值此晶圓廠先進(jìn)制程邁入20奈米以下的世代交替之際，讓更高晶圓缺陷檢測(cè)精準(zhǔn)度與速度的電子束(e-beam)晶圓缺陷檢視設(shè)備重要性劇增。也因此，科磊(KLA-Tencor)瞄準(zhǔn)20奈米(nm)及以下制程節(jié)
2011-08-19 09:38:16
1386 聯(lián)發(fā)科技發(fā)布突破性的全新5G移動(dòng)平臺(tái)，該款多模5G系統(tǒng)單芯片（SoC）采用7nm工藝制造，將為首批高端5G智能手機(jī)提供強(qiáng)勁動(dòng)力，展示聯(lián)發(fā)科技在5G方面的領(lǐng)先實(shí)力。
2019-05-29 20:23:051275 KLA公司今日發(fā)布392x和295x光學(xué)缺陷檢測(cè)系統(tǒng)和eDR7380?電子束缺陷檢視系統(tǒng)。
2019-07-09 09:44:582924 KLA全新的PWG5? 圖形晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)和Surfscan? SP7XP無(wú)圖案晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)支持先進(jìn)邏輯、DRAM和3D NAND產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)與生產(chǎn)。
2020-12-14 10:44:022139 KLA 的全新Surfscan? SP A2/A3、8935 和 C205 檢測(cè)系統(tǒng)以及創(chuàng)新的 I-PAT? 在線篩選解決方案提高了汽車(chē)芯片的良率和可靠性。
2021-06-23 14:40:003078 
3月25日，科技之巔·麻省理工科技評(píng)論全球十大突破性技術(shù)峰會(huì)在北京召開(kāi)，該峰會(huì)是全球最為著名的技術(shù)榜單之一，峰會(huì)圍繞十大突破性技術(shù)在中國(guó)落地性最強(qiáng)，并對(duì)目前最受關(guān)注的領(lǐng)域進(jìn)行深入解讀。2018年
2018-03-27 16:07:53
電子探針的原理是用細(xì)聚焦電子束入射樣品表面。激發(fā)出樣品元素的特征X射線，分析特征X射線的波長(zhǎng)（或特征能量）即可知道樣品中所含元素的種類(lèi)（定性分析），分析X射線的強(qiáng)度，則可知道樣品中對(duì)應(yīng)元素含量的多少（定量分析）。
2020-04-08 09:00:14
:GXXB.0.2010-03-056【正文快照】：1引言當(dāng)電子束緊貼著周期性金屬結(jié)構(gòu)(例如金屬光柵)表面運(yùn)動(dòng)時(shí)，將會(huì)產(chǎn)生與電子束的運(yùn)動(dòng)方向成一定角度的電磁輻射，這種現(xiàn)象稱(chēng)為史密斯一帕塞爾(Smith--Pureell
2010-04-26 16:15:43
各位朋友請(qǐng)問(wèn)下:電子束的概念是什么?
2013-03-26 11:02:59
印刷電路板設(shè)計(jì)解決方案供貨商明導(dǎo)國(guó)際(Mentor Graphics)，宣布推出一種突破性布線技術(shù)，這種業(yè)界首創(chuàng)的拓樸布線(topology router)技術(shù)，能把工程師知識(shí)、電路板設(shè)計(jì)人
2018-08-31 11:53:50
自己開(kāi)發(fā)出的SVS系列工業(yè)智能軟件在缺陷檢測(cè)的具體應(yīng)用“充電器字符缺陷檢測(cè)系統(tǒng)”為例為大家說(shuō)明。檢測(cè)介紹日常生活或生產(chǎn)中,利用字符來(lái)識(shí)別物體已成為主要的途徑,因此字符印刷的正確性影響人類(lèi)的認(rèn)知及產(chǎn)品
2015-11-18 13:48:29
AD7981是什么？AD7981有什么特性？AD7981有哪些應(yīng)用實(shí)例？AD7981是如何在極端溫度下實(shí)現(xiàn)突破性能和可靠性的？
2021-05-17 07:17:52
