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如何使用UCC217XX實現(xiàn)高精度的溫度采樣

星星科技指導員 ? 來源:TI ? 作者:Yuan Tan ? 2023-03-15 09:37 ? 次閱讀

1. 基本特性介紹

UCC217XX-Q1是一系列電流隔離單通道柵極驅(qū)動器,可用于驅(qū)動碳化硅 MOSFETIGBT ,具有高級保護功能,一流的動態(tài)性能和穩(wěn)健性。該系列隔離柵極驅(qū)動器的主要特性介紹有:

基本功能:

3/5.7kVRMS隔離電壓

10A 驅(qū)動強度

12V VDD 紫外線輸出

130ns 最大傳播延遲

150V/ns 最小 CMTI

主動保護:

快速的 DESAT/OC 保護

軟關(guān)斷

Active miller clamp

該系列隔離柵極驅(qū)動器集成一路隔離式模擬轉(zhuǎn)PWM的 傳感器,等效為一個通道的隔離采樣芯片,可用于溫度或電壓檢測,進一步提高驅(qū)動的多功能性并簡化系統(tǒng)設計工作量,尺寸和成本。

該隔離通道未經(jīng)校準的精度為±3%,對于溫度這類通過非線性NTC電阻來采樣的方式會出現(xiàn)某些區(qū)間測量靈敏度不高而且誤差較大的情況,本文即是給出一些方法,用于實現(xiàn)高精度的溫度采樣。

2. UCC217XX系列隔離溫度采樣原理介紹

如圖1-1,UCC217XX的AIN接口內(nèi)置一個200uA的電流源,在連接外部NTC之后會產(chǎn)生一個壓降,此電壓被調(diào)制后復用DESAT/OC錯誤反饋信號的隔離通道傳輸至原邊,并被解調(diào)為400kHz的PWM信號,此PWM信號經(jīng)過一定的RC濾波器,即可得到一個穩(wěn)定的電壓。

AIN的電壓在0.6V-4.5V范圍內(nèi)時隔離采樣的線性度較好,在AIN電壓到PWM的轉(zhuǎn)換中,PWM的占空比滿足以下公式:

poYBAGQRIV2AAgayAAAFP-myIr4048.png

即0.6V-4.5V的AIN電壓對應88%-10%的PWM占空比。如圖1-2所反映的參數(shù)表,隔離溫度采樣中精度較差的主要原因為電流源-6uA-9uA的偏差以及PWM轉(zhuǎn)換時±1.5%的偏差。

poYBAGQRIV6AIiXlAAA0VWweHlM506.png

圖1-1 隔離溫度采樣原理示意

pYYBAGQRIV-AYmSZAAA1qwuMrXk543.png

圖1-2 隔離通道參數(shù)表

3. 溫度采樣靈敏度分析

靈敏度定義為單位溫度變化在采樣ADC上產(chǎn)生的電壓變化,在ADC有效位數(shù)確定的情況下,靈敏度越高則越容易采樣出溫度的變化,采樣系統(tǒng)的分辨率就越高。

通常VCC=5V,此時PWM經(jīng)過濾波后得到的VPWM=5-VAIN,意味著溫度采樣的靈敏度在VPWM和VAIN的體現(xiàn)是一致的,僅僅是電壓變化的方向相反,因此可以直接分析VAIN對溫度的靈敏度。

在溫度采樣系統(tǒng)中,通常使用NTC來將溫度轉(zhuǎn)換為電壓,因為NTC的電阻范圍寬,所能產(chǎn)生的電壓范圍也較寬。為了限制AIN端口的電壓在0.6V-4.5V,待測量的NTC需要串并聯(lián)適當阻值的電阻,如下圖。電阻的取值滿足:

poYBAGQRIV-AdrvFAAAtq_SAa68723.pngpoYBAGQRIWCAV_QsAAAJC_RnZ2w886.png

對本系列芯片,取Rp=22kΩ,Rs=4kΩ。在該電阻網(wǎng)絡下,AIN的端口電壓表達式為:

pYYBAGQRIWGAUPzbAAAH76ThDsU047.png

端口電壓對于NTC電阻的靈敏度可通過求導獲得:

poYBAGQRIWGAZk1nAAAIbdaq8JM968.png

為了獲取端口電壓對溫度的靈敏度,需要獲得NTC電阻對溫度的導數(shù)。NTC電阻和溫度的關(guān)系可通過一個指數(shù)函數(shù)進行擬合,如圖1-3所示的某IGBT模塊內(nèi)置NTC的參數(shù)表。此擬合在全溫度范圍誤差率也較大,為了精確測量溫度,通常NTC都會有對應溫度的查找表。通過將相鄰溫度T1、T2的電阻變化率作為導數(shù)的近似,可得到導數(shù)的查找表-lut(T):

pYYBAGQRIWKAbrq8AAAIBUfV6ZE110.png

通過求導的傳遞,可得端口電壓對溫度的靈敏度:

