工工業(yè),隨后逐漸擴(kuò)展到民用工業(yè)。60年代,隨著航空航天工業(yè)的迅速發(fā)展,可靠性設(shè)計(jì)和試驗(yàn)方法被接受和應(yīng)用于航空電子系統(tǒng)中
2020-07-03 11:18:02

企業(yè)設(shè)計(jì)的可靠性有哪幾種測(cè)試方法

基于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的可靠性測(cè)試方法企業(yè)設(shè)計(jì)的可靠性測(cè)試方法
2021-03-08 07:55:20

可靠性試驗(yàn)的異同,終于搞懂了!

`可靠性試驗(yàn)是為了解、分析、提高、評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性而進(jìn)行的工作的總稱。依據(jù)GJB450A《裝備可靠性工作通用要求》分類,可靠性試驗(yàn)可以分為環(huán)境應(yīng)力篩選、可靠性研制試驗(yàn)可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)、可靠性鑒定試驗(yàn)
2019-07-23 18:29:15

軍用電子元器件二篩,進(jìn)口元器件可靠性篩選試驗(yàn)

軍用電子元器件二篩,二次篩選試驗(yàn),進(jìn)口元器件可靠性篩選試驗(yàn) 按性質(zhì)分類: (1)檢查篩選:顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞檢查。 (2)密封篩選:液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射示蹤檢漏
2023-06-08 09:17:22

單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的可靠性可靠性設(shè)計(jì)

可靠性測(cè)試記錄。 (2)最大的系統(tǒng)集成最大的系統(tǒng)集成可以最大限度簡(jiǎn)化系統(tǒng)構(gòu)成,有助于減少系統(tǒng)硬件失誤概率。最大的系統(tǒng)集成應(yīng)具備:依靠器件解決的思想;單片機(jī)選擇實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的最大包容;0EM 的支持。 2.
2021-01-11 09:34:49

單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的可靠性特點(diǎn)

可靠性設(shè)計(jì)是單片機(jī)應(yīng)甩系統(tǒng)設(shè)計(jì)必不可少的設(shè)計(jì)內(nèi)容。本文從現(xiàn)代電子系統(tǒng)的可靠性出發(fā),詳細(xì)論述了單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的可靠性特點(diǎn)。提出了芯片選擇、電源設(shè)計(jì)、PCB制作、噪聲失敏控制、程序失控回復(fù)等集合硬件系統(tǒng)
2021-02-05 07:57:48

基于汽車GDDR6的高可靠性系統(tǒng)設(shè)計(jì)測(cè)試

汽車行業(yè)發(fā)展迅速,汽車的設(shè)計(jì)、制造和操控方式在發(fā)生著重大轉(zhuǎn)變。最值得注意的是,與半導(dǎo)體技術(shù)相關(guān)的安全可靠性在很大程度上影響著汽車的安全。系統(tǒng)集成商面對(duì)的挑戰(zhàn)是構(gòu)建強(qiáng)大的平臺(tái),并確保該平臺(tái)能夠在
2019-07-25 07:43:04

大功率白光LED的應(yīng)用及其可靠性研究

工程學(xué)的可靠性預(yù)測(cè)機(jī)制,就是嘗試一種在無需長(zhǎng)期壽命試驗(yàn)條件下實(shí)現(xiàn)對(duì)LED可靠性量化預(yù)測(cè)的方法,它可以大大減少試驗(yàn)時(shí)間,節(jié)約壽命試驗(yàn)成本?! ⊥ㄟ^管子初期性能指標(biāo)的測(cè)試,分析出與后期失效相關(guān)的特征值,從而達(dá)到
2011-08-19 08:41:03

如何保證FPGA設(shè)計(jì)可靠性?

為了FPGA保證設(shè)計(jì)可靠性, 需要重點(diǎn)關(guān)注哪些方面?
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2021-05-11 06:11:18

如何實(shí)現(xiàn)高可靠性電源的半導(dǎo)體解決方案

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2021-03-18 07:49:20

如何對(duì)嵌入式軟件進(jìn)行可靠性測(cè)試

摘 要 本文針對(duì)目前嵌入式軟件設(shè)計(jì)可靠性測(cè)試用例的手段主要依靠手工分析,沿用傳統(tǒng)的軟件測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法進(jìn)行,不能夠滿足可靠性測(cè)試用例設(shè)計(jì)的基本要求的問題,設(shè)計(jì)了一套行之有效的可靠性測(cè)試用例自動(dòng)生成
2021-10-27 06:10:28

如何才能獲取高可靠性的印制板?