公司獲獎(jiǎng)的iSensor?智能傳感器產(chǎn)品家族，這種智能傳感器是為了滿足工業(yè)市場(chǎng)領(lǐng)域MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）運(yùn)動(dòng)傳感器日益增長(zhǎng)的需求而推出的。迄今為止，ADI公司已經(jīng)售出3億余個(gè)iMEMS運(yùn)動(dòng)傳感器
2018-12-03 10:41:59
`如何搞定復(fù)雜的線束測(cè)試--Aigtek線束測(cè)試儀 對(duì)于飛機(jī)電氣線束系統(tǒng)來(lái)說(shuō)，在其生產(chǎn)檢修過(guò)程中都需要對(duì)其線束參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，線束導(dǎo)通檢測(cè)是保證線束質(zhì)量和可靠性的最基本的檢驗(yàn)項(xiàng)目。通過(guò)導(dǎo)通檢測(cè)可剔除
2018-08-29 19:22:36
、斷路、連接不良等造成的連接關(guān)系混亂Aigtek飛機(jī)線束測(cè)試儀能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)整機(jī)電纜的短路、斷路、絕緣和耐壓故障進(jìn)行檢測(cè)以及對(duì)二極管、繼電器、開(kāi)關(guān)等電子元器件的可靠性進(jìn)行測(cè)試。系統(tǒng)的測(cè)量控制單元采取模塊化設(shè)計(jì)，系統(tǒng)的每個(gè)分布式開(kāi)關(guān)單元多大1024點(diǎn)的測(cè)試容量，測(cè)試速度快，系統(tǒng)測(cè)試容量大，且擴(kuò)展方便。`
2019-07-03 11:48:20
Dual Beam FIB(雙束聚焦離子束)機(jī)臺(tái)能在使用離子束切割樣品的同時(shí)，用電子束對(duì)樣品斷面(剖面)進(jìn)行觀察，亦可進(jìn)行EDX的成份分析。iST宜特檢測(cè)具備超高分辨率的離子束及電子束的Dual
2018-09-04 16:33:22
賽靈思公司(Xilinx)最新推出的ISE 12軟件設(shè)計(jì)套件，實(shí)現(xiàn)了具有更高設(shè)計(jì)生產(chǎn)力的功耗和成本的突破性優(yōu)化。ISE 設(shè)計(jì)套件首次利用“智能”時(shí)鐘門(mén)控技術(shù)，將動(dòng)態(tài)功耗降低多達(dá) 30%。
2019-11-08 08:27:56
賽靈思公司(Xilinx)最新推出的ISE 12軟件設(shè)計(jì)套件，實(shí)現(xiàn)了具有更高設(shè)計(jì)生產(chǎn)力的功耗和成本的突破性優(yōu)化。ISE 設(shè)計(jì)套件首次利用“智能”時(shí)鐘門(mén)控技術(shù)，將動(dòng)態(tài)功耗降低多達(dá) 30%。
2019-08-20 08:33:19
來(lái)源：國(guó)家自然科學(xué)基金委員會(huì)MIT Technology Review2020年“十大突破性技術(shù)”解讀［編者按］ 2020年2月26日，MIT Technology Review一年...
2021-07-26 08:09:34
。檢測(cè)內(nèi)容包括：1、表面檢測(cè)：污點(diǎn),劃痕,淺坑,淺瘤,邊緣缺陷,圖案缺陷等。2、尺寸測(cè)量:內(nèi)圈直徑,外圈直徑,偏心度,高度,厚度等。在快速，準(zhǔn)確，有效地分析缺陷類(lèi)型的基礎(chǔ)上，還克服了人眼的疲勞、準(zhǔn)確性低
2020-08-07 16:40:56
有沒(méi)有大神做過(guò)labview玻璃缺陷檢測(cè)方面的項(xiàng)目？有償求項(xiàng)目資源，有償求缺陷玻璃圖片！
2017-05-10 22:54:11
，我們的電子束焊接項(xiàng)目欲用arm架構(gòu)的開(kāi)發(fā)板進(jìn)行試驗(yàn)，由于項(xiàng)目有一定的機(jī)密性，故不便在網(wǎng)上展出設(shè)計(jì)原理，望電話詳談。
2015-10-23 10:09:58
