主側(cè)墻(Main Spacer)和N+/P+ 源漏(S/D)的形成
形成主側(cè)墻和n+/p+源漏的工藝示意圖如圖所示。
首先,沉積四乙基原硅酸鹽氧化物(即使用正硅酸乙酯TEOS前驅(qū)的CVD氧化物,簡稱TEOS-ox)和氮化硅的復(fù)合層,并對TEOS-ox和氮化硅進行等離子體蝕刻,形成復(fù)合主側(cè)墻。
然后對n-MOS和P-MOS區(qū)域分別進行自對準(zhǔn)的n+和p+注入形成源漏。RTA和尖峰退火被用于去除缺陷,并激活在源漏注入的雜質(zhì)。?
審核編輯:劉清
聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。
舉報投訴
原文標(biāo)題:前段集成工藝(FEOL)-5
文章出處:【微信號:Semi Connect,微信公眾號:Semi Connect】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
相關(guān)推薦
IGBT在結(jié)構(gòu)上類似于MOSFET,其不同點在于IGBT是在N溝道功率MOSFET的N+基板(漏極)上增加了一個 P+基板(IGBT 的集電極),形
發(fā)表于 02-19 15:01
?2.5w次閱讀
1所示為一個N 溝道增強型絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu), N+ 區(qū)稱為源區(qū),附于其上的電極稱為源極。N+ 區(qū)稱為
發(fā)表于 06-19 11:36
領(lǐng)域。 圖1所示為一個N 溝道增強型絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu), N+ 區(qū)稱為源區(qū),附于其上的電極稱為源極。N+ 區(qū)稱為
發(fā)表于 07-09 10:01
領(lǐng)域。 圖1所示為一個N 溝道增強型絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu), N+ 區(qū)稱為源區(qū),附于其上的電極稱為源極。N+ 區(qū)稱為
發(fā)表于 07-09 11:53
雙極型集成電路中元器件的形成過程及其結(jié)構(gòu)。典型的PN結(jié)隔離的摻金TTL電路工藝流程圖 1.襯底選擇2. 第一次光刻—N+埋層擴散孔3. 外延層淀積第二次光刻—P+隔離擴散孔第三次光刻—P
發(fā)表于 11-26 16:16
通過第三介質(zhì)層中未被墻覆蓋的區(qū)域(即N+區(qū)域8上方的區(qū)域)進行N型離子注入,以形成源極區(qū)域的N+
發(fā)表于 07-07 11:42
。漏極和源極是p+區(qū)域,主體或基板是n型。電流沿帶正電孔的方向流動。當(dāng)對柵極端子施加具有排斥力的負電壓時,存在于氧化層下方的電子被向下推入基板中。耗盡區(qū)由與供體原子相關(guān)的結(jié)合正電荷填充
發(fā)表于 02-02 16:26
在一塊N型半導(dǎo)體材料的兩邊各擴散一個高雜質(zhì)濃度的P型區(qū)(用P+表示),就形成兩個不對稱的P+N結(jié)。把兩個
發(fā)表于 12-30 09:10
?10.9w次閱讀
IGBT的結(jié)構(gòu) 一個N溝道增強型絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu),N+區(qū)稱為源區(qū),附于其上的電極稱為源極。N+區(qū)稱為
發(fā)表于 06-12 17:22
?8826次閱讀
超高壓 SiC N 溝道 IGBT 器件元胞的基本結(jié)構(gòu)如圖 1 所示。N+ 區(qū)域定義為源區(qū),相應(yīng)的電極稱為發(fā)射極(Emitter)。背面 P+ 區(qū)域定義為
發(fā)表于 06-17 09:25
?1327次閱讀
圖1所示為一個N溝道增強型絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu),N+區(qū)稱為源區(qū),附于其上的電極稱為源極。N+區(qū)稱為漏
發(fā)表于 11-02 16:51
?3625次閱讀
其制造工藝流程如下:首先形成補償側(cè)墻 (Offset Spacer),經(jīng)n+/p+輕摻雜源
發(fā)表于 01-05 14:08
?3763次閱讀
IGBT單管是一種N溝道增強絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu),N+區(qū)稱為源極區(qū),連接到其上的電極稱為源極區(qū)。P+區(qū)域稱為
發(fā)表于 02-10 17:16
?5273次閱讀
與亞微米工藝類似,側(cè)墻工藝是指形成環(huán)繞多晶硅的氧化介質(zhì)層,從而保護LDD 結(jié)構(gòu),防止重摻雜的源漏離子注入到LDD結(jié)構(gòu)的擴展區(qū)。
發(fā)表于 11-09 10:02
?337次閱讀
與亞微米工藝類似,源漏離子注入工藝是指形成器件的源漏有源區(qū)重摻雜的工藝,降低器件有源區(qū)的串聯(lián)電阻,提高器件的速度。同時
發(fā)表于 11-09 10:04
?294次閱讀
評論