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VCSEL陣列用于TOF模組，特別是激光雷達(dá)一類的dTOF系統(tǒng)時(shí)，VCSEL在窄脈沖情況下的峰值功率、工作電流、工作電壓、轉(zhuǎn)化效率、近遠(yuǎn)場光學(xué)特性等參數(shù)對于芯片供應(yīng)商、封裝服務(wù)商、模組集成商等都非常重要。
VCSEL和VCSEL陣列，包括各種激光二極管標(biāo)準(zhǔn)檢測的關(guān)鍵電性能技術(shù)參數(shù)，常見如激光二極管正向壓降(VF )、KinK點(diǎn)測試/線性度測試(dL/dI)、閾值電流(Ith)、輸出光功率等(Po)以斜率效率(Es)等。
LIV測試是確定VCSEL關(guān)鍵性能參數(shù)的一種快速簡單的方法，它將兩條測量曲線組合在一個(gè)圖形中。L/I曲線顯示了激光器的光強(qiáng)度對工作電流的依賴性，并用于確定工作點(diǎn)和閾值電流。V/I曲線顯示了施加到激光器的電壓作為工作電流的函數(shù)。通過LIV(光強(qiáng)-電流-電壓)測試，可以評估VCSEL絕大多數(shù)電參數(shù)特性及最佳輸出光功率。
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