線束測(cè)試儀多用于電纜線束產(chǎn)品的檢測(cè)中，用于電纜線束的導(dǎo)通,絕緣耐壓等參數(shù)測(cè)試，也可對(duì)電阻、二極管、電容等電子元器件進(jìn)行測(cè)試，常用于航空航天等具有高質(zhì)量的線束測(cè)試要求行業(yè)，航空機(jī)載電子設(shè)備的機(jī)箱
2022-08-23 18:09:06
參數(shù)時(shí)間分辨測(cè)量技術(shù)研究, 首先, 達(dá)到在 2~ 3ns 內(nèi)同時(shí)對(duì)電子束的發(fā)散角及束斑進(jìn)行測(cè)量的要求, 才能獲得電子束瞬時(shí)的發(fā)射度, 進(jìn)而可進(jìn)行發(fā)射度的時(shí)間分辨測(cè)量; 其次, 要求采用雙成像法測(cè)量系統(tǒng)
2018-03-14 09:25:53
半橋逆變型電子束焊機(jī)用直流高壓電源的設(shè)計(jì)
2012-08-20 16:07:52
，如能量、燈絲電流、束流強(qiáng)度等都可以數(shù)字形式在顯示器上顯示，而且可以通過(guò)一個(gè)簡(jiǎn)潔的控制面板遠(yuǎn)程控制調(diào)節(jié)束流強(qiáng)度、聚焦位置等。系統(tǒng)具有自我診斷能力，可以快速全面地對(duì)RHEED系統(tǒng)進(jìn)行檢查。 3．電子束
2018-09-17 17:23:52
抽檢率低、準(zhǔn)確性不高、實(shí)時(shí)性差、效率低、勞動(dòng)強(qiáng)度大、受人工經(jīng)驗(yàn)和主觀因素的影響大，而隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)，人工智能等科學(xué)技術(shù)的出現(xiàn)和發(fā)展，以及研究的深入，出現(xiàn)了基于機(jī)器視覺(jué)技術(shù)的表面缺陷檢測(cè)技術(shù)。那么機(jī)器
2021-11-04 13:45:47
檢測(cè)，檢測(cè)準(zhǔn)確性和檢測(cè)穩(wěn)定性較差、容易誤判。 基于深度學(xué)習(xí)和3D圖像處理的精密加工件外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)創(chuàng)新性結(jié)合深度學(xué)習(xí)以及3D圖像處理辦法，利用非接觸式三維成像完成精密加工件的外觀缺陷檢測(cè)，解決行業(yè)
2022-03-08 13:59:00
為什么要設(shè)計(jì)一種PET瓶缺陷檢測(cè)系統(tǒng)？怎樣去設(shè)計(jì)PET瓶缺陷檢測(cè)系統(tǒng)？有哪些步驟需要遵循？
2021-04-15 06:06:48
實(shí)現(xiàn)分布式電纜的多端測(cè)試。采用高分辨率的10寸觸摸屏，易于使用。ATX-1000系列在飛機(jī)線束測(cè)試領(lǐng)域具有突破性，為國(guó)內(nèi)航空事業(yè)的發(fā)展做出巨大的貢獻(xiàn)。同時(shí)它是一種電池供電的便攜式線束測(cè)試儀，用于現(xiàn)場(chǎng)線束
2018-08-31 15:27:35
針對(duì)無(wú)人機(jī)突破性的電池管理：2S1P電池管理系統(tǒng)（BMS）參考設(shè)計(jì)將無(wú)人機(jī)電池組轉(zhuǎn)換為智能診斷黑匣子記錄儀。這款智能診斷黑匣子記錄儀可精確監(jiān)視剩余電量，并在整個(gè)電池使用期全程保護(hù)鋰離子電池。設(shè)計(jì)人
2018-06-26 09:42:10
顯像管原理與電子掃描顯像管的工作原理：顯像管燈絲加熱使陽(yáng)極發(fā)射出大量的電子，這些電子在熒光屏高壓陽(yáng)極的高壓電場(chǎng)作用下形成電子流，這個(gè)電子流在柵極、加速極和聚焦極共同控制下形成一個(gè)電子透鏡，將電子束聚
2009-09-22 10:34:13
工業(yè)半透明薄膜生產(chǎn)提供經(jīng)濟(jì)、簡(jiǎn)易、適用的質(zhì)量評(píng)估方法。機(jī)器視覺(jué)薄膜表面缺陷檢測(cè)原理機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)是一個(gè)基于光電圖像采集與分析的自動(dòng)化模塊，由LED光源、鏡頭、CCD工業(yè)相機(jī)、圖像采集卡等部分組成，廣泛