poYBAGQRIWOAIjUGAAAVOt2XwBI523.png

pYYBAGQRIWOAE8V-AABAzf5PrL0289.png

圖1-3 某IGBT NTC參數(shù)表

通常NTC需要測量-40°C-125°C范圍內(nèi)的溫度,在該IGBT的NTC特性下所得到的靈敏度和AIN端電壓如表1-1??梢娺@款NTC在當前采樣系統(tǒng)中的靈敏度變化非常大,高溫環(huán)境測量靈敏度大大下降,所以該NTC并不是合適的選擇。

pYYBAGQRIWSAeMN7AABPijZCMMs737.png

表1-1 IGBT模塊內(nèi)置NTC采樣靈敏度計算

不同NTC在25°C下的電阻不同,但其阻值隨溫度的指數(shù)變化趨勢是類似的。在靈敏度公式中加入系數(shù)k,使得NTC的特性相對于標準5k的NTC變化k倍,可以用來計算高低溫靈敏度一致需求下所需要的k值。

pYYBAGQRIWWAJzkIAAAJCOk7IJQ262.png

觀察等式和NTC特性可發(fā)現(xiàn),高溫時k在分母的作用較小,等效靈敏度變化接近k倍,低溫時,Rp+Rs在分母中作用較小,等效靈敏度變化1/k倍,則k的平方等于5kΩ-NTC場景下高低溫靈敏度的倍數(shù),可取k=6.396,即NTC在25°C下的電阻為32kΩ。因為高溫時Rp+Rs和NTC阻值差距不如低溫時大,靈敏度提升相比k倍會略低,選擇比較常見的在25°C為40kΩ的NTC。計算后的靈敏度如表1-2,可見高低溫時靈敏度一致,相比5kΩ-NTC,高溫NTC靈敏度提升7倍。

poYBAGQRIWWAWYQ1AABSbWt83nY309.png

表1-2 NTC 40K采樣靈敏度計算

4. 使用外置LDO來提高靈敏度

在使用某些IGBT模塊的應用場景,NTC為內(nèi)部集成,不可更改,所以無法通過對NTC的選型來提高精度,因此需要用右圖的外置LDO,提升NTC中流過的電流,增大小電阻NTC下的靈敏度。在此場景下,AIN端口的電壓表達式如下,其中R為Rp和Rs并聯(lián)后的阻值。從右圖和公式中可以看出LDO和內(nèi)置電流源對NTC產(chǎn)生的壓降作用是相反的,因此在電路參數(shù)設計中不光要考慮到AIN端口的電壓范圍,還要考慮到電壓隨溫度的單調(diào)性。

pYYBAGQRIWaAWujlAAA1wPZKQTw677.png

poYBAGQRIWeAc_zfAAAaJ4jcAMY112.png

對端口電壓的求導同樣能得到溫度采樣的靈敏度,等效于將內(nèi)置電流源替換為反向電流源。

pYYBAGQRIWeAX6ivAAAWjSYTKSc230.png

按照高低溫靈敏度相近的條件配置電路參數(shù),得到以下條件:

poYBAGQRIWiAYx6jAAAKFBZ5I5M007.png

考慮NTC在高低溫下的條件下,可得近似條件:

pYYBAGQRIWmAedsYAAAGsfdYvss815.png

在IGBT模塊內(nèi)置NTC配置下,可計算得并聯(lián)等效電阻R=3.4kΩ。Rp可取無限大,即不使用Rp,可以做到Rs最小化,以得到更大得反向電流源效果。

從端口電壓范圍可以導出以下條件,取LDO輸出電壓4.5V,Rs為3kΩ。

poYBAGQRIWmARMLpAAAH_PQ3wYs547.png

經(jīng)過計算,可得到表1-3的靈敏度結(jié)果,高溫時的靈敏度依舊可以顯著提高。外置的LDO需采用可調(diào)LDO,可選TPS715-Q1,其具有低靜態(tài)功耗、封裝尺寸小的特性。

pYYBAGQRIWqAaCMqAABQ1k4xQvY907.png

表1-3 IGBT模塊內(nèi)置NTC+外置LDO方案采樣靈敏度計算

5. 隔離采樣主要誤差來源分析

根據(jù)datasheet上的描述,主要的芯片內(nèi)部誤差來源于內(nèi)置電流源的誤差以及電壓轉(zhuǎn)換為PWM時的誤差,包含誤差的轉(zhuǎn)換結(jié)果根據(jù)是否使用LDO可表達為下述兩個等式,根據(jù)表達式可以看出電流誤差作為乘積項疊加在外部電阻上,因此通過兩點校準可以實現(xiàn)很高的精度。

