第24屆中國國際光電博覽會于9月6-8日，在深圳國際會展中心（寶安）舉辦，匯聚了來自全球的3000余家優(yōu)質(zhì)展商。同期七展覆蓋信息通信、精密光學(xué)、攝像頭技術(shù)及應(yīng)用、激光、紅外、紫外、智能傳感、新型顯示等版塊，并著力光電行業(yè)和下游九大應(yīng)用領(lǐng)域之間打造集商貿(mào)洽談、國際交流及品牌展示為一體的專業(yè)交流平臺。

推動行業(yè)商貿(mào)繁榮是CIOE中國光博會發(fā)展的原動力，中圖儀器參展商在5號館5B15展示光電行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù)及測量解決方案，與買家、行業(yè)專家共聚一堂，促行業(yè)交流，展行業(yè)碩果，共同為全球光電產(chǎn)業(yè)發(fā)展貢獻(xiàn)力量。

第24屆中國光電博覽會（CIOE2023）

展示產(chǎn)品

一、顯微測量

1、光學(xué)3D輪廓測量儀

產(chǎn)品介紹：SuperViewW光學(xué)3D輪廓儀是能實(shí)現(xiàn)對各種工件表面形貌的微納米測量和分析的光學(xué)計(jì)量儀器。

應(yīng)用領(lǐng)域：半導(dǎo)體加工/制造,科研院所及高校

2、共聚焦顯微鏡

產(chǎn)品介紹：VT6000共聚焦顯微鏡是用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行納米級測量的檢測儀器。所展示的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)更清晰更微細(xì)，橫向分辨率更高。

應(yīng)用領(lǐng)域：光通信、信息處理/存儲,先進(jìn)制造,半導(dǎo)體加工/制造,安防/國防,能源,傳感及測試測量,照明/顯示。

3、臺階儀（探針式輪廓儀）

產(chǎn)品介紹：CP系列臺階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀，可以對微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。樣品適應(yīng)面廣，對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求。

應(yīng)用領(lǐng)域：光通信、信息處理/存儲,消費(fèi)電子/娛樂,先進(jìn)制造,半導(dǎo)體加工/制造,安防/國防,能源,照明/顯示,科研院所及高校

二、智能影像測量

1、閃測儀

產(chǎn)品介紹：VX8000系列閃測儀真正實(shí)現(xiàn)一鍵式快速精準(zhǔn)測量。編程簡單，工件可以任意擺放，批量測量更快捷高效，更適合大批量測量場景！

應(yīng)用領(lǐng)域：光通信、信息處理/存儲,消費(fèi)電子/娛樂,先進(jìn)制造,半導(dǎo)體加工/制造,安防/國防,能源,照明/顯示,科研院所及高校

2、全自動影像儀

產(chǎn)品介紹：Novator系列全自動影像儀將傳統(tǒng)影像測量與激光測量掃描技術(shù)相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)2.5D和3D復(fù)合測量。可實(shí)現(xiàn)各種復(fù)雜零件的表面尺寸、輪廓、角度與位置、形位公差、3D空間形貌與尺寸結(jié)構(gòu)等精密測量。更適合具有微、軟、薄特點(diǎn)零件的高精度測量。

應(yīng)用領(lǐng)域：消費(fèi)電子/娛樂,先進(jìn)制造,半導(dǎo)體加工/制造,傳感及測試測量,科研院所及高校

三、三維測量

1、三坐標(biāo)測量機(jī)

產(chǎn)品介紹：MarsClassic系列三坐標(biāo)測量機(jī)是移動橋式結(jié)構(gòu)的三坐標(biāo)測量機(jī)，開敞性好，視野開闊，上下零件方便，運(yùn)動速度快，精度高。能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測，也可以對軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測量。

應(yīng)用領(lǐng)域：消費(fèi)電子/娛樂,先進(jìn)制造,半導(dǎo)體加工/制造,傳感及測試測量,安防/國防,能源

2、激光跟蹤儀

產(chǎn)品介紹：GTS系列激光跟蹤儀是高精度、便攜式的空間大尺寸坐標(biāo)測量機(jī)，是基于球坐標(biāo)系的便攜式坐標(biāo)測量系統(tǒng)，具有測量精度高、實(shí)時(shí)快速、動態(tài)測量、便于移動等優(yōu)點(diǎn)。

GTS激光跟蹤測量系統(tǒng)已經(jīng)發(fā)展出三自由度激光跟蹤儀和六自由度激光跟蹤儀家族系列，可以和多種形式的合作目標(biāo)測頭配合使用，能對大尺度空間內(nèi)的點(diǎn)、線、面、曲面等幾何特征進(jìn)行精確測量；也能夠根據(jù)合作目標(biāo)的精確空間姿態(tài)對被測工件的內(nèi)部特征、隱藏特征或曲面等復(fù)雜特征進(jìn)行快速、高精度的測量。