2020-10-30 16:15:47
的出現(xiàn)，大大提高了生產(chǎn)作業(yè)的效率，避免了因作業(yè)條件，主觀判斷等影響檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性，實(shí)現(xiàn)能更好更精確地進(jìn)行表面缺陷檢測(cè)，更加快速的識(shí)別產(chǎn)品表面瑕疵缺陷。機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)的范圍很廣，目前已在電子、包裝、印刷
2020-08-10 10:47:43
影響檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性，實(shí)現(xiàn)能更好更精確地進(jìn)行表面缺陷檢測(cè)，更加快速的識(shí)別產(chǎn)品表面瑕疵缺陷。產(chǎn)品表面缺陷檢測(cè)屬于機(jī)器視覺(jué)技術(shù)的一種，就是利用計(jì)算機(jī)視覺(jué)模擬人類(lèi)視覺(jué)的功能，從具體的實(shí)物進(jìn)行圖象的采集處理
2016-01-20 10:29:58
FPC缺陷檢測(cè)方法，得出實(shí)驗(yàn)性結(jié)論： ?。?）由于FPC成像變形，基于全局范圍的模板匹配線路出現(xiàn)錯(cuò)位，無(wú)法正確定位圖像上的瑕疵信息?！ 。?）基于局部范圍的模板匹配，首先裁剪出FPC板上相對(duì)常規(guī)線路
2018-11-21 11:11:42
求線束檢測(cè)的程序，借鑒借鑒，時(shí)間緊任務(wù)重。線束檢測(cè)的程序
2017-04-20 09:15:52
`線束導(dǎo)通測(cè)試是保證線束質(zhì)量和可靠性的最基本的檢驗(yàn)項(xiàng)目。各種帶有電子控制的設(shè)備都是有線束將各部件鏈接成一個(gè)整體。Aigtek線束測(cè)試儀是智能化的高科技產(chǎn)品，為很多線束的企業(yè)提供了進(jìn)廠檢驗(yàn)手段。這幾
2018-09-14 11:54:43
注入的靈敏度是限制性設(shè)計(jì)因素。電子/空穴對(duì)的產(chǎn)生導(dǎo)致絕緣體充電，引起陷阱電荷。該效應(yīng)可產(chǎn)生寄生MOS晶體管或靜電放電損害(ESD)。根據(jù)作用于氧化物的電子束能量劑量不同，損害可能是IC漏電流增加到
2018-10-22 16:44:07
和損失了勞動(dòng)時(shí)間。CCD視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)在陶瓷缺陷檢測(cè)中的應(yīng)用可安裝基于計(jì)算機(jī)視覺(jué)的系統(tǒng)，以提醒生產(chǎn)批次的樣品可能損壞，并進(jìn)一步檢測(cè)每一塊瓷磚。此外，對(duì)缺陷進(jìn)行自動(dòng)分類(lèi)，可以發(fā)現(xiàn)可能的硬件故障，有助于查找缺陷
2021-01-13 10:26:43
為了完成激光駕束制導(dǎo)信息場(chǎng)檢測(cè),根據(jù)信息場(chǎng)的特征參數(shù),詳細(xì)介紹了檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案和工作原理;依據(jù)激光駕束制導(dǎo)信息場(chǎng)的編碼與解碼原理,通過(guò)單片機(jī)智能系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)指令值和輻照度檢測(cè),從而完成信息場(chǎng)參數(shù)測(cè)試
2010-05-13 09:05:23
焊接技術(shù)的應(yīng)用環(huán)境為真空環(huán)境，因此對(duì)于焊接的工作環(huán)境要求較高，有很大的限制。每一次電子束焊接都需要進(jìn)行真空處理；由于電子束焊機(jī)技術(shù)在應(yīng)用的過(guò)程中冷卻的速度較快，因此容易導(dǎo)致焊接材料的焊接缺陷，同時(shí)在
2018-03-15 11:18:40