本文擬從印制板下游用戶安裝后質(zhì)量、直接用戶調(diào)試質(zhì)量和產(chǎn)品使用質(zhì)量三方面研究印制板的可靠性,從而表征出印制板加工質(zhì)量的優(yōu)劣并提供生產(chǎn)高可靠性印制板的基本途徑。
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`請(qǐng)問如何提高PCB設(shè)計(jì)焊接的可靠性?`
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的各種電氣基礎(chǔ)設(shè)施和市電電網(wǎng)公共設(shè)施。2.LED照明器件及系統(tǒng)的可靠性首先,什么是可靠性?其定義為——產(chǎn)品在規(guī)定的條件和規(guī)定的時(shí)間內(nèi),完成規(guī)定的功能的能力。隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,現(xiàn)代化的操作機(jī)器、工程裝備
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射頻連接器可靠性如何提高

、生程過程、生產(chǎn)工藝、選用的材料、質(zhì)量控制及其是否正確應(yīng)用有關(guān),在這諸多因素中,當(dāng)推結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)是首要的。它在產(chǎn)品的固有可靠性中起決定性作用。因此,在研制設(shè)計(jì)的每一階段,或在可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)中,都應(yīng)特別注意
2019-07-10 08:04:30

嵌入式軟件的可靠性測(cè)試可靠性增長(zhǎng)評(píng)估

關(guān)于嵌入式等軟件可靠性、安全測(cè)試與評(píng)估的資料,希望有幫助。
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。因此,硬件可靠性設(shè)計(jì)在保證元器件可靠性的基礎(chǔ)上,既要考慮單一控制單元的可靠性設(shè)計(jì),更要考慮整個(gè)控制系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)。
2021-01-25 07:13:16

快速溫變可靠性測(cè)試

當(dāng)今社會(huì),市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)日益激烈,品牌企業(yè)之間競(jìng)爭(zhēng)的焦點(diǎn)不僅局限在產(chǎn)品的功能與外觀,產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性越來越受到市場(chǎng)和客戶的重視。安博檢測(cè)股份近年來加大對(duì)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的投入,配備了各種環(huán)境測(cè)試設(shè)備。通過
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板階 (BLR) 車電可靠性驗(yàn)證iST宜特可提供汽車電子及零部件一站式整合驗(yàn)證服務(wù)。車用電子測(cè)試不僅著重于產(chǎn)品壽命測(cè)試,更重要的是,將產(chǎn)品結(jié)構(gòu)及產(chǎn)品組裝質(zhì)量觀念,帶入試驗(yàn)中,例如推拉力測(cè)試、錫球接合
2018-09-06 16:56:38

求劉勝編著的 微電子封裝組件的建模和仿真:制造、可靠性測(cè)試:manufacturing, reliability and testing資源

求劉勝編著的 微電子封裝組件的建模和仿真:制造、可靠性測(cè)試:manufacturing, reliability and testing資源
2017-01-18 17:35:32

汽車電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性測(cè)試

),都在考驗(yàn)著汽車電子產(chǎn)品的可靠性。本文簡(jiǎn)單整理出汽車電子產(chǎn)品相關(guān)的環(huán)境可靠性試驗(yàn)條件,以提供給廣大客戶參考。 目前世界范圍內(nèi),針對(duì)汽車電子產(chǎn)品有很多環(huán)境可靠性測(cè)試方面的要求及標(biāo)準(zhǔn),而常用的標(biāo)準(zhǔn)主要有ISO
2016-02-23 21:22:20

汽車車燈的可靠性測(cè)試要求標(biāo)準(zhǔn)

幫幫忙。一般汽車車燈的可靠性標(biāo)準(zhǔn)要求是怎么樣的?像高溫測(cè)試是測(cè)多少度多久的。像前大燈和霧燈,尾燈這類的
2014-05-05 23:27:49

汽車零部件環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)室及電磁兼容EMC測(cè)試機(jī)構(gòu)

試驗(yàn),電壓暫降測(cè)試,騷擾功率試驗(yàn),電磁抗擾試驗(yàn)室,射頻測(cè)試,電磁場(chǎng)輻射試驗(yàn),抗繞度試驗(yàn),電瞬態(tài)干擾試驗(yàn),插入損耗試驗(yàn)等。 可靠性試驗(yàn)/可靠性測(cè)試可靠性強(qiáng)化試驗(yàn),加速壽命試驗(yàn)(halt),環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)(ess),可靠性驗(yàn)收試驗(yàn),可靠性鑒定試驗(yàn),可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)。
2023-05-23 15:55:57