poYBAGQRIWqAI3XSAAAdbcFH1jg204.png

根據(jù)以上兩個表達式,誤差的大小可統(tǒng)一表示為

pYYBAGQRIWuANKbuAAAGLYZA1yg032.png

通過實驗驗證這兩類誤差的特性,采用UCC21750的評估板進行實驗。圖1-4為該評估板的PCB示意圖,通過修改紅圈所示的電阻,模擬不同溫度時的NTC連接在采樣系統(tǒng)中的結(jié)果。表1-4為實驗結(jié)果,最左側(cè)三列為低壓側(cè)通過測量PWM濾波后的電壓于VCC電壓相除,得到PWM占空比。

poYBAGQRIWyAHJRUAAAHEQmhho8076.png

中間四列為高壓側(cè)通過測量AIN端口的電壓和連接電阻的阻值,計算出理論占空比和內(nèi)置電流源大小。

pYYBAGQRIWyACHtqAAAIiUYoj0w696.png

右側(cè)的三列分別為根據(jù)電壓推算的理論占空比與實測占空比之間的誤差、標稱電流源大小與實際電流源大小的誤差、采樣系統(tǒng)反推的AIN電壓和AIN電壓的誤差??梢钥闯鲆驗閭€體芯片的工藝問題出現(xiàn)的絕對性誤差較大,在測量的量程范圍內(nèi)誤差的變化都不是很大,因此可以使用兩點校準提高采樣精度。

poYBAGQRIW2ActLHAAAF-xq2QzU580.png

pYYBAGQRIW6AOC0mAAAFwr4BmvI362.png

poYBAGQRIW6AM06PAAF8xKXWvfo294.png

pYYBAGQRIW-AKbAgAADP4emTZy4073.png

圖1-4 UCC21750評估板PCB

poYBAGQRIXCAJMkkAAB1aJoqDic994.png

表1-4 實驗結(jié)果評估

6. 誤差對溫度采樣的影響

在VCC=5V時,VPWM的變化量與VAIN變化量一致,因此將誤差實驗所得的VPWM電壓誤差除以對應溫度的靈敏度,可以反應在該溫度時的近似誤差:

pYYBAGQRIXGAC2ufAAAGLzqiEcM957.png

對于廣泛使用的精度一般的NTC,其在各個溫度的阻值本身可能存在±5%的偏差,此類誤差也是溫度采樣偏差的主要因素。電阻的誤差可通過以下的表達式來近似反應到溫度的偏差:

poYBAGQRIXGAasC6AAAFvDGI8gE005.png

因為NTC電阻誤差通過恒定電流源反應到了AIN上電壓的誤差是線性的,且lut和sensitivity都是通過在某一點溫度附近降NTC本身電阻特性線性化,因此可以滿足誤差的疊加定理:

pYYBAGQRIXKAG_lVAAAFltkTLE0322.png

如表1-5和1-6 ,在IGBT模塊內(nèi)置NTC的溫度采樣場景中,如果沒有采用外置LDO方案,在125附近通過擬合估計推算的誤差會接近45°C,而經(jīng)過外置LDO加強流經(jīng)NTC的電流后,在高低溫環(huán)境下推測的誤差能減小至5°C左右。

poYBAGQRIXOAFc9AAABO056uFAs651.png

表1-5 未加LDO的IGBT模塊內(nèi)置NTC采樣誤差評估

pYYBAGQRIXOASolDAABPdgKKj8k424.png

表1-6 外置LDO的IGBT模塊內(nèi)置NTC采樣誤差評估

7. 如何利用兩點法來校正采樣系統(tǒng)

在未經(jīng)校準的情況下,溫度采樣的最大誤差主要由芯片本身的誤差決定,如第6小節(jié)的主要誤差分析可得出芯片的主要偏差可采用兩點法校正,即在出廠前利用標準的兩個電阻推算出PWM轉(zhuǎn)換誤差與電流源誤差,并利用這兩個參數(shù)反推AIN電壓,能達到更高的精度。

根據(jù)表1-5的實測數(shù)據(jù),取測試電阻R1=6.198kΩ和R2=17.926kΩ為標準電阻,可估算該芯片電流源為:

pYYBAGQRIXSAAps-AAAJX2S93o4094.png

根據(jù)電流大小,可推算出PWM轉(zhuǎn)換誤差數(shù)值:

poYBAGQRIXWAeltFAAAP5rKN5N0622.png

在得到以上兩個主要偏差數(shù)值后,帶入采樣系統(tǒng)重新計算,得到如表1-7的誤差評估,最大PWM占空比轉(zhuǎn)換誤差降為0.066%,最大電流源誤差將為1.112uA。表1-8和表1-9反應了在IGBT模塊內(nèi)置NTC的溫度采樣場景中,是否使用外置LDO所能達到最高精度。未使用LDO的方案經(jīng)過兩點校準可以使得誤差從45°C降低至6°C;使用LDO的方案經(jīng)過校準后,誤差已經(jīng)主要有NTC誤差決定。

審核編輯:郭婷

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