在半導(dǎo)體技術(shù)中，與數(shù)字技術(shù)隨著摩爾定律延續(xù)神奇般快速更新迭代不同，模擬技術(shù)的進(jìn)步顯得緩慢，其中電源半導(dǎo)體技術(shù)尤其波瀾不驚，在十年前開(kāi)關(guān)電源就已經(jīng)達(dá)到90+%的效率下，似乎關(guān)鍵指標(biāo)難以有大的突破，永遠(yuǎn)離不開(kāi)的性能“老三篇”——效率、尺寸、EMI/噪聲，少有見(jiàn)到一些突破性的新技術(shù)面市。
2019-07-16 06:06:05
隨著科技的進(jìn)步，大家都知道，機(jī)器視覺(jué)可以讓計(jì)算機(jī)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超越人的視覺(jué)和速度以及一致性，通過(guò)識(shí)別并檢測(cè)產(chǎn)品中的細(xì)微瑕疵或缺陷。機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)使用一組或多組工業(yè)相機(jī)來(lái)捕獲圖像以進(jìn)行分析，對(duì)于需要實(shí)行24小時(shí)
2021-03-25 10:07:28
；分析光發(fā)射定位熱點(diǎn)的截面結(jié)構(gòu)缺陷。
FIB切片截面分析過(guò)程：
FIB切片截面分析過(guò)程
FIB制備TEM樣品過(guò)程：
Platinum deposition：用電子束或離子束輔助沉積的方法在待制備TEM
2023-09-05 11:58:27
, Ga)，因?yàn)殒壴鼐哂械腿埸c(diǎn)、低蒸氣壓、及良好的抗氧化力；典型的離子束顯微鏡包括液相金屬離子源、電透鏡、掃描電極、二次粒子偵測(cè)器、5-6軸向移動(dòng)的試片基座、真空系統(tǒng)、抗振動(dòng)和磁場(chǎng)的裝置、電子
2020-02-05 15:13:29
缺陷清晰明了，給客戶和供應(yīng)商解決爭(zhēng)論焦點(diǎn)，減少?gòu)?fù)測(cè)次數(shù)與支出。 （4）FIB其他領(lǐng)域定點(diǎn)、圖形化切割 3. 誘導(dǎo)沉積材料利用電子束或離子束將金屬有機(jī)氣體化合物分解，從而可在樣品的特定區(qū)域進(jìn)行材料
2020-01-16 22:02:26
，Smart Vision薄膜表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)能在線對(duì)生產(chǎn)過(guò)程中產(chǎn)生的表面缺陷瑕疵進(jìn)行高速、精確的檢測(cè)，顯示和識(shí)別薄膜表面上的所有表面缺陷。能檢測(cè)分別出極小尺寸的臟污點(diǎn)、條紋、破損、邊緣裂縫、皺折、暗斑、亮斑
2021-12-16 10:37:28
工廠項(xiàng)目。上期文章推薦了二十個(gè)表面檢測(cè)應(yīng)用案例，幫助智能工廠設(shè)備制造商和系統(tǒng)集成商選型，快速導(dǎo)入表面檢測(cè)智能。本期重點(diǎn)介紹機(jī)器視覺(jué)：電子電路表面組裝(SMT缺陷類(lèi))檢測(cè)案例。 01 SMT缺陷檢測(cè)
2022-11-08 14:28:45
高科技處理工藝成功提高量子效率從而實(shí)現(xiàn)更好圖像質(zhì)量，長(zhǎng)距離圖像捕獲，減少光源功耗需求。此項(xiàng)技術(shù)成功使用新型硅半導(dǎo)體架構(gòu)和工藝解決了目前圖像傳感器近紅外檢測(cè)領(lǐng)域面臨的挑戰(zhàn)。
2020-08-19 06:39:34
作為全球最為著名的技術(shù)榜單之一，《麻省理工科技評(píng)論》全球十大突破性技術(shù)具備極大的全球影響力和權(quán)威性，至今已經(jīng)舉辦了18年。每年上榜的技術(shù)突破，有的已經(jīng)在現(xiàn)實(shí)中得以應(yīng)用，有...
2021-07-05 07:25:43
來(lái)源： 數(shù)字化企業(yè)作為全球最為著名的技術(shù)榜單之一，《麻省理工科技評(píng)論》全球十大突破性技術(shù)具備極大的全球影響力和權(quán)威性，至今已經(jīng)舉辦了18年。每年上榜的技術(shù)突破，有的已經(jīng)在...