淺談HALT試驗(yàn)可靠性設(shè)計(jì)中的應(yīng)用

產(chǎn)品缺陷暴露在設(shè)計(jì)階段,再針對(duì)暴露的缺陷進(jìn)行針對(duì)改進(jìn),從而達(dá)到提高產(chǎn)品可靠性的目的。1.HALT試驗(yàn)模型HALT試驗(yàn)稱之為高加速壽命篩選,它不是合格與否的測(cè)試,而是一種發(fā)現(xiàn)缺陷的手段,一般在產(chǎn)品
2016-01-18 10:42:33

淺談手機(jī)環(huán)境可靠性試驗(yàn)

??傊?,環(huán)境適應(yīng)試驗(yàn)對(duì)于保證手機(jī)的可靠性是非常有效的。3 手機(jī)環(huán)境可靠性試驗(yàn)的內(nèi)容  任何一款手機(jī)新品的上市,都需要經(jīng)過授權(quán)檢驗(yàn)單位的嚴(yán)格測(cè)試。這些測(cè)試內(nèi)容中非常重要的一項(xiàng)就是手機(jī)的環(huán)境適應(yīng)試驗(yàn)
2009-11-13 22:31:55

環(huán)境試驗(yàn)可靠性試驗(yàn)的區(qū)別

環(huán)境試驗(yàn)中,每一項(xiàng)試驗(yàn)的時(shí)間基本取決于選用的試驗(yàn)及具體的試驗(yàn)程序,只是由于各階段進(jìn)行性能檢測(cè)所需時(shí)間不同而產(chǎn)生一些差別,試驗(yàn)時(shí)間比可靠性試驗(yàn)短得多。可靠性試驗(yàn)時(shí)間取決于需驗(yàn)證的可靠性指標(biāo)值和選用的統(tǒng)計(jì)
2022-01-13 14:03:37

電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)的目的和方法

為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn)。試驗(yàn)目的通常有如下幾方面:1. 在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況;2. 生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息
2015-08-04 17:34:26

電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn),不看肯定后悔

電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn),不看肯定后悔
2021-05-12 06:11:07

電子元器件的可靠性篩選

可靠的元器件,淘汰掉有潛在缺陷的產(chǎn)品。從廣義上來講,在元器件生產(chǎn)過程中各種工藝質(zhì)量檢驗(yàn)以及半成品、成品的電參數(shù)測(cè)試都是篩選,而我們這里所講的是專門設(shè)計(jì)用于剔除早期失效元器件的可靠性篩選。理想的篩選希望
2016-11-17 22:41:33

電源可靠性測(cè)試

情況下的穩(wěn)定運(yùn)行能力以評(píng)估可靠性測(cè)試方法a、額定電壓輸入,用雙蹤示波器測(cè)試輸入電壓波形合過壓保護(hù)信號(hào),輸入電壓從限功率點(diǎn)加5v跳變?yōu)?00v,從示波器上讀出過壓保護(hù)前300v的周期數(shù)n,作為以下試驗(yàn)
2018-10-30 14:55:06

電路可靠性10大誤區(qū)

大?誤區(qū)10:加強(qiáng)測(cè)試就可解決可靠性問題此問題既然能名列十大誤區(qū)之一,其定義自然是錯(cuò)誤的??偨Y(jié)有三:1、 有些問題通過模擬測(cè)試實(shí)驗(yàn)根本測(cè)不出來;2、 測(cè)試手段=工程計(jì)算+規(guī)范審查+模擬試驗(yàn)+電子仿真;3、 通過溫度加強(qiáng)試驗(yàn)的結(jié)果計(jì)算不出對(duì)應(yīng)的低溫工作時(shí)間。轉(zhuǎn)自:《電子設(shè)計(jì)》
2016-11-14 19:59:32

電路可靠性設(shè)計(jì)與測(cè)試

`電路可靠性設(shè)計(jì)與測(cè)試 [hide][/hide]`
2011-07-25 09:06:47

電路可靠性設(shè)計(jì)要注意什么_電路可靠性設(shè)計(jì)誤區(qū)-華強(qiáng)pcb

  電路可靠性設(shè)計(jì)要注意什么_電路可靠性設(shè)計(jì)誤區(qū)-華強(qiáng)pcb  電路設(shè)計(jì)不僅有很多技巧,同樣也存在很多誤區(qū)。本文將介紹電路穩(wěn)定性設(shè)計(jì)當(dāng)中的十個(gè)誤區(qū)?! ≌`區(qū)1:產(chǎn)品故障=產(chǎn)品不可靠  產(chǎn)品
2018-02-27 09:58:15

