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SiP封裝共形屏蔽技術介紹

jf_78858299 ? 來源:IC封裝設計 ? 作者:潘計劃 ? 2023-05-19 10:04 ? 次閱讀

前言

移動設備向著輕薄短小的方向發(fā)展,手機行業(yè)是這一方向的前鋒,從幾代iPhone的尺寸可以看出----薄,是一直演進的方向(圖1)。隨著物聯(lián)網(wǎng)、可穿戴等市場興起,將這一方向推向極致。

手機的薄型化,得益于多方面技術的進步,包括SiP、PCB、顯示屏等技術,其中關鍵的技術之一就是EMI屏蔽技術。傳統(tǒng)的手機EMI屏蔽是采用金屬屏蔽罩,屏蔽罩在橫向上要占用寶貴的PCB面積,縱向上也要占用設備內(nèi)部的立體空間,是設備小型化的一大障礙。新的屏蔽技術——共形屏蔽(Conformal shielding),將屏蔽層和封裝完全融合在一起,模組自身就帶有屏蔽功能,芯片貼裝在PCB上后,不再需要外加屏蔽罩,不占用額外的設備空間,從而解決這一難題。如圖2,iPhone 7主板上,大部分芯片都采用了Conformal shielding技術,包括WiFi/BT、PA、Memory等模組,達到高度集成且輕薄短小的目的。

圖片

圖2 iPhone7主板上采用共形屏蔽技術的模組

SiP封裝共形屏蔽

電子系統(tǒng)中的屏蔽主要兩個目的:符合EMC規(guī)范;避免干擾。傳統(tǒng)解決方案主要是將屏蔽罩安裝在PCB上,會帶來規(guī)模產(chǎn)量的可修復性問題。 此方法也可以在SiP模組中使用,如圖3中的模組封裝,或Overmolded shielding將屏蔽罩封裝在塑封體內(nèi)。 這兩種屏蔽解決方案,雖然實現(xiàn)了屏蔽罩的SiP封裝集成,但是并未降低模組的高度,同時也會帶來工藝和成本問題。

圖片

圖3 傳統(tǒng)的屏蔽罩模組及SiP封裝內(nèi)集成(Overmolded shielding)屏蔽罩

SiP封裝的共形屏蔽,可以解決以上問題。如圖4,SiP封裝采用共形屏蔽技術,其外形與封裝一致,不增額外尺寸。

圖片

圖4 共形屏蔽SiP封裝以及與傳統(tǒng)屏蔽罩的區(qū)別

共形屏蔽的性能

共形屏蔽實現(xiàn)了極好的屏蔽效果,在遠場高達12GHz,近場高達6GHz,以及10MHz-100MHz的低頻,屏蔽效果在30dB以上。如圖5,從SiP封裝實際測量結(jié)果,可以看出共形屏蔽的出色效果。

圖片

圖5 共形屏蔽的測試效果

共形屏蔽的工藝

共形屏蔽目前主流工藝有三種:電鍍,噴涂,濺射。各工藝的優(yōu)缺點對比如下表:

圖片

以濺射為例,工藝流程如圖6:

圖片

圖6 共形屏蔽的濺射工藝流程

共形屏蔽的應用

共形屏蔽主要用于PA,WiFi/BT、Memory等SiP模組封裝上,用來隔離封裝內(nèi)部電路與外部系統(tǒng)之間的干擾,如圖7。

圖片

圖7 WiFi模組共形屏蔽結(jié)構(gòu)

對于復雜的SiP封裝,將AP/BB、Memory、WiFi/BT、FEM等集成在一起,封裝內(nèi)部各子系統(tǒng)之間也會相互干擾,需要在封裝內(nèi)部隔離。另外,對于大尺寸的SiP封裝,其整個屏蔽結(jié)構(gòu)的電磁諧振頻率較低,加上數(shù)字系統(tǒng)本身的噪聲帶寬很寬,容易在SiP內(nèi)部形成共振,導致系統(tǒng)無法正常工作。

Compartment shielding(劃區(qū)屏蔽)除了可用于封裝外部屏蔽,還可以對封裝內(nèi)部各子系統(tǒng)模塊間實現(xiàn)隔離。其由Conformal shielding技術改進而來,用激光打穿塑封體,露出封裝基板上的接地銅箔,灌入導電填料形成屏蔽墻,并與封裝表面的共形屏蔽層一起將各子系統(tǒng)完全隔離開。另外,劃區(qū)屏蔽將屏蔽腔劃分成小腔體,減小了屏蔽腔的尺寸,其諧振頻率遠高于系統(tǒng)噪聲頻率,避免了電磁共振,從而使得系統(tǒng)更穩(wěn)定。Compartment shielding典型的應用案例就是iWatch里的S1模組,如圖8。

圖片

圖8 蘋果S1 SiP封裝Compartment shielding結(jié)構(gòu)

總結(jié)

SiP共形屏蔽的優(yōu)點:

  • 共形(Conformal)和劃區(qū)(Compartmental)屏蔽方案應用靈活廣泛
  • 最大限度減少封裝中的雜散和EMI輻射
  • 最大限度減少系統(tǒng)中相鄰器件間的干擾
  • 器件封裝橫向和縱向尺寸增加幾乎為零
  • 節(jié)省系統(tǒng)特殊屏蔽部件的加工和組裝成本
  • 節(jié)省PCB面積和設備內(nèi)部空間

共形屏蔽技術,可以解決SiP內(nèi)部以及周圍環(huán)境之間的EMI干擾,對封裝尺寸和重量幾乎沒有影響,具有優(yōu)良的電磁屏蔽性能,可以取代大尺寸的金屬屏蔽罩。必將隨著SiP技術以及設備小型化需求而普及。

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