2021-07-05 07:35:37
實(shí)驗(yàn) 電子束線的電聚焦與磁聚焦【實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?．研究帶電粒子在電場(chǎng)和磁場(chǎng)中聚焦的規(guī)律。2．了解電子束線管的結(jié)構(gòu)和原理。3．掌握測(cè)量電子荷質(zhì)比的一種方法。
2009-02-03 13:57:49
39 本文簡(jiǎn)單介紹了組態(tài)王6.03的新特點(diǎn)，設(shè)計(jì)了電子束單晶爐監(jiān)控系統(tǒng)的硬件和軟件，并用VB擴(kuò)展了組態(tài)王的數(shù)據(jù)庫(kù)功能。關(guān)鍵詞： 組態(tài)王6.03 電子束單晶熔爐 PLC VB DDE 監(jiān)控系統(tǒng)App
2009-05-25 11:06:1713 根據(jù)電子束焊機(jī)的控制系統(tǒng)的要求，提出用三菱公司的FX 系列的可編程邏輯控制器對(duì)電子束焊機(jī)進(jìn)行數(shù)字量控制和模擬量控制。結(jié)合電子束焊機(jī)焊接工藝需要，分別對(duì)控制軟件的
2009-05-26 11:04:2348 價(jià)格貨期電議電子束蒸鍍?cè)O(shè)備 E-beam Evaporation System電子束蒸發(fā)與熱蒸發(fā)對(duì)比, 能夠在非常高的溫度下熔化材料, 如鎢, 石墨 ... 等等. 結(jié)合石英震蕩片的反饋信號(hào), 可
2022-11-04 11:01:13
價(jià)格貨期電議超高真空電子束蒸鍍?cè)O(shè)備 UHV E-beam Evaporation System超高真空環(huán)境的特征為其真空壓力低于 10-8至10-12 Torr, 在化學(xué)物理和工程領(lǐng)域十分
2022-11-04 11:21:50
因產(chǎn)品配置不同, 價(jià)格貨期需要電議, 圖片僅供參考, 一切以實(shí)際成交合同為準(zhǔn)剝離成形電子束蒸鍍?cè)O(shè)備 Lift-Off E-beam Evaporation
2022-11-04 11:28:04
ADS42B49IRGCT：突破性能邊界的高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器在當(dāng)今高速、高精度的信號(hào)處理領(lǐng)域，一款出色的模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）往往能夠成為系統(tǒng)性能的決定性因素。德州儀器（Texas Instruments
2024-02-16 16:49:18
電子束管
2006-04-16 23:34:541842 
CSR推出采用SiRFaware技術(shù)的突破性SIRFstarIV定位架構(gòu)
CSR推出突破性SiRFstarIV 定位架構(gòu)，結(jié)合了獨(dú)特的自助式SiRFaware及微電源GPS技術(shù)，使消費(fèi)設(shè)備在沒(méi)有消耗電池和網(wǎng)絡(luò)輔助
2009-08-05 09:26:34612 ADI 推出用于4G 蜂窩基站的突破性射頻電路 -- 新型高集成度 RF 混頻器和調(diào)制器可實(shí)現(xiàn)高密度射頻卡，提升 LTE 和 4G 基站的
2009-10-15 11:07:29503 突破性照明級(jí)LED將取代低效燈泡
cree 司日前宣布推出了一款新的突破性照明級(jí) LED，可徹底淘汰低能效燈泡。XLamp MPL EasyWhite LED 具有高性能、色彩一致和流明密度大等
2010-02-25 10:22:53411 Cree公司推出一款新的突破性照明級(jí)LED
Cree 公司日前宣布推出了一款新的突破性照明級(jí) LED，可徹底淘汰低能效燈泡。XLamp® MPL EasyWhite LED 具有高性能、色彩一致和流明
2010-02-26 10:49:17703 市場(chǎng)研究調(diào)查認(rèn)定的 一項(xiàng)突破性數(shù)位設(shè)計(jì)分析技術(shù)
Tektronix 已經(jīng)開(kāi)始一項(xiàng)創(chuàng)新的機(jī)種，以新的概念及生產(chǎn)系列以
2010-08-06 08:30:35344 電子束加工原理和應(yīng)用以及電子束加工特點(diǎn)。
2011-05-22 12:46:1122201 
領(lǐng)先的半導(dǎo)體技術(shù)供應(yīng)商硅芯光電科技有限公司(Silicon Core Technology)推出用于室內(nèi)應(yīng)用的突破性1.9mm點(diǎn)距LED顯示面板技術(shù)。
2011-12-22 10:03:41656 科銳公司(Nasdaq: CREE)日前宣布推出突破性的XLamp XB-D LED，加速推動(dòng)新一代主流LED照明的普及。XLamp XB-D LED是第一款采用最新科銳創(chuàng)新技術(shù)平臺(tái)的LED，將照明級(jí)LED帶入性價(jià)比的新紀(jì)元。
2012-01-16 09:24:071730 應(yīng)用材料公司推出先進(jìn)的蝕刻技術(shù) ─ Applied Centura Avatar介電層蝕刻系統(tǒng)，這項(xiàng)突破性的系統(tǒng)是解決建立3D記憶體架構(gòu)的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)；3D記憶體架構(gòu)可提供高密度兆位元儲(chǔ)存容量，為未來(lái)