電路板可靠性測(cè)試,求教懂的人們

接插件)?,F(xiàn)在狀態(tài)是PCB板基本功能都已測(cè)試都過?,F(xiàn)在公司讓小弟做PCB板硬件可靠性方面的工作(證明電路板可靠度,如果不可靠的話找到薄弱環(huán)節(jié)).現(xiàn)在電路板的數(shù)量不多(3-5塊),大批量做可靠性實(shí)驗(yàn)不太
2017-02-22 09:49:18

硅壓力傳感器的可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)

特性與產(chǎn)品在長(zhǎng)時(shí)間、低應(yīng)力作用下表現(xiàn)出來的特性是一致的。對(duì)13種不同應(yīng)力的篩選結(jié)果調(diào)查表明, 溫度循環(huán)是最有效的篩選, 其次是隨機(jī)振動(dòng)。因此, 將溫度試驗(yàn)平臺(tái)與振動(dòng)試驗(yàn)平臺(tái)做為可靠性強(qiáng)化測(cè)試平臺(tái)(圖1)。 維庫(kù)PDF下載:硅壓力傳感器的可靠性強(qiáng)化試驗(yàn).rar
2018-11-05 15:37:57

硅壓力傳感器的可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)是什么?

迅速、真正提高的目的。因此,在同等期限內(nèi),應(yīng)用這項(xiàng)技術(shù)所獲得的可靠性要比傳統(tǒng)方法高得多,更為重要的是在短時(shí)間內(nèi)就可以獲得早期的高可靠性,而且不像傳統(tǒng)方法那樣,需要進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的可靠性增長(zhǎng),因此也就大大
2019-11-08 07:38:43

硬件電路的可靠性

我想問一下高速電路設(shè)計(jì),是不是只要做好電源完整分析和信號(hào)完整分析,就可以保證系統(tǒng)的穩(wěn)定了。要想達(dá)到高的可靠性,要做好哪些工作???在網(wǎng)上找了好久,也沒有找到關(guān)于硬件可靠性的書籍。有經(jīng)驗(yàn)的望給點(diǎn)提示。
2015-10-23 14:47:17

碳化硅功率器件可靠性之芯片研發(fā)及封裝篇

、壽命試驗(yàn)、篩選試驗(yàn)、現(xiàn)場(chǎng)使用試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)大類?! ?duì)于半導(dǎo)體企業(yè),進(jìn)行可靠性試驗(yàn)是提升產(chǎn)品質(zhì)量的重要手段。在進(jìn)行工業(yè)級(jí)產(chǎn)品可靠性驗(yàn)證時(shí),通常選取樣品數(shù)為22?;景雽?dǎo)體將樣本數(shù)按照汽車級(jí)
2023-02-28 16:59:26

端子可靠性測(cè)試試驗(yàn)的具體內(nèi)容及意義

  產(chǎn)品可靠性是指,在一定條件下產(chǎn)品無故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能。線束端子可靠性試驗(yàn)即是評(píng)估端子滿足電氣連接可靠性的能力。本文主要談?wù)劧俗?b class="flag-6" style="color: red">可靠性測(cè)試試驗(yàn)的具體內(nèi)容及意義。  端子可靠性試驗(yàn)涉及
2021-01-12 16:24:16

芯片IC可靠性測(cè)試、ESD測(cè)試、FA失效分析

本帖最后由 testest 于 2020-5-17 20:51 編輯 芯片IC可靠性測(cè)試、靜電測(cè)試、失效分析芯片可靠性驗(yàn)證 ( RA)芯片級(jí)預(yù)處理(PC)& MSL試驗(yàn)
2020-05-17 20:50:12

芯片IC可靠性測(cè)試、靜電測(cè)試、失效分析

芯片IC可靠性測(cè)試、靜電測(cè)試、失效分析芯片可靠性驗(yàn)證 ( RA)芯片級(jí)預(yù)處理(PC) & MSL試驗(yàn) 、J-STD-020 & JESD22-A113 ;高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)(HTSL
2020-04-26 17:03:32

請(qǐng)問PCBA可靠性測(cè)試有什么標(biāo)準(zhǔn)可循嗎?