2012-06-29 09:13:24850 今天，KLA-Tencor Corporation（納斯達(dá)克股票代碼：KLAC）推出兩款先進(jìn)的量測(cè)系統(tǒng)，可支持 16 納米及以下尺寸集成電路器件的開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)：Archer? 500LCM 和 SpectraFilm? LD10。
2015-03-06 13:48:492546 。DLP技術(shù)支持全球許多產(chǎn)品的顯示，從數(shù)字影院投影機(jī)到智能手機(jī)。2014年，一種基于突破性微鏡技術(shù)的全新DLP Pico芯片組問(wèn)世，這種微鏡技術(shù)被稱(chēng)為DLP TRP。
2018-02-12 05:59:005187 今天，KLA-Tencor公司（納斯達(dá)克股票代碼：KLAC）宣布推出兩款全新缺陷檢測(cè)產(chǎn)品，在硅晶圓和芯片制造領(lǐng)域中針對(duì)先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)的邏輯和內(nèi)存元件，為設(shè)備和工藝監(jiān)控解決兩項(xiàng)關(guān)鍵挑戰(zhàn)
2018-07-14 08:24:009385 Voyager 1015圖案化晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)將新型光源、信號(hào)采集和傳感器完美結(jié)合，填補(bǔ)了業(yè)界針對(duì)顯影后檢測(cè)（ADI）方面的長(zhǎng)期空白。這一革命性的激光散射檢測(cè)系統(tǒng)在提升靈敏度的同時(shí)也可以減少噪聲信號(hào)——并且與最佳替代品相比得到檢測(cè)結(jié)果要迅速得多。
2018-07-14 10:28:357266 KLA-Tencor公司今日宣布推出兩款全新缺陷檢測(cè)產(chǎn)品，旨在解決各類(lèi)集成電路（IC）所面臨的封裝挑戰(zhàn)。 Kronos? 1080系統(tǒng)為先進(jìn)封裝提供適合量產(chǎn)的、高靈敏度的晶圓檢測(cè)，為工藝控制和材料處置提供關(guān)鍵的信息。
2018-08-31 16:01:289822 ICOS F160系統(tǒng)在晶圓切割后對(duì)封裝進(jìn)行檢查，根據(jù)關(guān)鍵缺陷的類(lèi)型進(jìn)行準(zhǔn)確快速的芯片分類(lèi)，其中包括對(duì)側(cè)壁裂縫這一新缺陷類(lèi)型（影響高端封裝良率）的檢測(cè)。這兩款全新檢測(cè)系統(tǒng)加入KLA-Tencor缺陷檢測(cè)、量測(cè)和數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)的產(chǎn)品系列，將進(jìn)一步協(xié)助提高封裝良率以及芯片分類(lèi)精度。
2018-09-04 09:11:002239 國(guó)際著名科技期刊IEEE Spectrum推出12項(xiàng)2019年值得持續(xù)關(guān)注的突破性技術(shù)。
2019-04-05 10:27:002686 可應(yīng)用在電子行業(yè)內(nèi)的缺陷檢測(cè)，例如可穿戴產(chǎn)品表面缺陷檢測(cè)、平板電腦Logo缺陷檢測(cè)等，同時(shí)也可應(yīng)用在醫(yī)療器械等高亮度、鏡面缺陷檢測(cè)。 目前，主流的產(chǎn)品logo都是噴印在產(chǎn)品上的，但由于工藝的原因
2019-10-08 16:00:003022 
本文首先闡述了電子束焊原理，其次介紹了電子束焊技術(shù)指標(biāo)，最后介紹了電子束焊特點(diǎn)。
2019-12-10 10:18:2613472 本文首先介紹了電子束焊優(yōu)缺點(diǎn)，其次闡述了電子束焊接工藝。最后闡述了電子束焊的基本工藝流程。
2019-12-10 10:37:3829226 KLA公司宣布推出Archer 750基于成像技術(shù)的套刻量測(cè)系統(tǒng)和SpectraShape 11k光學(xué)臨界尺寸（“ CD”）量測(cè)系統(tǒng)，它們的主要應(yīng)用是集成電路（“ IC”或“芯片”）制造。在構(gòu)建芯片
2020-03-02 08:47:156664 表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)也叫表面質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)或者表面質(zhì)量檢測(cè)設(shè)備。
2020-08-31 10:18:492734 電子束焊是指利用加速和聚焦的電子束轟擊置于真空或非真空中的焊接面，使被焊工件熔化實(shí)現(xiàn)焊接。真空電子束焊是應(yīng)用最廣的電子束焊。
2020-09-02 16:42:307863 本文首先介紹了電子束焊的焊接參數(shù)，其次闡述了電子束焊的技術(shù)要求，最后介紹了電子束焊的特點(diǎn)。
2020-09-02 16:50:2210466 本文首先闡述了電子束焊分類(lèi)，其次介紹了電子束焊主要用途，最后介紹了電子束焊的技術(shù)指標(biāo)。
2020-09-03 16:36:067555 在機(jī)器視覺(jué)行業(yè)中，有一種叫表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的東西，相信很多朋友都不是很了解。 這個(gè)系統(tǒng)到底有什么作用，其實(shí)表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)也叫外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，主要應(yīng)用在工業(yè)、紡織、薄膜、3c產(chǎn)品、生物制藥等行業(yè)
2020-10-23 12:00:471296 如今在生產(chǎn)技術(shù)企業(yè)中，為了保障產(chǎn)品的質(zhì)量，在出廠前必須要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量檢測(cè)工作，目前，表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)被廣大企業(yè)所應(yīng)用，他的原理主要就是通過(guò)工業(yè)相機(jī)來(lái)進(jìn)行檢測(cè)，主要作用就是一個(gè)用來(lái)在線數(shù)據(jù)
2020-11-20 12:15:27771 本文主要闡述了電子束曝光原理及結(jié)構(gòu)。
2020-11-27 15:21:399585 電子束是從電子槍中產(chǎn)生的。通常電子是以熱發(fā)射或場(chǎng)致發(fā)射的方式從發(fā)射體（陰極）逸出。在25-300kV加速電壓的作用下，電子被加速到0.3-0.7倍的光速，具有一定的動(dòng)能，經(jīng)電子槍中靜電透鏡和電磁透鏡的作用，電子會(huì)聚成功率密度很高的電子束。
2021-03-04 14:43:0615825 
凌力爾特在慕尼黑上海電子展上于 BMW i3 車(chē)型中演示了突破性的無(wú)線電池管理系統(tǒng)
2021-03-20 14:11:3814 國(guó)辰表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)能實(shí)時(shí)檢測(cè)、顯示和識(shí)別布匹上的表面缺陷，能檢測(cè)分別出斷經(jīng)/緯、松經(jīng)/緯、孔洞、疵點(diǎn)、臟/污點(diǎn)、破損、蟻蟲(chóng)、塵埃等常見(jiàn)表面缺陷。系統(tǒng)具有實(shí)時(shí)報(bào)警、卷報(bào)表打印等功能。強(qiáng)大的表面缺陷模式識(shí)別功能，根據(jù)表面缺陷的特征，在報(bào)警的同時(shí)會(huì)指出導(dǎo)致該表面缺陷的設(shè)備、工藝問(wèn)題所在，指導(dǎo)工人及時(shí)處理。
2021-09-16 17:11:58792 電子束缺陷檢測(cè)設(shè)備（EBI）和關(guān)鍵尺寸量測(cè)設(shè)備（CD-SEM）是集成電路制造中用于良率監(jiān)控的關(guān)鍵設(shè)備，對(duì)于提高集成電路制造企業(yè)的產(chǎn)品良率具有重要意義。經(jīng)過(guò)多年技術(shù)攻關(guān)，東方晶源突破了集成電路制造檢測(cè)設(shè)備的高速高精度硅片傳輸定位、高速圖像像差補(bǔ)償、自動(dòng)缺陷檢測(cè)和智能分類(lèi)
2023-10-09 14:33:44560 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《ADI公司突破性的微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)開(kāi)關(guān)技術(shù).pdf》資料免費(fèi)下載
2023-11-27 09:52:201 電子元件是現(xiàn)代科技中不可或缺的一部分，但由于制造過(guò)程中的復(fù)雜性，元件可能出現(xiàn)各種缺陷。為了保證電子元件的質(zhì)量和可靠性，缺陷檢測(cè)是必不可少的過(guò)程。本文將詳細(xì)介紹電子元件缺陷檢測(cè)的不同方法和技術(shù)
2023-12-18 14:46:20373 來(lái)源：半導(dǎo)體芯科技編譯 投資半導(dǎo)體設(shè)備行業(yè)新的生產(chǎn)設(shè)備 Jenoptik公司計(jì)劃投資數(shù)億歐元，為目前在德累斯頓建設(shè)的高科技工廠建造最先進(jìn)的系統(tǒng)。新型電子束光刻系統(tǒng)（E-Beam）將用于為半導(dǎo)體
2024-01-15 17:33:16178 近日，傳音旗下品牌Infinix在CES 2024上推出最新突破性技術(shù)E-Color Shift，可以使手機(jī)背面面板在不消耗電力的情況下改變并保持鮮艷的顏色。
2024-01-23 11:39:10547 上海伯東客戶某***生產(chǎn)商, 生產(chǎn)的電子束*** Electron Beam Lithography System 最大能容納 300mmφ 的晶圓片和 6英寸的掩模版, 適合納米壓印, 光子器件
2023-06-02 15:49:40
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