剛剛接觸PCBA可靠性,感覺和IC可靠性差異蠻大,也沒有找到相應(yīng)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。請(qǐng)問大佬們?cè)谧鯬CBA可靠性時(shí)是怎么做的,測(cè)試條件是根據(jù)什么設(shè)定?
2023-02-15 10:21:14

車載電子設(shè)備可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

車載電子設(shè)備可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及項(xiàng)目匯總一、綜述汽車的控制系統(tǒng)是以高端電子設(shè)備為基礎(chǔ),因此電子控制設(shè)備的可靠性對(duì)整車的可靠性起主導(dǎo)作用。一般來說,使用環(huán)境會(huì)影響到電子設(shè)備和單元的耐久以及操作性能。因此
2022-01-12 08:07:28

102 改善BGA枕頭效應(yīng),提高焊接可靠性

可靠性焊接技術(shù)
車同軌,書同文,行同倫發(fā)布于 2022-08-07 16:03:32

板卡壽命評(píng)估與可靠性提升

檢測(cè)l  板卡電性能測(cè)試及壽命特征分析l  板卡壽命及加速壽命試驗(yàn)l  板卡失效分析l  板卡可靠性提升相關(guān)資質(zhì)CNAS服務(wù)
2024-03-15 17:27:02

測(cè)評(píng) | 帶您了解工業(yè)交換機(jī)環(huán)境可靠性試驗(yàn)——EMC測(cè)試

可靠性EMC測(cè)試測(cè)試認(rèn)證emi/emc
邁威通信發(fā)布于 2022-09-24 17:01:00

#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評(píng)價(jià)中的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法-1

可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:09:31

#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評(píng)價(jià)中的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法-2

可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:10:05

#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評(píng)價(jià)中的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法-3

可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:10:30

#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評(píng)價(jià)中的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法-4

可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:10:55

#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評(píng)價(jià)中的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法-5

可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:11:21

#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評(píng)價(jià)中的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法-6

可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:11:46

#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評(píng)價(jià)中的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法-7

可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:12:14

#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評(píng)價(jià)中的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法-8

可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:12:40

#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評(píng)價(jià)中的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法-9

可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:13:05

LED產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)與應(yīng)用

LED產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)與應(yīng)用 本文主要站在LED制造者或使用者的立場(chǎng)來探討對(duì)應(yīng)不同的使用環(huán)境與場(chǎng)所,較具有效益的可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目以及這些試驗(yàn)
2009-12-11 21:46:471338

硬件可靠性測(cè)試設(shè)計(jì)分析

從硬件角度出發(fā),可靠性測(cè)試分為兩類,以行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或者國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的可靠性測(cè)試。比如電磁兼容試驗(yàn)、氣候類環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械類環(huán)境試驗(yàn)和安規(guī)試驗(yàn)等。
2011-02-28 10:18:032097

用實(shí)例分析硬件可靠性測(cè)試設(shè)計(jì)

從硬件角度出發(fā),可靠性測(cè)試分為兩類: 以行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或者國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的可靠性測(cè)試。比如電磁兼容試驗(yàn)、氣候類環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械類環(huán)境試驗(yàn)和安規(guī)試驗(yàn)等。 企業(yè)自身根據(jù)其產(chǎn)品特
2012-06-26 10:22:441810

壽命試驗(yàn)可靠性測(cè)試詳解

本文首先介紹了可靠性測(cè)試的概念與分類,其次介紹了壽命測(cè)試屬于可靠性測(cè)試及其作用,最后介紹了有效的壽命測(cè)試項(xiàng)目及壽命試驗(yàn)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。
2018-05-14 09:40:4616177

可靠性試驗(yàn)是什么?哪里實(shí)驗(yàn)室可以測(cè)試可靠性?

可靠性試驗(yàn),是指通過試驗(yàn)測(cè)定和驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性。研究在有限的樣本、時(shí)間和使用費(fèi)用下,找出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)。可靠性試驗(yàn)是為了解、評(píng)價(jià)、分析和提高產(chǎn)品的可靠性而進(jìn)行的各種試驗(yàn)的總稱。目的:為了測(cè)定、驗(yàn)證
2018-06-28 18:38:50718

宏展 Lab Companion 可靠性雙85試驗(yàn)

為溫度85℃,且濕度為85%的條件下,對(duì)試驗(yàn)體進(jìn)行老化測(cè)試,也就是嚴(yán)酷的環(huán)境可靠性試驗(yàn),比較常用的測(cè)試時(shí)間為1000小時(shí),主要檢驗(yàn)產(chǎn)品在高溫高濕的惡劣環(huán)境下所能承
2023-06-12 16:52:50456

芯片的老化試驗(yàn)可靠性如何測(cè)試?

芯片的老化試驗(yàn)可靠性如何測(cè)試? 芯片的老化試驗(yàn)可靠性測(cè)試是評(píng)估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗(yàn)旨在模擬芯片在長(zhǎng)期使用過程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激,并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細(xì)
2023-11-09 09:12:011123

環(huán)境試驗(yàn)可靠性試驗(yàn)的區(qū)別

環(huán)境試驗(yàn)可靠性試驗(yàn)的區(qū)別
2023-12-08 09:31:46303

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